JPH06207926A - 螢光磁粉式自動探傷装置 - Google Patents
螢光磁粉式自動探傷装置Info
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- JPH06207926A JPH06207926A JP1952293A JP1952293A JPH06207926A JP H06207926 A JPH06207926 A JP H06207926A JP 1952293 A JP1952293 A JP 1952293A JP 1952293 A JP1952293 A JP 1952293A JP H06207926 A JPH06207926 A JP H06207926A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 長尺の被検査材の曲がりに起因してテレビカ
メラと表面との距離が変動しても、そのテレビカメラの
撮像画像に基づいて表面傷を高い精度で高速探傷できる
ようにする。 【構成】 テレビカメラ46の撮像範囲内において被検
査材12の幅方向に帯状の可視光を照射するように、被
検査材12の長手方向と直角で且つ表面18と平行にコ
ーナ検出用ライト50を配設し、テレビカメラ46の撮
像画像上におけるそのコーナ検出用ライト50の照射部
位の信号強度変化から、表面18の両側のコーナを検出
する。
メラと表面との距離が変動しても、そのテレビカメラの
撮像画像に基づいて表面傷を高い精度で高速探傷できる
ようにする。 【構成】 テレビカメラ46の撮像範囲内において被検
査材12の幅方向に帯状の可視光を照射するように、被
検査材12の長手方向と直角で且つ表面18と平行にコ
ーナ検出用ライト50を配設し、テレビカメラ46の撮
像画像上におけるそのコーナ検出用ライト50の照射部
位の信号強度変化から、表面18の両側のコーナを検出
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、螢光磁粉が付着された
被検査材の表面を撮像して表面傷を検出する螢光磁粉式
自動探傷装置の改良に関するものである。
被検査材の表面を撮像して表面傷を検出する螢光磁粉式
自動探傷装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】鋼材等の被検査材の表面傷を検知する手
段として螢光磁粉探傷法がある。これは、被検査材の表
面に螢光磁粉をシャワー或いはミスト、ドブ漬け等によ
って付着するとともに被検査材を磁化すると、表面傷に
よる漏れ磁束によって磁粉が傷部分に集まり、紫外線を
照射すればその傷部分で強く発光するため、その発光の
状態(磁粉模様)から傷の有無や位置を知るものであ
る。そして、かかる磁粉模様を撮像装置により撮像し、
その画像信号を予め定められた傷判断閾値と比較するこ
とにより、傷の有無や位置を自動的に検知するようにし
た自動探傷装置が知られている。また、鋼材等の長尺の
被検査材に対しては、その被検査材または上記撮像装置
を長手方向へ移動させ、被検査材の表面を複数のブロッ
クに分割して探傷するようになっている。本出願人が先
に出願した特願平4−100425号に記載されている
自動探傷装置はその一例である。
段として螢光磁粉探傷法がある。これは、被検査材の表
面に螢光磁粉をシャワー或いはミスト、ドブ漬け等によ
って付着するとともに被検査材を磁化すると、表面傷に
よる漏れ磁束によって磁粉が傷部分に集まり、紫外線を
照射すればその傷部分で強く発光するため、その発光の
状態(磁粉模様)から傷の有無や位置を知るものであ
る。そして、かかる磁粉模様を撮像装置により撮像し、
その画像信号を予め定められた傷判断閾値と比較するこ
とにより、傷の有無や位置を自動的に検知するようにし
た自動探傷装置が知られている。また、鋼材等の長尺の
被検査材に対しては、その被検査材または上記撮像装置
を長手方向へ移動させ、被検査材の表面を複数のブロッ
クに分割して探傷するようになっている。本出願人が先
に出願した特願平4−100425号に記載されている
自動探傷装置はその一例である。
【0003】図9は、撮像装置を移動させて探傷する螢
光磁粉式自動探傷装置の一例を示す概略図で、長尺の被
検査材80は予め磁化されているとともに螢光磁粉が付
着されている一方、その被検査材80の長手方向、すな
わち図の表裏方向へ移動させられる台車82には、撮像
装置としてのテレビカメラ84や紫外線ランプ86等が
配設され、被検査材80の長手方向において複数のブロ
ックに分割して表面の磁粉模様を撮像するようになって
いる。また、テレビカメラ84の撮像画像上で被検査材
80の位置を判断するために、テレビカメラ84と反対
側から被検査材80のコーナ部に可視光を照射するコー
ナ検出用ライト88を備えている。すなわち、螢光磁粉
による探傷は暗室内で行う必要があり、図10に示す撮
像画像Pのうち、どの部分が被検査材80であるか明確
でないため、コーナ部に可視光を照射することにより、
図11に示すように画像信号の信号強度Iが急峻に変化
する位置をコーナCと判別するのである。そして、その
コーナCを基準として、被検査材80の幅寸法に応じて
予め設定された探傷幅Wの範囲を探傷エリアEとし、そ
の探傷エリアE内で信号強度Iと予め定められた傷判断
閾値とを比較して傷判断を行うとともに、コーナCから
傷Kn までの寸法Ln により傷位置が求められる。
光磁粉式自動探傷装置の一例を示す概略図で、長尺の被
検査材80は予め磁化されているとともに螢光磁粉が付
着されている一方、その被検査材80の長手方向、すな
わち図の表裏方向へ移動させられる台車82には、撮像
装置としてのテレビカメラ84や紫外線ランプ86等が
配設され、被検査材80の長手方向において複数のブロ
ックに分割して表面の磁粉模様を撮像するようになって
いる。また、テレビカメラ84の撮像画像上で被検査材
80の位置を判断するために、テレビカメラ84と反対
側から被検査材80のコーナ部に可視光を照射するコー
ナ検出用ライト88を備えている。すなわち、螢光磁粉
による探傷は暗室内で行う必要があり、図10に示す撮
像画像Pのうち、どの部分が被検査材80であるか明確
でないため、コーナ部に可視光を照射することにより、
