JPH06176390A - ディスク再生装置 - Google Patents
ディスク再生装置Info
- Publication number
- JPH06176390A JPH06176390A JP34312192A JP34312192A JPH06176390A JP H06176390 A JPH06176390 A JP H06176390A JP 34312192 A JP34312192 A JP 34312192A JP 34312192 A JP34312192 A JP 34312192A JP H06176390 A JPH06176390 A JP H06176390A
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- JP
- Japan
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- disk
- optical head
- disc
- tracking control
- control means
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ディスク再生時の、ブラックドット（ドロッ
プアウト）や表面傷に起因するトレース能力の低下を、
簡単且つ確実に防止する。 【構成】 光ディスク１から情報を読み取る光学ヘッド
３を前記ディスク上のトラックに追従させるトラッキン
グ制御手段５，６を備えたディスク再生装置であって、
データ欠落部検出手段７は、前記ディスクの再生時に所
定長さ以上のデータ欠落部を検出し、障害電圧打ち消し
手段８，９は、前記所定長さ以上のデータ欠落部の検出
時に、前記トラッキング制御手段が発生する障害電圧と
は逆極性のキックパルスを作成して前記障害電圧の影響
を打ち消す。
プアウト）や表面傷に起因するトレース能力の低下を、
簡単且つ確実に防止する。 【構成】 光ディスク１から情報を読み取る光学ヘッド
３を前記ディスク上のトラックに追従させるトラッキン
グ制御手段５，６を備えたディスク再生装置であって、
データ欠落部検出手段７は、前記ディスクの再生時に所
定長さ以上のデータ欠落部を検出し、障害電圧打ち消し
手段８，９は、前記所定長さ以上のデータ欠落部の検出
時に、前記トラッキング制御手段が発生する障害電圧と
は逆極性のキックパルスを作成して前記障害電圧の影響
を打ち消す。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ブラックドット（ド
ロップアウト）または表面傷に起因するデータ欠落部を
有した光ディスクに対するトレース能力を向上させたデ
ィスク再生装置に関する。
ロップアウト）または表面傷に起因するデータ欠落部を
有した光ディスクに対するトレース能力を向上させたデ
ィスク再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ（コンパクト・ディスク）やＭＤ
（ミニ・ディスク）等の光ディスクを再生する装置で
は、光学ヘッドで希望とするトラックをトレースするた
めに、トラッキング制御を行うサーボ系を備えている。
ＣＤに対するトラッキング制御は、データを表すピット
を検出しながら行うため、ブラックドットや表面傷に起
因するデータ欠落部のあるディスクを再生すると、その
データ欠落部によってトレース能力が低下するため、い
わゆる「音飛び」現象を招来する。
（ミニ・ディスク）等の光ディスクを再生する装置で
は、光学ヘッドで希望とするトラックをトレースするた
めに、トラッキング制御を行うサーボ系を備えている。
ＣＤに対するトラッキング制御は、データを表すピット
を検出しながら行うため、ブラックドットや表面傷に起
因するデータ欠落部のあるディスクを再生すると、その
データ欠落部によってトレース能力が低下するため、い
わゆる「音飛び」現象を招来する。
【０００３】ブラックドットは、ディスク面に付着した
ホコリ等によって、光学ヘッドから出力されるレーザビ
