JPH06204276A - 集積回路実装システム - Google Patents
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- JPH06204276A JPH06204276A JP5239151A JP23915193A JPH06204276A JP H06204276 A JPH06204276 A JP H06204276A JP 5239151 A JP5239151 A JP 5239151A JP 23915193 A JP23915193 A JP 23915193A JP H06204276 A JPH06204276 A JP H06204276A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】集積回路ダイを実装する基板の熱伝導性を高
め、また信号劣化を低減する。 【構成】集積回路ダイ300を実装する基板302の上
下面に夫々アース面308、306を設け、互いを基板
302を貫通する複数の導体経路304で接続する。ダ
イ300は絶縁層310を介して上部アース面308上
に実装され、ダイ300のアース用結合パッドはこの上
部アース面308に接続される。この場合、導体経路3
04の熱導電率は基板302のそれよりも高い。
め、また信号劣化を低減する。 【構成】集積回路ダイ300を実装する基板302の上
下面に夫々アース面308、306を設け、互いを基板
302を貫通する複数の導体経路304で接続する。ダ
イ300は絶縁層310を介して上部アース面308上
に実装され、ダイ300のアース用結合パッドはこの上
部アース面308に接続される。この場合、導体経路3
04の熱導電率は基板302のそれよりも高い。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は超小形電子部品の実装に
関し、特にセラミック基板への高周波集積回路ダイの機
械的、熱的及び電気的取付けに関する。
関し、特にセラミック基板への高周波集積回路ダイの機
械的、熱的及び電気的取付けに関する。
【0002】
【従来技術と発明が解決しようとする課題】集積回路ダ
イは一般的には熱伝達と電気接続を行う基板に取付けら
れる。高周波回路の場合、熱伝達は特に重要になる。更
に、高周波回路では、反射による信号劣化によって有効
な周波数範囲が制限されることがある。従って、伝送線
の構成は特に重要になる。
イは一般的には熱伝達と電気接続を行う基板に取付けら
れる。高周波回路の場合、熱伝達は特に重要になる。更
に、高周波回路では、反射による信号劣化によって有効
な周波数範囲が制限されることがある。従って、伝送線
の構成は特に重要になる。
【0003】ダイを基板に電気的に接続する一般的な方
法はワイヤ・ボンディング(もしくはテープ・オートメ
ーティド・ボンディング)である。ワイヤ・ボンディン
グとはワイヤをダイ上の結合パッドと、基板上のトレー
スとに取付ける方法である。可撓ワイヤ・ボンドによっ
てダイと基板との間の熱膨張率の差を許容するように応
力除去がなされる。
法はワイヤ・ボンディング(もしくはテープ・オートメ
ーティド・ボンディング)である。ワイヤ・ボンディン
グとはワイヤをダイ上の結合パッドと、基板上のトレー
スとに取付ける方法である。可撓ワイヤ・ボンドによっ
てダイと基板との間の熱膨張率の差を許容するように応
力除去がなされる。
【0004】集積回路ダイと基板上の高周波信号は一般
的にはマイクロストリップ又はその他の伝送線によって
伝送される。基板とダイとの間のボンディング・ワイヤ
によって伝送線が不連続になる。この不連続性により反
射に起因する信号劣化の原因が生ずる。
的にはマイクロストリップ又はその他の伝送線によって
伝送される。基板とダイとの間のボンディング・ワイヤ
によって伝送線が不連続になる。この不連続性により反
射に起因する信号劣化の原因が生ずる。
【0005】高周波回路の場合、基板は一般的には、酸
化アルミニウム、又はその他のセラミック材料のような
熱伝達性が高い材料から成っている。ダイは一般に、ダ
イの背面を経て熱伝導が行われるようにセラミックに背
面結合される。
化アルミニウム、又はその他のセラミック材料のような
熱伝達性が高い材料から成っている。ダイは一般に、ダ
イの背面を経て熱伝導が行われるようにセラミックに背
面結合される。
【0006】図1及び図2は一般的な従来形のシステム
を示している。図1は基板上のトレースにワイヤ結合さ
れた集積回路のコーナーの上面図である。図2は図1に