図11に示すように画像信号の信号強度Iが急峻に変化
する位置をコーナCと判別するのである。そして、その
コーナCを基準として、被検査材80の幅寸法に応じて
予め設定された探傷幅Wの範囲を探傷エリアEとし、そ
の探傷エリアE内で信号強度Iと予め定められた傷判断
閾値とを比較して傷判断を行うとともに、コーナCから
傷Kn までの寸法Ln により傷位置が求められる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、長尺の
鋼材等はその長手方向において必ずしも真っ直ぐでな
く、撮像装置に対して接近したり離間したりしているこ
とがあり、それに伴って撮像画像P上における被検査材
の大きさは変化するため、一定の探傷幅Wで探傷エリア
Eを設定すると、撮像画像P上における実際の被検査材
の範囲と探傷エリアEとがずれて探傷精度が損なわれ
る。すなわち、実際の被検査材の範囲が探傷エリアEよ
り大きいと、一部を探傷しないことになり重大な傷を見
過ごす可能性がある一方、探傷エリアE内に被検査材以
外の部分を含んでいると、傷以外のノイズを傷として判
断する恐れがあるのであり、また、コーナCから傷Kn
までの寸法Ln にも誤差が生じる。
鋼材等はその長手方向において必ずしも真っ直ぐでな
く、撮像装置に対して接近したり離間したりしているこ
とがあり、それに伴って撮像画像P上における被検査材
の大きさは変化するため、一定の探傷幅Wで探傷エリア
Eを設定すると、撮像画像P上における実際の被検査材
の範囲と探傷エリアEとがずれて探傷精度が損なわれ
る。すなわち、実際の被検査材の範囲が探傷エリアEよ
り大きいと、一部を探傷しないことになり重大な傷を見
過ごす可能性がある一方、探傷エリアE内に被検査材以
外の部分を含んでいると、傷以外のノイズを傷として判
断する恐れがあるのであり、また、コーナCから傷Kn
までの寸法Ln にも誤差が生じる。
【0005】また、被検査材のコーナ形状によっては、
前記コーナ検出用ライトと被検査材との位置関係が変化
することによりコーナ部の照射範囲が変化し、撮像画像
P上において信号強度Iが急峻に変化するコーナCにば
らつきが生じることがある。例えば、前記図9のように
コーナ部が所定の曲率で湾曲している場合、被検査材8
0が右上方向へ変位すると、右側のコーナ部における照
射範囲は狭くなり、図11において一点鎖線で示されて
いる位置がコーナCと判断される一方、被検査材80が
左下方向へ変位すると、右側のコーナ部における照射範
囲は広くなり、図11において二点鎖線で示されている
位置がコーナCと判断されるのである。このため、その
コーナCを基準として求められる傷位置Ln の精度が低
下する。
前記コーナ検出用ライトと被検査材との位置関係が変化
することによりコーナ部の照射範囲が変化し、撮像画像
P上において信号強度Iが急峻に変化するコーナCにば
らつきが生じることがある。例えば、前記図9のように
コーナ部が所定の曲率で湾曲している場合、被検査材8
0が右上方向へ変位すると、右側のコーナ部における照
射範囲は狭くなり、図11において一点鎖線で示されて
いる位置がコーナCと判断される一方、被検査材80が
左下方向へ変位すると、右側のコーナ部における照射範
囲は広くなり、図11において二点鎖線で示されている
位置がコーナCと判断されるのである。このため、その
コーナCを基準として求められる傷位置Ln の精度が低
下する。
【0006】これに対し、撮像装置等と被検査材との位
置関係が一定に維持されるように、被検査材の曲がりに
倣って機械的に撮像装置等を変位させることが考えられ
るが、その場合には構造が複雑になるばかりでなく、倣
い機構に機械的な遅れが生じるため、被検査材の長手方
向への相対移動速度が制限されるという問題がある。
置関係が一定に維持されるように、被検査材の曲がりに
倣って機械的に撮像装置等を変位させることが考えられ
るが、その場合には構造が複雑になるばかりでなく、倣
い機構に機械的な遅れが生じるため、被検査材の長手方
向への相対移動速度が制限されるという問題がある。
【0007】本発明は以上の事情を背景として為された
もので、その目的とするところは、長尺の被検査材の曲
がりに拘らず高い精度で高速探傷できるようにすること
にある。
もので、その目的とするところは、長尺の被検査材の曲
がりに拘らず高い精度で高速探傷できるようにすること
にある。
【0008】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本発明は、(a)表面に螢光磁粉が付着された長
尺の被検査材の長手方向へ相対移動させられ、その被検
査材の表面を複数のブロックに分割して撮像する撮像装
置と、(b)前記被検査材の表面に紫外線を照射する紫
外線照射手段とを備え、前記撮像装置から出力される画
像信号が表す撮像画像に基づいて前記表面に存在する傷
を検出する螢光磁粉式自動探傷装置において、(c)前
記撮像画像上における前記被検査材の幅方向の両端縁を
検出する端縁検出手段を有することを特徴とする。
めに、本発明は、(a)表面に螢光磁粉が付着された長
尺の被検査材の長手方向へ相対移動させられ、その被検
査材の表面を複数のブロックに分割して撮像する撮像装
置と、(b)前記被検査材の表面に紫外線を照射する紫
外線照射手段とを備え、前記撮像装置から出力される画
像信号が表す撮像画像に基づいて前記表面に存在する傷
を検出する螢光磁粉式自動探傷装置において、(c)前
記撮像画像上における前記被検査材の幅方向の両端縁を
検出する端縁検出手段を有することを特徴とする。
【0009】
【作用および発明の効果】このような螢光磁粉式自動探
傷装置においては、撮像画像上における被検査材の幅方
向の両端縁が端縁検出手段によって検出されるため、被
検査材の曲がり等に起因して撮像装置と被検査材との間
の距離が変動し、撮像画像上における被検査材の大きさ
が変化しても、その被検査材の幅方向範囲が正確に定め
られる。これにより、被検査材の範囲外と判断して重大
な傷を見過ごしたり、被検査材以外の部分のノイズを傷
と誤判断したりすることが防止されるとともに、両端縁
に基づいて被検査材の幅方向における傷位置が正確に求
められ、常に高い探傷精度が得られるようになる。ま
た、被検査材の曲がりに倣って撮像装置等を変位させる