ームがピットまで到達できないデータ欠落部であり、比
較的広範囲に分布し、しかも重大な影響を及ぼす。これ
に対し、表面傷はレーザビームがピットに対し到達でき
るデータ欠落部であり、また影響を与える範囲および程
度は比較的少ない。しかしながら、いずれのデータ欠落
部が発生しても、トラッキングエラーの基となることに
変わりはない。
ホコリ等によって、光学ヘッドから出力されるレーザビ
ームがピットまで到達できないデータ欠落部であり、比
較的広範囲に分布し、しかも重大な影響を及ぼす。これ
に対し、表面傷はレーザビームがピットに対し到達でき
るデータ欠落部であり、また影響を与える範囲および程
度は比較的少ない。しかしながら、いずれのデータ欠落
部が発生しても、トラッキングエラーの基となることに
変わりはない。
【０００４】例えば、光学ヘッドからディスク面に照射
されるレーザビームがディスクのブラックドットに突入
すると、トラッキングエラー信号（障害電圧）に余分な
電圧が発生するため、レーザビームの照射位置を制御す
る対物レンズを過剰に移動させ、その結果音飛びが発生
する。この点を改善するために、ブラックドットを検出
したら、トラッキングゲインを下げて音飛びを回避する
方法がある。
されるレーザビームがディスクのブラックドットに突入
すると、トラッキングエラー信号（障害電圧）に余分な
電圧が発生するため、レーザビームの照射位置を制御す
る対物レンズを過剰に移動させ、その結果音飛びが発生
する。この点を改善するために、ブラックドットを検出
したら、トラッキングゲインを下げて音飛びを回避する
方法がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、トラッ
キングゲインを低下させる方法では、バーストエラーを
生ずるような長いブラックドットに起因する音飛びを完
全に回避することは難しい。また、短い表面傷はその検
出が難しいので、表面傷に対する対策は十分ではない。
この発明は、ブラックドットおよび表面傷に起因するト
レース能力の低下を、それぞれ簡単且つ確実に防止でき
る機能を備えたディスク再生装置を提供することを目的
としている。
キングゲインを低下させる方法では、バーストエラーを
生ずるような長いブラックドットに起因する音飛びを完
全に回避することは難しい。また、短い表面傷はその検
出が難しいので、表面傷に対する対策は十分ではない。
この発明は、ブラックドットおよび表面傷に起因するト
レース能力の低下を、それぞれ簡単且つ確実に防止でき
る機能を備えたディスク再生装置を提供することを目的
としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、光ディスク
から情報を読み取る光学ヘッドと、この光学ヘッドを前
記ディスク上のトラックに追従させるトラッキング制御
手段と、前記ディスクの再生時に所定長さ以上のデータ
欠落部を検出する手段と、前記所定長さ以上のデータ欠
落部の検出時に、前記トラッキング制御手段が発生する
障害電圧とは逆極性のパルスを作成して前記障害電圧の
影響を打ち消す手段とを備えてなることを第１の特徴と
している。
から情報を読み取る光学ヘッドと、この光学ヘッドを前
記ディスク上のトラックに追従させるトラッキング制御
手段と、前記ディスクの再生時に所定長さ以上のデータ
欠落部を検出する手段と、前記所定長さ以上のデータ欠
落部の検出時に、前記トラッキング制御手段が発生する
障害電圧とは逆極性のパルスを作成して前記障害電圧の
影響を打ち消す手段とを備えてなることを第１の特徴と
している。
【０００７】この発明はまた、光ディスクから情報を読
み取る光学ヘッドと、この光学ヘッドを前記ディスク上
のトラックに追従させるトラッキング制御手段と、前記
ディスクの再生時に所定長さ以下で周期的に発生するデ
ータ欠落部を検出する手段と、前記光学ヘッドが前記デ
ータ欠落部を通過する期間をその発生周期から予測し、
その期間を含む一定期間、前記トラッキング制御手段の
