JPH06162444A - 磁気ヘッド及びその製造方法 - Google Patents
磁気ヘッド及びその製造方法Info
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- JPH06162444A JPH06162444A JP5192204A JP19220493A JPH06162444A JP H06162444 A JPH06162444 A JP H06162444A JP 5192204 A JP5192204 A JP 5192204A JP 19220493 A JP19220493 A JP 19220493A JP H06162444 A JPH06162444 A JP H06162444A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 21
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 46
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 21
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 abstract description 4
- 229910019830 Cr2 O3 Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 76
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000007779 soft material Substances 0.000 description 2
- 229910003962 NiZn Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000002463 transducing effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/187—Structure or manufacture of the surface of the head in physical contact with, or immediately adjacent to the recording medium; Pole pieces; Gap features
- G11B5/255—Structure or manufacture of the surface of the head in physical contact with, or immediately adjacent to the recording medium; Pole pieces; Gap features comprising means for protection against wear
-
- G—PHYSICS
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- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/10—Structure or manufacture of housings or shields for heads
- G11B5/102—Manufacture of housing
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3103—Structure or manufacture of integrated heads or heads mechanically assembled and electrically connected to a support or housing
- G11B5/3106—Structure or manufacture of integrated heads or heads mechanically assembled and electrically connected to a support or housing where the integrated or assembled structure comprises means for conditioning against physical detrimental influence, e.g. wear, contamination
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/40—Protective measures on heads, e.g. against excessive temperature
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B31/00—Arrangements for the associated working of recording or reproducing apparatus with related apparatus
- G11B31/003—Arrangements for the associated working of recording or reproducing apparatus with related apparatus with radio receiver
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/14—Reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture, dust
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 比較的低温でも耐摩耗性を呈するテープ接触
面を有する磁気ヘッドを提供する。 【構成】 ヘッド面(5)と、このヘッド面にて終端す
る変換素子(E11)及び変換ギャップを有する層構体
