JPH11133074A - 電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定装置 - Google Patents
電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定装置Info
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- JPH11133074A JPH11133074A JP9295192A JP29519297A JPH11133074A JP H11133074 A JPH11133074 A JP H11133074A JP 9295192 A JP9295192 A JP 9295192A JP 29519297 A JP29519297 A JP 29519297A JP H11133074 A JPH11133074 A JP H11133074A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】電子回路基板のコモンモード・ノイズを評価す
るためのコモンモード・インピーダンスの測定方法及び
その測定装置を提供する。 【解決手段】金属製の冶具３は、一面開口した略箱状の
冶具本体４と、冶具本体４の開口を塞ぐ蓋体５とからな
り、冶具３内部に配置された誘電体ブロック２上に電子
回路基板１が載置される。電子回路基板１の入出力端子
間の少なくとも一部は短絡されており、短絡された入出
力端子は導電線１１及びＮ型同軸コネクタ１０を介し
て、冶具３の側面に配設された貫通型のＮ型同軸コネク
タ７に接続される。回路定数測定器２０は、同軸ケーブ
ル９及びＮ型同軸コネクタ８を介して、貫通型のＮ型同
軸コネクタ７に接続される。回路定数測定器２０は、電
子回路基板１に信号を印加して、その反射率を測定する
ことにより、電子回路基板１のグランド３０に対するコ
モンモード・インピーダンスを測定する。
るためのコモンモード・インピーダンスの測定方法及び
その測定装置を提供する。 【解決手段】金属製の冶具３は、一面開口した略箱状の
冶具本体４と、冶具本体４の開口を塞ぐ蓋体５とからな
り、冶具３内部に配置された誘電体ブロック２上に電子
回路基板１が載置される。電子回路基板１の入出力端子
間の少なくとも一部は短絡されており、短絡された入出
力端子は導電線１１及びＮ型同軸コネクタ１０を介し
て、冶具３の側面に配設された貫通型のＮ型同軸コネク
タ７に接続される。回路定数測定器２０は、同軸ケーブ
ル９及びＮ型同軸コネクタ８を介して、貫通型のＮ型同
軸コネクタ７に接続される。回路定数測定器２０は、電
子回路基板１に信号を印加して、その反射率を測定する
ことにより、電子回路基板１のグランド３０に対するコ
モンモード・インピーダンスを測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路基板のコ
モンモード・ノイズに対するノイズ耐量を定量的に評価
するためのコモンモード・インピーダンスを測定する電
子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及
びその測定装置に関するものである。
モンモード・ノイズに対するノイズ耐量を定量的に評価
するためのコモンモード・インピーダンスを測定する電
子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及
びその測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電子回路基板やケーブルに発生するノイ
ズには、大別してノーマルモード・ノイズとコモンモー
ド・ノイズの二つのモードがあり、ノーマルモード・ノ
イズとは、電流の流れる線間に現れるノイズ成分のこと
であり、コモンモード・ノイズとは、各線とグランド
（大地）との間に現れるノイズ成分のことである。そし
て、各モードについてその電流の流れ易さを表現するた
めに設定したインピーダンスが、ノーマルモード・イン
ピーダンスとコモンモード・インピーダンスである。
ズには、大別してノーマルモード・ノイズとコモンモー
ド・ノイズの二つのモードがあり、ノーマルモード・ノ
イズとは、電流の流れる線間に現れるノイズ成分のこと
であり、コモンモード・ノイズとは、各線とグランド
（大地）との間に現れるノイズ成分のことである。そし
て、各モードについてその電流の流れ易さを表現するた
めに設定したインピーダンスが、ノーマルモード・イン
ピーダンスとコモンモード・インピーダンスである。
【０００３】通常の電子回路基板は全てノーマルモード
・インピーダンスであるので、ノーマルモード・インピ
ーダンスについては、測定やシミュレーションが行われ
ている。一方、コモンモード・ノイズについては、電子