制御ゲインを一時的に低下させる手段とを備えてなるこ
とを第２の特徴としている。
み取る光学ヘッドと、この光学ヘッドを前記ディスク上
のトラックに追従させるトラッキング制御手段と、前記
ディスクの再生時に所定長さ以下で周期的に発生するデ
ータ欠落部を検出する手段と、前記光学ヘッドが前記デ
ータ欠落部を通過する期間をその発生周期から予測し、
その期間を含む一定期間、前記トラッキング制御手段の
制御ゲインを一時的に低下させる手段とを備えてなるこ
とを第２の特徴としている。
【０００８】
【作用】この発明の第１の特徴によると、長いブラック
ドットに起因するデータ欠落部によってトレース能力が
低下することを防止できる。逆極性のパルスの作成は簡
単である。また、この逆パルスによって障害電圧を相殺
する方法は、制御ゲインを低下させる方法に比べ確実性
が高い。
ドットに起因するデータ欠落部によってトレース能力が
低下することを防止できる。逆極性のパルスの作成は簡
単である。また、この逆パルスによって障害電圧を相殺
する方法は、制御ゲインを低下させる方法に比べ確実性
が高い。
【０００９】この発明の第２の特徴によると、短い表面
傷に起因するデータ欠落部によってトレース能力が低下
することが防止される。表面傷はディスクの回転に伴い
周期性を持って発生するので、この周期性に着目すれば
容易に表面傷を検出できる。また、表面傷の位置を予測
し、トラッキングゲインを一時的に低下させることは簡
単であり、このためにキックパルスを発生する必要もな
い。
傷に起因するデータ欠落部によってトレース能力が低下
することが防止される。表面傷はディスクの回転に伴い
周期性を持って発生するので、この周期性に着目すれば
容易に表面傷を検出できる。また、表面傷の位置を予測
し、トラッキングゲインを一時的に低下させることは簡
単であり、このためにキックパルスを発生する必要もな
い。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照して、この発明の実施例を
説明する。図１は、この発明の一実施例を示す要部構成
図である。この図において、１はＣＤ，ＭＤ等の光ディ
スク、２はこのディスク１を線速度一定で回転させるス
ピンドルモータ、３はディスク１から光学的に情報を読
み取る光学ヘッド（光ピックアップ）、４は光学ヘッド
３の出力（光電流）を増幅する高周波部、５はこの高周
波部４の出力（ＥＦＭ信号）からトラッキングエラーを
検出してトラッキングエラー信号ＴＥを発生するサーボ
プロセッサ、６はこのトラッキングエラー信号ＴＥを増
幅して光学ヘッド３のトレース位置修正信号に変換する
ドライブアンプであり、これらは通常のトラッキングサ
ーボ系を構成する。
説明する。図１は、この発明の一実施例を示す要部構成
図である。この図において、１はＣＤ，ＭＤ等の光ディ
スク、２はこのディスク１を線速度一定で回転させるス
ピンドルモータ、３はディスク１から光学的に情報を読
み取る光学ヘッド（光ピックアップ）、４は光学ヘッド
３の出力（光電流）を増幅する高周波部、５はこの高周
波部４の出力（ＥＦＭ信号）からトラッキングエラーを
検出してトラッキングエラー信号ＴＥを発生するサーボ
プロセッサ、６はこのトラッキングエラー信号ＴＥを増
幅して光学ヘッド３のトレース位置修正信号に変換する
ドライブアンプであり、これらは通常のトラッキングサ
ーボ系を構成する。
【００１１】光学ヘッド３は、３ビーム方式の場合、図
６のように構成される（受光系は省略してある）。即
ち、レーザダイオード３１で発生したレーザビームを回
折格子３２で３ビーム（１つのメインビームと２つのサ
ブビーム）に分割し、これをビームスプリッタ３３を通
して対物レンズ３４に入射する。対物レンズ３４を通過
した３ビームはディスク１の下面に照射されるが、その
面方向の位置はトラッキングコイル３５によって微調整
することができ、また深さ方向の焦点はフォーカスコイ
ル３６によって微調整することができる。サーボプロセ
ッサ５は、トラッキングコイル３５を使用してトラッキ
