JPH0619332B2 - カムシャフトのポンプカム面検査装置 - Google Patents
カムシャフトのポンプカム面検査装置Info
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- JPH0619332B2 JPH0619332B2 JP12787988A JP12787988A JPH0619332B2 JP H0619332 B2 JPH0619332 B2 JP H0619332B2 JP 12787988 A JP12787988 A JP 12787988A JP 12787988 A JP12787988 A JP 12787988A JP H0619332 B2 JPH0619332 B2 JP H0619332B2
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- Japan
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- image
- window
- pump
- shaft
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
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- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、カムシャフトのポンプカム面検査装置に関
し、更に詳しくは、ＴＩＧ焼入れ処理を行ったカムシャ
フトに対しても好適にポンプカム面の検査を行うことが
できる検査装置に関する。
し、更に詳しくは、ＴＩＧ焼入れ処理を行ったカムシャ
フトに対しても好適にポンプカム面の検査を行うことが
できる検査装置に関する。
カムシャフトのポンプカム面検査装置の一般的構成は、
第１図に示すように、カムシャフトＳを所定の位置，角
度に保持するシャフト保持手段２と、カムシャフトＳの
画像を得るカメラ手段３と、前記シャフト保持手段２及
びカメラ手段３を制御してカムシャフトＳのポンプカム
面の検査を行う処理手段４とからなっている。
第１図に示すように、カムシャフトＳを所定の位置，角
度に保持するシャフト保持手段２と、カムシャフトＳの
画像を得るカメラ手段３と、前記シャフト保持手段２及
びカメラ手段３を制御してカムシャフトＳのポンプカム
面の検査を行う処理手段４とからなっている。
従来装置では、シャフト保持手段２でカムシャフトＳを
移動し、ポンプカムＰをカメラ手段３の視野に入れる。
なお、Ｖはスラスト受、Ｉはインテークカム、Ｅはエキ
ゾーストカムである。
移動し、ポンプカムＰをカメラ手段３の視野に入れる。
なお、Ｖはスラスト受、Ｉはインテークカム、Ｅはエキ
ゾーストカムである。
カメラ手段３で得られる画像は第８図に示すようにな
り、そのＸ軸における明暗は第９図に示すようになる。
つまり、ポンプカム面Ｐｃの部分が明るく、軸Ａの部分
が暗くなる。そこで、適当な閾値Ｌｏを定めれば、ポン
プカム面Ｐｃの端縁の位置Ｘ１，Ｘ２を検出できる。
り、そのＸ軸における明暗は第９図に示すようになる。
つまり、ポンプカム面Ｐｃの部分が明るく、軸Ａの部分
が暗くなる。そこで、適当な閾値Ｌｏを定めれば、ポン
プカム面Ｐｃの端縁の位置Ｘ１，Ｘ２を検出できる。
そして、第10図に示すように、検出した位置Ｘ１，Ｘ２
間の領域を含むようにウインドウＷを設定し、カムシャ
フトＳを回転しつつ、前記ウインドウＷ内に欠陥部分が
あるか否かを検査している。
間の領域を含むようにウインドウＷを設定し、カムシャ
フトＳを回転しつつ、前記ウインドウＷ内に欠陥部分が
あるか否かを検査している。
近年、カムシャフトにＴＩＧ焼入れ処理が行われるよう
になったが、そのＴＩＧ焼入れ処理によってカムの端縁
に「だれ」が発生する場合がある。第11図に斜線を施し
た部分は「だれ」を表している。
になったが、そのＴＩＧ焼入れ処理によってカムの端縁
に「だれ」が発生する場合がある。第11図に斜線を施し
た部分は「だれ」を表している。
ところが、第12図および第13図に示すように、「だれ」
によってポンプカムＰの端縁Ｐｄに対応する画像部分は
暗部になるので、実際の端縁Ｐｄの位置Ｘ１，Ｘ２より
も内側の位置Ｘ１＋δ１，Ｘ２−δに端縁があるかのよ
うに誤って検出されることになる。
によってポンプカムＰの端縁Ｐｄに対応する画像部分は
暗部になるので、実際の端縁Ｐｄの位置Ｘ１，Ｘ２より
も内側の位置Ｘ１＋δ１，Ｘ２−δに端縁があるかのよ
うに誤って検出されることになる。
この場合、第14図に示すように、ウインドウＷがポンプ
カムＰの実際の幅より小さくなり、「だれ」の部分がウ
インドウＷ外へ出るので、欠陥の一つである「だれ」を
発見できない問題を生じる。
カムＰの実際の幅より小さくなり、「だれ」の部分がウ
インドウＷ外へ出るので、欠陥の一つである「だれ」を
発見できない問題を生じる。
従って、本発明の目的とするところは、ＴＩＧ焼入れ処
理によって「だれ」が発生しても好適にポンプカム面の
検査を行うことが出来るカムシャフトのポンプカム面検
査装置を提供することにある。
理によって「だれ」が発生しても好適にポンプカム面の
検査を行うことが出来るカムシャフトのポンプカム面検
査装置を提供することにある。
本発明のカムシャフトのポンプカム面検査装置は、ＴＩ
Ｇ焼入れ処理を行ったカムシャフトのポンプカム面の欠
陥を検査するための装置であって、ポンプカムおよびポ
ンプカムに近接するインテークカムまたはエキゾースト
カムのベースサークル部分を含む第１の画像を得る撮像
手段と、第１の画像の前記ベースサークル部分からポン
プカム位置を算出してウインドウ位置を決定するウイン
ドウ位置決定手段と、第１の画像に前記ウインドウを設
定するウインドウ設定手段と、カムシャフトを回転させ
てポンプカム面の画像を得つつウインドウ内について欠
陥の検査を行う検査手段とを具備してなることを構成上
の特徴とするものである。
Ｇ焼入れ処理を行ったカムシャフトのポンプカム面の欠
陥を検査するための装置であって、ポンプカムおよびポ
ンプカムに近接するインテークカムまたはエキゾースト
カムのベースサークル部分を含む第１の画像を得る撮像
手段と、第１の画像の前記ベースサークル部分からポン
プカム位置を算出してウインドウ位置を決定するウイン
ドウ位置決定手段と、第１の画像に前記ウインドウを設
定するウインドウ設定手段と、カムシャフトを回転させ
てポンプカム面の画像を得つつウインドウ内について欠
陥の検査を行う検査手段とを具備してなることを構成上
の特徴とするものである。
ＴＩＧ焼入れ処理はカム面に対して行われるが、それは
ポンプカムの全周面およびインテークカム，エキゾース
トカムのカム部であり、インテークカム，エキゾースト
カムのベースサークル部（第２図のＩｂ）には行われな
い。従って、インテークカム，エキゾーストカムのベー
スサークル部には「だれ」が発生することはない。
ポンプカムの全周面およびインテークカム，エキゾース
トカムのカム部であり、インテークカム，エキゾースト
カムのベースサークル部（第２図のＩｂ）には行われな
い。従って、インテークカム，エキゾーストカムのベー
スサークル部には「だれ」が発生することはない。
そこで、インテークカムまたはエキゾーストカムのベー
スサークル部の画像に基づいてカムの位置を検出すれ
ば、「だれ」よる影響を受けないで実際のインテークカ
ムまたはエキゾーストカムの位置が分かる。他方、イン
テークカムまたはエキゾーストカムとポンプカムの距離
は精度高く製作されているから、前記インテークカムま
たはエキゾーストカムの位置からポンプカムの位置を精
度高く算出できる。従って、実際のポンプカムの位置に
対応させて適正にウインドウ位置を決められる。
スサークル部の画像に基づいてカムの位置を検出すれ
ば、「だれ」よる影響を受けないで実際のインテークカ
ムまたはエキゾーストカムの位置が分かる。他方、イン
テークカムまたはエキゾーストカムとポンプカムの距離
は精度高く製作されているから、前記インテークカムま
たはエキゾーストカムの位置からポンプカムの位置を精
度高く算出できる。従って、実際のポンプカムの位置に
対応させて適正にウインドウ位置を決められる。
すなわち、画像の前記ウインドウ位置にウインドウを設
定すれば、そのウインドウ内にポンプカムの端縁も必ず
含まれ、「だれ」が発生しておれば欠陥として発見され
ることになる。
定すれば、そのウインドウ内にポンプカムの端縁も必ず
含まれ、「だれ」が発生しておれば欠陥として発見され
ることになる。
以下、図に示す実施例に基づいて本発明を更に詳しく説
明する。ここに第１図は本発明の一実施例のカムシャフ
トのポンプカム面検査装置の構成模式図、第２図は第１
の画像を得る状態のカム位置説明図、第３図は第１の画
像の例示図、第４図は第１の画像における明暗分布図、
第５図はカムシャフトを回転させてポンプカム面の画像
を得る一つの状態のカム位置説明図、第６図は第５図に
示す位置で得られる画像とウインドウの例示図である。
なお、以下の実施例により本発明が限定されるものでは
ない。
明する。ここに第１図は本発明の一実施例のカムシャフ
トのポンプカム面検査装置の構成模式図、第２図は第１
の画像を得る状態のカム位置説明図、第３図は第１の画
像の例示図、第４図は第１の画像における明暗分布図、
第５図はカムシャフトを回転させてポンプカム面の画像
を得る一つの状態のカム位置説明図、第６図は第５図に
示す位置で得られる画像とウインドウの例示図である。
なお、以下の実施例により本発明が限定されるものでは
ない。
第１図に示すように、カムシャフトのポンプカム面検査
装置１は、シャフト保持手段２と、カメラ手段３と、処
理手段４とからなっている。
装置１は、シャフト保持手段２と、カメラ手段３と、処
理手段４とからなっている。
処理手段４は、シャフト保持手段２を駆動して、ポンプ
カムＰおよび隣接するインテークカムＩが同時にカメラ
手段３の視野に入るようにし、次いで、第２図に示すよ
うに、インテークカムＩのベースサークル部Ｉｂが撮像
方向（矢印）に向くようにする。
