JP2020119684A - コネクター検査器具、コネクターセット - Google Patents
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Abstract
【課題】プラグセットの片浮き状態の接続不良を簡易に検査できること。【解決手段】レセプタクル１は、複数のレセプタクル端子１２に対し長手方向の両外側に位置し短絡された一対の予備端子１３を有する。プラグ２は、前記レセプタクル１と接続されることにより前記一対の予備端子１３に接触する一対の中継電極２３を有する。コネクター検査器具５は、導通検出回路５４と、一対の検査端子５２を支持する一対の端子支持部５３と、変位機構５５とを備える。前記変位機構５５は、前記一対の端子支持部５３の一方または両方を、前記一対の検査端子５２の間隔が接近または離隔する幅方向に沿って変位可能に支持する。【選択図】図８
Description
本発明は、レセプタクルおよびプラグからなるコネクターセットの接続状態を検査するコネクター検査器具および前記コネクターセットに関する。
一般に、電子機器の製造工程は、コネクターセットを構成する２つのコネクターを接続する工程を含む。例えば、複数の電線の端部に接続されたプラグが、基板に実装されたレセプタクルに接続される。この場合、前記レセプタおよび前記プラグが前記コネクターセットを構成する。
また、基板に実装されるコネクターが、モールド部材の内側に設けられた接続電極端子と前記モールド部材の外部に突出したテスト用電極部とを備えることが知られている（例えば、特許文献１参照）。前記接続電極端子および前記テスト用電極部は、前記基板の実装パターンに接続される実装部電極端子と電気的に接続されている。
導通チェッカーの一対の端子が、前記実装パターンと前記テスト用電極部とに押し当てられる。これにより、前記導通チェッカーの端子を前記コネクターの前記モールド部材内へ挿入することなく、前記コネクターの実装状態を検査することができる。
ところで、前記レセプタクルが実装された前記基板と電気的に接続されたＣＰＵ（Central Processing Unit）などのプロセッサーが、前記プラグと前記レセプタクルとの接続状態を検査する処理を実行する場合がある。
しかしながら、前記プロセッサーが動作可能になった段階で、前記プラグと前記レセプタクルとの接続不良が検出された場合、前記プラグを前記レセプタクルに接続し直す作業を行うために、既に装着した部品を外すなど、製造工程の大幅な後戻りが必要となり得る。
従って、製造工程における極力早い段階で、前記プラグと前記レセプタクルとの接続状態の検査を簡易に行えることが望ましい。
また、前記レセプタクルおよび前記プラグの接続不良は、片浮き状態の不良である場合が多い。前記片浮き状態は、前記プラグにおける複数の端子のうちの長手方向の一方の端部の端子のみが、前記レセプタクルの端子と十分に接触していない状態である。
本発明の目的は、レセプタクルおよびプラグからなるプラグセットの片浮き状態の接続不良を簡易に検査できるコネクター検査器具およびその検査に適したコネクターセットを提供することにある。
本発明の一の局面に係るコネクター検査器具は、レセプタクルとプラグとからなるコネクターセットの接続状態を検査する器具である。前記レセプタクルは、長手方向に沿って並ぶ複数のレセプタクル端子、および、前記複数のレセプタクル端子に対し前記長手方向の両外側に位置し短絡された一対の予備端子を有する。前記プラグは、前記レセプタクルと接続されることにより前記複数のレセプタクル端子および前記一対の予備端子にそれぞれ接触する複数のプラグ端子および一対の中継電極を有する。前記コネクター検査器具は、一対の検査端子と、導通検出回路と、本体筐体と、一対の端子支持部と、変位機構と、を備える。前記一対の検査端子は、前記一対の中継電極に接触させられる端子である。前記導通検出回路は、前記一対の検査端子に電圧を印加し、前記一対の検査端子の間の導通を検出する回路である。前記本体筐体は、前記導通検出回路を内包する筐体である。前記一対の端子支持部は、前記本体筐体から延び出て形成され、前記一対の検査端子を支持する。前記変位機構は、前記本体筐体に設けられ、前記一対の端子支持部の一方または両方を、前記一対の検査端子の間隔が接近または離隔する幅方向に沿って変位可能に支持する。