場合に比較して、装置が簡単且つコンパクトに構成され
得るとともに、撮像装置等を被検査材の長手方向へ高速
移動させるなどして高速探傷を行うことが可能となる。
傷装置においては、撮像画像上における被検査材の幅方
向の両端縁が端縁検出手段によって検出されるため、被
検査材の曲がり等に起因して撮像装置と被検査材との間
の距離が変動し、撮像画像上における被検査材の大きさ
が変化しても、その被検査材の幅方向範囲が正確に定め
られる。これにより、被検査材の範囲外と判断して重大
な傷を見過ごしたり、被検査材以外の部分のノイズを傷
と誤判断したりすることが防止されるとともに、両端縁
に基づいて被検査材の幅方向における傷位置が正確に求
められ、常に高い探傷精度が得られるようになる。ま
た、被検査材の曲がりに倣って撮像装置等を変位させる
場合に比較して、装置が簡単且つコンパクトに構成され
得るとともに、撮像装置等を被検査材の長手方向へ高速
移動させるなどして高速探傷を行うことが可能となる。
【0010】ここで、上記端縁検出手段が、(d)前記
被検査材の表面と平行に配設されて幅方向に細長い帯状
の平行光をその表面に照射する端縁検出用ライトと、
(e)前記撮像画像上におけるその端縁検出用ライトの
照射部位の信号強度変化から前記両端縁を判断する端縁
判断手段とを含んで構成されている場合には、例えば被
検査材のコーナ部が丸み等を有する場合でも、撮像装置
と被検査材との間の距離変化に拘らず被検査材に対する
照射範囲に変動が無いため、撮像画像上における被検査
材の両端縁が常に高い精度で検出され、その端縁に基づ
く傷位置の検出精度が一層向上する。
被検査材の表面と平行に配設されて幅方向に細長い帯状
の平行光をその表面に照射する端縁検出用ライトと、
(e)前記撮像画像上におけるその端縁検出用ライトの
照射部位の信号強度変化から前記両端縁を判断する端縁
判断手段とを含んで構成されている場合には、例えば被
検査材のコーナ部が丸み等を有する場合でも、撮像装置
と被検査材との間の距離変化に拘らず被検査材に対する
照射範囲に変動が無いため、撮像画像上における被検査
材の両端縁が常に高い精度で検出され、その端縁に基づ
く傷位置の検出精度が一層向上する。
【0011】また、上記端縁検出手段によって検出され
た両端縁に基づいて基準位置を定め、前記被検査材の幅
方向における傷位置を、その基準位置から傷までの寸法
と基準位置から端縁までの寸法との割合で求める傷位置
演算手段を有する場合には、撮像画像上における被検査
材の大きさ、すなわち両端縁間の寸法のばらつきによる
影響を最小限に抑えられる。このため、被検査材の長手
方向において複数に分割して撮像された各撮像画像から
求めた傷位置を相互にそのまま比較できるとともに、そ
れらを繋ぎ合わせて表面全体の傷マップ等を容易に作成
できる。
た両端縁に基づいて基準位置を定め、前記被検査材の幅
方向における傷位置を、その基準位置から傷までの寸法
と基準位置から端縁までの寸法との割合で求める傷位置
演算手段を有する場合には、撮像画像上における被検査
材の大きさ、すなわち両端縁間の寸法のばらつきによる
影響を最小限に抑えられる。このため、被検査材の長手
方向において複数に分割して撮像された各撮像画像から
求めた傷位置を相互にそのまま比較できるとともに、そ
れらを繋ぎ合わせて表面全体の傷マップ等を容易に作成
できる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。
細に説明する。
【0013】図1は、本発明の一実施例である螢光磁粉
式自動探傷装置(以下、単に探傷装置という)10の斜
視図で、図2はその断面図、図3は制御系統を説明する
図である。これ等の図において、強磁性体製の鋼材であ
る被検査材12は、コーナが丸い略方形断面を有して長
尺状を成しており、複数の検査台14により4つのコー
ナが上下左右に位置する略水平な姿勢で位置固定に支持
されている。そして、その被検査材12の長手方向に移
動させられる一対の検査ユニット16によって、外周の
表面18(上側の2面)に存在する傷が検出されるよう
になっている。磁粉探傷法は、表面若しくは表面近傍の
傷(欠陥)を迂回して流れる漏洩磁束により、強磁性体
の粉である磁粉をその傷部分に集中的に吸着させて、そ
の磁粉模様から傷の有無や位置を調べる方法であり、上
記被検査材12は、予め磁場に晒されて磁化されている
とともに、その表面18には多数のノズルによる散布や
ドブ漬けなどにより螢光磁粉が付着されている。
式自動探傷装置(以下、単に探傷装置という)10の斜
視図で、図2はその断面図、図3は制御系統を説明する
図である。これ等の図において、強磁性体製の鋼材であ
る被検査材12は、コーナが丸い略方形断面を有して長
尺状を成しており、複数の検査台14により4つのコー
ナが上下左右に位置する略水平な姿勢で位置固定に支持
されている。そして、その被検査材12の長手方向に移
動させられる一対の検査ユニット16によって、外周の
表面18(上側の2面)に存在する傷が検出されるよう
になっている。磁粉探傷法は、表面若しくは表面近傍の
傷(欠陥)を迂回して流れる漏洩磁束により、強磁性体
の粉である磁粉をその傷部分に集中的に吸着させて、そ
の磁粉模様から傷の有無や位置を調べる方法であり、上
記被検査材12は、予め磁場に晒されて磁化されている
とともに、その表面18には多数のノズルによる散布や
ドブ漬けなどにより螢光磁粉が付着されている。
【0014】被検査材12の上方には、その被検査材1
2の長手方向と平行に一対のガイドレール24および2
6が配設されており、前記検査ユニット16は、この一
対のガイドレール24および26に支持されて走行する
台車28に配設されることにより、被検査材12の全長
に亘って探傷できるようになっている。この台車28に
は、制御装置56から供給される駆動信号SD1によっ
て正逆両方向へ回転駆動されるサーボモータ30が配設
されており、このサーボモータ30の駆動力がタイミン
グベルト32を介して駆動輪34および36に伝達され
ることにより、台車28はガイドレール24,26上を
所定の移動速度Vで走行させられる。サーボモータ30
にはエンコーダ38が設けられており、台車28の移動
速度Vに対応する回転角度信号SA1が制御装置56に
