JPH08313555A - テスタープローブ - Google Patents

テスタープローブ

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JPH08313555A
JPH08313555A JP11671595A JP11671595A JPH08313555A JP H08313555 A JPH08313555 A JP H08313555A JP 11671595 A JP11671595 A JP 11671595A JP 11671595 A JP11671595 A JP 11671595A JP H08313555 A JPH08313555 A JP H08313555A
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JP
Japan
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probe
tester
rack
probes
worm screw
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Application number
JP11671595A
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English (en)
Inventor
Takaharu Kadoi
隆治 門井
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Mitsubishi Electric Building Solutions Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 テスターに用いられるプローブを、2本を一
体に構成することによって、片手で保持しても容易に測
定の可能なテスタープローブを提供する。 【構成】 固定側プローブ4は、固定側取付台5によっ
てグリップ部11に固定されている。グリップ部11に
は、ウォームネジ10が設けられている。そして、可動
側プローブ7は可動側取付台8によってグリップ部11
と嵌合的に取り付けられている。可動側取付台8にはウ
ォームネジ10と噛み合うラック12が設けられてい
る。このウォームネジ10を回転させることによりラッ
ク12が移動し、可動側プローブ7と、固定側プローブ
4との相対的な距離を任意に設定することができる。こ
れによって、固定側プローブ4と、可動側プローブ7と
の相対的な距離を自由に調節することが可能な一体に構
成されたテスタープローブが実現され、片手でも容易に
電気回路・電気機器の測定・検査を行える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、テスターに用いられる
テスタープローブに関する。特に、2本のプローブを片
手で、しかも安全に扱うことを可能とするテスタープロ
ーブに関する。
【0002】
【従来の技術】電気回路や電気機器の検査に、テスター
を用いた検査が幅広く行われている。このようなテスタ
ーを用いた検査をする場合には、テスタープローブを用
いて、検査の対象である電気機器や電気回路の所定の部
位との電気的接続を果している。図6には、従来のテス
タープローブ、及びそのテスタープローブの使用方法の
例を示す説明図が示されている。図6に示されているよ
うに、テスタープローブは、プローブ1と、このプロー
ブ1の取付台である2と、このプローブ1の取付台2の
端部に設けられている導線3とから構成されている。そ
して、このような、テスタープローブは、検査対象の電
流もしくは電圧を取り出す(もしくは加える)ために2
本組で使用されるのが通例である。そのため、図6に示
されているように操作者の右手と左手とで2本のテスタ
ープローブをそれぞれ保持する場合が多い。図6に示さ
れている例は、右手及び左手に1本ずつテスタープロー
ブを保持した場合の例であるが、図7には2本のテスタ
ープローブを片手で保持した場合の例が示されている。
【0003】図8及び図7に示されているどちらの場合
も、2本のテスタープローブをそれぞれ検査対象の被測
定端子(又は部位)等に接触させることにより、被測定
端子間の電圧や電流などを測定することが可能である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のテスタープロー
ブにおいては、両手で1つずつテスタープローブを保持
すると、テスター本体を持つことができなくなってしま
う。一方、片手で2本のテスタープローブを保持すると
(図7参照)、テスタープローブのプローブ1同士が接
触してショートさせたり持ち難さからプローブが被測定
端子から離れてしまう場合がしばしば生じる。
【0005】このように、従来のテスターに用いられて
いるテスタープローブは、2本に別れているため、両手
でそれぞれ1本ずつテスタープローブを保持するか、あ
るいは使い難いことを承知で箸のように片手で保持する
か、のいずれかの方法を採用せざるを得なかった。
【0006】本発明は、上記課題に鑑みなされたもので
あり、その目的は2本のプローブを一体として構成し、
片手で安全に保持することが可能なテスタープローブを