本発明の他の局面に係るコネクターセットは、レセプタクルとプラグとからなる。前記レセプタクルは、複数のレセプタクル端子と、一対の予備端子と、短絡部材と、を有する。前記複数のレセプタクル端子は、前記レセプタクルの長手方向に沿って並ぶ。前記一対の予備端子は、前記複数のレセプタクル端子に対し前記長手方向の両外側に位置し短絡されている。前記短絡部材は、前記一対の予備端子を短絡する導電性の部材である。前記プラグは、複数のプラグ端子と、一対の中継電極と、を有する。前記複数のプラグ端子は、前記レセプタクルと接続されることにより前記複数のレセプタクル端子にそれぞれ接触する。前記一対の中継電極は、前記レセプタクルと接続されることにより前記一対の予備端子にそれぞれ接触する。
本発明によれば、レセプタクルおよびプラグからなるプラグセットの片浮き状態の接続不良を簡易に検査できるコネクター検査器具およびその検査に適したコネクターセットを提供することが可能になる。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の実施形態は、本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
［コネクターセット１０の構成］
実施形態に係るコネクターセット１０は、画像形成装置またはその他の電子機器において採用される。前記画像形成装置は、例えばプリンター、複写機または複合機などである。
実施形態に係るコネクターセット１０は、画像形成装置またはその他の電子機器において採用される。前記画像形成装置は、例えばプリンター、複写機または複合機などである。
図１，２に示されるように、コネクターセット１０は、電子基板３に実装されたレセプタクル１と、複数の電線４の端部に接続されたプラグ２と、からなる。前記電子機器の製造工程において、プラグ２がレセプタクル１に接続される。
レセプタクル１は、レセプタクルタイプのコネクターであるともいえる。同様に、プラグ２は、プラグタイプのコネクターであるともいえる。
レセプタクル１およびプラグ２は、一の方向を長手方向Ｄ１とする概ね矩形状に形成されている。プラグ２がレセプタクル１に接続される方向、および、プラグ２がレセプタクル１から取り外される方向は、長手方向Ｄ１に直交する奥行方向Ｄ２に沿う方向である。なお、長手方向Ｄ１および奥行方向Ｄ２に直交する方向は厚み方向Ｄ３である。
レセプタクル１は、レセプタクル本体１１および長手方向Ｄ１に並ぶ複数のレセプタクル端子１２を備える。複数のレセプタクル端子１２は導体である。レセプタクル本体１１は絶縁体である。
レセプタクル本体１１は、複数のレセプタクル端子１２を一定の位置に保持する合成樹脂の部材である。本実施形態において、レセプタクル本体１１は、インサート成形によって複数のレセプタクル端子１２と一体に形成されている。
レセプタクル本体１１は、プラグ２の一部が挿入される嵌合孔１１ａを有する。複数のレセプタクル端子１２の先端側の一部は、嵌合孔１１ａ内において奥行方向Ｄ２に沿って形成されている。
複数のレセプタクル端子１２は、電子基板３に形成されたパターン配線３１と電気的に接続される。複数のレセプタクル端子１２がパターン配線３１にはんだ付けされることにより、レセプタクル１が電子基板３に固定されている。
一方、プラグ２は、プラグ本体２１および長手方向Ｄ１に並ぶ複数のプラグ端子２２を備える（図３，４参照）。複数のプラグ端子２２は導体である。例えば、プラグ端子２２各々は、電線４各々の端部に圧着された圧着端子などである。
プラグ本体２１は絶縁体である。プラグ本体２１は、複数のプラグ端子２２を一定の位置に保持する合成樹脂の部材である。プラグ本体２１の一部は、レセプタクル本体１１の嵌合孔１１ａに嵌め入れられる挿入部２１ａである。
本実施形態において、プラグ本体２１は、複数の空洞部２１ｂを有する。プラグ本体２１は、空洞部２１ｂ各々内にプラグ端子２２各々を保持している。
図３，４に示されるように、プラグ本体２１の挿入部２１ａがレセプタクル本体１１の嵌合孔１１ａに嵌め入れられることにより、プラグ２がレセプタクル１に接続される。
プラグ２がレセプタクル１に接続されることにより、複数のプラグ端子２２がそれぞれ複数のレセプタクル端子１２に接触する状態に保持される。
なお、レセプタクル本体１１およびプラグ本体２１は、プラグ２をレセプタクル１に接続された状態に保持する不図示のロック機構を備える。
