JPH06203785A - イオン処理装置 - Google Patents

イオン処理装置

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JPH06203785A
JPH06203785A JP4361356A JP36135692A JPH06203785A JP H06203785 A JPH06203785 A JP H06203785A JP 4361356 A JP4361356 A JP 4361356A JP 36135692 A JP36135692 A JP 36135692A JP H06203785 A JPH06203785 A JP H06203785A
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plasma
electrode
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Yasuaki Nishigami
靖明 西上
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 低エネルギーの電子をファラデーカップ内に
導入できるようにし、それによってイオンビーム照射に
伴う基板の帯電を効果的に抑制することができるように
したイオン処理装置を提供する。 【構成】 プラズマ36を生成するプラズマ生成容器2
2をファラデーカップ8の外に設け、引出し電極44に
よってプラズマ36中から電子38を引き出し、かつ減
速電極54との間で引出し電源48の電圧分だけ減速し
て、エネルギー設定電源40の電圧によってエネルギー
が定まる低エネルギーの電子38をファラデーカップ8
内に導くようにした。ファラデーカップ8内には、リフ
レクタ電源62によって負電圧が印加され、電子38を
押し返す働きをするリフレクタ電極60を設けている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えばイオン注入装
置のように、真空中で基板にイオンビームを照射してそ
れにイオン注入等の処理を施すイオン処理装置に関し、
より具体的には、その基板の帯電(チャージアップ)を
抑制する手段の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来のイオン処理装置の一例を
部分的に示す図である。この装置は、基本的には、真空
容器(図示省略)内に収納されたホルダ4に保持された
基板(例えばウェーハ)6にイオンビーム2を照射して
それにイオン注入等の処理を施すよう構成されている。
【0003】ホルダ4は、バッチ処理用のウェーハディ
スクの場合と、枚葉処理用のプラテンの場合とがあり、
図示のものは前者の場合の例であり、真空容器内で矢印
A方向に回転および紙面の表裏方向に並進させられる。
【0004】イオンビーム2の経路上には、ファラデー
系を構成するものとして、イオンビーム2がホルダ4等
に当たった際に放出される二次電子を受けてそれのアー
スへの逃げを防止するファラデーカップ8がホルダ4の
上流側に、更にこの例ではホルダ4が外に並進したとき
にそれの代わりにイオンビーム2を受けるキャッチプレ
ート14がホルダ4の下流側に、それぞれ設けられてお
り、イオンビーム2はファラデーカップ8内を通してホ
ルダ4上の基板6に照射される。更にこの例では、必須
ではないが、ファラデーカップ8およびキャッチプレー
ト14の側端部にも、二次電子のアースへの逃げを防止
するサイドサプレッサ電極10および12が設けられて
おり、これらにはサプレッサ電源16から負電圧が印加
される。
【0005】そしてホルダ4、ファラデーカップ8およ
びキャッチプレート14は、互いに電気的に並列接続さ
れてビーム電流計測器20に接続されており、それによ
ってイオンビーム2のビーム電流の計測を正確に行える
ようにしている。
【0006】また、イオンビーム2の照射に伴って基板
6の表面が、特に当該表面が絶縁物の場合、正に帯電し
て放電等の不具合が発生するのを防止するために、ファ
ラデーカップ8の側壁部にスリット状の孔7を設け、そ
の外側にフィラメント70を設けている。そしてこのフ
ィラメント70から放出させた一次電子71を加速電源
76で高エネルギー(例えば約300eV程度)に加速
してそれをファラデーカップ8の対向面に衝突させてそ
こから二次電子72を放出させ、この二次電子72をホ
ルダ上のイオンビーム照射領域における基板6に供給し
てその表面でのイオンビーム2による正電荷を中和させ
るようにしている。74はフィラメント70を加熱する
ためのフィラメント電源である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなイオン処
理装置においては、一次電子71をファラデーカップ8
の壁面に衝突させることによってそこから放出される電
子には、低エネルギーの二次電子72だけでなく、ファ
ラデーカップ8の壁面で跳ね返された高エネルギーの一
次電子71も多く含まれており、この高エネルギーの一
次電子71が基板6に入射して、逆に負の帯電を惹き起
こすがあるという問題がある。
【0008】そこでこの発明は、低エネルギーの電子を
ファラデーカップ内に導入できるようにし、それによっ
てイオンビーム照射に伴う基板の帯電を効果的に抑制す
ることができるようにしたイオン処理装置を提供するこ
とを主たる目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明のイオン処理装置は、前記ファラデーカッ
プの壁面の一部に設けられた孔と、この孔の外側に設け
られていてプラズマを生成するプラズマ源と、このプラ
ズマ源内のプラズマ中から電子を引き出してそれをファ
ラデーカップの孔を通してファラデーカップ内へ導く引
出し電極と、この引出し電極とファラデーカップとの間
に接続されていて前者に正電圧を印加する引出し電源
と、前記ファラデーカップとプラズマ源との間に接続さ
れていて前者に正電圧を印加するエネルギー設定電源
と、前記ファラデーカップ内であってその前記孔に対向
する部分にファラデーカップから絶縁して設けられてい
て、前記孔を通してファラデーカップ内に導入された電
子を押し返すリフレクタ電極と、このリフレクタ電極と
ファラデーカップとの間に接続されていて前者に負電圧
を印加するリフレクタ電源とを備えることを特徴とす
る。
【0010】
【作用】上記構成によれば、プラズマ源においてプラズ
マが生成される。このプラズマ中の電子は低エネルギー
である。
【0011】このプラズマ源内のプラズマ中の電子は、
引出し電源から正電圧が印加される引出し電極によって
引き出され、ファラデーカップ内にその孔を通して導か
れる。このときファラデーカップ内に導かれる電子のエ
ネルギーは、引出し電源の電圧に依存せず、エネルギー
設定電源の電圧によって一義的に決まる。従って、この
エネルギー設定電源の電圧を低くしておくことにより、
引出し電源の電圧が高くても、低エネルギーの電子をフ
ァラデーカップ内に導入することができる。
【0012】ファラデーカップ内に導入された低エネル
ギーの電子は、イオンビーム内にその電界によって引き
込まれ、イオンビームの電流密度に応じた量の電子がイ
オンビームと共に基板に入り、それによってイオンビー
ム照射に伴う基板の正の帯電を抑制することができる。
【0013】しかも、電子による基板表面の電位は、そ
こに入射される電子のエネルギーより負側に高くならな
いので、低エネルギーの電子をファラデーカップ内に導
入することにより、基板の負の帯電をも抑制することが
できる。
【0014】また、ファラデーカップ内に導入された電
子は、リフレクタ電源によって負電圧が印加されるリフ
レクタ電極によって押し返されてそれがファラデーカッ
プに流入するのが抑制されるので、電子を効率良く基板
側へ導くことができる。
【0015】以上のような作用によって、低エネルギー
の電子を基板に過不足なく供給することができるので、
イオンビーム照射に伴う基板の帯電を効果的に抑制する
ことができる。
【0016】
【実施例】図1は、この発明の一実施例に係るイオン処
理装置を部分的に示す図である。図2の従来例と同一ま
たは相当する部分には同一符号を付し、以下においては
当該従来例との相違点を主に説明する。
【0017】この実施例においては、前述したようなフ
ァラデーカップ8の壁面の一部に孔9が設けられてお
り、その部分の内側に、例えば金属製のスペーサ52を
介して、減速電極54が設けられている。この減速電極
54は、ここではファラデーカップ8とは別の名称で呼
んでいるけれども、ファラデーカップ8に電気的に接続
されておりファラデーカップ8の一部と見なすことがで
きる。従ってその小孔56は、ファラデーカップ8の壁
面の一部に設けられた孔と見なすこともできる。この減
速電極54の断面は、イオンビーム2の進行方向に進む
につれてファラデーカップ8の中心から後退するような
テーパになっている。このようにすることによって、イ
オンビーム2が少し位発散してもそれがこの減速電極5
4に当たるのを防止することができる。
【0018】この減速電極54の外側の部分に、リング
状の絶縁物50および42をそれぞれ介して、引出し電
極44およびプラズマ生成容器22が設けられている。
このプラズマ生成容器22、引出し電極44および上記
減速電極54には、電子38を引き出すための小孔2
4、46および56がそれぞれ設けられている。
【0019】プラズマ生成容器22内には、フィラメン
ト30が設けられている。このプラズマ生成容器22内
には、ガス導入管26を経由して例えばキセノンガス等
のガス28が導入される。フィラメント30にはその加
熱用のフィラメント電源32が接続されており、フィラ
メント30とプラズマ生成容器22間にはアーク電源3
4(その出力電圧は例えば15V程度)が接続されてい
る。23は絶縁物である。この例ではこれらによって、
プラズマ源を構成している。
【0020】引出し電極44と減速電極54間には、電
