JPH0618271Y2 - 押込深さ形動的硬度計 - Google Patents
押込深さ形動的硬度計Info
- Publication number
- JPH0618271Y2 JPH0618271Y2 JP1986096525U JP9652586U JPH0618271Y2 JP H0618271 Y2 JPH0618271 Y2 JP H0618271Y2 JP 1986096525 U JP1986096525 U JP 1986096525U JP 9652586 U JP9652586 U JP 9652586U JP H0618271 Y2 JPH0618271 Y2 JP H0618271Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- displacement
- load
- indenter
- signal
- indentation depth
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- Expired - Lifetime
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、押込深さ形動的硬度計に関し、荷重と圧子の
押し込み深さとの関係曲線の記録を行なう硬度計に関す
る。
押し込み深さとの関係曲線の記録を行なう硬度計に関す
る。
［従来技術］ 試料の硬度を測定する押込深さ形動的硬度計は、荷重を
加える可変式負荷機構によって被測定物の測定面に圧子
を押し付け、該圧子の変位量すなわち押込み深さを計測
するとともに、荷重−押し込み深さの特性曲線を記録す
るようにしている。
加える可変式負荷機構によって被測定物の測定面に圧子
を押し付け、該圧子の変位量すなわち押込み深さを計測
するとともに、荷重−押し込み深さの特性曲線を記録す
るようにしている。
従来のこの種の硬度計は、第３図に示すように、負荷手
段を構成する電磁力発生手段４によって圧子２を試料１
へ押し込み、圧子２の変位量を変位検出器３で検出する
ようになっている。ＣＰＵ１０からはＤ／Ａ変換器７、
電流増幅器５を介して電磁力発生手段４へ負荷電流が供
給され、荷重を制御するとともに、差動トランス式変位
検出器３からの変位信号が増幅器６、Ａ／Ｄ変換器８を
介してＣＰＵ１０に入力する。ＣＰＵ１０は、ＲＡＭ１
１、ＲＯＭ１２とともに制御部を構成し、電磁力発生手
段４へ出力する荷重信号と、変位検出器３から入力する
変位信号とをＤ／Ａ変換器１４，１５を介してＸ−Ｙレ
コーダ１６へ出力して、荷重と圧子の押込み深さとの関
係を記録するようにしている。
段を構成する電磁力発生手段４によって圧子２を試料１
へ押し込み、圧子２の変位量を変位検出器３で検出する
ようになっている。ＣＰＵ１０からはＤ／Ａ変換器７、
電流増幅器５を介して電磁力発生手段４へ負荷電流が供
給され、荷重を制御するとともに、差動トランス式変位
検出器３からの変位信号が増幅器６、Ａ／Ｄ変換器８を
介してＣＰＵ１０に入力する。ＣＰＵ１０は、ＲＡＭ１
１、ＲＯＭ１２とともに制御部を構成し、電磁力発生手
段４へ出力する荷重信号と、変位検出器３から入力する
変位信号とをＤ／Ａ変換器１４，１５を介してＸ−Ｙレ
コーダ１６へ出力して、荷重と圧子の押込み深さとの関
係を記録するようにしている。
［考案が解決しようとする問題点］ しかしながら、上記した従来の押込深さ形動的硬度計で
荷重−押込み深さの曲線をＸ−Ｙレコーダに記録する場
合、圧子の押込み深さの変化量は非常に少なく、その上
Ｄ／Ａコンバータのビット数の制限があるために、第４
図に示すように記録曲線が段差の大きい急な階段状とな
り、連続的な滑らかな記録を得ることができないという
問題点があった。
荷重−押込み深さの曲線をＸ−Ｙレコーダに記録する場
合、圧子の押込み深さの変化量は非常に少なく、その上
Ｄ／Ａコンバータのビット数の制限があるために、第４
図に示すように記録曲線が段差の大きい急な階段状とな
り、連続的な滑らかな記録を得ることができないという
問題点があった。
そこで本考案は、荷重−押込み深さ曲線の記録を連続的
にスムーズに行なうことができる押込深さ形動的硬度計
を提供することを目的とする。
にスムーズに行なうことができる押込深さ形動的硬度計
を提供することを目的とする。
［問題点を解決するための手段］ 上記問題点を解決するために、本考案は次のような構成
を採用した。
を採用した。
すなわち、本考案にかかる押込深さ形動的硬度計は、負
荷手段と、該負荷手段により被試験体表面に押し付けら
れる圧子と、該圧子の変位量を検出する変位検出手段
と、前記負荷手段に荷重信号を出力するとともに、前記
変位検出手段から入力する変位信号を記憶演算処理する
制御手段と、該制御手段から出力される荷重および変位
信号により荷重−押込み特性曲線を記録する記録手段と
を備えてなる押込深さ形動的硬度計において、制御手段
で記憶された圧子が被試験体表面に接した時の変位検出