カムＰおよび隣接するインテークカムＩが同時にカメラ
手段３の視野に入るようにし、次いで、第２図に示すよ
うに、インテークカムＩのベースサークル部Ｉｂが撮像
方向（矢印）に向くようにする。
ここで得られる画像すなわち第１の画像は、第３図に示
すように、インテークカムＩのベースサークル部Ｉｂの
部分を含む画像となるが、ベースサークル部ＩｂにはＴ
ＩＧ焼入れ処理がなされていないから、その端縁Ｉｆに
は「だれ」が発生していない。
すように、インテークカムＩのベースサークル部Ｉｂの
部分を含む画像となるが、ベースサークル部ＩｂにはＴ
ＩＧ焼入れ処理がなされていないから、その端縁Ｉｆに
は「だれ」が発生していない。
処理手段４は、第４図に示すように、第１の画像のＸ軸
上の明暗と所定の閾値Ｌｏとを比較し、インテークカム
Ｉの位置Ｘ３を検出する。上述したように、インテーク
カムＩのベースサークル部Ｉｂの端縁Ｉｆには「だれ」
が発生していないから、正確にインテークカムＩの位置
Ｘ３を得ることができる。
上の明暗と所定の閾値Ｌｏとを比較し、インテークカム
Ｉの位置Ｘ３を検出する。上述したように、インテーク
カムＩのベースサークル部Ｉｂの端縁Ｉｆには「だれ」
が発生していないから、正確にインテークカムＩの位置
Ｘ３を得ることができる。
次に、処理手段４は、予め設定されていたポンプカムＰ
とインテークカムＩの距離定数ａ，ｂと前記位置Ｘ３と
に基づいて、ウインドウ位置を算出する。すなわち、Ｘ
３−ａからＸ３−ｂまでの領域を含むようにウインドウ
位置を決定する。
とインテークカムＩの距離定数ａ，ｂと前記位置Ｘ３と
に基づいて、ウインドウ位置を算出する。すなわち、Ｘ
３−ａからＸ３−ｂまでの領域を含むようにウインドウ
位置を決定する。
そして、処理手段４は、その決定した位置にウインドウ
Ｗを設定する。
Ｗを設定する。
次ぎに、処理手段４は、シャフト保持手段２によりカム
シャフトＳを回転し、ポンプカム面Ｐｃの各部を順にカ
メラ手段３で画像化しつつ、ウインドウＷ内について欠
陥の検査を行う。その一つの状態を第５図および第６図
に示すが、第６図から理解されるように、ウインドウＷ
はポンプカムＰを正しく含んでおり、従って、欠陥の一
種である端縁Ｐｄの「だれ」をも好適に発見し得ること
となる。
シャフトＳを回転し、ポンプカム面Ｐｃの各部を順にカ
メラ手段３で画像化しつつ、ウインドウＷ内について欠
陥の検査を行う。その一つの状態を第５図および第６図
に示すが、第６図から理解されるように、ウインドウＷ
はポンプカムＰを正しく含んでおり、従って、欠陥の一
種である端縁Ｐｄの「だれ」をも好適に発見し得ること
となる。
本発明によれば、ＴＩＧ焼入れ処理を行ったカムシャフ
トのポンプカム面の欠陥を検査するための装置であっ
て、ポンプカムおよびポンプカムに近接するインテーク
カムまたはエキゾーストカムのベースサークル部分を含
む第１の画像を得る撮像手段と、第１の画像の前記ベー
スサークル部分からポンプカム位置を算出してウインド
ウ位置を決定するウインドウ位置決定手段と、第１の画
像に前記ウインドウを設定するウインドウ設定手段と、
カムシャフトを回転させてポンプカム面の画像を得つつ
ウインドウ内について欠陥の検査を行う検査手段とを具
備してなることを特徴とするカムシャフトのポンプカム
面検査装置が提供され、これによりＴＩＧ焼入れ処理を
行ったカムシャフトの場合でも好適にポンプカム面の検
査を行うことが出来るようになる。
トのポンプカム面の欠陥を検査するための装置であっ
て、ポンプカムおよびポンプカムに近接するインテーク
カムまたはエキゾーストカムのベースサークル部分を含
む第１の画像を得る撮像手段と、第１の画像の前記ベー
スサークル部分からポンプカム位置を算出してウインド
ウ位置を決定するウインドウ位置決定手段と、第１の画
像に前記ウインドウを設定するウインドウ設定手段と、
カムシャフトを回転させてポンプカム面の画像を得つつ
ウインドウ内について欠陥の検査を行う検査手段とを具
備してなることを特徴とするカムシャフトのポンプカム
面検査装置が提供され、これによりＴＩＧ焼入れ処理を
行ったカムシャフトの場合でも好適にポンプカム面の検
査を行うことが出来るようになる。
第１図は本発明の一実施例のカムシャフトのポンプカム
面検査装置の構成模式図、第２図は第１の画像を得る状
態のカム位置説明図、第３図は第１の画像の例示図、第
４図は第１の画像における明暗分布図、第５図はカムシ
ャフトを回転させてポンプカム面の画像を得る一つの状
態のカム位置説明図、第６図は第５図に示す位置で得ら
れる画像とウインドウの例示図、第７図は従来装置にお
ける検査時のカム位置説明図、第８図は第７図に示す状
態で得られる画像の例示図、第９図は第８図のＸ軸上の
明暗分布図、第10図は第８図に示す画像とウインドウの
関係を示す例示図、第11図はＴＩＧ焼入れ処理により
「だれ」の発生したカムに対しての第７図相当図、第12
図は同第８図相当図、第13図は同第９図相当図、第14図