ング制御を行い、フォーカスコイル３６を使用してフォ
ーカス制御を行う。
６のように構成される（受光系は省略してある）。即
ち、レーザダイオード３１で発生したレーザビームを回
折格子３２で３ビーム（１つのメインビームと２つのサ
ブビーム）に分割し、これをビームスプリッタ３３を通
して対物レンズ３４に入射する。対物レンズ３４を通過
した３ビームはディスク１の下面に照射されるが、その
面方向の位置はトラッキングコイル３５によって微調整
することができ、また深さ方向の焦点はフォーカスコイ
ル３６によって微調整することができる。サーボプロセ
ッサ５は、トラッキングコイル３５を使用してトラッキ
ング制御を行い、フォーカスコイル３６を使用してフォ
ーカス制御を行う。
【００１２】以上の構成に対し、この実施例では、ＥＦ
Ｍ信号、ＴＥ信号等からディスク１のデータ欠落部を再
生時に検出するデータ欠落検出部７と、この検出部７に
よって検出されたデータ欠落部がブラックドットに起因
する場合にキックパルスを発生するキックパルス発生部
８と、このキックパルスをドライブアンプ６の出力に重
畳する加算部９と、前記検出部７によって検出されたデ
ータ欠落部が表面傷に起因する場合にトラッキングゲイ
ン（ＴＲＧ）を一時低下させるＴＲＧ制御部１０とを追
加してある。
Ｍ信号、ＴＥ信号等からディスク１のデータ欠落部を再
生時に検出するデータ欠落検出部７と、この検出部７に
よって検出されたデータ欠落部がブラックドットに起因
する場合にキックパルスを発生するキックパルス発生部
８と、このキックパルスをドライブアンプ６の出力に重
畳する加算部９と、前記検出部７によって検出されたデ
ータ欠落部が表面傷に起因する場合にトラッキングゲイ
ン（ＴＲＧ）を一時低下させるＴＲＧ制御部１０とを追
加してある。
【００１３】図２は、ブラックドットに関する波形図で
ある。同図（ａ）に示すように、レーザビームがブラッ
クドットに突入すると、ＥＦＭ信号はキャリアのない状
態になるため、同図（ｃ）に示すＴＥ信号に余分電圧が
発生する。この時、何もしないと、この余分電圧が図６
のトラッキングコイル３５に印加されるため、メインビ
ームがオントラックから外れて音飛びを生ずる。そこ
で、この発明では、データ欠落検出部７によってこのブ
ラックドットを検出し、その期間、同図（ｄ）に示すブ
ラックドット検出信号を出力する。キックパルス発生部
８は、この検出信号を入力されるとその立上りに同期し
て、同図（ｅ）に示すキックパルスを発生し、これを加
算部９を通してトラッキングコイル３５に印加する。
ある。同図（ａ）に示すように、レーザビームがブラッ
クドットに突入すると、ＥＦＭ信号はキャリアのない状
態になるため、同図（ｃ）に示すＴＥ信号に余分電圧が
発生する。この時、何もしないと、この余分電圧が図６
のトラッキングコイル３５に印加されるため、メインビ
ームがオントラックから外れて音飛びを生ずる。そこ
で、この発明では、データ欠落検出部７によってこのブ
ラックドットを検出し、その期間、同図（ｄ）に示すブ
ラックドット検出信号を出力する。キックパルス発生部
８は、この検出信号を入力されるとその立上りに同期し
て、同図（ｅ）に示すキックパルスを発生し、これを加
算部９を通してトラッキングコイル３５に印加する。
【００１４】ブラックドットに起因する余分電圧の大き
さは、トラッキングエラー信号ＴＥを得るサブビームの
光学系と演算方法で決まるため、ブラックドットの長さ
に比例し、かつその極性（音飛び方向）は一定である。
したがって、キックパルス発生部８は、検出部７によっ
て検出された余分電圧の大きさおよび極性に応じたキッ
クパルスを発生すればよい。同図（ｂ）には、このキッ
クパルスがコイルに印加されることで、原波形より鈍っ
た状態で表示されている。この様なキックパルスを印加
すると、ＴＥ信号に余分電圧が発生しても、その影響を
相殺するように作用し、ブラックドットの区間を音飛び
せずに通過できる。なお、ブラックドットからの離脱時
にも余分電圧が発生するが、この場合はトラッキングオ
ン状態になっているので、この余分電圧はサーボ機能に
よって十分に抑圧され、これにより音飛びする事はな
い。
さは、トラッキングエラー信号ＴＥを得るサブビームの
光学系と演算方法で決まるため、ブラックドットの長さ
に比例し、かつその極性（音飛び方向）は一定である。
したがって、キックパルス発生部８は、検出部７によっ
て検出された余分電圧の大きさおよび極性に応じたキッ
クパルスを発生すればよい。同図（ｂ）には、このキッ
クパルスがコイルに印加されることで、原波形より鈍っ
た状態で表示されている。この様なキックパルスを印加
すると、ＴＥ信号に余分電圧が発生しても、その影響を
相殺するように作用し、ブラックドットの区間を音飛び
せずに通過できる。なお、ブラックドットからの離脱時
にも余分電圧が発生するが、この場合はトラッキングオ
ン状態になっているので、この余分電圧はサーボ機能に
よって十分に抑圧され、これにより音飛びする事はな
い。
【００１５】図３は、表面キズに関する波形図である。
同図（ａ）はトラッキングエラー信号ＴＥである。キズ
のない部分ではメインビームが十分に反射するため、Ｔ
Ｅ信号にはある程度の振幅が生じているが、キズの部分
ではメインビームの戻り光が減少するため、ＤＣ成分が
減少している。データ欠落検出部７はこのキズをそのレ
ベルから検出すると、同図（ｄ）のキズ検出信号を発生
する。ＴＲＧ制御部１０は、このキズ検出信号の発生周
期を検出し、次に発生するタイミングを予測する。そし
て、次のキズ検出信号の手前で同図（ｂ）に示すＴＲＧ
制御信号をＬからＨに立ち上げ、その後キズ検出信号の
後縁を経過してからＴＲＧ制御信号をＨからＬに立ち下
げる。同図（ｃ）は参考までに示したグランドレベルＧ
ＮＤである。
同図（ａ）はトラッキングエラー信号ＴＥである。キズ
のない部分ではメインビームが十分に反射するため、Ｔ
Ｅ信号にはある程度の振幅が生じているが、キズの部分
ではメインビームの戻り光が減少するため、ＤＣ成分が
減少している。データ欠落検出部７はこのキズをそのレ
ベルから検出すると、同図（ｄ）のキズ検出信号を発生
する。ＴＲＧ制御部１０は、このキズ検出信号の発生周
期を検出し、次に発生するタイミングを予測する。そし
て、次のキズ検出信号の手前で同図（ｂ）に示すＴＲＧ
制御信号をＬからＨに立ち上げ、その後キズ検出信号の
後縁を経過してからＴＲＧ制御信号をＨからＬに立ち下
げる。同図（ｃ）は参考までに示したグランドレベルＧ
ＮＤである。
【００１６】ＴＲＧ制御部１０は、ＴＲＧ制御信号がＨ
の期間だけトラッキングサーボの制御ゲインを通常の値
より低く、好ましくはトラッキング制御できずにトレー
スできる値まで低下させる。具体的には、ドライブアン
プ６のゲインを直接低下させる方法もあるが、ここでは
ＴＲＧ制御信号をサーボプロセッサ５に供給し、ここで
トラッキングサーボの制御ゲインを低下させる。この場
合、サーボプロセッサ５には、Ｈ／ＬのＴＲＧ制御ポー
トを有するゲイン制御用ＬＳＩが内蔵されているので、
そのＬ用ＴＲＧ制御ポートをオンにして、制御ゲインを
低下させる。
の期間だけトラッキングサーボの制御ゲインを通常の値
より低く、好ましくはトラッキング制御できずにトレー
スできる値まで低下させる。具体的には、ドライブアン
プ６のゲインを直接低下させる方法もあるが、ここでは
ＴＲＧ制御信号をサーボプロセッサ５に供給し、ここで
トラッキングサーボの制御ゲインを低下させる。この場
合、サーボプロセッサ５には、Ｈ／ＬのＴＲＧ制御ポー
トを有するゲイン制御用ＬＳＩが内蔵されているので、
そのＬ用ＴＲＧ制御ポートをオンにして、制御ゲインを
低下させる。
【００１７】以下、図４および図５に分けて示したフロ
ーチャートを参照してこの発明の制御動作を説明する。
先ず、図４において、再生モードに入ったら、ステップ
Ｓ１においてキズ検出信号の有無を判定する。ここで、
キズ検出信号なしと判定されたら、ステップＳ２に移っ
てブラックドット検出信号の有無を判定する。ここで、
ブラックドット検出信号なしと判定されたら、ステップ