供給される。一方のガイドレール24にはその上面に噛
合歯40が形成されているとともに、そのガイドレール
24上を転動する一方の駆動輪34の外周には、上記噛
合歯40と噛み合う噛合歯42が設けられており、それ
らの噛合歯40および42の噛合いによって、台車28
は駆動輪34の回転角度に正確に対応してガイドレール
24上を移動する。
2の長手方向と平行に一対のガイドレール24および2
6が配設されており、前記検査ユニット16は、この一
対のガイドレール24および26に支持されて走行する
台車28に配設されることにより、被検査材12の全長
に亘って探傷できるようになっている。この台車28に
は、制御装置56から供給される駆動信号SD1によっ
て正逆両方向へ回転駆動されるサーボモータ30が配設
されており、このサーボモータ30の駆動力がタイミン
グベルト32を介して駆動輪34および36に伝達され
ることにより、台車28はガイドレール24,26上を
所定の移動速度Vで走行させられる。サーボモータ30
にはエンコーダ38が設けられており、台車28の移動
速度Vに対応する回転角度信号SA1が制御装置56に
供給される。一方のガイドレール24にはその上面に噛
合歯40が形成されているとともに、そのガイドレール
24上を転動する一方の駆動輪34の外周には、上記噛
合歯40と噛み合う噛合歯42が設けられており、それ
らの噛合歯40および42の噛合いによって、台車28
は駆動輪34の回転角度に正確に対応してガイドレール
24上を移動する。
【0015】上記台車28は、矩形の箱形状を成して内
部を暗室状態としている一方、一対の検査ユニット16
は、その台車28内に配設されたテレビカメラ46,紫
外線ランプ48,コーナ検出用ライト50等をそれぞれ
備えて構成されている。一対の検査ユニット16は被検
査材12の表面18のうち斜め上方を向いた2面を同時
に探傷するようになっており、それぞれのテレビカメラ
46、紫外線ランプ48,コーナ検出用ライト50等
は、被検査材12の軸心を含む鉛直な平面に対して対称
的に配置されている。テレビカメラ46は、その光軸が
被検査材12の表面18と略垂直になる姿勢で位置固定
に配設されており、CCD撮像素子により表面18の螢
光磁粉の模様を撮像するようになっている。このテレビ
カメラ46は撮像装置に相当し、入射光量に対応して強
度変化する画像信号SVを前記制御装置56へ出力す
る。なお、かかるテレビカメラ46は、被検査材12の
長手方向と直角な幅方向へ水平走査するとともに、長手
方向へ垂直走査するようになっている
部を暗室状態としている一方、一対の検査ユニット16
は、その台車28内に配設されたテレビカメラ46,紫
外線ランプ48,コーナ検出用ライト50等をそれぞれ
備えて構成されている。一対の検査ユニット16は被検
査材12の表面18のうち斜め上方を向いた2面を同時
に探傷するようになっており、それぞれのテレビカメラ
46、紫外線ランプ48,コーナ検出用ライト50等
は、被検査材12の軸心を含む鉛直な平面に対して対称
的に配置されている。テレビカメラ46は、その光軸が
被検査材12の表面18と略垂直になる姿勢で位置固定
に配設されており、CCD撮像素子により表面18の螢
光磁粉の模様を撮像するようになっている。このテレビ
カメラ46は撮像装置に相当し、入射光量に対応して強
度変化する画像信号SVを前記制御装置56へ出力す
る。なお、かかるテレビカメラ46は、被検査材12の
長手方向と直角な幅方向へ水平走査するとともに、長手
方向へ垂直走査するようになっている
【0016】前記紫外線ランプ48は紫外線照射手段に
相当するもので、テレビカメラ46の撮像範囲に紫外線
を照射するように台車28に取り付けられている。この
紫外線の一部は表面18で反射してテレビカメラ46に
入射するが、テレビカメラ46には紫外線除去用フィル
ターが設けられ、紫外線を除去するようになっている。
また、コーナ検出用ライト50は端縁検出用ライトに相
当するもので、シリンドリカルレンズにより細長い帯状
の平行光を出射するようになっており、被検査材12の
長手方向と直角で且つ表面18と平行に配設されて、テ
レビカメラ46の撮像範囲内において被検査材12の幅
方向に帯状の可視光を照射する。この光は表面18に対
して略垂直であることが望ましいが、被検査材12の長
手方向に傾斜していても良い。台車28にはまた、被検
査材12を挟んで両側に位置するように一対の投光器6
4および受光器66が配設され、受光器66の検出信号
SPに基づいて被検査材12の長手方向の両端部が検出
されるようになっている。
相当するもので、テレビカメラ46の撮像範囲に紫外線
を照射するように台車28に取り付けられている。この
紫外線の一部は表面18で反射してテレビカメラ46に
入射するが、テレビカメラ46には紫外線除去用フィル
ターが設けられ、紫外線を除去するようになっている。
また、コーナ検出用ライト50は端縁検出用ライトに相
当するもので、シリンドリカルレンズにより細長い帯状
の平行光を出射するようになっており、被検査材12の
長手方向と直角で且つ表面18と平行に配設されて、テ
レビカメラ46の撮像範囲内において被検査材12の幅
方向に帯状の可視光を照射する。この光は表面18に対
して略垂直であることが望ましいが、被検査材12の長
手方向に傾斜していても良い。台車28にはまた、被検
査材12を挟んで両側に位置するように一対の投光器6
4および受光器66が配設され、受光器66の検出信号
SPに基づいて被検査材12の長手方向の両端部が検出
されるようになっている。
【0017】制御装置56は、CPU58,ROM6
0,RAM62等を有するマイクロコンピュータを備え
て構成されており、RAM62の一時記憶機能を利用し
つつ予めROM60に記憶されたプログラムに従って信
号処理を行い、前記駆動信号SD1を出力することによ
り台車28を移動させるとともに、テレビカメラ46か
ら供給される画像信号SVに基づいて表面18の傷マッ
プを作成する。以下、図4のフローチャートを参照しつ
つ、画像信号SVの信号処理を具体的に説明する。
0,RAM62等を有するマイクロコンピュータを備え
て構成されており、RAM62の一時記憶機能を利用し
つつ予めROM60に記憶されたプログラムに従って信
号処理を行い、前記駆動信号SD1を出力することによ