提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、第1の本発明は、テスターに用いられ、被測定対象
と電気的に結合する第1プローブと、前記テスターに用
いられ、前記被測定対象と電気的に結合する第2プロー
ブと、前記第1プローブと、前記第2プローブとの間の
距離を変化させる間隔調節手段と、を備えたことを特徴
とするテスタープローブである。
【0008】上記課題を解決するために、第2の本発明
は、上記第1の本発明のテスタープローブにおいて、前
記間隔調節手段は、前記第1プローブが取り付けられて
いる本体に設けられているウォームネジと、前記第2プ
ローブに取り付けられている可動部に設けられているラ
ックであって、前記ウォームネジと噛み合っているラッ
クと、を含み、前記ウォームネジを操作者が回転させる
と、前記本体と前記可動部との間の相対位置が変化し、
前記第1プローブと前記第2プローブとの間の距離が変
化することを特徴とするテスタープローブである。
【0009】上記課題を解決するために、第3の本発明
は、上記第2の本発明のテスタープローブにおいて、さ
らに、前記第2プローブと、前記ラックとを電気的に接
続する配線と、前記ラックと噛み合う接触端子であっ
て、前記本体に設けられている接触端子と、を含み、外
部の電子機器と前記第2プローブとを接続するための信
号線は、前記接触端子を介して、前記第2プローブと接
続されていることを特徴とするテスタープローブであ
る。
【0010】上記課題を解決するために、第4の本発明
は、上記第1の本発明のテスタープローブにおいて、さ
らに、別体に構成されている2本のプローブがそれぞれ
挿入される第1及び第2の挿入口と、前記第1の挿入口
と前記第1プローブとを電気的に接続する第1配線手段
と、前記第2の挿入口と前記第2プローブとを電気的に
接続する第2配線手段と、を含んでいることを特徴とす
るテスタープローブである。
【0011】上記課題を解決するために、第5の本発明
は、上記第2または3の本発明のテスタープローブにお
いて、前記本体は、別体に構成されている2本のプロー
ブがそれぞれ挿入される第1及び第2の挿入口と、前記
第1の挿入口と前記第1プローブとを電気的に接続する
第1配線手段と、前記第2の挿入口と前記第2プローブ
とを電気的に接続する第2配線手段と、を含んでいるこ
とを特徴とするテスタープローブである。
【0012】
【作用】第1の本発明における間隔調節手段は、第1プ
ローブと第2プローブとの間の距離を変化させるので、
被測定対象において前記プローブが接触すべき測定部位
の間隔に応じて第1プローブと第2プローブとの間隔を
調節することが可能である。
【0013】第2の本発明におけるウォームネジとラッ
クとは、互いに噛み合っており、ウォームネジを回転さ
せることにより第1プローブと第2プローブとの間隔が
容易に調整されうる。
【0014】第3の本発明における接触端子はラックと
電気的に接触している。そのため、この接触端子を介し
てプローブと信号線とが電気的に接続される。
【0015】第4の本発明においては、第1及び第2の
挿入口が設けられており、この第1及び第2の挿入口に
従来の別体に構成されているプローブを挿入することに
より、従来の別体に構成されたプローブと共に、2本の
プローブが一体となった第1〜第3の本発明のテスター
プローブを使用することが可能である。
【0016】第5の本発明においては、本発明に係るテ
スタープローブの本体に第1及び第2の挿入口が設けら
れており、係る挿入口に従来の別体に構成されているテ
スタープローブが挿入される。そのため、従来の別体に
構成されているプローブと共に、第1〜第3の本発明に
係る一体に構成されているテスタープローブをも使用す
ることが可能である。
【0017】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を図面に基づい
て説明する。
【0018】図1には、本発明の好適な実施例である一
体に構成されているテスタープローブの構成図が示され
ている。この図1に示されているように、固定側プロー
ブ4は、固定側取付台5を介してグリップ部11に取り
付けられている。一方、可動側プローブ7は、可動側取
付台8に取り付けられている。可動側取付台8の一部に
はラック12が形成されており、このラック12はグリ
ップ部11に取り付けられているウォームネジ10と噛
み合っている。また、可動側取付台8は、グリップ部1
1に摺動的に取り付けられており、グリップ部11とそ
の相対位置が変化しうるように構成されている。この相
対位置の変化によって、固定側プローブ4と、可動側プ
ローブ7との相対距離が変化するのである。
【0019】そして、操作者は可動側取付台8のラック
12がウォームネジ10と噛み合っていることにより、
このウォームネジ10を操作者が回転させることによ
り、グリップ部11と、ラック12との相対的な距離を
容易に変化させることが可能である。本実施例において
特徴的なことは、固定側プローブ4と、可動側プローブ
7との相対距離を変化させる手段として、モンキースパ
ナ等に用いられるウォームネジとラックとの組合せを用
いたことである。この構造を採用することにより、操作
者は容易に固定側プローブ4と可動側プローブ7との相
対距離を所望の距離に設定することができる。
