JPH06224201A - はんだバンプ形成方法 - Google Patents

はんだバンプ形成方法

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JPH06224201A
JPH06224201A JP3138593A JP3138593A JPH06224201A JP H06224201 A JPH06224201 A JP H06224201A JP 3138593 A JP3138593 A JP 3138593A JP 3138593 A JP3138593 A JP 3138593A JP H06224201 A JPH06224201 A JP H06224201A
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JP
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solder
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bump
fused
ultrasonic vibration
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JP3138593A
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JP2610567B2 (ja
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Makoto Gonda
誠 権田
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Kuroda Denki KK
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Kuroda Denki KK
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof

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  • Molten Solder (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 大型のはんだバンプを形成すること。 【構成】 溶解はんだ9の液面下に超音波振動子を置い
て超音波振動を印加することにより、溶解はんだ9をは
んだ粒子9aにしてその上面の加工物1のはんだ付面に
噴射せしめ、はんだ付面に付着したはんだ粒子9aを溶
解させることによってはんだバンプ13を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品等をはんだ付す
るための予備はんだ付、即ちはんだバンプの形成方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来半導体チップ等の電極と基板上のリ
ード端子とのはんだ付を行うために、基板上のリード端
子面を噴流する溶解はんだに接触させるとともに、溶解
はんだ内からリード端子面に向かって超音波振動を印加
してはんだバンプを形成する方法が、特開昭63−58
947号公報等によって公知である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記の従来の方
法ではバンプの高さが30μ程度のものが限界でそれ以
上のものを得ることは困難であった。このためはんだバ
ンプを利用した回路接続に技術的にも熟練を必要とし、
作業能率や品質、性能にも悪影響を残す等の問題があっ
た。この発明は従来のバンプに比してさらに高さ(又は
厚み)のあるはんだバンプを得るためのバンプ形成方法
を提供せんとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記のような問題点を解
決するための本発明は、第1に溶解はんだ(9)に超音
波振動を印加することにより上記溶解はんだ(9)を粒
子状にして噴霧させるとともに該粒子状の溶解はんだ
(9a)を加工物(1)のはんだ付着面に付着させ、付
着面に付着したはんだを加熱溶解することによりはんだ
バンプ(13)を形成することを特徴としている。本発
明の第2の特徴は、上記発明においてはんだ付着面に付
着したはんだ(9a)の加熱溶解を非酸化雰囲気中で行
う点にある。さらに本発明の第3の特徴は、上記第1の
特徴に加え、はんだ付着面に形成されたはんだバンプ
(13)の周辺に付着した粒状のはんだ塊(9b)を超
音波洗浄又はブラッシング処理により除去する点にあ
る。
【0005】
【作用】溶解はんだ9は超音波振動により粒子状になっ
て液面から噴射され、その上方の加工物1のはんだ付面
に粒状のまま付着する。この付着粒子を加熱すると各粒
子9aが凝集していくつかのはんだ塊9bとして成長す
るが、はんだ付の条件が整っている部分にははんだバン
プ13として特に多くのはんだが凝集付着する。はんだ
バンプ13の周辺においてははんだ塊9bははんだ付さ
れてはいないので後にブラッシング等によって除去でき
る。
【0006】
【実施例】図1は本発明方法に使用するシリコンウエハ
等の加工物1の拡大断面図で、Siからなる基板2の実
装面にはアルミニウム又はアルミニウム合金等からなる
電極3が付着され、該電極3のまわりにはSiO等か
らなるバッシベーション膜4が、上記電極3の表面が露
出する状態で被着される。そして上記電極3の露出面に
は予備はんだ又はAuメッキ等によりその表面にはんだ
付が可能な条件を整えた前処理部6が付着形成されてお
り、前処理部6の表面がはんだ付面となっている。
【0007】上記加工物1は図2に示すように前処理部
6を下向きにして支持せしめ、その下方には超音波振動
装置7のチップ8が数ミリ乃至数十ミリ(例えば30ミ
リメートル)の噴射間隔Sを介して上向きに支持されて
いる。上記チップ8の上端外周には内部に溶解はんだ9
を収容するはんだポット11が装着されており、該ハン
ダポット11には上記チップ8の上端面近傍に(例えば
チップ端面までの深さαが−5ミリ〜+5ミリの)液面
を形成するように常時溶解はんだ9が供給されており、