手段からの変位信号と、圧子押込み開始後の変位検出手
段からの変位信号とが入力し、両信号の差に比例した変
位信号を記録手段へ出力する差動増幅器を設けたことを
特徴としている。
荷手段と、該負荷手段により被試験体表面に押し付けら
れる圧子と、該圧子の変位量を検出する変位検出手段
と、前記負荷手段に荷重信号を出力するとともに、前記
変位検出手段から入力する変位信号を記憶演算処理する
制御手段と、該制御手段から出力される荷重および変位
信号により荷重−押込み特性曲線を記録する記録手段と
を備えてなる押込深さ形動的硬度計において、制御手段
で記憶された圧子が被試験体表面に接した時の変位検出
手段からの変位信号と、圧子押込み開始後の変位検出手
段からの変位信号とが入力し、両信号の差に比例した変
位信号を記録手段へ出力する差動増幅器を設けたことを
特徴としている。
［作用］ 差動増幅器から出力される変位信号は、圧子が被試験体
表面に接触した時の変位を差し引いた実際の押込み深さ
を示すアナログ信号として処理されるので、荷重−押込
み深さ特性曲線の記録が連続的にスムーズに行なわれ
る。
表面に接触した時の変位を差し引いた実際の押込み深さ
を示すアナログ信号として処理されるので、荷重−押込
み深さ特性曲線の記録が連続的にスムーズに行なわれ
る。
［実施例］ 第１図は本考案の構成を示すブロック図で、同一符号は
第３図に示す従来のものと同じものを示す。すなわち、
ＣＰＵ１０から荷重信号を出力し、Ｄ／Ａ変換器７、電
流増幅器５を介して負荷手段である電磁力発生手段４へ
負荷電流を供給し、電磁力発生手段４の駆動力によって
圧子を試料１へ押し込むとともに、圧子２の変位量を変
位検出器３で検出する。電磁力発生手段４へ供給される
負荷電流は直線的に増加するよう制御される。
第３図に示す従来のものと同じものを示す。すなわち、
ＣＰＵ１０から荷重信号を出力し、Ｄ／Ａ変換器７、電
流増幅器５を介して負荷手段である電磁力発生手段４へ
負荷電流を供給し、電磁力発生手段４の駆動力によって
圧子を試料１へ押し込むとともに、圧子２の変位量を変
位検出器３で検出する。電磁力発生手段４へ供給される
負荷電流は直線的に増加するよう制御される。
試験開始後に圧子２が空気中を降下し、試料１の表面に
接触すると、この時の変位検出器３からの信号電圧が制
御部のＲＡＭ１１で記憶される。この変位信号は、ＣＰ
Ｕ１０から押込み深さの零点補正電圧としてＤ／Ａコン
バータ１８を介して差動増幅器１９の−（マイナス）端
子に入力される。圧子２が試料１の表面に接触して後、
試料１への押込みが行なわれると、変位検出器３からの
変位信号は、変位検出器３から電流増幅器６を通り、Ｃ
ＰＵ１０への接続線から分岐した差動増幅器１９の＋
（プラス）端子へ入力される。差動増幅器１９からは、
圧子２が試料１へ押し込まれてから出力される変位検出
器４の変位信号値から、圧子２が試料１の表面に接触し
た時の変位信号値を差し引いた変位信号が出力される。
この変位信号はＸ−Ｙレコード１６へ入力される。
接触すると、この時の変位検出器３からの信号電圧が制
御部のＲＡＭ１１で記憶される。この変位信号は、ＣＰ
Ｕ１０から押込み深さの零点補正電圧としてＤ／Ａコン
バータ１８を介して差動増幅器１９の−（マイナス）端
子に入力される。圧子２が試料１の表面に接触して後、
試料１への押込みが行なわれると、変位検出器３からの
変位信号は、変位検出器３から電流増幅器６を通り、Ｃ
ＰＵ１０への接続線から分岐した差動増幅器１９の＋
（プラス）端子へ入力される。差動増幅器１９からは、
圧子２が試料１へ押し込まれてから出力される変位検出
器４の変位信号値から、圧子２が試料１の表面に接触し
た時の変位信号値を差し引いた変位信号が出力される。
この変位信号はＸ−Ｙレコード１６へ入力される。
一方、圧子２が試料１表面に接した時の荷重信号もＲＡ
Ｍ１１で記憶される。圧子２が試料１へ押し込まれる際
の荷重信号は、ＣＰＵ１０で記憶された押し込み開始時
の荷重信号を差し引かれ、Ｄ／Ａコンバータ１４を介し
てＸ−Ｙレコーダ１６へ出力される。
Ｍ１１で記憶される。圧子２が試料１へ押し込まれる際
の荷重信号は、ＣＰＵ１０で記憶された押し込み開始時
の荷重信号を差し引かれ、Ｄ／Ａコンバータ１４を介し
てＸ−Ｙレコーダ１６へ出力される。
Ｘ−Ｙレコーダ１６ではこれら荷重信号と変位信号とに
基づいて荷重−押込み深さ特性が記録される。差動増幅
器１９から出力される変位信号は、圧子２が試料１の表
面に接触した際の変位信号値を差し引いてアナログ信号
のままで処理されるので、従来のようにデジタル信号か
らアナログ信号への変換時にＤ／Ａコンバータのビット
数の制限を受けず、第２図に示すような滑らかな記録を
得ることができる。
基づいて荷重−押込み深さ特性が記録される。差動増幅
器１９から出力される変位信号は、圧子２が試料１の表
面に接触した際の変位信号値を差し引いてアナログ信号
のままで処理されるので、従来のようにデジタル信号か
らアナログ信号への変換時にＤ／Ａコンバータのビット
