JP2531750B2 - カムの検査装置 - Google Patents
カムの検査装置Info
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
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- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、カムの検査装置に関し、更に詳しくは、カ
ム面の画像を得てカムの良否を検査する装置に関する。
ム面の画像を得てカムの良否を検査する装置に関する。
従来のカムの検査装置の一例について第８図〜第12図
を参照して説明する。
を参照して説明する。
第８図において、カムの検査装置11は、カムシャフト
Ｓを所定の位置，角度に保持するシャフト保持手段２
と、カムの画像を得るカメラ手段３と、カムシャフトＳ
の回転方向ｒに関して前記カメラ手段３を挾むように設
置された２台の照明手段4t,4bと、前記シャフト保持手
段２およびカメラ手段３を制御してカムシャフトＳの各
カム面の検査を行う処理手段15とからなっている。
Ｓを所定の位置，角度に保持するシャフト保持手段２
と、カムの画像を得るカメラ手段３と、カムシャフトＳ
の回転方向ｒに関して前記カメラ手段３を挾むように設
置された２台の照明手段4t,4bと、前記シャフト保持手
段２およびカメラ手段３を制御してカムシャフトＳの各
カム面の検査を行う処理手段15とからなっている。
第９図に示すように、シャフト保持手段２でカムシャ
フトＳを回転して、検査対象のカムI1,Eを所定の角度に
保持し、カメラ手段３で画像を得る。
フトＳを回転して、検査対象のカムI1,Eを所定の角度に
保持し、カメラ手段３で画像を得る。
この角度で得られる画像は、第10図に示すようにな
り、カムI1,E,I2のカム面が明るく、カムシャフトＳの
軸Ａがやや暗く、その背後は更に暗くなる。
り、カムI1,E,I2のカム面が明るく、カムシャフトＳの
軸Ａがやや暗く、その背後は更に暗くなる。
このような画像が得られると、処理手段15は、カム
I1,E,I2のカム面を横切る適当な軸Ｙ上の明暗分布を検
出する。その明暗分布を第11図に示す。そして、この明
暗分布と適当な閾値αとを比較し、カムI1,E,I2の端縁
の位置a,b,c,d,e,fを検出する。
I1,E,I2のカム面を横切る適当な軸Ｙ上の明暗分布を検
出する。その明暗分布を第11図に示す。そして、この明
暗分布と適当な閾値αとを比較し、カムI1,E,I2の端縁
の位置a,b,c,d,e,fを検出する。
このように各カムI1,E,I2の端縁の位置ａ〜ｆを検出
すると、次に、第12図に示すように、カムＩの端縁a,b
で挟まれた領域を含む幅を持ち、予め定められた所定の
高さを持つウインドウWaを設定する。また同様に、ウイ
ンドウWb,Wcを設定する。
すると、次に、第12図に示すように、カムＩの端縁a,b
で挟まれた領域を含む幅を持ち、予め定められた所定の
高さを持つウインドウWaを設定する。また同様に、ウイ
ンドウWb,Wcを設定する。
そして、そのウインドウWa,Wb,Wc内について欠陥の検
査を行っている。
査を行っている。
第10図および第12図に示すカム面の画像から分かるよ
うに、カム面は比較的明るい画像になるが、その中央部
に暗い部分d1,d2,d3が生じている。この暗い部分d1,d2,
d3は、カメラ手段３に対してカム面が正対する角度とな
っている部分である。
うに、カム面は比較的明るい画像になるが、その中央部
に暗い部分d1,d2,d3が生じている。この暗い部分d1,d2,
d3は、カメラ手段３に対してカム面が正対する角度とな
っている部分である。
ところが、欠陥検出の基準を明るい部分においている
ため、暗い部分での欠陥検出が適正に行われず、誤って
良否を判定してしまう問題点がある。
ため、暗い部分での欠陥検出が適正に行われず、誤って
良否を判定してしまう問題点がある。
従って、本発明の目的とするところは、カム面の画像
に生じる暗い部分を含まないウインドウを設定できるよ
うにしたカムの検査装置を提供することにある。
に生じる暗い部分を含まないウインドウを設定できるよ
うにしたカムの検査装置を提供することにある。
本発明のカムの検査装置は、カム面の画像を得る撮像
手段と、上記カム面に照明光を照射する照明手段と、カ
ム面の画像におけるカム回転方向の軸上の明暗分布を検
出すると共に、該明暗分布から上記カム面の画像におけ
る明部を検出し、該明部にウインドウを設定する可変ウ
インドウ設定手段と、上記ウインドウ内についてカム面
の欠陥の検査を行う検査手段とを具備してなることを構
成上の特徴とするものである。
手段と、上記カム面に照明光を照射する照明手段と、カ
ム面の画像におけるカム回転方向の軸上の明暗分布を検
出すると共に、該明暗分布から上記カム面の画像におけ
る明部を検出し、該明部にウインドウを設定する可変ウ