回路基板のコモンモード・インピーダンスよりも、電子
回路基板に接続されたケーブルのコモンモード・インピ
ーダンスの影響の方が支配的であると考えられており、
ケーブルのコモンモード・インピーダンスについては測
定が行われているが、電子回路基板のコモンモード・イ
ンピーダンスについては、測定が困難なためにその測定
方法が確立されておらず、測定によって得られた計測デ
ータに基づいてコモンモード・ノイズに対する評価を行
うという試みは行われてなかった。
・インピーダンスであるので、ノーマルモード・インピ
ーダンスについては、測定やシミュレーションが行われ
ている。一方、コモンモード・ノイズについては、電子
回路基板のコモンモード・インピーダンスよりも、電子
回路基板に接続されたケーブルのコモンモード・インピ
ーダンスの影響の方が支配的であると考えられており、
ケーブルのコモンモード・インピーダンスについては測
定が行われているが、電子回路基板のコモンモード・イ
ンピーダンスについては、測定が困難なためにその測定
方法が確立されておらず、測定によって得られた計測デ
ータに基づいてコモンモード・ノイズに対する評価を行
うという試みは行われてなかった。
【０００４】しかしながら、本発明者らの研究により電
子回路基板のコモンモード・インピーダンスから電子回
路基板のノイズ耐性の評価が可能であることが判明し、
以下のような方法を用いて、電子回路基板のコモンモー
ド・インピーダンスを測定した。図４に示すように、グ
ランド３０面に高さが１０ｃｍ程度の木片１８を配置
し、木片１８上に被測定回路基板たる電子回路基板１を
載置する。グランド３０面には電子回路基板１から所定
の距離を開けて断面略Ｌ字状の金属板１５を設置し、金
属板１５にコネクタ１６を取り付け、コネクタ１６と電
子回路基板１の入出力端子間を導電線１７で接続する。
そして、ネットワークアナライザ（回路定数測定器）等
のインピーダンス測定器（図示せず）をコネクタ１６に
接続し、例えば反射法により電子回路基板１のコモンモ
ード・インピーダンスを測定した。すなわち、インピー
ダンス測定器からコネクタ１６及び導電線１７を介して
電子回路基板１に信号を印加し、その反射率を測定する
ことによって、コモンモード・インピーダンスを測定し
た。
子回路基板のコモンモード・インピーダンスから電子回
路基板のノイズ耐性の評価が可能であることが判明し、
以下のような方法を用いて、電子回路基板のコモンモー
ド・インピーダンスを測定した。図４に示すように、グ
ランド３０面に高さが１０ｃｍ程度の木片１８を配置
し、木片１８上に被測定回路基板たる電子回路基板１を
載置する。グランド３０面には電子回路基板１から所定
の距離を開けて断面略Ｌ字状の金属板１５を設置し、金
属板１５にコネクタ１６を取り付け、コネクタ１６と電
子回路基板１の入出力端子間を導電線１７で接続する。
そして、ネットワークアナライザ（回路定数測定器）等
のインピーダンス測定器（図示せず）をコネクタ１６に
接続し、例えば反射法により電子回路基板１のコモンモ
ード・インピーダンスを測定した。すなわち、インピー
ダンス測定器からコネクタ１６及び導電線１７を介して
電子回路基板１に信号を印加し、その反射率を測定する
ことによって、コモンモード・インピーダンスを測定し
た。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した電子回路基板
のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定
装置では、コモンモード・インピーダンスの測定値の絶
対値が大きいため、各電子回路基板１の間のコモンモー
ド・インピーダンスの微小な差が測定値の誤差範囲に埋
もれてしまい、基板間の差を比較することができなかっ
た。また、開空間でコモンモード・インピーダンスを測
定しているので、周囲の人体（測定者）や導体などの外
乱の影響を受けやすく、コモンモード・インピーダンス
の測定値がばらついて、再現性の良い測定を行うことが
できなかった。
のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定
装置では、コモンモード・インピーダンスの測定値の絶
対値が大きいため、各電子回路基板１の間のコモンモー
ド・インピーダンスの微小な差が測定値の誤差範囲に埋
もれてしまい、基板間の差を比較することができなかっ
た。また、開空間でコモンモード・インピーダンスを測
定しているので、周囲の人体（測定者）や導体などの外
乱の影響を受けやすく、コモンモード・インピーダンス
の測定値がばらついて、再現性の良い測定を行うことが
できなかった。
【０００６】本発明は上記問題点に鑑みて為されたもの
であり、その目的とするところは、精度良く、再現性の
良い測定が可能な電子回路基板のコモンモード・インピ
ーダンス測定方法及びその測定装置を提供することにあ
