JPH06186284A - アダプタソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 接触子に信号電流が流れた際に、隣接する接
触子に磁界の影響を及ぼさず、精度よく電気試験が行え
るアダプタソケットを得る。 【構成】 半導体試験装置と集積回路を電気的に結合す
る接触子を絶縁性のチューブで覆った後、導電性ケース
に収納する。または、接触子を絶縁性のチューブで覆う
代わりに、絶縁コーティングされた導電性ケースに収納
する。さらに、導電性ケースに接地のためのターミナル
を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、集積回路と半導体試
験装置のテストボードを電気的に結合するアダプタソケ
ットに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図４は従来のアダプタソケットの分解
図、図５はその断面図、図６はアダプタソケットの運用
図である。図６において、１０は半導体試験装置、１１
は半導体試験装置１０に接続されるテストヘッド、１２
はテストヘッド１１に接続されるテストボード、１３は
テストボード１２に半田付けされるアダプタソケット、
１４は試験される集積回路を保持し、アダプタソケット
１３に接続されるソケットである。図４，５において、
１は一端をテストボード１２に半田付けされ、他端にお
いてソケット１４のコンタクトピンと着脱自在に結合
し、テストボード１２とソケット１４を電気的に結合す
る接触子、２，３は絶縁材で形成され、接触子１を収納
する嵌合穴を有し、接触子１を保持する絶縁ケースであ
る。

【０００３】次に動作について説明する。絶縁ケース
２，３に保持され収納された接触子１は半導体試験装置
１０のテストボード１２に半田付け固定される。次い
で、他端においてソケット１４のコンタクトピンと結
合、接触することにより、半導体試験装置１０のテスト
ボード１２とソケット１４を電気的に結合する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来のアダプタソケッ
トは以上のように構成されているので、集積回路を試験
する際、半導体試験装置よりアダプタソケットの接触子
に信号電流が流れると磁界が発生するため、隣接する接
触子に流れる信号電流を妨げる作用を及ぼし、高精度の
試験ができないなどの問題点があった。

【０００５】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、接触子に信号電流が流れた際
に、隣接する接触子に磁界の影響を及ぼさないアダプタ
ソケットを得ることを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係るア
ダプタソケットは、半導体試験装置と集積回路を電気的
に結合する接触子を絶縁性にチューブで覆った後、導電
性ケースに収納したものである。

【０００７】請求項２の発明に係るアダプタソケット
は、半導体試験装置と集積回路を電気的に結合する接触
子を、表面を絶縁コーティングされた嵌合穴を有する導
電性ケースに収納したものである。

【０００８】請求項３の発明に係るアダプタソケット
は、導電性ケースに接地のためのターミナルを設けたも
のである。

【０００９】

【作用】請求項１の発明におけるアダプタソケットは、
絶縁性チューブにて接触子を絶縁保護し、嵌合穴を設け
た導電性ケースに収納することにより、接触子はシール
ドされ、接触子に信号電流が流れた際に、隣接する接触
子に磁界の影響を及ぼさなくなる。

【００１０】請求項２の発明におけるアダプタソケット
は、絶縁コーティングした嵌合穴のなかに接触子を収納
することにより、接触子はシールドされ、接触子に信号
電流が流れた際に、隣接する接触子に磁界の影響を及ぼ
さなくなる。

【００１１】請求項３の発明におけるアダプタソケット
は、導電性ケースにターミナルを設けたことにより、接
触子とテストボードを接地することができ、従ってさら
に良好にシールドされ、接触子に信号電流が流れた際
に、隣接する接触子に磁界の影響を及ぼさなくなる。

【００１２】

【実施例】

実施例１．以下、第１の発明の一実施例を図について説
明する。図１はこの発明のアダプタソケットを示す分解
図、図２は断面図、図６は運用図である。１は一端を半
導体試験装置１０のテストボード１２に半田付けされ、
他端においてソケット１４のコンタクトピンと着脱自在
に結合し、テストボード１２とソケット１４を電気的に
結合する接触子、４は接触子１が挿入される絶縁材によ
って形成されたチューブ、５は接触子１が挿入されたチ
ューブ４を収納する嵌合穴を有した導電性ケース、６，
７は導電性ケース５にネジ等で結合され、導電性ケース
５に収納された接触子１およびチューブ４を固定する絶
縁材で形成された蓋である。