インドウ設定手段と、上記ウインドウ内についてカム面
の欠陥の検査を行う検査手段とを具備してなることを構
成上の特徴とするものである。
本発明のカムの検査装置では、カム面の画像における
カムの回転方向の軸上の明暗分布が検出され、上記明暗
分布における明部だけにウインドウが設定される。
カムの回転方向の軸上の明暗分布が検出され、上記明暗
分布における明部だけにウインドウが設定される。
従って、カム面の画像内に生じる暗い部分がウインド
ウから除去され、暗い部分での欠陥の検出による誤判定
が防止される。
ウから除去され、暗い部分での欠陥の検出による誤判定
が防止される。
なお、カムの角度を変えて画像を得れば、前回は暗い
部分としてウインドウから除外されていた部分が明るい
部分となってウインドウ内に入るので、その部分の検査
を行うことができる。通常、カムの角度を変えて複数回
検査するから、検査されない部分が生じることはない。
部分としてウインドウから除外されていた部分が明るい
部分となってウインドウ内に入るので、その部分の検査
を行うことができる。通常、カムの角度を変えて複数回
検査するから、検査されない部分が生じることはない。
以下、図に示す実施例により本発明を更に詳しく説明
する。ここに第１図は本発明の一実施例のカムの検査装
置の構成模式図、第２図はカムの画像を得る状態の説明
図、第３図は第２図に示す状態にて得られる画像の例示
図、第４図は第３図に示すＹ軸上の明暗分布図、第５図
（ａ）は第３図に示すX1軸またはX3軸上の明暗分布図、
第５図（ｂ）は第３図に示すX2軸上の明暗分布図、第６
図は設定されたウインドウと画像の例示図、第７図
（ａ）（ｂ）は片側ストロボ発光不良の場合の第５図
（ａ）（ｂ）相当図である。なお、以下の実施例により
本発明が限定されるものではない。
する。ここに第１図は本発明の一実施例のカムの検査装
置の構成模式図、第２図はカムの画像を得る状態の説明
図、第３図は第２図に示す状態にて得られる画像の例示
図、第４図は第３図に示すＹ軸上の明暗分布図、第５図
（ａ）は第３図に示すX1軸またはX3軸上の明暗分布図、
第５図（ｂ）は第３図に示すX2軸上の明暗分布図、第６
図は設定されたウインドウと画像の例示図、第７図
（ａ）（ｂ）は片側ストロボ発光不良の場合の第５図
（ａ）（ｂ）相当図である。なお、以下の実施例により
本発明が限定されるものではない。
第１図に示すカムの検査装置１は、シャフト保持手段
２と、カメラ手段３と、ストロボライト4t,4bと、処理
手段５とからなっている。
２と、カメラ手段３と、ストロボライト4t,4bと、処理
手段５とからなっている。
シャフト保持手段２は、カムシャフトＳを保持し、軸
方向ｌに移動すると共に、回転方向ｒに回転し、検査対
象となるカム面を所定の角度にしてカメラ手段３の視野
中に入れる。
方向ｌに移動すると共に、回転方向ｒに回転し、検査対
象となるカム面を所定の角度にしてカメラ手段３の視野
中に入れる。
カメラ手段３は、例えばCCDカメラであり、画像信号
を処理手段５に送出する。
を処理手段５に送出する。
ストロボライト4t,4bは、カムシャフトＳの回転方向
ｒに関して、カメラ手段３を挾むように、上下にそれぞ
れ設置されている。この実施例では便宜上２個のストロ
ボライト4t,4bを用いているが、これは１個または３個
以上であってもよい。
ｒに関して、カメラ手段３を挾むように、上下にそれぞ
れ設置されている。この実施例では便宜上２個のストロ
ボライト4t,4bを用いているが、これは１個または３個
以上であってもよい。
処理手段５は、マイクロコンピュータを中枢とするも
ので、シャフト保持手段２を駆動して、例えばカムI1,E
を第２図に示す如き角度でカメラ手段３の視野内に入れ
る。ここで得られる画像は第３図に示すようになる。
ので、シャフト保持手段２を駆動して、例えばカムI1,E
を第２図に示す如き角度でカメラ手段３の視野内に入れ
る。ここで得られる画像は第３図に示すようになる。
処理手段５は、カムシャフトＳの軸方向ｌの適当な軸
例えば第３図のＹ軸上の明暗分布を検出する。その明暗
分布を第４図に示す。
例えば第３図のＹ軸上の明暗分布を検出する。その明暗
分布を第４図に示す。
次に、処理手段５は、適当な閾値αを用いて、カム
I1,E,I2の端縁の位置a,b,c,d,e,fを検出する。
I1,E,I2の端縁の位置a,b,c,d,e,fを検出する。
次に、端縁ａとｂの中央を通り、軸方向ｌに直角な方
向即ち回転方向ｒの軸X1を設定し、そのX1軸上の明暗分
布を検出する。その明暗分布を第５図（ａ）に示す。
向即ち回転方向ｒの軸X1を設定し、そのX1軸上の明暗分
布を検出する。その明暗分布を第５図（ａ）に示す。
同様に、X2軸上の明暗分布を検出する。その明暗分布
を第５図（ｂ）に示す。
を第５図（ｂ）に示す。
また、同様に、X3軸上の明暗分布を検出するが、その
明暗分布は実質的にX1軸上の明暗分布と同じなので、第