Ｓ１へ戻るが、ブラックドット検出信号ありと判定され
たら、ステップＳ３でブラックドット幅が「小」以上か
否かを判定する。ここで、「小」未満と判定されたら逆
パルスの印加の必要はないので、ステップＳ１へ戻る
が、「小」以上と判定されたら、ステップＳ４で「中」
か「大」かを判別する。ステップＳ４で「大」と判定さ
れたら、ステップＳ５で逆パルス（キックパルス）幅
「大」を設定する。これに対し、ステップＳ４で「大」
でない、即ち「中」と判定されたら、ステップＳ６で逆
パルス幅「小」を設定する。そして、ステップＳ７で
は、この様にして設定されたパルス幅のキックパルスを
ブラックドット検出信号の立上りに同期してトラッキン
グコイルに印加する。
ーチャートを参照してこの発明の制御動作を説明する。
先ず、図４において、再生モードに入ったら、ステップ
Ｓ１においてキズ検出信号の有無を判定する。ここで、
キズ検出信号なしと判定されたら、ステップＳ２に移っ
てブラックドット検出信号の有無を判定する。ここで、
ブラックドット検出信号なしと判定されたら、ステップ
Ｓ１へ戻るが、ブラックドット検出信号ありと判定され
たら、ステップＳ３でブラックドット幅が「小」以上か
否かを判定する。ここで、「小」未満と判定されたら逆
パルスの印加の必要はないので、ステップＳ１へ戻る
が、「小」以上と判定されたら、ステップＳ４で「中」
か「大」かを判別する。ステップＳ４で「大」と判定さ
れたら、ステップＳ５で逆パルス（キックパルス）幅
「大」を設定する。これに対し、ステップＳ４で「大」
でない、即ち「中」と判定されたら、ステップＳ６で逆
パルス幅「小」を設定する。そして、ステップＳ７で
は、この様にして設定されたパルス幅のキックパルスを
ブラックドット検出信号の立上りに同期してトラッキン
グコイルに印加する。
【００１８】一方、ステップＳ１でキズ検出信号ありと
判定されたら、図５のステップＳ８へ分岐し、ここでキ
ズ検出信号の周期を検出する。ここでは、２回連続する
キズ検出信号から周期を検出し、ステップＳ９で３発目
のキズ検出信号のタイミングを予測する。そして、ステ
ップＳ１０でキズ検出信号の１０ｍｓ前のタイミングを
監視し、そのタイミングになったらステップＳ１１でト
ラッキングゲインを低下させる。次に、ステップＳ１２
でキズ検出信号の立下りを監視し、検出したらステップ
Ｓ１３で１０ｍｓの待ち時間を設定する。そして、この
待ち時間を経過したらステップＳ１４でトラッキングゲ
インを元の値に戻し、ステップＳ１５で再度キズ検出信
号の有無を判断する。ここで、キズ検出信号ありと判定
されればステップＳ１１へ戻るが、なしと判定されたら
再生モードへ復帰する。
判定されたら、図５のステップＳ８へ分岐し、ここでキ
ズ検出信号の周期を検出する。ここでは、２回連続する
キズ検出信号から周期を検出し、ステップＳ９で３発目
のキズ検出信号のタイミングを予測する。そして、ステ
ップＳ１０でキズ検出信号の１０ｍｓ前のタイミングを
監視し、そのタイミングになったらステップＳ１１でト
ラッキングゲインを低下させる。次に、ステップＳ１２
でキズ検出信号の立下りを監視し、検出したらステップ
Ｓ１３で１０ｍｓの待ち時間を設定する。そして、この
待ち時間を経過したらステップＳ１４でトラッキングゲ
インを元の値に戻し、ステップＳ１５で再度キズ検出信
号の有無を判断する。ここで、キズ検出信号ありと判定
されればステップＳ１１へ戻るが、なしと判定されたら
再生モードへ復帰する。
【００１９】以上の説明では、キックパルスの幅を２通
りだけ用意したが、実際にはこれで十分であり、必ずし
も厳密にブラックドットの長さに比例させる必要はな
い。また、各検出信号は、上述したようなフローチャー
トでは、一定間隔（例えば、０．１ｍｓ毎）のプログラ
ム割り込みで検出すれば十分である。
りだけ用意したが、実際にはこれで十分であり、必ずし
も厳密にブラックドットの長さに比例させる必要はな
い。また、各検出信号は、上述したようなフローチャー
トでは、一定間隔（例えば、０．１ｍｓ毎）のプログラ