り台車28を移動させるとともに、テレビカメラ46か
ら供給される画像信号SVに基づいて表面18の傷マッ
プを作成する。以下、図4のフローチャートを参照しつ
つ、画像信号SVの信号処理を具体的に説明する。
【0018】先ず、ステップS1では、台車28の移動
量に基づいて画像信号SVの取込みタイミングか否かを
判断し、YESになるとステップS2で画像信号SVを
取り込む。この画像信号SVを取り込むタイミング、す
なわち台車28の移動量は、図5に破線で示すように長
尺の被検査材12の表面18を複数のブロックに分けて
撮像するように、テレビカメラ46の撮像範囲に基づい
て予め定められている。次のステップS3では、取り込
んだ画像信号SVが表す撮像画像の中から、被検査材1
2の幅方向の両端縁、すなわち表面18の両側のコーナ
部を判断する。図6のPは画像信号SVが表す撮像画像
の範囲で、この中には前記コーナ検出用ライト50によ
る光の照射部位に基づいて予めコーナ検出用エリアFが
定められており、ステップS3では、そのコーナ検出用
エリアF内における画像信号SVの信号強度変化に基づ
いて、表面18の両側のコーナC1 ,C2 を識別する。
コーナ検出用ライト50が表面18に照射された部位は
明るいため、画像信号SVの信号強度Iは、例えば図7
のように被検査材12の幅方向において急激に変化して
おり、信号強度Iが高い部分の両端位置をコーナC1 ,
C2 として検出すれば良い。ステップS4では、上記コ
ーナC1 ,C2 の間を被検査材12の幅方向における探
傷範囲E1 として設定し、撮像画像Pに対して予め定め
られた被検査材12の長手方向の探傷範囲E2 により探
傷エリアEを設定する。以下の各ステップでは、上記探
傷エリアEの範囲内の画像信号SVのみが信号処理され
る。
量に基づいて画像信号SVの取込みタイミングか否かを
判断し、YESになるとステップS2で画像信号SVを
取り込む。この画像信号SVを取り込むタイミング、す
なわち台車28の移動量は、図5に破線で示すように長
尺の被検査材12の表面18を複数のブロックに分けて
撮像するように、テレビカメラ46の撮像範囲に基づい
て予め定められている。次のステップS3では、取り込
んだ画像信号SVが表す撮像画像の中から、被検査材1
2の幅方向の両端縁、すなわち表面18の両側のコーナ
部を判断する。図6のPは画像信号SVが表す撮像画像
の範囲で、この中には前記コーナ検出用ライト50によ
る光の照射部位に基づいて予めコーナ検出用エリアFが
定められており、ステップS3では、そのコーナ検出用
エリアF内における画像信号SVの信号強度変化に基づ
いて、表面18の両側のコーナC1 ,C2 を識別する。
コーナ検出用ライト50が表面18に照射された部位は
明るいため、画像信号SVの信号強度Iは、例えば図7
のように被検査材12の幅方向において急激に変化して
おり、信号強度Iが高い部分の両端位置をコーナC1 ,
C2 として検出すれば良い。ステップS4では、上記コ
ーナC1 ,C2 の間を被検査材12の幅方向における探
傷範囲E1 として設定し、撮像画像Pに対して予め定め
られた被検査材12の長手方向の探傷範囲E2 により探
傷エリアEを設定する。以下の各ステップでは、上記探
傷エリアEの範囲内の画像信号SVのみが信号処理され
る。
【0019】ステップS5では、被検査材12の長手方
向すなわち図6の上下方向に関して画像信号SVを平滑
化し、ノイズを除去する。被検査材12は長手方向に圧
延されたもので、表面傷は通常長手方向に長く、上記の
ように長手方向に平滑化が行われても実際の傷に起因す
る信号は殆ど影響を受けない。また、ステップS6で
は、被検査材12の幅方向すなわち図6の左右方向に関
して微分処理(差分処理)を行い、信号強度Iの変化を
急峻にして画像を鮮鋭化する。そして、次のステップS
7では、予め設定された傷判断閾値THと画像信号SV
の信号強度Iとを比較して、I>THか否かにより傷候
補を抽出し、次のステップS8では、ステップS7で抽
出された傷候補の繋がりパターンからノイズと考えられ
るものを除去する。これは、例えば傷候補が被検査材1
2の長手方向に連続していない場合はノイズと判断して
除去するように定められる。
向すなわち図6の上下方向に関して画像信号SVを平滑
化し、ノイズを除去する。被検査材12は長手方向に圧
延されたもので、表面傷は通常長手方向に長く、上記の
ように長手方向に平滑化が行われても実際の傷に起因す
る信号は殆ど影響を受けない。また、ステップS6で
は、被検査材12の幅方向すなわち図6の左右方向に関
して微分処理(差分処理)を行い、信号強度Iの変化を
急峻にして画像を鮮鋭化する。そして、次のステップS
7では、予め設定された傷判断閾値THと画像信号SV
の信号強度Iとを比較して、I>THか否かにより傷候
補を抽出し、次のステップS8では、ステップS7で抽
出された傷候補の繋がりパターンからノイズと考えられ
るものを除去する。これは、例えば傷候補が被検査材1
2の長手方向に連続していない場合はノイズと判断して
除去するように定められる。
【0020】ステップS9では、ノイズとして除去され
た残りの傷候補を最終的な傷と判断して、その傷位置を
算出する。この傷位置は、例えば図8に示されているよ
うに、前記コーナC1 ,C2 の間の中心位置Sを求め、
その中心位置Sから傷Kn までの寸法Ln の、中心位置
SからコーナC1 またはC2 までの寸法E1 /2に対す
る割合Ln /(E1 /2)=2Ln /E1 によって求め
られる。中心位置Sは基準位置に相当し、傷位置は、中
心位置Sの右側か左側かによって正負が反対となる。そ
して、次のステップS10においてその傷位置を記憶す
る。
た残りの傷候補を最終的な傷と判断して、その傷位置を
算出する。この傷位置は、例えば図8に示されているよ
うに、前記コーナC1 ,C2 の間の中心位置Sを求め、
その中心位置Sから傷Kn までの寸法Ln の、中心位置
SからコーナC1 またはC2 までの寸法E1 /2に対す
る割合Ln /(E1 /2)=2Ln /E1 によって求め
られる。中心位置Sは基準位置に相当し、傷位置は、中
心位置Sの右側か左側かによって正負が反対となる。そ
して、次のステップS10においてその傷位置を記憶す