５図（ａ）に示す明暗分布のようになる。
明暗分布は実質的にX1軸上の明暗分布と同じなので、第
５図（ａ）に示す明暗分布のようになる。
次に、処理手段５は、適当な閾値βによって軸X1,X3,
X2上の明暗分布から明るい部分を検出する。即ち、第５
図（ａ）ではｇ−ｈ区間、ｉ−ｊ区間が明るい部分であ
り、第５図（ｂ）ではｋ−ｌ空間,m−ｎ区間が明るい部
分である。
X2上の明暗分布から明るい部分を検出する。即ち、第５
図（ａ）ではｇ−ｈ区間、ｉ−ｊ区間が明るい部分であ
り、第５図（ｂ）ではｋ−ｌ空間,m−ｎ区間が明るい部
分である。
このように明るい部分が検出されると、処理手段５
は、Ｙ軸上の明暗分布から検出した端部ａ〜ｆと、X1,X
2,X3軸上の明暗分布から検出した端部ｇ〜ｎとに基づい
て、第６図に示すように、ウインドウW1,W2、W3,W4、
W5,W6を設定する。
は、Ｙ軸上の明暗分布から検出した端部ａ〜ｆと、X1,X
2,X3軸上の明暗分布から検出した端部ｇ〜ｎとに基づい
て、第６図に示すように、ウインドウW1,W2、W3,W4、
W5,W6を設定する。
このように設定されたウインドウW1〜W6は、カム面の
画像の暗い部分を除去し、明るい部分だけを取り出した
ものである。
画像の暗い部分を除去し、明るい部分だけを取り出した
ものである。
そこで、処理手段５は、好適にウインドウW1〜W6内の
欠陥の検査を行うことができるようになる。
欠陥の検査を行うことができるようになる。
処理手段５は、シャフト保持手段２を駆動して、カム
I1,E,I2の異なる角度位置で上記と同様の検査を行う。
これにより第６図に示す状態では暗い部分となって検査
されなかったカム面も明るい部分となって検査されるか
ら、全てのカム面を好適に検査できることとなる。
I1,E,I2の異なる角度位置で上記と同様の検査を行う。
これにより第６図に示す状態では暗い部分となって検査
されなかったカム面も明るい部分となって検査されるか
ら、全てのカム面を好適に検査できることとなる。
なお、ストロボライト4t又は4bのいずれかが発光不良
になると、第７図（ａ），（ｂ）に示すように、X1,X2,
X3軸上の明暗分布から得られる明るい部分が各々１つに
なる。他方、第５図（ａ），（ｂ）から分かるように、
ストロボライト4t,4bがいずれも良好であれば明るい部
分は各々２つになる。従って、明るい部分の数によっ
て、ストロボライト4t,4bの発光不良を検知することも
できるようになる。
になると、第７図（ａ），（ｂ）に示すように、X1,X2,
X3軸上の明暗分布から得られる明るい部分が各々１つに
なる。他方、第５図（ａ），（ｂ）から分かるように、
ストロボライト4t,4bがいずれも良好であれば明るい部
分は各々２つになる。従って、明るい部分の数によっ
て、ストロボライト4t,4bの発光不良を検知することも
できるようになる。
本発明によれば、カム面の画像を得る撮像手段と、上
記カム面に照明光を照射する照明手段と、カム面の画像
におけるカム回転方向の軸上の明暗分布を検出すると共
に、該明暗分布から上記カム面の画像における明部を検
出し、該明部にウインドウを設定する可変ウインドウ設
定手段と、上記ウインドウ内についてカム面の欠陥の検
査を行う検査手段とを具備してなることを特徴とするカ
ムの検査装置が提供され、これによりカム面の画像に明
るい部分と暗い部分とが生じた場合に、明るい部分だけ
を取り出して検査を行うことができるようになる。即
ち、明るい部分の基準で暗い部分を検査して欠陥検出に
誤りを生じることを防止できるようになる。
記カム面に照明光を照射する照明手段と、カム面の画像
におけるカム回転方向の軸上の明暗分布を検出すると共
に、該明暗分布から上記カム面の画像における明部を検
出し、該明部にウインドウを設定する可変ウインドウ設
定手段と、上記ウインドウ内についてカム面の欠陥の検
査を行う検査手段とを具備してなることを特徴とするカ
ムの検査装置が提供され、これによりカム面の画像に明
るい部分と暗い部分とが生じた場合に、明るい部分だけ
を取り出して検査を行うことができるようになる。即
ち、明るい部分の基準で暗い部分を検査して欠陥検出に
誤りを生じることを防止できるようになる。
第１図は本発明の一実施例のカムの検査装置の構成模式
図、第２図はカムの画像を得る状態の説明図、第３図は
第２図に示す状態にて得られる画像の例示図、第４図は
第３図に示すＹ軸上の明暗分布図、第５図（ａ）は第３
図に示すX1軸またはX3軸上の明暗分布図、第５図（ｂ）
は第３図に示すX2軸上の明暗分布図、第６図は設定され
たウインドウと画像の例示図、第７図（ａ）（ｂ）は片
側ストロボ発光不良の場合の第５図（ａ）（ｂ）相当
図、第８図は従来のカムの検査装置の一例の構成模式
図、第９図はカムの画像を得る状態の説明図、第10図は
第９図に示す状態で得られるカム面の画像の例示図、第
11図は第10図に示すＹ軸上の明暗分布図、第12図は従来