る。
であり、その目的とするところは、精度良く、再現性の
良い測定が可能な電子回路基板のコモンモード・インピ
ーダンス測定方法及びその測定装置を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明では、被測定回路基板を冶具に取り
付け、被測定回路基板の入出力端子の少なくとも一部を
短絡し、冶具に設けられた接続部材と被測定回路基板の
短絡された入出力端子とを導電線で接続し、接続部材と
インピーダンス測定器とを同軸ケーブルで接続し、イン
ピーダンス測定器から同軸ケーブルと接続部材と導電線
とを介して被測定回路基板に信号を印加し、その反射率
を測定することによってインピーダンスを測定してお
り、被測定回路基板の短絡された入出力端子とグランド
との間に信号を印加しており、被測定回路基板と冶具、
すなわち、グランドとの容量結合を高めることによっ
て、測定値の絶対値を小さくして、被測定回路基板とグ
ランドとの間のコモンモード・インピーダンスを精度良
く測定することができる。
に、請求項１の発明では、被測定回路基板を冶具に取り
付け、被測定回路基板の入出力端子の少なくとも一部を
短絡し、冶具に設けられた接続部材と被測定回路基板の
短絡された入出力端子とを導電線で接続し、接続部材と
インピーダンス測定器とを同軸ケーブルで接続し、イン
ピーダンス測定器から同軸ケーブルと接続部材と導電線
とを介して被測定回路基板に信号を印加し、その反射率
を測定することによってインピーダンスを測定してお
り、被測定回路基板の短絡された入出力端子とグランド
との間に信号を印加しており、被測定回路基板と冶具、
すなわち、グランドとの容量結合を高めることによっ
て、測定値の絶対値を小さくして、被測定回路基板とグ
ランドとの間のコモンモード・インピーダンスを精度良
く測定することができる。
【０００８】請求項２の発明では、請求項１の発明にお
いて、金属製の箱体からなる冶具内部に被測定回路基板
を収納してインピーダンスの測定を行っており、静電シ
ールド効果を有する金属製の箱体内部に被測定回路基板
を収納しているので、冶具の周囲にある人体や導体など
の外乱の影響を受けにくくすることができる。さらに、
冶具が金属から形成されているので、被測定回路基板と
グランドとの容量結合を高めることができる。
いて、金属製の箱体からなる冶具内部に被測定回路基板
を収納してインピーダンスの測定を行っており、静電シ
ールド効果を有する金属製の箱体内部に被測定回路基板
を収納しているので、冶具の周囲にある人体や導体など
の外乱の影響を受けにくくすることができる。さらに、
冶具が金属から形成されているので、被測定回路基板と
グランドとの容量結合を高めることができる。
【０００９】請求項３の発明では、請求項１又は２の発
明において、被測定回路基板を高誘電率の誘電体を介し
て冶具に取り付けているので、被測定回路基板と冶具と
の容量結合をさらに高めることができる。請求項４の発
明では、請求項１乃至３の発明において、被測定回路基
板と冶具との間の距離を変化させて測定を行っているの
で、被測定回路基板と冶具との間の距離を、各被測定回
路基板のコモンモード・インピーダンスの差が顕著とな
るような距離に調整して、インピーダンス測定を行うこ
とができる。
明において、被測定回路基板を高誘電率の誘電体を介し
て冶具に取り付けているので、被測定回路基板と冶具と
の容量結合をさらに高めることができる。請求項４の発
明では、請求項１乃至３の発明において、被測定回路基
板と冶具との間の距離を変化させて測定を行っているの
で、被測定回路基板と冶具との間の距離を、各被測定回
路基板のコモンモード・インピーダンスの差が顕著とな
るような距離に調整して、インピーダンス測定を行うこ
とができる。
【００１０】請求項５の発明では、内部に入出力端子間
が短絡された被測定回路基板を収納し、一面に設けられ
た貫通型の同軸コネクタと被測定回路基板の短絡された
入出力端子とが導電線で接続された金属製の冶具と、同
軸コネクタに同軸ケーブルを介して接続され、被測定回
路基板に信号を印加しその反射率を測定することによっ
て、インピーダンスを測定するインピーダンス測定器と
から構成されており、被測定回路基板の短絡された入出
力端子とグランドとの間に信号を印加することによっ
て、被測定回路基板とグランドとの間のコモンモード・
インピーダンスを測定することができる。さらに、冶具
の側面に同軸コネクタを配設しているので、冶具の内側
の同軸コネクタに校正冶具を接続することにより、冶具
のインピーダンスの校正を行うことができる。
が短絡された被測定回路基板を収納し、一面に設けられ
た貫通型の同軸コネクタと被測定回路基板の短絡された
入出力端子とが導電線で接続された金属製の冶具と、同
軸コネクタに同軸ケーブルを介して接続され、被測定回
路基板に信号を印加しその反射率を測定することによっ