ところで、レセプタクル１が実装された電子基板３と電気的に接続されたＣＰＵ（Central Processing Unit）などのプロセッサーが、レセプタクル１とプラグ２との接続状態を検査する処理を実行する場合がある。
しかしながら、前記プロセッサーが動作可能になった段階で、レセプタクル１とプラグ２との接続不良が検出された場合、プラグ２をレセプタクル１に接続し直す作業を行うために、既に装着した部品を外すなど、製造工程の大幅な後戻りが必要となり得る。
従って、コネクターセット１０を含む製品の製造工程における極力早い段階で、レセプタクル１とプラグ２との接続状態の検査を簡易に行えることが望ましい。
また、レセプタクル１およびプラグ２の接続不良は、片浮き状態の不良である場合が多い。前記片浮き状態は、プラグ２における複数のプラグ端子２２のうちの長手方向Ｄ１の一方の端部の端子のみが、レセプタクル端子１２と十分に接触していない状態である。
後述するコネクター検査器具５は、レセプタクル１およびプラグ２からなるコネクターセット１０の前記片浮き状態の接続不良を簡易に検査できる器具である（図７〜１０参照）。さらに、コネクターセット１０は、前記片浮き状態の接続不良の検査に適した構成を備える。
［コネクターセット１０の特徴］
以下、図３〜６を参照しつつ、前記片浮き状態の接続不良の検査を容易にするためのコネクターセット１０の特徴について説明する。
以下、図３〜６を参照しつつ、前記片浮き状態の接続不良の検査を容易にするためのコネクターセット１０の特徴について説明する。
図３，６に示されるように、レセプタクル１は、一対の予備端子１３と短絡部材１４とをさらに有する。一対の予備端子１３および短絡部材１４は導体である。本実施形態において、短絡部材１４は、レセプタクル本体１１に保持されている。
一対の予備端子１３は、複数のレセプタクル端子１２に対し長手方向Ｄ１の両外側に位置し短絡されている。短絡部材１４は、一対の予備端子１３を短絡する導電性の部材である。
レセプタクル本体１１は、インサート成形によって複数のレセプタクル端子１２および一対の予備端子１３と一体に形成されている。
プラグ２は、レセプタクル１と接続されることによって一対の予備端子１３に接触する一対の中継電極２３を有する。プラグ本体２１は、複数のプラグ端子２２および一対の中継電極２３に対応する複数の空洞部２１ｂを有する。プラグ本体２１は、２つの空洞部２１ｂ内に一対の中継電極２３を保持している。
プラグ２がレセプタクル１に正常に接続されることにより、一対の中継電極２３がそれぞれ一対の予備端子１３に接触する状態に保持される（図４参照）。
図４に示される例では、プラグ２がレセプタクル１に接続された状態において、一対の予備端子１３と一対の中継電極２３とが重なる領域の奥行方向Ｄ２の長さは、レセプタクル端子１２とプラグ端子２２とが重なる領域の奥行方向Ｄ２の長さよりも短い。
図５に示されるように、コネクターセット１０において、前記片浮き状態の接続不良が生じる場合、一対の中継電極２３の一方と一対の予備端子１３の一方との間で接触不良が生じる。
換言すれば、図４に示されるように、一対の中継電極２３および一対の予備端子１３の間で接触不良が生じていない状態は、コネクターセット１０が正常に接続されている状態である。
［コネクター検査器具５の構成］
実施形態に係るコネクター検査器具５は、コネクターセット１０の接続状態を検査する器具である。以下、図７〜１０を参照しつつ、コネクター検査器具５について説明する。
実施形態に係るコネクター検査器具５は、コネクターセット１０の接続状態を検査する器具である。以下、図７〜１０を参照しつつ、コネクター検査器具５について説明する。
図７に示されるように、コネクター検査器具５は、本体筐体５１と、一対の検査端子５２と、一対の端子支持部５３とを備える。
さらに、図８に示されるように、コネクター検査器具５は、導通検出回路５４および変位機構５５も備える。導通検出回路５４は、本体筐体５１に内包されている。図８に示される例では、変位機構５５も本体筐体５１に内包されている。
一対の検査端子５２は、コネクター検査器具５を取り扱う人の操作により、一対の中継電極２３に接触させられる導体である。導通検出回路５４は、一対の検査端子５２に電圧を印加し、一対の検査端子５２の間の導通を検出する回路である。