【００１３】次に動作について説明する。接触子１は絶
縁性のチューブ４に挿入され、他の接触子１と絶縁性を
保ちつつ、前記チューブ４を収納するための嵌合穴を設
けた導電性ケース５に収納される。そして上下をネジ等
で結合される絶縁性の蓋６，蓋７にて接触子に固定され
る。次に、接触子１が一端を半導体試験装置１０のテス
トボード１２に半田付け固定され、他端においてソケッ
ト１４のコンタクトピンと嵌合されることにより、半導
体試験装置１０のテストボード１２とソケット１４を電
気的に結合する。また、被測定集積回路を電気的に試験
するために、半導体試験装置１０からの信号電流が接触
子１を流れた際、発生する磁界は導電性ケース５に接触
子１が収納されているため、シールドされている。

【００１４】実施例２．第２の発明に一実施例を図につ
いて説明する。図３はこの発明のアダプタソケットを示
す断面図である。５は接触子１を収納する嵌合穴を有し
た導電性ケース、８は導電性ケース５の表面と接触子１
の絶縁を保つため、導電性ケース５上に形成した絶縁コ
ーティングである。

【００１５】次に動作について説明する。第１の発明で
は隣接する接触子１との絶縁を保つため、接触子１を絶
縁性のチューブ４に挿入後、導電性ケース５に収納して
いたが、接触子を収納する導電性ケース５に絶縁コーテ
ィング８を施すことにより同様の作用を得ることができ
る。

【００１６】実施例３．第３の発明の一実施例を図につ
いて説明する。図３はこの発明のアダプタソケットを示
す断面図である。９は前記導電性ケースに設けたターミ
ナルである。

【００１７】次に動作について説明する。導電性ケース
５にターミナル９を設け、半導体試験装置のテストボー
ドと接地することにより、シールド効果は大きくなる。

【００１８】

【発明の効果】以上のように、請求項１の発明によれ
ば、半導体試験装置と集積回路を電気的に結合する接触
子を絶縁性のチューブで覆った後、導電性ケースに収納
するように構成したので、接触子はシールドされ、従っ
て接触子に信号電流が流れた際に、隣接する接触子に磁
界の影響を及ぼさず、精度よく電気試験が行えるなどの
効果がある。

【００１９】また、請求項２の発明によれば、絶縁コー
ティングした嵌合穴のなかに接触子を収納するように構
成したので、接触子はシールドされ、従って接触子に信
号電流が流れた際に、隣接する接触子に磁界の影響を及
ぼさず、精度よく電気試験が行えるなどの効果がある。

【００２０】請求項３の発明によれば、導電性ケースに
ターミナルを設けた構成にしたので、接触子とテストボ
ードを接地することができ、従ってさらに良好にシール
ドされ、接触子に信号電流が流れた際に、隣接する接触
子に磁界の影響を及ぼさず、精度よく電気試験が行える
などの効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例１によるアダプタソケットの
分解図である。

【図２】この発明の実施例１によるアダプタソケットの
断面図である。

【図３】この発明の実施例２，３によるアダプタソケッ
トの断面図である。

【図４】従来のアダプタソケットの分解図である。

【図５】従来のアダプタソケットの断面図である。

【図６】アダプタソケットの運用図である。

【符号の説明】

１ 接触子 ４ 絶縁性チューブ（チューブ） ５ 導電性ケース（ケース） ８ 絶縁コーティング ９ ターミナル

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 集積回路と半導体試験装置を電気的に結
   合する接触子と、前記接触子の外周を覆う絶縁性のチュ
   ーブと、前記チューブに覆われた接触子を収納する導電
   性のケースとを備えたアダプタソケット。
2. 【請求項２】 集積回路と半導体試験装置を電気的に結
   合する接触子と、前記接触子を収納するための嵌合穴が
   施され、かつ、その嵌合穴の表面を絶縁コーティングさ
   れた導電性のケースとを備えたアダプタソケット。
3. 【請求項３】 前記導電性のケースに接地のためのター
   ミナルを設けたことを特徴とする請求項１または２記載
   のアダプタソケット。