【0020】このような構成によって、本実施例によれ
ば測定対象の大きさや形状に合致した距離間隔で、両固
定側及び可動側プローブ4、7を固定することができ、
安全でしかも使い易いテスタープローブを提供すること
が可能となる。
【0021】図2には、図1に示されている本実施例の
テスタープローブの平面断面図が示されている。この図
2にされているように、ラック12は、可動側プローブ
7と電気的に接続されている。図2に示されているよう
に、本実施例においては可動側プローブ7とラック12
とは一体の金属材として構成され流ことによって電気的
に接続されているが、可動側プローブ7と、ラック12
とを別体の構成とし、その間を所定の配線で接続するよ
うに構成しても好適である。
【0022】さらに、本実施例において特徴的なこと
は、グリップ部11に設けられている接触端子がラック
12と電気的に接続されていることである。この接触端
子13は、図2に示されているように外部に引き出され
る導線9と接続されており、これによって、外部の導線
9と、可動側プローブ7とを電気的に接続することが可
能である。なお、固定側プローブ4は、図2に示されて
いるように外部に引き出される導線6と(グリップ部1
1内において)電気的に接続されている。
【0023】図3には、図2における接触端子13を中
心とした拡大平面図が示されている。図3に示されてい
るように、接触端子13は導線9とスプリング14を介
して接続されている。このように、接触端子13はスプ
リング14によってラック12に押し付けられているた
め、ラック12が移動することによって接触端子13に
接触する部位の位置が変化していく場合でも、接触端子
13はラック12の凹凸に合わせて移動することがで
き、ラック12と良好な接触状態を保つことが可能であ
る。このような構成によって、可動側プローブ7は、導
線9と良好な接続状態を保つことができる。
【0024】このように、図1、図2、図3に示されて
いる実施例によれば、操作者がウォームネジ10を回転
させることにより、固定側プローブ4と可動側プローブ
7との相対的な距離を自由に変化させることができ、測
定対象の測定部位の大きさに応じた所望の間隔に両プロ
ーブを設定することができる。
【0025】以上述べたように図1〜図3に示されてい
る実施例によれば、被測定対象にプローブを当てている
最中の2本のプローブ同士の接触によるショートを完全
に防止し得ると共に、被測定対象にプローブを押し当て
易い使い易いテスタープローブが提供可能である。ま
た、プローブ操作が片手で可能となるため、他方の手で
テスターを持って容易にその指示値を読み取る等の作業
をすることができる。
【0026】本発明の好適な他の実施例の構成図が、図
4及び図5に示されている。
【0027】図4に示されているように、この実施例に
よるテスタープローブは、外部に引き出されている導線
9や6を有していない。その代り、図5に示されている
ように、従来の別体に構成されているプローブを挿入す
るためのプローブ挿入口18がグリップ部11に設けら
れている。図5は、図4に示されている本実施例に係る
テスタープローブの断面平面図である。図5に示されて
いるように、固定側プローブ4は、板バネ17に接続さ
れており、さらにこの板バネ17に対向して板バネ16
が設けられている。その結果、プローブ挿入口18に挿
入された従来のプローブは、この板バネ17と、板バネ
17と対向する板バネ16によって把持される。このよ
うに板バネ17と板バネ16によって外部から挿入され
たプローブが把持されることにより、外部から挿入され
たプローブと、本実施例に係る固定側プローブ4との電
気的な接続が確立される。
【0028】可動側プローブ7においてもほぼ同様にし
て、従来の別体に構成されたプローブとの電気的な接続
が確立される。すなわち、図5に示されているように可
動側プローブ7はラック12及び接触端子13を介して
導線9に電気的に接続されているが、この導線9が板バ
ネ15に接続されている。そして、板バネ16が板バネ
15と対向するように設けられている。このような構成
により、外部から挿入されたプローブは、板バネ15と
板バネ16に把持されることにより、導線9との電気的
な接続が確立されるのである。
【0029】このように、図4及び図5に示されている
構成においては、外部に導線6、9を引き出さずに、そ
の代り従来のプローブを挿入するプローブ挿入口18が
設けられている。その結果、従来のプローブをそのまま
にして、必要な場合にのみテスタープローブを使用する
ことができる。すなわち、通常の測定においては本発明
に係るテスタープローブを使用した測定を行い、本実施
例に係るテスタープローブではプローブ間の間隔が足り
ない場合、例えば遠く離間した部位における電圧を測定
する場合などにおいては本実施例に係るテスタープロー
ブから従来のプローブを抜いて、従来と同様の測定を行
うのである。このように、本実施例によれば上記図1か
ら図3に示されたテスタープローブのように片手で容易
に測定ができると共に、非常に遠く離れた部位に対して
は従来のプローブをそのまま使用することにより、幅広
い用途に適用可能なテスタープローブが提供される。
【0030】
【発明の効果】以上述べたように、第1の本発明によれ
ば、間隔を調節することが可能な第1プローブと第2プ
ローブとを備えているため、片手で容易に測定が可能な