て、インピーダンスを測定するインピーダンス測定器と
から構成されており、被測定回路基板の短絡された入出
力端子とグランドとの間に信号を印加することによっ
て、被測定回路基板とグランドとの間のコモンモード・
インピーダンスを測定することができる。さらに、冶具
の側面に同軸コネクタを配設しているので、冶具の内側
の同軸コネクタに校正冶具を接続することにより、冶具
のインピーダンスの校正を行うことができる。
【００１１】請求項６の発明では、請求項５の発明にお
いて、上記冶具が、一面開口した冶具本体と、冶具本体
の開口を塞ぐ蓋体とからなり、冶具本体の開口端に蓋体
との接触面積を大きくするためのフランジ部を設けてい
るので、蓋体を取り外した状態で被測定回路基板の取り
付けなどの作業を行うことができ、作業性を向上させる
ことができる。さらに、冶具本体の開口端にフランジ部
を設けることにより、冶具本体と蓋体との容量結合を高
めることができる。
いて、上記冶具が、一面開口した冶具本体と、冶具本体
の開口を塞ぐ蓋体とからなり、冶具本体の開口端に蓋体
との接触面積を大きくするためのフランジ部を設けてい
るので、蓋体を取り外した状態で被測定回路基板の取り
付けなどの作業を行うことができ、作業性を向上させる
ことができる。さらに、冶具本体の開口端にフランジ部
を設けることにより、冶具本体と蓋体との容量結合を高
めることができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の電子回路基板のコモンモ
ード・インピーダンス測定方法及びその測定装置を図１
乃至図３を参照して説明する。この測定装置の概略構成
図を図１に、断面図を図２に示す。被測定回路基板たる
電子回路基板１を収納する金属製の冶具３は、一面開口
した略箱状の冶具本体４と、冶具本体４の開口を覆う蓋
体５とから構成されており、電子回路基板１は冶具本体
４の底面に配置された高誘電率の誘電体ブロック２上に
載置されている。
ード・インピーダンス測定方法及びその測定装置を図１
乃至図３を参照して説明する。この測定装置の概略構成
図を図１に、断面図を図２に示す。被測定回路基板たる
電子回路基板１を収納する金属製の冶具３は、一面開口
した略箱状の冶具本体４と、冶具本体４の開口を覆う蓋
体５とから構成されており、電子回路基板１は冶具本体
４の底面に配置された高誘電率の誘電体ブロック２上に
載置されている。
【００１３】ここで、冶具３に金属製のものを使用して
いるので、電子回路基板１を冶具３全体と容量結合させ
ることにより、電子回路基板１とグランド３０との容量
性結合を高めて、コモンモード・インピーダンスの測定
値の絶対値を下げることができる。また、電子回路基板
１は金属製の冶具３内部に収納されているので、電子回
路基板１は、冶具３の静電シールド効果により、冶具３
周囲の人体や導体などの影響を受けにくくなり、再現性
の良い測定を行うことができる。さらに、電子回路基板
１は誘電体ブロック２を介して冶具本体４に取り付けら
れているので、電子回路基板１の下方に電気力線を集中
させて、電子回路基板１とグランド３０との容量性結合
をさらに高めることができ、コモンモード・インピーダ
ンスの測定値の絶対値を下げて、精度の高い測定を行う
ことができる。
いるので、電子回路基板１を冶具３全体と容量結合させ
ることにより、電子回路基板１とグランド３０との容量
性結合を高めて、コモンモード・インピーダンスの測定
値の絶対値を下げることができる。また、電子回路基板
１は金属製の冶具３内部に収納されているので、電子回
路基板１は、冶具３の静電シールド効果により、冶具３
周囲の人体や導体などの影響を受けにくくなり、再現性
の良い測定を行うことができる。さらに、電子回路基板
１は誘電体ブロック２を介して冶具本体４に取り付けら
れているので、電子回路基板１の下方に電気力線を集中
させて、電子回路基板１とグランド３０との容量性結合
をさらに高めることができ、コモンモード・インピーダ
ンスの測定値の絶対値を下げて、精度の高い測定を行う
ことができる。
【００１４】また、冶具本体４の開口端には、蓋体５と
の接触面積を大きくするために幅が１ｃｍ程度のフラン
ジ部６が設けられており、蓋体５の厚みは十分厚く形成
され、その重量も重いので、冶具本体４と蓋体５との接
触面積が大きく、且つ、蓋体５が冶具本体４に接触する
接触圧が大きくなるので、冶具本体４と蓋体５との充分
な導電性を確保し、容量性結合を大きくして、コモンモ
ード・インピーダンスの測定値の絶対値をさらに下げる
ことができる。尚、蓋体５の材質がアルミの場合、蓋体
５は５ｍｍ程度の厚みに形成されている。
の接触面積を大きくするために幅が１ｃｍ程度のフラン
ジ部６が設けられており、蓋体５の厚みは十分厚く形成
され、その重量も重いので、冶具本体４と蓋体５との接
触面積が大きく、且つ、蓋体５が冶具本体４に接触する
接触圧が大きくなるので、冶具本体４と蓋体５との充分
な導電性を確保し、容量性結合を大きくして、コモンモ
ード・インピーダンスの測定値の絶対値をさらに下げる
ことができる。尚、蓋体５の材質がアルミの場合、蓋体
５は５ｍｍ程度の厚みに形成されている。
【００１５】冶具本体４の側面には貫通型のＮ型同軸コ
ネクタ７が配設されており、貫通型のＮ型同軸コネクタ
７には同軸ケーブル９が配線されたＮ型同軸コネクタ８
が接続され、インピーダンス測定器たる回路定数測定器
（ネットワークアナライザ）２０はＮ型同軸コネクタ８
及び同軸ケーブル９を介して貫通型のＮ型同軸コネクタ
７に接続される。また、電子回路基板１の入出力端子１
３の少なくとも一部はジャンパー線１４により短絡され
る。Ｎ型同軸コネクタ１０に配線された導電線１１はジ
ャンパー線１４に電気的に接続され、Ｎ型同軸コネクタ
１０を貫通型のＮ型同軸コネクタ７に接続することによ
って、短絡された入出力端子１３が貫通型のＮ型同軸コ
ネクタ７の内部導体に接続される。而して、同軸ケーブ
ル９の内部導体は電子回路基板１の入出力端子１３に電
気的に接続され、同軸ケーブル９の外部導体は貫通型の
Ｎ型同軸コネクタ７を介して冶具３に電気的に接続され
る。尚、冶具３のインピーダンス等の校正は、冶具３の
側面に配設された貫通型のＮ型コネクタ７の冶具３内部
側に、適当な校正冶具１２1 ，１２2 を接続することに
よって行う。
ネクタ７が配設されており、貫通型のＮ型同軸コネクタ
７には同軸ケーブル９が配線されたＮ型同軸コネクタ８
が接続され、インピーダンス測定器たる回路定数測定器
（ネットワークアナライザ）２０はＮ型同軸コネクタ８
及び同軸ケーブル９を介して貫通型のＮ型同軸コネクタ
７に接続される。また、電子回路基板１の入出力端子１
３の少なくとも一部はジャンパー線１４により短絡され
る。Ｎ型同軸コネクタ１０に配線された導電線１１はジ
ャンパー線１４に電気的に接続され、Ｎ型同軸コネクタ
１０を貫通型のＮ型同軸コネクタ７に接続することによ
って、短絡された入出力端子１３が貫通型のＮ型同軸コ
ネクタ７の内部導体に接続される。而して、同軸ケーブ
ル９の内部導体は電子回路基板１の入出力端子１３に電
気的に接続され、同軸ケーブル９の外部導体は貫通型の
Ｎ型同軸コネクタ７を介して冶具３に電気的に接続され
る。尚、冶具３のインピーダンス等の校正は、冶具３の
側面に配設された貫通型のＮ型コネクタ７の冶具３内部
側に、適当な校正冶具１２1 ，１２2 を接続することに
よって行う。
【００１６】ここで、回路定数測定器２０は、同軸ケー
ブル９及び導電線１１を介して電子回路基板１に信号を
印加し、その反射率を測定し、計算によって電子回路基
板１のグランド３０に対するコモンモード・インピーダ
ンスを求めている。以下に、本実施形態の電子回路基板
のコモンモード・インピーダンス測定方法を説明する。
まず、冶具本体４の底面に誘電体ブロック２を配置し、
誘電体ブロック２上に電子回路基板１を載置する。次
に、電子回路基板１の入出力端子１３の少なくとも一部
をジャンパー線１４で短絡し、ジャンパー線１４とＮ型
同軸コネクタ１０に配線された導電線１１とを電気的に
接続し、Ｎ型同軸コネクタ１０を冶具本体４の側面に配
設された貫通型のＮ型同軸コネクタ７に接続して、電子
回路基板１の短絡された入出力端子１３とＮ型同軸コネ
クタ７の内部導体とを電気的に接続する。さらに、貫通
型のＮ型同軸コネクタ７に同軸ケーブル９が配線された
Ｎ型同軸コネクタ８を接続して、回路定数測定器２０と
貫通型のＮ型同軸コネクタ７とを電気的に接続する。そ
の後、回路定数測定器２０から電子回路基板１に信号を
印加し、その反射率を測定することによって、回路定数
測定器２０は電子回路基板１のグランド３０に対するコ
モンモード・インピーダンスを測定する。ここで、冶具
３は冶具本体４と蓋体５とから構成されており、冶具３
内に電子回路基板１を取り付ける際は、蓋体５を外した
状態で作業を行うことができ、取付作業の作業性が向上
する。
ブル９及び導電線１１を介して電子回路基板１に信号を
印加し、その反射率を測定し、計算によって電子回路基
板１のグランド３０に対するコモンモード・インピーダ
ンスを求めている。以下に、本実施形態の電子回路基板
のコモンモード・インピーダンス測定方法を説明する。
まず、冶具本体４の底面に誘電体ブロック２を配置し、
誘電体ブロック２上に電子回路基板１を載置する。次
に、電子回路基板１の入出力端子１３の少なくとも一部
をジャンパー線１４で短絡し、ジャンパー線１４とＮ型
同軸コネクタ１０に配線された導電線１１とを電気的に
接続し、Ｎ型同軸コネクタ１０を冶具本体４の側面に配
設された貫通型のＮ型同軸コネクタ７に接続して、電子
回路基板１の短絡された入出力端子１３とＮ型同軸コネ
クタ７の内部導体とを電気的に接続する。さらに、貫通
型のＮ型同軸コネクタ７に同軸ケーブル９が配線された
Ｎ型同軸コネクタ８を接続して、回路定数測定器２０と
貫通型のＮ型同軸コネクタ７とを電気的に接続する。そ
の後、回路定数測定器２０から電子回路基板１に信号を
印加し、その反射率を測定することによって、回路定数
測定器２０は電子回路基板１のグランド３０に対するコ
モンモード・インピーダンスを測定する。ここで、冶具
３は冶具本体４と蓋体５とから構成されており、冶具３
内に電子回路基板１を取り付ける際は、蓋体５を外した
状態で作業を行うことができ、取付作業の作業性が向上
する。
【００１７】また、誘電体ブロック３の高さを調節する
などして、電子回路基板１の設定位置（すなわち、電子
回路基板１と冶具３との間の距離）を変化させることが
できるので、電子回路基板１とグランド３０との容量性
結合を変化させ、各電子回路基板１のコモンモード・イ
ンピーダンスの測定値の差が顕著となるような位置に電
子回路基板１を設置して、コモンモード・インピーダン
スの測定を行うことができ、各電子回路基板１のコモン
モード・インピーダンスの差を精度良く、定量的に測定
することができる。
などして、電子回路基板１の設定位置（すなわち、電子
回路基板１と冶具３との間の距離）を変化させることが
できるので、電子回路基板１とグランド３０との容量性
結合を変化させ、各電子回路基板１のコモンモード・イ
ンピーダンスの測定値の差が顕著となるような位置に電
子回路基板１を設置して、コモンモード・インピーダン
スの測定を行うことができ、各電子回路基板１のコモン
モード・インピーダンスの差を精度良く、定量的に測定
することができる。
【００１８】
【発明の効果】上述のように、請求項１の発明は、被測
定回路基板を冶具に取り付け、被測定回路基板の入出力
端子の少なくとも一部を短絡し、冶具に設けられた接続
部材と被測定回路基板の短絡された入出力端子とを導電
線で接続し、接続部材とインピーダンス測定器とを同軸
ケーブルで接続し、インピーダンス測定器から同軸ケー
ブルと接続部材と導電線とを介して被測定回路基板に信
号を印加し、その反射率を測定することによってインピ
ーダンスを測定しており、被測定回路基板の短絡された
入出力端子とグランドとの間に信号を印加しているの
で、被測定回路基板と冶具、すなわち、グランドとの容
量結合を高めることによって、測定値の絶対値を小さく
して、被測定回路基板とグランドとの間のコモンモード
・インピーダンスを精度良く測定できるという効果があ
る。
定回路基板を冶具に取り付け、被測定回路基板の入出力
端子の少なくとも一部を短絡し、冶具に設けられた接続
部材と被測定回路基板の短絡された入出力端子とを導電
線で接続し、接続部材とインピーダンス測定器とを同軸
ケーブルで接続し、インピーダンス測定器から同軸ケー
ブルと接続部材と導電線とを介して被測定回路基板に信
号を印加し、その反射率を測定することによってインピ
ーダンスを測定しており、被測定回路基板の短絡された
入出力端子とグランドとの間に信号を印加しているの
で、被測定回路基板と冶具、すなわち、グランドとの容
量結合を高めることによって、測定値の絶対値を小さく
して、被測定回路基板とグランドとの間のコモンモード
・インピーダンスを精度良く測定できるという効果があ
る。
【００１９】請求項２の発明は、金属製の箱体からなる
冶具内部に被測定回路基板を収納してインピーダンスの
測定を行っており、静電シールド効果を有する金属製の
箱体内部に被測定回路基板を収納しているので、冶具の
周囲にある人体や導体などの外乱の影響を受けにくくす
ることができ、再現性の良い測定を行うことができると
いう効果がある。さらに、冶具が金属から形成されてい
るので、被測定回路基板とグランドとの容量結合を高め
ることができ、インピーダンス測定値の絶対値を下げ
て、精度の高い測定を行うことができるという効果があ
る。
冶具内部に被測定回路基板を収納してインピーダンスの
測定を行っており、静電シールド効果を有する金属製の
箱体内部に被測定回路基板を収納しているので、冶具の
周囲にある人体や導体などの外乱の影響を受けにくくす
ることができ、再現性の良い測定を行うことができると
いう効果がある。さらに、冶具が金属から形成されてい
るので、被測定回路基板とグランドとの容量結合を高め
ることができ、インピーダンス測定値の絶対値を下げ
て、精度の高い測定を行うことができるという効果があ
る。
【００２０】請求項３の発明は、被測定回路基板を高誘
電率の誘電体を介して冶具に取り付けており、被測定回
路基板と冶具との容量結合をさらに高めることができる
ので、インピーダンス測定値の絶対値を下げて、精度の
高い測定を行うことができるという効果がある。請求項
４の発明は、被測定回路基板と冶具との間の距離を変化
させて測定を行っており、被測定回路基板と冶具との間
の距離を、各被測定回路基板のコモンモード・インピー
ダンスの差が顕著となるような距離に調整して、インピ