圧可変(例えば0〜50V程度)の引出し電源48が接
続されており、これによって引出し電極44には、プラ
ズマ生成容器22および減速電極54に対して正電圧が
印加される。減速電極54とプラズマ生成容器22間に
は、前者に正電圧を印加するエネルギー設定電源40が
接続されている。このエネルギー設定電源40の出力電
圧は、例えば20V以下が好ましい。その理由は後述す
る。
【0021】ファラデーカップ8内であって減速電極5
4に対向する壁面には、減速電極54の小孔56を通し
てファラデーカップ8内に導入された電子38を押し返
す働きをするリフレクタ電極60が絶縁物58を介して
設けられている。このリフレクタ電極60とファラデー
カップ8間には、前者に負電圧を印加するリフレクタ電
源62が接続されている。このリフレクタ電源62の出
力電圧は、例えば0〜20V程度の範囲内で調整後固定
される。
【0022】このレフレクタ電極60の断面も、減速電
極54の場合と同様、イオンビーム2の進行方向に進む
につれてファラデーカップ8の中心から後退するような
テーパになっている。このようにすることによって、イ
オンビーム2が少し位発散してもそれがこのリフレクタ
電極60に当たるのを防止することができる。また、後
述する電子38がホルダ4上の基板6の方へ向かいやす
くなる。
【0023】なお、このイオン処理装置では、プラズマ
36の生成にガス28を用いているが、プラズマ生成容
器22、引出し電極44および減速電極54に設ける電
子38引き出し用の小孔24、46および56は、いず
れも直径が例えば約2mmφ程度の小さいもので良く、
そこでガスに対するコンダクタンスが十分に低下するの
で、プラズマ生成容器22内へガス28を導入すること
によるファラデーカップ8内の真空度の低下は小さい。
【0024】またこの実施例では、ファラデーカップ8
とホルダ4との間に、ファラデーカップ8に対してホル
ダ4を正にバイアスして、イオンビーム照射に伴ってホ
ルダ4等から放出される二次電子をホルダ4側に引き戻
すと共に電子38をホルダ4側に引き込みやすくするホ
ルダバイアス電源(その出力電圧は例えば9V程度)1
8を設けているけれども、これは必須ではない。
【0025】このイオン処理装置においては、フィラメ
ント30から放出された熱電子は、アーク電源34の電
圧によってプラズマ生成容器22側に引き寄せられ、そ
の途中で、プラズマ生成容器22内に導入されたガス2
8と衝突してそれを電離させ、これによってプラズマ生
成容器22内にプラズマ36が生成される。このプラズ
マ36中の電子は、ガス28の電離エネルギーより少し
大きい程度のエネルギーしか有していないので低エネル
ギー(例えば数eV程度)である。
【0026】このプラズマ生成容器22内のプラズマ3
6中の電子38は、引出し電源48から正電圧が印加さ
れる引出し電極44によって引き出され、かつ減速電極
54との間で引出し電源48の電圧分だけ減速された
後、ファラデーカップ8内に減速電極54の小孔56を
通して導かれる。このときファラデーカップ8内に導か
れる電子38のエネルギーは、引出し電源48の電圧に
依存せず、エネルギー設定電源40の電圧によって一義
的に決まる。従って、このエネルギー設定電源40の電
圧を前述したように20V以下にしておくことにより、
引出し電源48の電圧が高くても、20eV以下の低エ
ネルギーの電子38をファラデーカップ8内に導入する
ことができる。
【0027】即ち、引出し電源48の出力電圧を調整す
ることによってプラズマ生成容器22から引き出す電子
38の量を調整することができ、しかもファラデーカッ
プ8内に引き出す電子38のエネルギーはエネルギー設
定電源40によって引き出し量とは独立して設定するこ
とができるので、ファラデーカップ8内に引き出される
電子38のエネルギーを大きくすることなく多量に引き
出すことが可能である。
【0028】ファラデーカップ8内に導入する電子38
のエネルギーを20eV以下にするのが好ましい理由は
次のとおりである。即ち、基板の帯電の問題は、基板表
面に形成する素子の集積度が上がるに従って顕著になっ
てくる。従って、帯電抑制のために用いられる電子のエ
ネルギーも、電子による負帯電のことを考慮すると低い
ほど良く、一般的に言えば20eV以下に抑える必要が
あるからである。
【0029】ファラデーカップ8内に導入された低エネ
ルギーの電子38は、そのエネルギーが低いので、イオ
ンビーム2内にその電界によって引き込まれ、イオンビ
ーム2の電流密度に応じた量の電子38がイオンビーム
2と共にホルダ4上の基板6に入り、それによってイオ
ンビーム照射に伴う基板6の正の帯電を抑制することが
できる。
【0030】しかも、電子38による基板表面の電位
は、そこに入射される電子38のエネルギーより負側に
高くならないので、低エネルギーの電子38をファラデ
ーカップ8内に導入することにより、基板6の負の帯電
をも抑制することができる。
【0031】また、ファラデーカップ8内に導入された