示したアセンブリの断面図である。図1及び図2では、
集積回路100は基板106上のトレース(102及び
104)にワイヤ結合される。トレース102は信号マ
イクロストリップの上部を表す。基板106の下側のア
ース面112がマイクロストリップの別の導体を形成す
る。トレース104は集積回路100へのアース接続を
表している。メッキされた経路110はアース・トレー
ス104を基板の底面のアース面112に接続する。一
般に、集積回路100に接続するトレースは極めて密度
が高いので、経路110を集積回路100の近傍に配す
ることはできない。
を示している。図1は基板上のトレースにワイヤ結合さ
れた集積回路のコーナーの上面図である。図2は図1に
示したアセンブリの断面図である。図1及び図2では、
集積回路100は基板106上のトレース(102及び
104)にワイヤ結合される。トレース102は信号マ
イクロストリップの上部を表す。基板106の下側のア
ース面112がマイクロストリップの別の導体を形成す
る。トレース104は集積回路100へのアース接続を
表している。メッキされた経路110はアース・トレー
ス104を基板の底面のアース面112に接続する。一
般に、集積回路100に接続するトレースは極めて密度
が高いので、経路110を集積回路100の近傍に配す
ることはできない。
【0007】高周波信号(例えばギガヘルツ範囲の信
号)の場合、トレース102とアース面112とは有効
な伝送線を構成する。しかし、ワイヤ結合108の部位
で、マイクロストリップの構成に不連続性が生ずる。こ
の部位で、伝送線はもはや存在しなくなる。トレース1
02と下のアース面112との間の限定された電界の代
わりに、メッキされた経路110を経て流れる電流を必
要とする集積回路を貫く長い回路が存在する。
号)の場合、トレース102とアース面112とは有効
な伝送線を構成する。しかし、ワイヤ結合108の部位
で、マイクロストリップの構成に不連続性が生ずる。こ
の部位で、伝送線はもはや存在しなくなる。トレース1
02と下のアース面112との間の限定された電界の代
わりに、メッキされた経路110を経て流れる電流を必
要とする集積回路を貫く長い回路が存在する。
【0008】本発明は従来形のダイ実装方法と比較して
基板の熱伝達性を高め、信号劣化を低減するものであ
る。
基板の熱伝達性を高め、信号劣化を低減するものであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、金属による表
面処理、又は金属充填が施された格子状の経路をセラミ
ック基板を貫いて熱伝達背面へと設けることによって熱
伝達性を高めるものである。この経路は誘電層によって
集積回路ダイから絶縁されている。誘電体のダイ側の金
属層によって、集積回路ダイ用の逆バイアス導体が備え
られる。経路の格子と電気的に接続された誘電体の基板
側の金属層によって、マイクロストリップに付加的なス
パンを付与し、かつダイ・パッドとアースとの距離を最
短にすることにより、ボンディング・ワイヤによる伝送
線の不連続性に起因する信号劣化が最小限になる。
面処理、又は金属充填が施された格子状の経路をセラミ
ック基板を貫いて熱伝達背面へと設けることによって熱
伝達性を高めるものである。この経路は誘電層によって
集積回路ダイから絶縁されている。誘電体のダイ側の金
属層によって、集積回路ダイ用の逆バイアス導体が備え
られる。経路の格子と電気的に接続された誘電体の基板
側の金属層によって、マイクロストリップに付加的なス
パンを付与し、かつダイ・パッドとアースとの距離を最
短にすることにより、ボンディング・ワイヤによる伝送
線の不連続性に起因する信号劣化が最小限になる。
【0010】
【実施例】図3は本発明の機械的構造の上面図である。
図4は図3に示したシステムの断面図である。図3及び
図4では、集積回路300が基板302に実装されてい
る。基板302は、導電性の下部アース面306を導電
性の上部アース面308と接続する格子状の経路304
を有している。集積回路300は誘電層310によって
上部アース面308と電気的に絶縁されている。誘電層
310は導電層312を有し、この層は集積回路300
の背面と電気的に接触している。導電層312は逆バイ
アス電圧(VEE)に至るボンディング・ワイヤ314を
有している。集積回路300は上部アース面308に至
るボンディング・ワイヤ324を有している。集積回路
300は信号トレース322に至るボンディング・ワイ
ヤ318を有している。集積回路300は高温耐性を有
する適当な接着剤によって導電層312に付着されてい
る。同様に、誘電層310は接着剤によって上部アース
面308に付着させることができる。
図4は図3に示したシステムの断面図である。図3及び
図4では、集積回路300が基板302に実装されてい
る。基板302は、導電性の下部アース面306を導電
性の上部アース面308と接続する格子状の経路304
を有している。集積回路300は誘電層310によって
上部アース面308と電気的に絶縁されている。誘電層
310は導電層312を有し、この層は集積回路300
の背面と電気的に接触している。導電層312は逆バイ
アス電圧(VEE)に至るボンディング・ワイヤ314を
有している。集積回路300は上部アース面308に至
るボンディング・ワイヤ324を有している。集積回路
300は信号トレース322に至るボンディング・ワイ
ヤ318を有している。集積回路300は高温耐性を有
する適当な接着剤によって導電層312に付着されてい
る。同様に、誘電層310は接着剤によって上部アース
面308に付着させることができる。
【0011】本発明の実施例では、基板302は酸化ア
ルミニウムである。経路304は熱伝達性を最大にする
ために金属充填されることが好ましいが、代用として金
属メッキだけでもよい。経路304に固体が充填された
場合は、誘電体310はスクリーン印刷のガラス・セラ
ミックであることが好ましい。適当な材料にはデュポン
の5704Mのような厚さ0.002インチ(約0.051m
m)の絶縁性ガラス層がある。経路304に単にメッキを
施してあるだけの場合は、経路の端部は開放され、スク
リーン印刷の誘電体は開放端を覆うことができない。従
って、メッキされた経路の場合は、機械的に剛い誘電体
が必要である。メッキされた経路の場合、窒化アルミニ
ウム又は酸化ベリリウムのような熱伝導性の基板が好ま
しい。剛性の基板は熱伝導性を高めるために薄くなけれ
ばならず、しかし製造上の利便性に鑑み、充分な厚さを
有していなければならない。厚さが0.010ないし
0.25インチ( 約0.25ないし6.35mm) の窒化アルミニ
ウムが適切である。
ルミニウムである。経路304は熱伝達性を最大にする
ために金属充填されることが好ましいが、代用として金
属メッキだけでもよい。経路304に固体が充填された
場合は、誘電体310はスクリーン印刷のガラス・セラ
ミックであることが好ましい。適当な材料にはデュポン
の5704Mのような厚さ0.002インチ(約0.051m
m)の絶縁性ガラス層がある。経路304に単にメッキを
施してあるだけの場合は、経路の端部は開放され、スク
リーン印刷の誘電体は開放端を覆うことができない。従
って、メッキされた経路の場合は、機械的に剛い誘電体
が必要である。メッキされた経路の場合、窒化アルミニ
ウム又は酸化ベリリウムのような熱伝導性の基板が好ま
しい。剛性の基板は熱伝導性を高めるために薄くなけれ
ばならず、しかし製造上の利便性に鑑み、充分な厚さを
有していなければならない。厚さが0.010ないし
0.25インチ( 約0.25ないし6.35mm) の窒化アルミニ
ウムが適切である。
【0012】実施例では、上部及び下部アース面(30
6及び308)はパラジウム−銀合金である。経路30
4は金メッキされている。経路304は次に少量のガラ
ス充填材を含む金で充填される。ガラス充填材によって
接着性が高まり、同時に金と周囲の基板材料との熱膨張
率の不適合を最小限にする。
6及び308)はパラジウム−銀合金である。経路30
4は金メッキされている。経路304は次に少量のガラ
ス充填材を含む金で充填される。ガラス充填材によって
接着性が高まり、同時に金と周囲の基板材料との熱膨張
率の不適合を最小限にする。
【0013】実施例では、経路304はCO2 レーザを
用いてレーザー穿孔される。経路304相互間の距離は
基板(302)の厚さとほぼ等しい。
用いてレーザー穿孔される。経路304相互間の距離は
基板(302)の厚さとほぼ等しい。
【0014】図3及び図4は更に伝送線の改良された構
成を示している。信号結合ワイヤ318は、集積回路3
00への距離以上の距離を隔てた下方に、上部アース面
308を有し、有効にマイクロストリップを形成してい
る。更に、アース結合ワイヤ324によって同じ上部ア
ース面308から集積回路まで極めて短い通路が形成さ
れる。導電性経路304の格子によって上部と下部のア
ース面の間に極めて低いインピーダンスが付与される。
信号ボンド320の部位に依然としてある程度の伝送線
の不連続性が残るものの、図1に示した不連続線よりは
はるかに少ない。
成を示している。信号結合ワイヤ318は、集積回路3