図８に示される例では、導通検出回路５４は、一対の検査端子５２に直流電圧を印加する電池５４１と、ＬＥＤランプ５４２と、ブザー５４３とを備える。一対の検査端子５２およびＬＥＤランプ５４２は、電池５４１に対して電気的に直列に接続されている。同様に、一対の検査端子５２およびブザー５４３も、電池５４１に対して電気的に直列に接続されている。
図８に示される例では、ＬＥＤランプ５４２およびブザー５４３も、電池５４１に対して電気的に直列に接続されている。なお、ＬＥＤランプ５４２およびブザー５４３が、電池５４１に対して電気的に並列に接続されていることも考えられる。
ＬＥＤランプ５４２は、一対の検査端子５２の間の導通を検出したときに点灯する。同様に、ブザー５４３は、一対の検査端子５２の間の導通を検出したときに音響を出力する。なお、ブザー５４３は、音響出力装置の一例である。
コネクターセット１０の接続検査において、一対の検査端子５２が一対の中継電極２３に接触させられる。その際、コネクターセット１０が正常に接続されていれば、一対の検査端子５２は、一対の中継電極２３、一対の予備端子１３および短絡部材１４を介して導通する。この場合、電池５４１からＬＥＤランプ５４２、ブザー５４３および一対の検査端子５２に電流が流れるため、ＬＥＤランプ５４２が点灯し、ブザー５４３が音響を出力する。
一方、コネクターセット１０が前記片浮き状態などの接続不良の状態である場合、一対の検査端子５２が導通しない。この場合、電池５４１からＬＥＤランプ５４２、ブザー５４３および一対の検査端子５２へ電流が流れない。そのため、ＬＥＤランプ５４２は点灯せず、ブザー５４３は音響を出力しない。
従って、検査者は、ＬＥＤランプ５４２の点灯、または、ブザー５４３の音響出力の有無により、コネクターセット１０の接続状態を容易に確認することができる。
一対の端子支持部５３は、本体筐体５１から延び出て形成されている。一対の端子支持部５３は、一対の検査端子５２を支持している。
変位機構５５は、本体筐体５１に設けられている。変位機構５５は、一対の端子支持部５３の一方を、一対の検査端子５２の間隔が接近または離隔する幅方向に沿って変位可能に支持する。
前記幅方向は、一対の端子支持部５３が本体筐体５１から延び出ている方向に直交する方向である。前記幅方向は、一対の検査端子５２が一対の端子支持部５３から延び出ている方向に直交する方向でもある。
図８に示される例では、変位機構５５は、可動支持部材５５１、案内レール５５２、操作ダイヤル５５３およびギヤ機構５５４を備える。
可動支持部材５５１は、一方の端子支持部５３と一体に形成された部材である。案内レール５５２は、可動支持部材５５１を前記幅方向に沿って移動可能に支持する。
操作ダイヤル５５３は、本体筐体５１によって回転可能に支持されている。操作ダイヤル５５３は、人の操作により回転する。
ギヤ機構５５４は、操作ダイヤル５５３に加わる回転力を、前記幅方向の駆動力として可動支持部材５５１へ伝達する。図８に示される例では、ギヤ機構５５４は、操作ダイヤル５５３と一体に形成されたラックギヤ５５４ａと可動支持部材５５１と一体に形成されたピニオンギヤ５５４ｂとを含むラック・アンド・ピニオンギヤである。
なお、ギヤ機構５５４が、操作ダイヤル５５３と一体に形成されたねじギヤ、および、前記ねじギヤと噛み合うはすばギヤを含むウォームギヤと、前記はすばギヤと一体に形成されたピニオンギヤおよび可動支持部材５５１と一体に形成されたラックギヤを含むラック・アンド・ピニオンギヤとの組合せであってもよい。
コネクター検査器具５は、変位機構５５を備えるため、一対の中継電極２３の間隔が異なる複数種類のプラグ２に適用可能である。
一対の端子支持部５３は、一対の第１端子支持部５３１と、一対の第２端子支持部５３２と、連結機構５３３とを備える。
一対の第１端子支持部５３１は、一対の検査端子５２を直接支持する部分である。一対の第２端子支持部５３２は、一対の第１端子支持部５３１に対し本体筐体５１寄りに位置する部分である。
本実施形態において、一対の第２端子支持部５３２のうち、一方は本体筐体５１に固定されており、他方は変位機構５５によって支持されている。
連結機構５３３は、一対の第１端子支持部５３１と一対の第２端子支持部５３２とを、両者の成す角度を変更可能に連結する機構である。本実施形態において、連結機構５３３は、一対の第１端子支持部５３１を一対の第２端子支持部５３２に対して回動可能に支持するヒンジである。