超音波振動装置7のチップ8は10KHZ〜1MHZ程
度の超音波振動をしている。
【0008】上記のように薄膜状の溶解はんだ9に交差
方向の超音波振動を印加すると、チップ8上の溶解はん
だ9は超音波振動により1〜数百ミクロン位の径の粒子
9aとなって加工物1のはんだ付面に向かって噴霧され
る。
【0009】この時超音波振動数やはんだの種類、噴射
間隙S等の条件にもよるが、1mm近い大径の粒子はチ
ップ上から噴射されても自重により落下し、比較的小径
のものだけがはんだ付面やバッシベーション膜4の表面
に到達して付着する。従ってはんだの噴射条件を変える
ことにより、噴霧するハンダ粒子9aの粒径の調節又は
統一等が可能である。このような作動中、はんだ粒子が
はんだ付着面やバッシベーション膜表面に少なくとも落
下しない程度に付着するように、加工物1の下面側には
はんだの融点付近まで加熱されたN,Arその他の不
活性ガスにより非酸化雰囲気を形成し、あるいは不活性
ガスの熱風を供給することが望ましい。
【0010】上記のようにはんだ粒子9aを付着した状
態の加工物1は、図3に示すように上下反転させてはん
だ付面側に付着した粒子9aを、上記同様の高温非酸化
雰囲気下で、図4のようにしてヒーター12で加熱する
ことにより溶解させる。ヒーター12ははんだ付面の上
側に置き、下向きに加熱してもよい。
【0011】上記のようにして付着はんだ粒子9aを溶
解させると、はんだ粒子は図4に示すように、前処理部
6上では近傍のはんだ粒子9aを表面張力により吸引し
て凝集し、はんだバンプ13として成長したはんだ塊が
付着しており、またそのまわりには多数のはんだ粒子9
aが相互に表面張力によって引き寄せ合って成長したは
んだ塊9bがバッシベーション膜4の表面に軽く付着し
ている。
【0012】特に前処理部6上においては、粒子噴射時
にチップ8の中心位置にあるためその表面には多数のは
んだ粒子9aが付着するほか、溶解時に前処理部6のま
わりに付着したはんだ微小粒子9aを、表面張力により
その中心側に引き寄せて凝集するため、前処理部6上に
は大型の(例えば40〜100μm位の高さの)バンプ
13が形成される。
【0013】しかし上記加熱溶解に際し、はんだバンプ
13は前処理部6を介して電極3に強固にはんだ付され
るが、バッシベーション膜4上のはんだ塊9bはその表
面に付着はしているが、はんだ付されている訳ではない
ため、図5に示すように回転ブラシ14等によりブラッ
シングし、あるいは別途超音波洗浄等により除去するこ
とが可能である。
【0014】
【発明の効果】以上のように構成される本発明の方法に
よれば、従来のはんだバンプに比して、多数のはんだを
付着させて大型の特に高さの高いはんだバンプを形成す
ることができ、はんだバンプを利用した回路接続が迅速
容易に且つ確実に行えるという利点を備えている。また
バンプ周辺に付着はんだはブラッシング等により確実に
除去できるので、従来のような液体洗浄等を要すること
なくバンプ周辺の仕上り面がきれいで、次の加工が容易
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】シリコンウエハ等のはんだ付加工物の拡大断面
図。
【図2】加工物への溶解はんだ粒子噴射状態を示す側断
面図。
【図3】加工物へ付着したはんだ粒子を示す側断面図。
【図4】加工物へ付着したはんだ粒子溶解状態を示す側
断面図。
【図5】はんだバンプ周辺の不要はんだ塊の除去方法を
示す断面図。
【符号の説明】
1 加工物 9 溶解はんだ 9a はんだ粒子(粒状はんだ) 9b はんだ塊 13 はんだバンプ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 溶解はんだ(9)に超音波振動を印加
    することにより上記溶解はんだ(9)を粒子状にして噴
    霧させるとともに該粒子状の溶解はんだ(9a)を加工
    物(1)のはんだ付着面に付着させ、付着面に付着した
    はんだを加熱溶解することによりはんだバンプ(13)
    を形成するはんだバンプ形成方法。
  2. 【請求項2】 はんだ付着面に付着したはんだ(9
    a)の加熱溶解を非酸化雰囲気中で行う請求項1のはん
    だバンプ形成方法。
  3. 【請求項3】 はんだ付着面に形成されたはんだバン
    プ(13)の周辺に付着した粒状のはんだ塊(9b)を
    超音波洗浄又はブラッシング処理により除去する請求項
    1のはんだバンプ形成方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3707983A1 (de) * 1987-03-12 1988-09-22 Max Planck Gesellschaft Optische einrichtung geringer dicke mit abstuetzvorrichtung
JP2007142314A (ja) * 2005-11-22 2007-06-07 Mitsubishi Electric Corp はんだ接合用前処理装置、その前処理方法およびそれを適用した電子部品実装装置、電子部品
JP2008085247A (ja) * 2006-09-29 2008-04-10 Omron Corp 半田付け装置および該半田付け装置を用いた半田付け方法

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DE3707983A1 (de) * 1987-03-12 1988-09-22 Max Planck Gesellschaft Optische einrichtung geringer dicke mit abstuetzvorrichtung
JP2007142314A (ja) * 2005-11-22 2007-06-07 Mitsubishi Electric Corp はんだ接合用前処理装置、その前処理方法およびそれを適用した電子部品実装装置、電子部品
JP2008085247A (ja) * 2006-09-29 2008-04-10 Omron Corp 半田付け装置および該半田付け装置を用いた半田付け方法

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