ーダンス測定を行うことができるので、各被測定回路基
板のコモンモード・インピーダンスの差を精度良く、定
量的に測定できるという効果がある。
電率の誘電体を介して冶具に取り付けており、被測定回
路基板と冶具との容量結合をさらに高めることができる
ので、インピーダンス測定値の絶対値を下げて、精度の
高い測定を行うことができるという効果がある。請求項
４の発明は、被測定回路基板と冶具との間の距離を変化
させて測定を行っており、被測定回路基板と冶具との間
の距離を、各被測定回路基板のコモンモード・インピー
ダンスの差が顕著となるような距離に調整して、インピ
ーダンス測定を行うことができるので、各被測定回路基
板のコモンモード・インピーダンスの差を精度良く、定
量的に測定できるという効果がある。
【００２１】請求項５の発明は、内部に入出力端子間が
短絡された被測定回路基板を収納し、一面に設けられた
貫通型の同軸コネクタと被測定回路基板の短絡された入
出力端子とが導電線で接続された金属製の冶具と、同軸
コネクタに同軸ケーブルを介して接続され、被測定回路
基板に信号を印加しその反射率を測定することによっ
て、インピーダンスを測定するインピーダンス測定器と
から構成されており、被測定回路基板の短絡された入出
力端子とグランドとの間に信号を印加することによっ
て、被測定回路基板とグランドとの間のコモンモード・
インピーダンスを測定できるという効果がある。さら
に、冶具の側面に同軸コネクタを配設しているので、冶
具の内側の同軸コネクタに校正冶具を接続することによ
り、冶具のインピーダンスの校正を行うことができると
いう効果がある。
短絡された被測定回路基板を収納し、一面に設けられた
貫通型の同軸コネクタと被測定回路基板の短絡された入
出力端子とが導電線で接続された金属製の冶具と、同軸
コネクタに同軸ケーブルを介して接続され、被測定回路
基板に信号を印加しその反射率を測定することによっ
て、インピーダンスを測定するインピーダンス測定器と
から構成されており、被測定回路基板の短絡された入出
力端子とグランドとの間に信号を印加することによっ
て、被測定回路基板とグランドとの間のコモンモード・
インピーダンスを測定できるという効果がある。さら
に、冶具の側面に同軸コネクタを配設しているので、冶
具の内側の同軸コネクタに校正冶具を接続することによ
り、冶具のインピーダンスの校正を行うことができると
いう効果がある。
【００２２】請求項６の発明は、上記冶具が、一面開口
した冶具本体と、冶具本体の開口を塞ぐ蓋体とからな
り、冶具本体の開口端に蓋体との接触面積を大きくする
ためのフランジ部を設けているので、蓋体を取り外した
状態で被測定回路基板の取り付けなどの作業を行うこと
ができ、作業性が向上するという効果がある。さらに、
冶具本体の開口端にフランジ部を設けることにより、冶
具本体と蓋体との容量結合を高めることができるという
効果もある。
した冶具本体と、冶具本体の開口を塞ぐ蓋体とからな
り、冶具本体の開口端に蓋体との接触面積を大きくする
ためのフランジ部を設けているので、蓋体を取り外した
状態で被測定回路基板の取り付けなどの作業を行うこと
ができ、作業性が向上するという効果がある。さらに、
冶具本体の開口端にフランジ部を設けることにより、冶
具本体と蓋体との容量結合を高めることができるという
効果もある。
【図１】本実施形態のインピーダンス測定装置を示す概
略構成図である。
略構成図である。
【図２】（ａ）は同上の冶具の断面図であり、（ｂ）は
同上の冶具を校正するための校正冶具を示す図である。
同上の冶具を校正するための校正冶具を示す図である。
【図３】同上の電子回路基板の接続状態を示す上面図で
ある。
ある。
【図４】従来のインピーダンス測定装置を示す側面図で
ある。
ある。
１ 電子回路基板 ２ 誘電体ブロック ３ 冶具 ４ 冶具本体 ５ 蓋体 ７，８，１０ Ｎ型同軸コネクタ ９ 同軸ケーブル １１ 導電線 ２０ 回路定数測定器 ３０ グランド
Claims (6)
- 【請求項１】被測定回路基板を冶具に取り付け、被測定
回路基板の入出力端子の少なくとも一部を短絡し、冶具
に設けられた接続部材と被測定回路基板の短絡された入
出力端子とを導電線で接続し、接続部材とインピーダン
ス測定器とを同軸ケーブルで接続し、インピーダンス測
定器から同軸ケーブルと接続部材と導電線とを介して被
測定回路基板に信号を印加し、その反射率を測定するこ
とによってインピーダンスを測定することを特徴とする
電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方
法。 - 【請求項２】金属製の箱体からなる冶具内部に被測定回
路基板を収納してインピーダンスの測定を行ったことを
特徴とする請求項１記載の電子回路基板のコモンモード
・インピーダンス測定方法。 - 【請求項３】被測定回路基板を高誘電率の誘電体を介し