る。
【0021】以上の各ステップにより、複数に分割され
た表面18の一つのブロックに対する探傷処理は終了す
る。これ等の各ステップは、次のブロックの画像信号S
Vの取込みを開始するまでの間に行われる。そして、次
のステップS11では、被検査材12の一つの表面18
に対する探傷が全て終了したか否かを、例えば前記受光
器66の検出信号SP等に基づいて判断し、探傷が終了
するまでステップS1以下を繰り返し実行する。これに
より、表面18に対する探傷処理が、分割された各ブロ
ック毎に行われる。なお、総てのブロックの画像信号S
Vを取り込んだ後に、各ブロック毎にステップS3以下
の探傷処理を実行するようにしても良い。
た表面18の一つのブロックに対する探傷処理は終了す
る。これ等の各ステップは、次のブロックの画像信号S
Vの取込みを開始するまでの間に行われる。そして、次
のステップS11では、被検査材12の一つの表面18
に対する探傷が全て終了したか否かを、例えば前記受光
器66の検出信号SP等に基づいて判断し、探傷が終了
するまでステップS1以下を繰り返し実行する。これに
より、表面18に対する探傷処理が、分割された各ブロ
ック毎に行われる。なお、総てのブロックの画像信号S
Vを取り込んだ後に、各ブロック毎にステップS3以下
の探傷処理を実行するようにしても良い。
【0022】一つの表面18に対する探傷が総て終了
し、ステップS11の判断がYESになると、ステップ
S12において表面18全域の傷位置を表す傷マップを
作成する。この傷マップは、前記幅方向の探傷範囲E1
と予め設定された被検査材12の幅寸法との割合によ
り、幅方向の傷位置を実際の寸法に合わせて作成され
る。また、各ブロックの撮像画像Pの探傷範囲E2 は、
被検査材12の長手方向において互いにオーバーラップ
するように設定されている。
し、ステップS11の判断がYESになると、ステップ
S12において表面18全域の傷位置を表す傷マップを
作成する。この傷マップは、前記幅方向の探傷範囲E1
と予め設定された被検査材12の幅寸法との割合によ
り、幅方向の傷位置を実際の寸法に合わせて作成され
る。また、各ブロックの撮像画像Pの探傷範囲E2 は、
被検査材12の長手方向において互いにオーバーラップ
するように設定されている。
【0023】ここで、かかる本実施例の探傷装置10
は、撮像画像P上における被検査材12の幅方向の両側
コーナC1 ,C2 を検出し、そのコーナC1 ,C2 によ
って探傷範囲E1 が設定されるため、被検査材12の曲
がり等に起因してテレビカメラ46と被検査材12との
間の距離が変動し、撮像画像P上における被検査材12
の大きさが変化しても、幅方向の探傷範囲E1 が被検査
材12の表面18と一致するように正確に定められる。
これにより、表面18と探傷範囲E1 とがずれて、被検
査材12の範囲外と判断して重大な傷を見過ごしたり、
被検査材12以外の部分のノイズを傷と誤判断したりす
ることが防止されるとともに、両側コーナC1 ,C2 に
基づいて被検査材12の幅方向における傷位置が正確に
求められ、常に高い探傷精度が得られるようになる。ま
た、被検査材12の曲がりに倣って表面18からの距離
が一定に維持されるようにテレビカメラ46を変位させ
る場合に比較して、探傷装置10が簡単且つコンパクト
に構成されるとともに、台車28を被検査材12の長手
方向へ高速移動させて高速探傷を行うことが可能とな
る。
は、撮像画像P上における被検査材12の幅方向の両側
コーナC1 ,C2 を検出し、そのコーナC1 ,C2 によ
って探傷範囲E1 が設定されるため、被検査材12の曲
がり等に起因してテレビカメラ46と被検査材12との
間の距離が変動し、撮像画像P上における被検査材12
の大きさが変化しても、幅方向の探傷範囲E1 が被検査
材12の表面18と一致するように正確に定められる。
これにより、表面18と探傷範囲E1 とがずれて、被検
査材12の範囲外と判断して重大な傷を見過ごしたり、
被検査材12以外の部分のノイズを傷と誤判断したりす
ることが防止されるとともに、両側コーナC1 ,C2 に
基づいて被検査材12の幅方向における傷位置が正確に
求められ、常に高い探傷精度が得られるようになる。ま
た、被検査材12の曲がりに倣って表面18からの距離
が一定に維持されるようにテレビカメラ46を変位させ
る場合に比較して、探傷装置10が簡単且つコンパクト
に構成されるとともに、台車28を被検査材12の長手
方向へ高速移動させて高速探傷を行うことが可能とな
る。
【0024】また、本実施例ではコーナ検出用ライト5
0により表面18に帯状の平行光を照射し、その照射部
位における画像信号SVの信号強度変化から上記コーナ
C1,C2 を検出するようにしているため、表面18の
両側のコーナに丸みがあっても、テレビカメラ46と被
検査材12との間の距離変化に拘らず被検査材12に対
する照射範囲に変動が無く、撮像画像P上における表面
18の両側コーナC1,C2 が常に高い精度で検出さ
れ、そのコーナC1 ,C2 に基づいて傷位置が一層高い
精度で検出される。
0により表面18に帯状の平行光を照射し、その照射部
位における画像信号SVの信号強度変化から上記コーナ
C1,C2 を検出するようにしているため、表面18の
両側のコーナに丸みがあっても、テレビカメラ46と被
検査材12との間の距離変化に拘らず被検査材12に対
する照射範囲に変動が無く、撮像画像P上における表面
18の両側コーナC1,C2 が常に高い精度で検出さ
れ、そのコーナC1 ,C2 に基づいて傷位置が一層高い
精度で検出される。
【0025】更に、上記コーナC1 ,C2 の中心位置S
を求め、その中心位置Sから傷Knまでの寸法Ln と、
中心位置SからコーナC1 またはC2 までの寸法E1 /
2との割合により、幅方向における傷位置を算出してい
るため、撮像画像P上における被検査材12の大きさ、
すなわち両コーナC1 ,C2 間の寸法(探傷範囲E1)
のばらつきに拘らず、中心位置Sに対して傷位置が一定
の関係で求められ、表面18全域の傷位置を表す傷マッ
プが正確且つ容易に作成される。また、中心位置Sを基
準として傷位置が求められるため、被検査材12が軸心
まわりに捩じれて表面18がテレビカメラ46に対して