プローブが得られる。
【0031】また特に、第2の本発明においては、間隔
を調節する手段としてウォームネジとラックとを備えて
いるため、操作者はウォームネジを回転するだけで容易
に第1プローブと第2プローブとの間隔を調節すること
が可能である。
【0032】さらに、第2プローブは、ラックと、この
ラックと噛み合う接触端子とを介して外部の信号線と接
続されているため、確実に外部に引き出された信号線と
の電気的な接続が可能となるテスタープローブが得られ
る。
【0033】さらに、第4、第5の本発明においては、
従来の別体に構成されているプローブを挿入する挿入口
が設けられているため、狭い間隔の部位の測定には、上
記第1〜第3の本発明に係るテスタープローブを使用
し、非常に離間した部位の測定には従来のテスタープロ
ーブを使用することによって、幅広い用途に適用可能な
テスタープローブを提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本実施例のテスタープローブの平面図であ
る。
【図2】 図1に示されているテスタープローブの平面
断面図である。
【図3】 図2に示されている接触端子13を中心とし
た部分拡大図である。
【図4】 本発明の他の実施例に係るテスタープローブ
の平面図である。
【図5】 図4に示されているテスタープローブの平面
断面図である。
【図6】 従来のプローブを、片手に1つずつ両手で保
持した場合の様子を表す説明図である。
【図7】 従来の別体に構成されているプローブを片手
で2本箸のように保持した場合の説明図である。
【符号の説明】
1 プローブ、2 取付台、3 導線、4 固定側プロ
ーブ、5 固定側取付台、6 導線、7 可動側プロー
ブ、8 可動側取付台、9 導線、10 ウォームネ
ジ、11 グリップ部、12 ラック、13 接触端
子、14 スプリング、15,16,17 板バネ、1
8 プローブ挿入口。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成7年8月21日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0021
【補正方法】変更
【補正内容】
【0021】図2には、図1に示されている本実施例の
テスタープローブの平面断面図が示されている。この図
2にされているように、ラック12は、可動側プローブ
7と電気的に接続されている。図2に示されているよう
に、本実施例においては可動側プローブ7とラック12
とは一体の金属材として構成されことによって電気的
に接続されているが、可動側プローブ7と、ラック12
とを別体の構成とし、その間を所定の配線で接続するよ
うに構成しても好適である。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】テスターに用いられ、被測定対象と電気的
    に結合する第1プローブと、 前記テスターに用いられ、前記被測定対象と電気的に結
    合する第2プローブと、 前記第1プローブと、前記第2プローブとの間の距離を
    変化させる間隔調節手段と、 を備えたことを特徴とするテスタープローブ。
  2. 【請求項2】請求項1記載のテスタープローブにおい
    て、 前記間隔調節手段は、 前記第1プローブが取り付けられている本体に設けられ
    ているウォームネジと、 前記第2プローブに取り付けられている可動部に設けら
    れているラックであって、前記ウォームネジと噛み合っ
    ているラックと、 を含み、前記ウォームネジを操作者が回転させると、前
    記本体と前記可動部との間の相対位置が変化し、前記第
    1プローブと前記第2プローブとの間の距離が変化する
    ことを特徴とするテスタープローブ。
  3. 【請求項3】請求項2記載のテスタープローブにおい
    て、さらに、 前記第2プローブと、前記ラックとを電気的に接続する
    配線と、 前記ラックと噛み合う接触端子であって、前記本体に設
    けられている接触端子と、 を含み、外部の電子機器と前記第2プローブとを接続す
    るための信号線は、前記接触端子を介して、前記第2プ
    ローブと接続されていることを特徴とするテスタープロ
    ーブ。
  4. 【請求項4】請求項1記載のテスタープローブにおい
    て、さらに、 別体に構成されている2本のプローブがそれぞれ挿入さ
    れる第1及び第2の挿入口と、 前記第1の挿入口と前記第1プローブとを電気的に接続
    する第1配線手段と、 前記第2の挿入口と前記第2プローブとを電気的に接続
    する第2配線手段と、を含んでいることを特徴とするテ
    スタープローブ。
  5. 【請求項5】請求項2または3記載のテスタープローブ
    において、前記本体は、 別体に構成されている2本のプローブがそれぞれ挿入さ
    れる第1及び第2の挿入口と、 前記第1の挿入口と前記第1プローブとを電気的に接続
    する第1配線手段と、 前記第2の挿入口と前記第2プローブとを電気的に接続
    する第2配線手段と、を含んでいることを特徴とするテ
    スタープローブ。
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