は同第10図相当図である。 〔符号の説明〕 １……カムシャフトのポンプカム面検査装置 ２……シャフト保持手段 ３……カメラ手段 ４……処理手段 Ｓ……カムシャフト Ｉ……インテークカム Ｉｂ……ベースサークル部 Ｉｆ……ベースサークル部の端縁 Ｐ……ポンプカム Ｐｃ……ポンプカム面 Ｐｄ……ポンプカム面の端縁 Ｗ……ウインドウ。
面検査装置の構成模式図、第２図は第１の画像を得る状
態のカム位置説明図、第３図は第１の画像の例示図、第
４図は第１の画像における明暗分布図、第５図はカムシ
ャフトを回転させてポンプカム面の画像を得る一つの状
態のカム位置説明図、第６図は第５図に示す位置で得ら
れる画像とウインドウの例示図、第７図は従来装置にお
ける検査時のカム位置説明図、第８図は第７図に示す状
態で得られる画像の例示図、第９図は第８図のＸ軸上の
明暗分布図、第10図は第８図に示す画像とウインドウの
関係を示す例示図、第11図はＴＩＧ焼入れ処理により
「だれ」の発生したカムに対しての第７図相当図、第12
図は同第８図相当図、第13図は同第９図相当図、第14図
は同第10図相当図である。 〔符号の説明〕 １……カムシャフトのポンプカム面検査装置 ２……シャフト保持手段 ３……カメラ手段 ４……処理手段 Ｓ……カムシャフト Ｉ……インテークカム Ｉｂ……ベースサークル部 Ｉｆ……ベースサークル部の端縁 Ｐ……ポンプカム Ｐｃ……ポンプカム面 Ｐｄ……ポンプカム面の端縁 Ｗ……ウインドウ。
Claims (1)
- 【請求項１】ＴＩＧ焼入れ処理を行ったカムシャフトの
ポンプカム面の欠陥を検査するための装置であって、ポ
ンプカムおよびポンプカムに近接するインテークカムま
たはエキゾーストカムのベースサークル部分を含む第１
の画像を得る撮像手段と、第１の画像の前記ベースサー
クル部分からポンプカム位置を算出してウインドウ位置
を決定するウインドウ位置決定手段と、第１の画像に前
記ウインドウを設定するウインドウ設定手段と、カムシ
ャフトを回転させてポンプカム面の画像を得つつウイン
ドウ内について欠陥の検査を行う検査手段とを具備して
なることを特徴とするカムシャフトのポンプカム面検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12787988A JPH0619332B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | カムシャフトのポンプカム面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12787988A JPH0619332B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | カムシャフトのポンプカム面検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01297537A JPH01297537A (ja) | 1989-11-30 |
| JPH0619332B2 true JPH0619332B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=14970899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12787988A Expired - Fee Related JPH0619332B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | カムシャフトのポンプカム面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619332B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105157610A (zh) * | 2015-09-29 | 2015-12-16 | 哈尔滨东安发动机（集团）有限公司 | 一种光学测量凸轮曲线的方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102013202907A1 (de) * | 2013-02-22 | 2014-08-28 | Mahle International Gmbh | Prüfeinrichtung für Nockenwelle |
-
1988
- 1988-05-25 JP JP12787988A patent/JPH0619332B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105157610A (zh) * | 2015-09-29 | 2015-12-16 | 哈尔滨东安发动机（集团）有限公司 | 一种光学测量凸轮曲线的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01297537A (ja) | 1989-11-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |