JPH06162552A - 光学的情報の再生装置 - Google Patents

光学的情報の再生装置

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JPH06162552A
JPH06162552A JP4308867A JP30886792A JPH06162552A JP H06162552 A JPH06162552 A JP H06162552A JP 4308867 A JP4308867 A JP 4308867A JP 30886792 A JP30886792 A JP 30886792A JP H06162552 A JPH06162552 A JP H06162552A
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medium
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Tsuyoshi Tsujioka
強 辻岡
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来の再生方法をそのまま利用できる簡単な
構成の再生装置を提供する。 【構成】 入射する偏光ビームL1を2つの互いに直交
する偏光状態を有する第1、第2のビーム成分L2、L
5に分離するとともに再入射する各分離成分L4、L5
のビームを合成する単一の偏光光学素子2と、該偏光光
学素子2によって分離された第1、第2のビームL2、
L5を夫々円偏光に変換する素子4、6と、前記第1の
ビームL5を光記録媒体に集光するとともに該媒体上で
反射した反射光を取り出すレンズ系7と、前記第2のビ
ームL2を反射するミラー5と、前記偏光光学素子2に
よって再合成されたビームL3の通過する該ビームL3
自身の2つの偏光方位に対してその方位が傾いている偏
光子9、13と、該偏光子9、13を通過したビームを
光電変換する光検出器11、111、112とを有する
光学的情報の再生装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高密度の記録が可能な光
記録媒体の再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば特公平4−3575号公報に、光
磁気記録媒体からより大きな信号レベルで再生を行うた
めの再生装置が開示されている。
【0003】また次世代のフォトンモード型光記録媒体
を用いた再生装置において、再生時の信号劣化を防止す
るために数十nWオーダーの超低再生パワーで再生し、
且つ十分なSN比で保持するための装置についての提案
を本発明者は特願平4−224138号として行った。
【0004】これら2つの従来の再生装置は同一の光源
からの放射光を2つに分離し、一方を媒体に照射し、他
方とこの媒体上での反射によって得られた光とを光混合
し、互いに干渉させた後、光検出器で検出を行うという
点が特徴であった。
【0005】そしてこれら従来の装置では媒体から得ら
れた反射光が微弱であっても、分離された他方の光の強
度を適度に大きく設定すれば再生信号強度を増幅するこ
とが可能であった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の装置では同一の光源からの放射光を分離する光学素子
と、分離された各ビームを合成する光学素子とを別個に
設ける必要があり、光学系が大型化して複雑になるとい
う問題点があった。
【0007】本発明は従来装置のかかる問題点を解決す
るためになされたものであり、従来の再生方法をそのま
ま利用できる簡単な構成の再生装置を提供することを目
的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、入射する偏光
ビームを2つの互いに直交する偏光状態を有する第1、
第2のビーム成分に分離するとともに再入射する各分離
成分のビームを合成する単一の偏光光学素子と、該偏光
光学素子によって分離された第1、第2のビームを夫々
円偏光に変換する素子と、前記第1のビームを光記録媒
体に集光するとともに該媒体上で反射した反射光を取り
出すレンズ系と、前記第2のビームを反射するミラー
と、前記偏光光学素子によって再合成されたビームの通
過する該ビーム自身の2つの偏光方位に対してその方位
が傾いている偏光子と、該偏光子を通過したビームを光
電変換する光検出器とを有する。
【0009】また偏光光学素子によって再合成されたビ
ームの透過する位相子と、この位相子を経たビームが透
過する偏光子と、該偏光子を通過したビームを光電変換
する光検出器とを有するものであってもよい。
【0010】
【作用】光源からの放射光を分離し再生合成する素子と
しての単一の光学素子を用いるので光学系が簡単にな
り、小型化・低コスト化が実現できる。一方合成ビーム
を偏光特性を有する光学素子を通過させて光検出器で検
出することにより、光混合(干渉)による信号の増幅が
実行できる。
【0011】
【実施例】以下本発明再生装置をいくつかの実施例につ
いて図面に基づき詳細に説明する。
【0012】[第1実施例]図1は第1実施例における
再生装置の構成を示し、1は光源からの放射光L1を透
過するλ/2板、2は前記λ/2板1を透過した光をL
2、L3の2つの光に分離するビームスプリッタ、3は
前記分離光L2を透過する位相補償子、4は前記分離光
L2を透過する第1λ/4板、5は前記分離光L2を反
射して反射光L4を作るミラー、6は前記ビームスプリ
ッタ2を通過した放射光L1を透過する第2のλ/4
板、7は該第2λ/4板6を透過した放射光L1を媒体
8上に集光する対物レンズである。そして前記媒体8か
ら放射される再生光L5は、再び対物レンズ7、第2λ
/4板6を透過しビームスプリッタ2に入射する。
【0013】一方前記反射光L4は前記第1λ/4板4
及び位相補償子板3を経てビームスプリッタ2に入射
し、前記再生光L5と合成されて合成光L3となって偏
光子9、レンズ10を透過して光検出器11に入射す
る。
【0014】かかる構成において光源からの放射光L1
は直線偏光であり、λ/2板1によって偏光方位が調整
された結果次のような電界強度VE(以下Vはベクトル
を意味する接頭語とする)を有する。
【0015】
【数1】
【0016】上記の放射光L1は偏光ビームスプリッタ
2によって次のようにその偏光成分に応じて2つの光に
分離される。
【0017】
【数2】
【0018】さて分離ビームL2(電界強度VE2 )は
ビームスプリッタ2においてS波で反射され、位相板3
及びλ/4板4で円偏光へと変換され、ミラー5で反射
され、再びλ/4板4及び位相補償子板3を通過して、
今度は偏光ビームスプリッタ2に対しP波(電界強度V
2')となって通過する。
【0019】一方偏光ビームスプリッタ2をP波で通過
した放射光L1(電界強度VE1 )は第2λ/4板6に
より円偏光へと変換され、対物レンズ7によって媒体2
3上に集光される。この媒体23上に記録された情報に
よって何らかの変化を受けた反射光、即ち再生光L5は
再びλ/4板6の作用によりS波(電界強度VE1')へ
と変換され偏光ビームスプリッタ2で反射される。結局
偏光ビームスプリッタ2により2つの電界強度VE1'及
びVE2'を有するビームはその偏光面が直交する形で合
成されて次のような合成光L3(電界強度VE’)が得
られることになる。
【0020】
【数3】
【0021】但し、φは分離・再合成に伴う光束VE
1 、VE2 の位相差を表し、またここでは媒体の記録情
報によってE2 からE2Sへと変化したものとする。
【0022】さて上記合成光L3を方位θの偏光子9を
通過させて検出器11で検出することを考える。一般に
方位θの偏光子に対応するジョーンズマトリックスMP
θ(以下Mはマトリックスを意味する接頭語とする)は
次のようになる。
【0023】
【数4】
【0024】従って偏光子9の通過後のビームVE”は
【0025】
【数5】
【0026】となる。
【0027】ところで光検出器11で検出される光強度
Iは電界強度の2乗、即ち|VE”|2 で与えられる。
例えばθ=45°のときには、
【0028】
【数6】
【0029】となる。従ってE1 ×E2Sの項が存在する
のでE2Sが小さくてもE1 を適度に大きくすることによ
って十分な信号強度を得ることが可能となる。
【0030】[第2実施例]さて上記第1実施例の再生
装置では前記数6にE1 2の項が残るため比較的大きなレ
ーザノイズが発生することを否めない。そこでこの点を
改良した再生装置を第2の実施例として図2に基づいて
説明する。この装置では偏光ビームスプリッタ2によっ
て2つの反射ビームL4及びL5が合成されるところま
では前記第1実施例と同じである。従って合成光L3は
前記数3で表される電界VE’を有する。
【0031】前記合成光L3は位相子としての第3のλ
/4板の作用によって夫々の直交する偏光成分が互いに
逆回りの円偏光へと変換されることになる。このλ/4
板12に相当するジョーンズマトリックスを用いて表す
と、
【0032】
【数7】
【0033】となる。そして偏光子としての第2の偏光
ビームスプリッタ13によりこの直交する偏光成分がL
6、L7に分離され、夫々レンズ101、102を透過
して2つの光検出器111、112で独立に検出され
る。この時の各検出器での検出出力I1 、I2 は次のよ
うに表される。
【0034】
【数8】
【0035】また差動増幅器14において前記出力I
1 、I2 間で減算を行うと、
【0036】
【数9】
【0037】となり、比較的大きなレーザノイズを含む
1 2の項がキャンセルされ、E1 で増幅された信号を含
むE1 ×E2Sに比例する項だけが残る。なお第2実施例
の光学系はフォトクロミック光記録媒体のような反射率
変化型媒体だけでなく光磁気記録媒体へも応用可能であ
る。
【0038】即ち光磁気記録媒体は通常直線偏光を照射
し、反射光の偏光面の回転(カー回転)を検出すること
で再生が行われている。しかし本第2実施例のように円
偏光を照射した場合、偏光状態ではなくその位相が記録
情報によって影響を受ける。従って媒体からの反射光強
度の大きさE2Sではなく位相項sinφに再生すべき情
報が含まれることになる。そしてカー回転角が通常極め
て小さいのと同様位相変化φも極めて小さいので数9は
次のように近似できる。
【0039】
【数10】
【0040】この数10より光磁気記録媒体においてφ
が小さくてもE1 を大きくすることで信号を増幅するこ
とができることがわかる。
【0041】[第3実施例]図3は本発明の第3実施例
を示す構成図であり、前記第2実施例と同様に偏光ビー
ムスプリッタ2による合成ビームL3はやはり数3で与
えられるものとする。本実施例は単純に第1の偏光ビー
ムスプリッタ2に対し、偏光子としての第2の偏光ビー
ムスプリッタ13の方位を傾けた構成となっている。も
ちろんこれと等価的にλ/2板を設けてもよい。
【0042】とくに第2偏光ビームスプリッタ13の傾
き角が45°の時、偏光ビームスプリッタ13の方位を
基準とした入射ビームの電界は次のように与えられる。
【0043】
【数11】
【0044】従って第2実施例の場合と同様にして光検
出器111、112の出力I1 、I 2
【0045】
【数12】
【0046】となり、差動増幅器14の出力は
【0047】
【数13】
【0048】となって、やはりE1 で増幅され、且つE
1 のレーザノイズが低減された再生信号出力を得ること
が可能となる。
【0049】
【発明の効果】以上の説明のとおり本発明によれば従来
の再生装置に比べて、極めて簡単な構成の光学系で再生
信号出力を増幅し、且つレーザノイズを低減できるの
で、再生信号の高いSN比を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明再生装置の第1実施例を示す構成図であ
る。
【図2】本発明再生装置の第2実施例を示す構成図であ
る。
【図3】本発明再生装置の第2実施例を示す構成図であ
る。
【符号の説明】
L1〜L7 ビーム 2 偏光ビームスプリッタ 4、6 円偏光に変換する素子 7 レンズ系 5 ミラー 9、13 偏光子 11、111、112光検出器 12 位相子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入射する偏光ビームを2つの互いに直交
    する偏光状態を有する第1、第2のビーム成分に分離す
    るとともに再入射する各分離成分のビームを合成する単
    一の偏光光学素子と、該偏光光学素子によって分離され
    た第1、第2のビームを夫々円偏光に変換する素子と、
    前記第1のビームを光記録媒体に集光するとともに該媒
    体上で反射した反射光を取り出すレンズ系と、前記第2
    のビームを反射するミラーと、前記偏光光学素子によっ
    て再合成されたビームの通過するビーム自身の2つの偏
    光方位に対してその方位が傾いている偏光子と、該偏光
    子を通過したビームを光電変換する光検出器とを有する
    光学的情報の再生装置。
  2. 【請求項2】 入射する偏光ビームを2つの互いに直交
    する偏光状態を有する第1、第2のビーム成分に分離す
    るとともに再入射する各分離成分のビームを合成する単
    一の偏光光学素子と、該偏光光学素子によって分離され
    た第1、第2のビームを夫々円偏光に変換する素子と、
    前記第1のビームを光記録媒体に集光するとともに該媒
    体上で反射した反射光を取り出すレンズ系と、前記第2
    のビームを反射するミラーと、前記偏光光学素子によっ
    て再合成されたビームの通過する位相子と、該位相子を
    出たビームが透過する偏光子と、該偏光子を通過したビ
    ームを光電変換する光検出器とを有する光学的情報の再
    生装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007317284A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Hitachi Ltd 光ディスク装置
JP2008310942A (ja) * 2007-02-23 2008-12-25 Hitachi Ltd 光ヘッドおよび光ディスク装置
US7542399B2 (en) 2005-11-25 2009-06-02 Daxon Technology Inc. Method and apparatus capable of detecting spherical aberration caused by a storage medium
JP2009123286A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置および光再生装置

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