傾斜している場合でも、傷位置の検出誤差が小さくて済
む。
を求め、その中心位置Sから傷Knまでの寸法Ln と、
中心位置SからコーナC1 またはC2 までの寸法E1 /
2との割合により、幅方向における傷位置を算出してい
るため、撮像画像P上における被検査材12の大きさ、
すなわち両コーナC1 ,C2 間の寸法(探傷範囲E1)
のばらつきに拘らず、中心位置Sに対して傷位置が一定
の関係で求められ、表面18全域の傷位置を表す傷マッ
プが正確且つ容易に作成される。また、中心位置Sを基
準として傷位置が求められるため、被検査材12が軸心
まわりに捩じれて表面18がテレビカメラ46に対して
傾斜している場合でも、傷位置の検出誤差が小さくて済
む。
【0026】本実施例では、制御装置56による一連の
信号処理のうちステップS3を実行する部分が端縁判断
手段に相当し、これとコーナ検出用ライト50とを含ん
で端縁検出手段が構成されている。また、ステップS9
を実行する部分は傷位置演算手段に相当する。
信号処理のうちステップS3を実行する部分が端縁判断
手段に相当し、これとコーナ検出用ライト50とを含ん
で端縁検出手段が構成されている。また、ステップS9
を実行する部分は傷位置演算手段に相当する。
【0027】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
詳細に説明したが、本発明は他の態様で実施することも
できる。
詳細に説明したが、本発明は他の態様で実施することも
できる。
【0028】例えば、前記実施例では被検査材12に対
して検査ユニット16を移動させながら探傷する場合に
ついて説明したが、検査ユニット16を固定して被検査
材12を移動させるようにしても良い。台車28の移動
に追従して回動する反射鏡を用いて表面18を略静止状
態で撮像するようにすることも可能である。
して検査ユニット16を移動させながら探傷する場合に
ついて説明したが、検査ユニット16を固定して被検査
材12を移動させるようにしても良い。台車28の移動
に追従して回動する反射鏡を用いて表面18を略静止状
態で撮像するようにすることも可能である。
【0029】また、前記実施例のコーナ検出用ライト5
0は帯状の平行光を表面18に照射するようになってい
たが、両側のコーナ部をそれぞれテレビカメラ46と反
対側から照射する一対のライトを設け、その照射による
画像信号SVの信号強度変化から両側のコーナ位置をそ
れぞれ検出するようにすることも可能である。
0は帯状の平行光を表面18に照射するようになってい
たが、両側のコーナ部をそれぞれテレビカメラ46と反
対側から照射する一対のライトを設け、その照射による
画像信号SVの信号強度変化から両側のコーナ位置をそ
れぞれ検出するようにすることも可能である。
【0030】また、テレビカメラ46と一定の位置関係
で超音波等による距離センサを配設し、被検査材12ま
での距離や両側コーナ部を検出することにより、撮像画
像P上における被検査材12の両側コーナの位置を求め
ることも可能である。これも端縁検出手段の一態様であ
る。
で超音波等による距離センサを配設し、被検査材12ま
での距離や両側コーナ部を検出することにより、撮像画
像P上における被検査材12の両側コーナの位置を求め
ることも可能である。これも端縁検出手段の一態様であ
る。
【0031】また、前記実施例では両コーナC1 ,C2
の中心位置Sが傷位置を求める際の基準位置とされてい
たが、両コーナC1 ,C2 の何れか一方を基準位置とし
ても良いし、コーナC1 ,C2 に基づいて定めることが
できる任意の位置を基準位置とすることもできる。
の中心位置Sが傷位置を求める際の基準位置とされてい
たが、両コーナC1 ,C2 の何れか一方を基準位置とし
ても良いし、コーナC1 ,C2 に基づいて定めることが
できる任意の位置を基準位置とすることもできる。
【0032】また、前記実施例では中心位置Sから傷K
n までの寸法Ln とコーナC1 またはC2 までの寸法E
1 /2との割合で傷位置が求められていたが、中心位置
Sから傷Kn までの寸法Ln をそのまま傷位置として用
いることも可能である。
n までの寸法Ln とコーナC1 またはC2 までの寸法E
1 /2との割合で傷位置が求められていたが、中心位置
Sから傷Kn までの寸法Ln をそのまま傷位置として用
いることも可能である。
【0033】また、前記実施例ではコーナが丸い方形断
面の鋼材を自動探傷する場合について説明したが、被検
査材12の断面形状や大きさ等は適宜変更され得、円筒
外周面の丸棒鋼等を探傷することもできる。
面の鋼材を自動探傷する場合について説明したが、被検
査材12の断面形状や大きさ等は適宜変更され得、円筒
外周面の丸棒鋼等を探傷することもできる。
【0034】また、前記実施例では表面18の2面を同
時に探傷するようになっていたが、1面のみを探傷した
り、4面を同時に探傷したりするように構成することも
可能である。
時に探傷するようになっていたが、1面のみを探傷した
り、4面を同時に探傷したりするように構成することも
可能である。
【0035】また、前記実施例では傷判断閾値として予
め一定値が設定されていたが、1画像中における画像信
号SVの信号強度Iの平均値の所定倍を傷判断閾値とす
れば、紫外線ランプ48の劣化等による紫外線強度変化
に拘らず探傷性能が良好に維持されるなど、傷判断閾値
の設定の仕方は適宜定められる。
め一定値が設定されていたが、1画像中における画像信
号SVの信号強度Iの平均値の所定倍を傷判断閾値とす
れば、紫外線ランプ48の劣化等による紫外線強度変化
に拘らず探傷性能が良好に維持されるなど、傷判断閾値
の設定の仕方は適宜定められる。
【0036】また、前記実施例では1台の紫外線ランプ
48で一つの表面18に紫外線を照射するようになって
いたが、必要に応じて複数の紫外線ランプを配設するこ
とも可能である。
48で一つの表面18に紫外線を照射するようになって
いたが、必要に応じて複数の紫外線ランプを配設するこ
とも可能である。
【0037】また、前記実施例では撮像装置としてテレ
ビカメラ46が用いられていたが、入射光量に対応した
画像信号を出力する他の撮像装置が用いられても良い。
ビカメラ46が用いられていたが、入射光量に対応した