ム割り込みで検出すれば十分である。
【００２０】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、ブ
ラックドットおよび表面傷に起因するトレース能力の低
下を、それぞれ簡単且つ確実に防止できる機能を備えた
ディスク再生装置を提供することができる。
ラックドットおよび表面傷に起因するトレース能力の低
下を、それぞれ簡単且つ確実に防止できる機能を備えた
ディスク再生装置を提供することができる。
【図１】 この発明の一実施例を示す要部構成図であ
る。
る。
【図２】 ブラックドットに関する波形図である。
【図３】 表面キズに関する波形図である。
【図４】 この発明の制御動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図５】 図４の続きフローチャートである。
【図６】 ３ビーム式光学ヘッドの機構図である。
１…光ディスク、２…スピンドルモータ、３…光学ヘッ
ド、４…高周波部、５…サーボプロセッサ、６…ドライ
ブアンプ、７…データ欠落検出部、８…キックパルス発
生部、９…トラッキングゲイン制御部、３４…対物レン
ズ、３５…トラッキングコイル。
ド、４…高周波部、５…サーボプロセッサ、６…ドライ
ブアンプ、７…データ欠落検出部、８…キックパルス発
生部、９…トラッキングゲイン制御部、３４…対物レン
ズ、３５…トラッキングコイル。
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスクから情報を読み取る光学ヘッ
ドと、 この光学ヘッドを前記ディスク上のトラックに追従させ
るトラッキング制御手段と、 前記ディスクの再生時に所定長さ以上のデータ欠落部を
検出する手段と、 前記所定長さ以上のデータ欠落部の検出時に、前記トラ
ッキング制御手段が発生する障害電圧とは逆極性のキッ
クパルスを作成して前記障害電圧の影響を打ち消す手段
とを備えてなることを特徴とするディスク再生装置。 - 【請求項２】 光ディスクから情報を読み取る光学ヘッ
ドと、 この光学ヘッドを前記ディスク上のトラックに追従させ
るトラッキング制御手段と、 前記ディスクの再生時に所定長さ以下で周期的に発生す
るデータ欠落部を検出する手段と、 前記光学ヘッドが前記データ欠落部を通過する期間をそ
の発生周期から予測し、その期間を含む一定期間、前記
トラッキング制御手段の制御ゲインを一時的に低下させ
る手段とを備えてなることを特徴とするディスク再生装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34312192A JPH06176390A (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | ディスク再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34312192A JPH06176390A (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | ディスク再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06176390A true JPH06176390A (ja) | 1994-06-24 |
Family
ID=18359093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34312192A Pending JPH06176390A (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | ディスク再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06176390A (ja) |
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