数の制限を受けず、第２図に示すような滑らかな記録を
得ることができる。
［考案の効果］ 上記説明から明らかなように、本考案にかかる押込深さ
形動的硬度計によれば、圧子の押込み深さの変位量が非
常に少ない時でも荷重−押込み深さの特性曲線の記録を
滑らかに行なうことができるようになった。
形動的硬度計によれば、圧子の押込み深さの変位量が非
常に少ない時でも荷重−押込み深さの特性曲線の記録を
滑らかに行なうことができるようになった。
第１図は本考案の実施例の構成を示すブロック図、第２
図は実施例における荷重−押込み深さ特性曲線の記録を
示す図、第３図は従来例の構成を示す図、第４図は従来
例における記録を示す図である。 １……試料、２……圧子 ３……変位検出器、10……ＣＰＵ 16……Ｘ−Ｙレコーダ、19……差動増幅器
図は実施例における荷重−押込み深さ特性曲線の記録を
示す図、第３図は従来例の構成を示す図、第４図は従来
例における記録を示す図である。 １……試料、２……圧子 ３……変位検出器、10……ＣＰＵ 16……Ｘ−Ｙレコーダ、19……差動増幅器
Claims (1)
- 【請求項１】負荷手段と、該負荷手段により被試験体表
面に押し付けられる圧子と、該圧子の変位量を検出する
変位検出手段と、前記負荷手段に荷重信号を出力すると
ともに、前記変位検出手段から入力する変位信号を記憶
演算処理する制御手段と、該制御手段から出力される荷
重および変位信号により荷重−押込み特性曲線を記録す
る記録手段とを備えてなる押込深さ形動的硬度計におい
て、制御手段で記憶された圧子が被試験体表面に接した
時の変位検出手段からの変位信号と、圧子押込み開始後
の変位検出手段からの変位信号とが入力し、両信号の差
に比例した変位信号を記録手段へ出力する差動増幅器を
設けたことを特徴とする押込深さ形動的硬度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986096525U JPH0618271Y2 (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 押込深さ形動的硬度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986096525U JPH0618271Y2 (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 押込深さ形動的硬度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS632137U JPS632137U (ja) | 1988-01-08 |
| JPH0618271Y2 true JPH0618271Y2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=30962358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986096525U Expired - Lifetime JPH0618271Y2 (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 押込深さ形動的硬度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0618271Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH073386B2 (ja) * | 1989-01-31 | 1995-01-18 | 株式会社島津製作所 | 超微小材料試験装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53149378A (en) * | 1977-06-02 | 1978-12-26 | Nissan Motor | Hardness testing method and hardness testing apparatus |
| JPS557538A (en) * | 1978-06-28 | 1980-01-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Production of soot-form glass rod |
| JPS5879249U (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-28 | セイコーエプソン株式会社 | 荷重可変方式硬度計 |
-
1986
- 1986-06-24 JP JP1986096525U patent/JPH0618271Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS632137U (ja) | 1988-01-08 |
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