装置で設定されたウインドウと画像の例示図である。 〔符号の説明〕 １……カムの検査装置 ２……シャフト保持手段 ３……カメラ手段 4t,4b……ストロボライト ５……処理手段 Ｓ……カムシャフト ｌ……軸方向 ｒ……回転方向 W1〜W6……ウインドウ。
図、第２図はカムの画像を得る状態の説明図、第３図は
第２図に示す状態にて得られる画像の例示図、第４図は
第３図に示すＹ軸上の明暗分布図、第５図（ａ）は第３
図に示すX1軸またはX3軸上の明暗分布図、第５図（ｂ）
は第３図に示すX2軸上の明暗分布図、第６図は設定され
たウインドウと画像の例示図、第７図（ａ）（ｂ）は片
側ストロボ発光不良の場合の第５図（ａ）（ｂ）相当
図、第８図は従来のカムの検査装置の一例の構成模式
図、第９図はカムの画像を得る状態の説明図、第10図は
第９図に示す状態で得られるカム面の画像の例示図、第
11図は第10図に示すＹ軸上の明暗分布図、第12図は従来
装置で設定されたウインドウと画像の例示図である。 〔符号の説明〕 １……カムの検査装置 ２……シャフト保持手段 ３……カメラ手段 4t,4b……ストロボライト ５……処理手段 Ｓ……カムシャフト ｌ……軸方向 ｒ……回転方向 W1〜W6……ウインドウ。
Claims (1)
- 【請求項１】カム面の画像を得る撮像手段と、上記カム
面に照明光を照射する照明手段と、カム面の画像におけ
るカム回転方向の軸上の明暗分布を検出すると共に、該
明暗分布から上記カム面の画像における明部を検出し、
該明部にウインドウを設定する可変ウインドウ設定手段
と、上記ウインドウ内についてカム面の欠陥の検査を行
う検査手段とを具備してなることを特徴とするカムの検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63150910A JP2531750B2 (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | カムの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63150910A JP2531750B2 (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | カムの検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01318907A JPH01318907A (ja) | 1989-12-25 |
| JP2531750B2 true JP2531750B2 (ja) | 1996-09-04 |
Family
ID=15507062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63150910A Expired - Fee Related JP2531750B2 (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | カムの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2531750B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011247242A (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | Musashi Seimitsu Ind Co Ltd | カムシャフトのカムロブ外周面の検査方法及びその装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59180413A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-13 | Nok Corp | 表面欠陥検査方法 |
| JPS61230005A (ja) * | 1985-04-04 | 1986-10-14 | Bridgestone Corp | シ−ト状物体の継目検査法 |
| JPS62182453U (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-19 | ||
| JPS62299709A (ja) * | 1986-06-20 | 1987-12-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 半田付外観検査方法 |
-
1988
- 1988-06-17 JP JP63150910A patent/JP2531750B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01318907A (ja) | 1989-12-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |