JPH06203926A - Icソケット - Google Patents
IcソケットInfo
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- JPH06203926A JPH06203926A JP4358430A JP35843092A JPH06203926A JP H06203926 A JPH06203926 A JP H06203926A JP 4358430 A JP4358430 A JP 4358430A JP 35843092 A JP35843092 A JP 35843092A JP H06203926 A JPH06203926 A JP H06203926A
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- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
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Abstract
ジとの接触を健全にするICソケットを提供する。 【構成】ソケット本体に設けた弾性コンタクトピン4の
先端部に球面形バンプ2の下部球面と対向する接触部5
を具備させ、この接触部5に球面形バンプ2の下死点部
と非接触状態となる逃げ部8を設けると共に、この逃げ
部8の周りにおいて球面形バンプ2の下死点外域と加圧
接触する接触端6,7を設けた。
Description
ICパッケージに用いるソケットに関する。
ッケージ本体1の下面に多数の球面形のバンプ2を突設
した形式のICパッケージが知られている。
に、半球形か、図11に示すように球形を呈し、何れも
半田材等の低融点金属で形成され、配線基板に直接搭載
し球面形バンプを配線パターンに融着する使用法が多く
採られる。
験用のソケットにおいては図13に示すように、ソケッ
トに保有させたスプリングプローブ3を球面形バンプ2
に対し垂直に進退させ同バンプ2にプローブ先端を加圧
接触する方式が採られており、この結果として球面形バ
ンプ2の下死点にスプリングプロープ先端が加圧接触す
る構造が必定とされていた。
ケットは配線基板に直接融着する球面形バンプ2の下死
点をプローブ3にて損傷する問題を内在しており、又上
記ソケットはスプリングプローブ3の先端が球面形バン
プ2の下死点部表面を滑り、その側方に入り込んで接触
不良を招く問題を内在している。
は接触の信頼性を確保し難い問題をも有している。
バンプを有するICパッケージに使用するソケットに係
り、このソケットにおける上記問題点を有効に解決せん
とするものである。
球面と対向する弾性コンタクトピンの先端接触部に下部
球面内の下死点部と非接触状態となる逃げ部を形成する
と共に、この逃げ部の周りにおいて下死点部外域の球面
に複点接触するか又は環状接触する接触端を形成したも
のである。
の接触部に形成した逃げ部が球面形バンプの下死点部と
非接触状態を形成し、この逃げ部の周り、即ち下死点部
外域の球面において接触端による複点接触又は環状接触
が図られる。
面形バンプの下死点部の損傷を有効に解消し、又下死点
部の周りで加圧接触する接触端が球面形バンプを良好に
捕捉し接触端の滑りによる接触不良を良好に防止し、下
死点に単点接触する場合に比べ著しく信頼性を向上す
る。
づいて詳述する。
弾性コンタクトピンを示し、この弾性コンタクトピン4
は弾性を有する単一条板から成り、この条板の先端に球
面形バンプ2の下部球面と対向する接触部5を有し、こ
の接触部5をU字形又はU字形に付形し、この接触部5
の二片にて第1接触端6と第2接触端7を形成し、この
第1、第2接触端6,7の間に形成される凹部にて逃げ
部8を形成しており、上記逃げ部8にて球面形バンプ2
の下死点部と非接触状態に離間し、上記第1,第2接触
端6,7の先端を上記逃げ部8の両側において下死点部
外域の球面に二点接触する。この第1、第2接触端6,
7は球面形バンプ2の下死点Pに対し左右対称に配置さ
れ、下死点Pから等距離において球面形バンプ2の球面
に弾性的に加圧接触する。
支持する条板部分はバネ条片9を形成する。このバネ条
片9は図4乃至図6に示すように、上記第1接触端6と
第2接触端7を結ぶ線に対し直交する方向に撓んで弾力
を撓え上記球面形バンプ2と加圧接触する。
2接触端7を結ぶ線上において撓む構造にすると、即ち
バネ条片9が図1中矢印X方向に撓む構造にすると、第
1,第2接触点6,7の何れかが、球面形バンプ2の下
死点部を横切ってこれを損傷させる恐れを有するからで
ある。よってこの発明においてはバネ条片9がX方向と
直交する方向に撓む。
バンプ2の下死点Pに対し垂直に進退させ接触又は接触
解除せしめるようにしている。コンタクトピン4はコイ
ルスプリング10にて上記垂直線上を上方に付勢する。
これによって第1、第2接触端6,7は球面形バンプ2
の下死点部外域の球面に二点において加圧接触し、逃げ
部8によって上記下死点部と非接触状態を形成する。
ローブと呼ぶことができる。又図3A,B,Cは球面形
バンプ2の下死点部外域に環状に加圧接触せしめる例を
示している。
接触部を筒体にて形成する。この筒体11の端面を球面
形バンプ2の下部球面と対向し、その中央開口12にて
前記逃げ部8を形成し、球面形バンプ2の下死点部と非
接触状態にする。又筒体11の筒孔形成壁の端面19に
て接触端を形成し、この接触端が上記逃げ部8(中央開
口12のまわりにおいて上記下死点部外域の球面に加圧
接触する。
5等に示すようにバネ条片9を撓ませるか、又は図2に
示すようにバンプ2の下死点Pに対し垂直に進退するよ
うコイルスプリング10にて弾持する。
タクトピン4を球面形バンプ2に接離させるための手段
を備えたソケットについて示している。
条板から成るコンタクトピン4を多数起立すると共に、
このコンタクトピン4を横動可能な操作板14の孔15
に貫挿し、更に孔15を貫通したコンタクトピン4の先
端を制動板16の孔17に受け入れる。この制動板16
はソケット基板13と剛体的に一体結合され、ソケット
基板13と制動板16との間に上記操作板14を横動可
に設ける。コンタクトピン4は操作板14の孔15と制
動板16の孔17に遊びを有するように挿入される。
は直立しており、この状態において、図6のB図に示す
ように、操作板14を一方向に横動すると孔15の内壁
がコンタクトピン4を押圧する。この結果コンタクトピ
ン4の先端は制動板16の孔17の内壁に支持されつつ
湾曲形に撓み、コンタクトピン4の先端は制動板16の
孔16内において収縮方向に移動する。この結果コンタ
クトピン4の先端接触部5が図7のA,B図に示すよう
に球面形パンプ2から離間し接触解除状態を形成する。
上記制動板16にICパッケージ本体1を搭載し、この
制動板16に設けた位置決め壁18を球面形バンプ2間
に介入し各バンプ2の位置決めを図っている。
の復元力で操作板14を他方向に横動するか、又は操作
板14を他方向に横動して上記コンタクトピン4を復元
させると、図8のA,B図に示すように、コンタクトピ
ン4は伸長し、コンタクトピンの先端接触部5は制動板
16の孔17の開口面において、又は開口面より突出し
て球面形バンプ2に加圧接触する。即ち、コンタクトピ
ン4はバネ条片9が上記第1、第2接触端6,7を結ぶ
線と直交する方向に撓んで弾力を蓄え、球面形バンプ2
と加圧接触する。
なされることは前記の通りである。
形バンプ2に接触する部位Sを仮想線で示している。こ
のように、接触部5の接触端は球面形バンプ2の下死点
Pを中心とした円軌跡上において同バンプ2の球面と接
触する。
よって球面形バンプの下死点部と非接触状態にして同下
死点部の損傷を有効に防止しながら、上記逃げ部の周り
において球面形バンプの下死点部外域において複点接触
又は環状接触を図ることができるので、球面形バンプの
下死点部を損傷する問題が有効に解消される。
ンプの下死点部外域を安定に捕捉して上記加圧接触状態
を健全に維持し、高信頼の接触が可能である。
に複点接触又は環状接触状態を形成するので、上記接触
の信頼性を一層向上せしめる。
を示す側面図である。
は縦断面図、Cは横断面図である。
が多数の球面形バンプに加圧接触する状態を示す斜視図
である。
ジをソケットに搭載していない状態を示す図、BはIC
パッケージをソケットに搭載し、コンタクトピンと球面
形バンプとの接触解除状態を示す図、Cは同接触状態を
示す図である。
断面図であり、A,Bは接触解除状態を示す図である。
る。
位を示すICパッケージの底面図である。
ンの接触状態を示す側面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】ICパッケ−ジの球面形バンプに加圧接触
する弾性コンタクトピンを備えたICソケットであっ
て、上記コンタクトピンは先端に球面形バンブの下部球
面と対向する接触部を有し、この接触部は下部球面内の
下死点部と非接触状態となる逃げ部を有すると共に、こ
の逃げ部の周りにおいて下死点部外域の球面に加圧接触
する接触端を有することを特徴とするICソケット。 - 【請求項2】上記接触部は逃げ部の両側において下死点
部外域の球面に点接触する第1接触端と第2接触端を有
し、上記コンタクトが上記第1、第2接触端を結ぶ線と
直交する方向に撓んで弾力を蓄え上記接触を得る構成と
した請求項1記載のICソケット。 - 【請求項3】上記接触部は球面形バンプの下死点部に対
し略垂直に進退して上記接触を得る構成とした請求項1
記載のソケット。
Priority Applications (4)
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JP4358430A JPH0677467B2 (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | Icソケット |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP4358430A JPH0677467B2 (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | Icソケット |
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JP09285824A Division JP3117423B2 (ja) | 1997-10-17 | 1997-10-17 | Icソケット |
JP09285818A Division JP3117422B2 (ja) | 1997-10-17 | 1997-10-17 | Icソケット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH06203926A true JPH06203926A (ja) | 1994-07-22 |
JPH0677467B2 JPH0677467B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=18459265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4358430A Expired - Lifetime JPH0677467B2 (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | Icソケット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5685725A (ja) |
JP (1) | JPH0677467B2 (ja) |
GB (1) | GB2274212B (ja) |
SG (1) | SG47075A1 (ja) |
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SG47075A1 (en) | 1998-03-20 |
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