なお、本実施形態において、２つの連結機構５３３が、一対の第１端子支持部５３１に対応して設けられている。しかしながら、一対の第１端子支持部５３１に対して１つの連結機構５３３が設けられることも考えられる。
図１，２に示されるように、プラグ２から延び出た電線４が、奥行方向Ｄ２に対して様々な角度で配線される場合がある。一方、コネクター検査器具５は、連結機構５３３を含む一対の端子支持部５３を備えるため、一対の検査端子５２に対する本体筐体５１の位置を変更することができる（図９，１０参照）。
従って、連結機構５３３を含む一対の端子支持部５３の作用により、電線４がいかなる方向に沿って配線される場合でも、電線４との干渉を回避して一対の第１端子支持部５３１および一対の検査端子５２をプラグ２における一対の中継電極２３に接触させることができる。
コネクター検査器具５が採用されることにより、コネクターセット１０の前記片浮き状態の接続不良を簡易に検査することが可能である。
［コネクター検査器具５の応用例］
以下、コネクター検査器具５の応用例について説明する。
以下、コネクター検査器具５の応用例について説明する。
本応用例において、変位機構５５は、一対の端子支持部５３の両方を、一対の検査端子５２の間隔が接近または離隔する幅方向に沿って変位可能に支持する。
例えば、変位機構５５が、一対の端子支持部５３に対応する一対の可動支持部材５５１を備え、ギヤ機構５５４が、それぞれ一対の可動支持部材５５１と一体に形成された一対のラックギヤ５５４ａを備えることが考えられる。この場合、操作ダイヤル５５３と一体のピニオンギヤ５５４ｂは、一対のラックギヤ５５４ａの間に配置される。
本応用例において、ギヤ機構５５４は、操作ダイヤル５５３の回転に応じて、一対の可動支持部材５５１を前記幅方向に沿って反対方向へ移動させる。本応用例が採用される場合も、コネクター検査器具５およびコネクターセット１０が採用される場合と同様の効果が得られる。
［コネクターセット１０の応用例］
以下、コネクターセット１０の応用例について説明する。
以下、コネクターセット１０の応用例について説明する。
本応用例において、レセプタクル１の短絡部材１４が省略されている。その代わりに、一対の予備端子１３は、電子基板３のパターン配線３１の一部によって短絡されている。本応用例が採用される場合も、コネクター検査器具５およびコネクターセット１０が採用される場合と同様の効果が得られる。
１ ：レセプタクル
２ ：プラグ
３ ：電子基板
４ ：電線
５ ：コネクター検査器具
１０ ：コネクターセット
１１ ：レセプタクル本体
１１ａ ：嵌合孔
１２ ：レセプタクル端子
１３ ：予備端子
１４ ：短絡部材
２１ ：プラグ本体
２１ａ ：挿入部
２１ｂ ：空洞部
２２ ：プラグ端子
２３ ：中継電極
３１ ：パターン配線
５１ ：本体筐体
５２ ：検査端子
５３ ：端子支持部
５４ ：導通検出回路
５５ ：変位機構
５３１ ：第１端子支持部
５３２ ：第２端子支持部
５３３ ：連結機構
５４１ ：電池
５４２ ：ＬＥＤランプ
５４３ ：ブザー
５５１ ：可動支持部材
５５２ ：案内レール
５５３ ：操作ダイヤル
５５４ ：ギヤ機構
５５４ａ ：ラックギヤ
５５４ｂ ：ピニオンギヤ
Ｄ１ ：長手方向
Ｄ２ ：奥行方向
Ｄ３ ：厚み方向
２ ：プラグ
３ ：電子基板
４ ：電線
５ ：コネクター検査器具
１０ ：コネクターセット
１１ ：レセプタクル本体
１１ａ ：嵌合孔
１２ ：レセプタクル端子
１３ ：予備端子
１４ ：短絡部材
２１ ：プラグ本体
２１ａ ：挿入部
２１ｂ ：空洞部
２２ ：プラグ端子
２３ ：中継電極
３１ ：パターン配線
５１ ：本体筐体
５２ ：検査端子
５３ ：端子支持部
５４ ：導通検出回路
５５ ：変位機構
５３１ ：第１端子支持部
５３２ ：第２端子支持部
５３３ ：連結機構
５４１ ：電池
５４２ ：ＬＥＤランプ
５４３ ：ブザー
５５１ ：可動支持部材
５５２ ：案内レール
５５３ ：操作ダイヤル
５５４ ：ギヤ機構
５５４ａ ：ラックギヤ
５５４ｂ ：ピニオンギヤ
Ｄ１ ：長手方向
Ｄ２ ：奥行方向
Ｄ３ ：厚み方向
Claims (4)