電子38は、リフレクタ電源62によって負電圧が印加
されるリフレクタ電極60によってファラデーカップ8
の中心部に押し返されてそれがファラデーカップ8内に
流入するのが抑制されるので、電子38を効率良く基板
6側へ導くことができる。
【0032】以上のような作用によって、低エネルギー
の電子38を基板6に過不足なく供給することができる
ので、イオンビーム照射に伴う基板6の帯電を効果的に
抑制することができる。
【0033】また、従来のイオン処理装置では、イオン
ビーム2を引き出すイオン源側において電極間で放電が
発生する等してイオンビーム2が途切れたときでも、一
定量の二次電子72が基板6に入射され続けるので、こ
のような原因によっても基板6が負に帯電することがあ
るという問題があったが、このイオン処理装置の場合
は、ファラデーカップ8内に導入されるのは低エネルギ
ーの電子38であり、これは前述したように主としてイ
オンビーム2の電界によってイオンビーム2と共に基板
6側へ導かれるので、イオンビーム2が途切れれば、基
板6に供給される電子38の量も自然に減少するので、
イオンビーム2が途切れた場合の基板6の負の帯電を自
動的に防止することができる。
【0034】なお、上記実施例では、ファラデーカップ
8の一部に減速電極54を設けているが、前述したよう
にこの減速電極54はファラデーカップ8の一部と見な
すことができるものであり、従ってこのような減速電極
54を別に設けずに、ファラデーカップ8の壁面の一部
に減速電極54の小孔56に相当する孔を設け、その外
側に前記引出し電極44およびプラズマ生成容器22等
を設けて、この孔からファラデーカップ8内に前記と同
様にして低エネルギーの電子38を導入するようにして
も良い。
【0035】また、ホルダ4は、上記例はバッチ処理用
のウェーハディスクであるけれども、枚葉処理用のプラ
テンであっても良いのは前述したとおりである。
【0036】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、低エネ
ルギーの電子をファラデーカップ内に導入することがで
き、この低エネルギーの電子はイオンビーム内にその電
界によって引き込まれてイオンビームの電流密度に応じ
た量の電子がイオンビームと共に基板に入るので、しか
もファラデーカップ内に引き出した電子をリフレクタ電
極によって押し返してそれがファラデーカップに流入す
るのを抑制して当該電子を効率良く基板側へ導くことが
できるので、低エネルギーの電子を基板に過不足なく供
給することができ、それによってイオンビーム照射に伴
う基板の帯電を効果的に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例に係るイオン処理装置を部
分的に示す図である。
【図2】従来のイオン処理装置の一例を部分的に示す図
である。
【符号の説明】
2 イオンビーム 4 ホルダ 6 基板 8 ファラデーカップ 22 プラズマ生成容器 36 プラズマ 38 電子 40 エネルギー設定電源 44 引出し電極 48 引出し電源 54 減速電極 56 小孔 60 リフレクタ電極 62 リフレクタ電源

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持するホルダと、このホルダの
    上流側に設けられていて二次電子のアースへの逃げを防
    止するファラデーカップとを備え、このファラデーカッ
    プ内を通してイオンビームをホルダ上の基板に照射して
    当該基板を処理するイオン処理装置において、前記ファ
    ラデーカップの壁面の一部に設けられた孔と、この孔の
    外側に設けられていてプラズマを生成するプラズマ源
    と、このプラズマ源内のプラズマ中から電子を引き出し
    てそれをファラデーカップの孔を通してファラデーカッ
    プ内へ導く引出し電極と、この引出し電極とファラデー
    カップとの間に接続されていて前者に正電圧を印加する
    引出し電源と、前記ファラデーカップとプラズマ源との
    間に接続されていて前者に正電圧を印加するエネルギー
    設定電源と、前記ファラデーカップ内であってその前記
    孔に対向する部分にファラデーカップから絶縁して設け
    られていて、前記孔を通してファラデーカップ内に導入
    された電子を押し返すリフレクタ電極と、このリフレク
    タ電極とファラデーカップとの間に接続されていて前者
    に負電圧を印加するリフレクタ電源とを備えることを特
    徴とするイオン処理装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5750987A (en) * 1995-04-28 1998-05-12 Hitachi, Ltd. Ion beam processing apparatus
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