00への距離以上の距離を隔てた下方に、上部アース面
308を有し、有効にマイクロストリップを形成してい
る。更に、アース結合ワイヤ324によって同じ上部ア
ース面308から集積回路まで極めて短い通路が形成さ
れる。導電性経路304の格子によって上部と下部のア
ース面の間に極めて低いインピーダンスが付与される。
信号ボンド320の部位に依然としてある程度の伝送線
の不連続性が残るものの、図1に示した不連続線よりは
はるかに少ない。
【0015】
【発明の効果】以上の如く本発明は、従来形のダイ実装
方法と比較して基板の熱伝達性を高め、信号劣化を低減
することができる。
方法と比較して基板の熱伝達性を高め、信号劣化を低減
することができる。
【図1】従来例における基板にワイヤ結合された集積回
路の上面図である。
路の上面図である。
【図2】図1の断面図である。
【図3】本発明の一実施例に係る集積回路実装と相互接
続システムの上面図である。
続システムの上面図である。
【図4】図3の断面図である。
300:集積回路 302:基板 304:経路 306:下部アース面 308:上部アース面 310:誘電層 312:導電層 314:ボンディングワイヤ 318:信号結合ワイヤ 324:アース結合ワイヤ
Claims (4)
- 【請求項1】集積回路実装システムにおいて、 背面と、複数のアース用結合パッドを有する集積回路ダ
イと、 上面及び下面を有する基板と、 前記基板の下面をほぼ覆う下部アース面と、 前記集積回路ダイの下部に導電面を提供するために、前
記基板の上面に配置して、前記各アース用結合パッドと
電気的に接続された上部アース面と、 前記上部アース面を前記下部アース面と電気的に接続す
るための接続手段と、 前記集積回路ダイの背面を上部アース面から絶縁するた
めに、前記集積回路ダイの背面と前記上部アース面との
間に位置して該集積回路ダイの背面と該上部アース面と
に付着される絶縁体と、 からなることを特徴とする集積回路実装システム。 - 【請求項2】前記接続手段は、前記基板の熱導電率より
も高い熱伝導率を有することを特徴とする請求項1記載
の集積回路実装システム。 - 【請求項3】前記接続手段は、前記基板の上面から下面
に貫通して前記上部アース面と前記下部アース面を電気
的に接続する複数の導体経路を有することを特徴とする
請求項1又は2記載の集積回路実装システム。 - 【請求項4】集積回路実装システムにおいて、 上面及び下面を有する絶縁性の基板と、 前記基板の下面に取り付けられ該下面をほぼ覆うと共に
アースに電気的に接続された第一の導体層と、 上面及び下面を有し、該下面を前記基板の上面に電気的
に接続した第二の導体層であって、該第二の導体層の領
域が前記基板の上面の領域よりも小さいものと、 バイアス電圧に接続された前記基板の上面上に設けた導
体トレースと、 前記基板の上面から下面に貫通して前記第一の導体層と
前記第二の導体層を電気的に接続する複数の導体経路
と、 上面及び下面を有し、該下面を前記第二の導体層の上面
に取り付けた絶縁層と、 上面及び下面を有し、該下面を前記絶縁層の上面に取り
付けて該上面を覆うと共に、前記導体トレースに電気的
に接続された第三の導体層と、 上面及び下面を有し、該下面を前記第三の導体層の上面
に取り付けると共に、該上面に前記第二の導体層に電気
的に接続された少なくとも一つの結合パッドを有する集
積回路ダイと、 からなることを特徴とする集積回路実装システム。
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---|---|---|---|
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US938,064 | 1992-08-31 |
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- 1993-08-16 DE DE69308731T patent/DE69308731T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-31 JP JP23915193A patent/JP3335227B2/ja not_active Expired - Fee Related
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EP0596596A1 (en) | 1994-05-11 |
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