- 長手方向に沿って並ぶ複数のレセプタクル端子、および、前記複数のレセプタクル端子に対し前記長手方向の両外側に位置し短絡された一対の予備端子を有するレセプタクルと、前記レセプタクルと接続されることにより前記複数のレセプタクル端子および前記一対の予備端子にそれぞれ接触する複数のプラグ端子および一対の中継電極を有するプラグと、からなるコネクターセットの接続状態を検査するコネクター検査器具であって、
前記一対の中継電極に接触させられる一対の検査端子と、
前記一対の検査端子に電圧を印加し、前記一対の検査端子の間の導通を検出する導通検出回路と、
前記導通検出回路を内包する本体筐体と、
前記本体筐体から延び出て形成され、前記一対の検査端子を支持する一対の端子支持部と、
前記本体筐体に設けられ、前記一対の端子支持部の一方または両方を、前記一対の検査端子の間隔が接近または離隔する幅方向に沿って変位可能に支持する変位機構と、を備えるコネクター検査器具。 - 前記一対の端子支持部が、
前記一対の検査端子を直接支持する一対の第１端子支持部と、
前記一対の第１端子支持部に対し前記本体筐体寄りに位置する一対の第２端子支持部と、
前記一対の第１端子支持部と前記一対の第２端子支持部とを、両者の成す角度を変更可能に連結する連結機構と、を備える、請求項１に記載のコネクター検査器具。 - 前記導通検出回路は、前記一対の検査端子の間の導通を検出したときに音響を出力する音響出力装置を備える、請求項１または請求項２に記載のコネクター検査器具。
- レセプタクルおよびプラグからなるコネクターセットであって、
前記レセプタクルは、
長手方向に沿って並ぶ複数のレセプタクル端子と、
前記複数のレセプタクル端子に対し前記長手方向の両外側に位置し短絡された一対の予備端子と、
前記一対の予備端子を短絡する導電性の短絡部材と、を有し、
前記プラグは、
前記レセプタクルと接続されることにより前記複数のレセプタクル端子にそれぞれ接触する複数のプラグ端子と、
前記レセプタクルと接続されることにより前記一対の予備端子にそれぞれ接触する一対の中継電極と、を有するコネクターセット。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019008242A JP7342365B2 (ja) | 2019-01-22 | 2019-01-22 | コネクター検査器具、コネクターセット |
| US16/748,029 US11428754B2 (en) | 2019-01-22 | 2020-01-21 | Connector inspection instrument, connector set |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP2019008242A JP7342365B2 (ja) | 2019-01-22 | 2019-01-22 | コネクター検査器具、コネクターセット |
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|---|---|
| JP2020119684A true JP2020119684A (ja) | 2020-08-06 |
| JP7342365B2 JP7342365B2 (ja) | 2023-09-12 |
Family
ID=71609982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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- 2019-01-22 JP JP2019008242A patent/JP7342365B2/ja active Active
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2020
- 2020-01-21 US US16/748,029 patent/US11428754B2/en active Active
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US11428754B2 (en) | 2022-08-30 |
| JP7342365B2 (ja) | 2023-09-12 |
| US20200233042A1 (en) | 2020-07-23 |
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