て冶具に取り付けたことを特徴とする請求項１又は２記
載の電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定
方法。 - 【請求項４】被測定回路基板と冶具との間の距離を変化
させて測定を行うことを特徴とする請求項１乃至３記載
の電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方
法。 - 【請求項５】内部に入出力端子間が短絡された被測定回
路基板を収納し、一面に設けられた貫通型の同軸コネク
タと被測定回路基板の短絡された入出力端子とが導電線
で接続された金属製の冶具と、同軸コネクタに同軸ケー
ブルを介して接続され、被測定回路基板に信号を印加し
その反射率を測定することによって、インピーダンスを
測定するインピーダンス測定器とから構成されることを
特徴とする電子回路基板のコモンモード・インピーダン
ス測定装置。 - 【請求項６】上記冶具が、一面開口した冶具本体と、冶
具本体の開口を塞ぐ蓋体とからなり、冶具本体の開口端
に蓋体との接触面積を大きくするためのフランジ部を設
けたことを特徴とする請求項５記載の電子回路基板のコ
モンモード・インピーダンス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29519297A JP4066478B2 (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | 電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29519297A JP4066478B2 (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | 電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11133074A true JPH11133074A (ja) | 1999-05-21 |
| JP4066478B2 JP4066478B2 (ja) | 2008-03-26 |
Family
ID=17817399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29519297A Expired - Fee Related JP4066478B2 (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | 電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4066478B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005233833A (ja) * | 2004-02-20 | 2005-09-02 | Sony Corp | 電磁波測定システム |
| CN100427957C (zh) * | 2006-11-28 | 2008-10-22 | 南京师范大学 | 开关电源emi噪声源内阻抗测定装置及测定方法 |
| JP2010127817A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Murata Mfg Co Ltd | 高周波測定方法及び装置 |
| JP2015001436A (ja) * | 2013-06-14 | 2015-01-05 | ローム株式会社 | 電気回路の評価方法 |
-
1997
- 1997-10-28 JP JP29519297A patent/JP4066478B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005233833A (ja) * | 2004-02-20 | 2005-09-02 | Sony Corp | 電磁波測定システム |
| CN100427957C (zh) * | 2006-11-28 | 2008-10-22 | 南京师范大学 | 开关电源emi噪声源内阻抗测定装置及测定方法 |
| JP2010127817A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Murata Mfg Co Ltd | 高周波測定方法及び装置 |
| JP2015001436A (ja) * | 2013-06-14 | 2015-01-05 | ローム株式会社 | 電気回路の評価方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4066478B2 (ja) | 2008-03-26 |
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