画像信号を出力する他の撮像装置が用いられても良い。
【0038】その他一々例示はしないが、本発明は当業
者の知識に基づいて種々の変更,改良を加えた態様で実
施することができる。
者の知識に基づいて種々の変更,改良を加えた態様で実
施することができる。
【図1】本発明の一実施例である螢光磁粉式自動探傷装
置の要部構成を示す斜視図である。
置の要部構成を示す斜視図である。
【図2】図1の自動探傷装置を被検査材の長手方向から
見た断面図である。
見た断面図である。
【図3】図1の自動探傷装置における各種信号の流れを
説明する図である。
説明する図である。
【図4】図1の自動探傷装置の探傷処理に関する作動を
説明するフローチャートである。
説明するフローチャートである。
【図5】図4のステップS1における画像信号の取込み
タイミングを説明する図である。
タイミングを説明する図である。
【図6】図4のステップS3,S4における探傷エリア
の設定方法を説明する図である。
の設定方法を説明する図である。
【図7】図6のコーナ検出用エリアFにおける画像信号
の信号強度変化を示す図である。
の信号強度変化を示す図である。
【図8】図4のステップS9における傷位置の算出方法
を説明する図である。
を説明する図である。
【図9】従来の螢光磁粉式自動探傷装置の一例を説明す
る概略図である。
る概略図である。
【図10】図9の自動探傷装置における探傷エリアの設
定方法および傷位置の算出方法を説明する図である。
定方法および傷位置の算出方法を説明する図である。
【図11】図9の自動探傷装置における画像信号の信号
強度変化を示す図である。
強度変化を示す図である。
10:螢光磁粉式自動探傷装置 12:被検査材 18:表面 46:テレビカメラ(撮像装置) 48:紫外線ランプ(紫外線照射手段) 50:コーナ検出用ライト(端縁検出用ライト) 56:制御装置 SV:画像信号 P:撮像画像 C1 ,C2 :コーナ(端縁) ステップS3:端縁判断手段 ステップS9:傷位置演算手段
Claims (3)
- 【請求項1】 表面に螢光磁粉が付着された長尺の被検
査材の長手方向へ相対移動させられ、該被検査材の表面
を複数のブロックに分割して撮像する撮像装置と、前記
被検査材の表面に紫外線を照射する紫外線照射手段とを
備え、前記撮像装置から出力される画像信号が表す撮像
画像に基づいて前記表面に存在する傷を検出する螢光磁
粉式自動探傷装置において、 前記撮像画像上における前記被検査材の幅方向の両端縁
を検出する端縁検出手段を有することを特徴とする螢光
磁粉式自動探傷装置。 - 【請求項2】 前記端縁検出手段は、前記被検査材の表
面と平行に配設されて幅方向に細長い帯状の平行光を該
表面に照射する端縁検出用ライトと、前記撮像画像上に
おける該端縁検出用ライトの照射部位の信号強度変化か
ら前記両端縁を判断する端縁判断手段とを含むものであ
る請求項1に記載の螢光磁粉式自動探傷装置。 - 【請求項3】 前記端縁検出手段によって検出された両
端縁に基づいて基準位置を定め、前記被検査材の幅方向
における傷位置を、該基準位置から傷までの寸法と該基
準位置から前記端縁までの寸法との割合で求める傷位置
演算手段を有する請求項1または2に記載の螢光磁粉式
自動探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1952293A JPH06207926A (ja) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | 螢光磁粉式自動探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1952293A JPH06207926A (ja) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | 螢光磁粉式自動探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06207926A true JPH06207926A (ja) | 1994-07-26 |
Family
ID=12001679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1952293A Pending JPH06207926A (ja) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | 螢光磁粉式自動探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06207926A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002202290A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Daido Steel Co Ltd | 蛍光磁粉探傷方法および探傷装置 |
KR101377452B1 (ko) * | 2014-01-22 | 2014-04-07 | (주)인스펙트 | 자동 자분 탐상장치 |
CN117517210A (zh) * | 2023-12-08 | 2024-02-06 | 仓信无损检测设备苏州有限公司 | 一种多主机并行高速探伤检测装置和检测方法 |
-
1993
- 1993-01-11 JP JP1952293A patent/JPH06207926A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002202290A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Daido Steel Co Ltd | 蛍光磁粉探傷方法および探傷装置 |
KR101377452B1 (ko) * | 2014-01-22 | 2014-04-07 | (주)인스펙트 | 자동 자분 탐상장치 |
CN117517210A (zh) * | 2023-12-08 | 2024-02-06 | 仓信无损检测设备苏州有限公司 | 一种多主机并行高速探伤检测装置和检测方法 |
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