を具えている磁気ヘッドの変換ギャップ個所及び変換ギ
ャップの両側のヘッド面に、記録キャリヤと共働する接
触面(33)を形成するためにCr2 O3 を主成分とす
る層(31)を被着する。このCr2 O3を主成分とす
る層を反応RFスパッタリングにより10〜100nm
の範囲内の厚さに形成する。
面を有する磁気ヘッドを提供する。 【構成】 ヘッド面(5)と、このヘッド面にて終端す
る変換素子(E11)及び変換ギャップを有する層構体
を具えている磁気ヘッドの変換ギャップ個所及び変換ギ
ャップの両側のヘッド面に、記録キャリヤと共働する接
触面(33)を形成するためにCr2 O3 を主成分とす
る層(31)を被着する。このCr2 O3を主成分とす
る層を反応RFスパッタリングにより10〜100nm
の範囲内の厚さに形成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はヘッド面と、変換素子を
有する層構体とを具えている磁気ヘッドに関するもので
ある。本発明は斯種の磁気ヘッドの製造方法にも関する
ものである。
有する層構体とを具えている磁気ヘッドに関するもので
ある。本発明は斯種の磁気ヘッドの製造方法にも関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】斯種の磁気ヘッドは特開昭63−378
11号公報から既知である。この従来の磁気ヘッドは、
磁気抵抗素子及び変換ギャップを有する磁気ヨークを構
成する基板上に設けられる薄膜構体を有している。磁気
ヘッドはヘッド面も有しており、このヘッド面にて変換
ギャップ及び磁気抵抗素子の方へと磁気情報を案内する
ための磁束ガイドが終端する。従来の磁気ヘッドのヘッ
ド面は磁気記録キャリヤ、特に磁気テープを案内するの
に用いられる。
11号公報から既知である。この従来の磁気ヘッドは、
磁気抵抗素子及び変換ギャップを有する磁気ヨークを構
成する基板上に設けられる薄膜構体を有している。磁気
ヘッドはヘッド面も有しており、このヘッド面にて変換
ギャップ及び磁気抵抗素子の方へと磁気情報を案内する
ための磁束ガイドが終端する。従来の磁気ヘッドのヘッ
ド面は磁気記録キャリヤ、特に磁気テープを案内するの
に用いられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】層構体を有する磁気ヘ
ッドでは、軟質材料、特に磁束ガイドの軟磁性材料が、
比較的硬質の材料、特に基板材料、例えばAl2 O3 /
TiCと一緒に存在する。作動中にヘッド面に沿って移
動する記録キャリヤの摩耗作用のために、比較的軟質の
材料がヘッド面にて摩耗し、このためにヘッド面の層構
体がへこんでしまう。このようにヘッド面がへこむと、
記録キャリヤと層構体との間の距離が大きくなり、記録
キャリヤから磁気ヘッドへの転送情報が低減する。従っ
て、ヘッド面がテープ接触面としても作用する従来の磁
気ヘッドは寿命を長くすることができない。
ッドでは、軟質材料、特に磁束ガイドの軟磁性材料が、
比較的硬質の材料、特に基板材料、例えばAl2 O3 /
TiCと一緒に存在する。作動中にヘッド面に沿って移
動する記録キャリヤの摩耗作用のために、比較的軟質の
材料がヘッド面にて摩耗し、このためにヘッド面の層構
体がへこんでしまう。このようにヘッド面がへこむと、
記録キャリヤと層構体との間の距離が大きくなり、記録
キャリヤから磁気ヘッドへの転送情報が低減する。従っ
て、ヘッド面がテープ接触面としても作用する従来の磁
気ヘッドは寿命を長くすることができない。
【0004】本発明の目的はヘッド面と、比較的低温で
も耐摩耗性の接触面を構成する非磁性電気絶縁材料製の
耐摩耗層及び変換素子を有する層構体とを具えている磁
気ヘッドを提供することにある。本発明の他の目的は斯
種の磁気ヘッドを簡単に製造する方法を提供することに
ある。
も耐摩耗性の接触面を構成する非磁性電気絶縁材料製の
耐摩耗層及び変換素子を有する層構体とを具えている磁
気ヘッドを提供することにある。本発明の他の目的は斯
種の磁気ヘッドを簡単に製造する方法を提供することに
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段(1)】本発明は、ヘッド
面と、このヘッド面にて終端する変換素子及び変換ギャ
ップを有する層構体とを具えている磁気ヘッドにおい
て、前記ヘッド面の少なくとも層構体の個所に接触面を
形成するためのCr2 O3 を主成分とする層を被着し、
この層の厚さを10〜100nmの範囲内の厚さとした
ことを特徴とする。
面と、このヘッド面にて終端する変換素子及び変換ギャ
ップを有する層構体とを具えている磁気ヘッドにおい
て、前記ヘッド面の少なくとも層構体の個所に接触面を
形成するためのCr2 O3 を主成分とする層を被着し、
この層の厚さを10〜100nmの範囲内の厚さとした
ことを特徴とする。
【0006】本発明による磁気ヘッドは、Cr2 O3 を
主成分とする層により形成され、記録キャリヤ、特に磁
気テープと共働する耐摩耗性の接触面を有する。前述し
たCr2 O3 の層厚(10〜100nm)は記録キャリ
ヤから変換素子に信号を良好に転送し得る厚さである。
前記接触面は5℃〜85℃の温度範囲だけでなく、5℃
〜−20℃の温度範囲内でも満足のゆく耐摩耗性を呈す
ることを実験により確かめた。このことは、携帯装置及
び自動車のラジオ・カセット・レコーダの如き自動車向
けの磁気スキャナに用いられる磁気ヘッドにとって特に
重要なことである。Cr2 O3 を主成分とする層は電気
的に絶縁性であるから、ヘッド面を経る短絡電流が防止
される。必要ならば、変換素子はヘッド面まで延在させ
ることができる。
主成分とする層により形成され、記録キャリヤ、特に磁
気テープと共働する耐摩耗性の接触面を有する。前述し
たCr2 O3 の層厚(10〜100nm)は記録キャリ
ヤから変換素子に信号を良好に転送し得る厚さである。
前記接触面は5℃〜85℃の温度範囲だけでなく、5℃
〜−20℃の温度範囲内でも満足のゆく耐摩耗性を呈す
ることを実験により確かめた。このことは、携帯装置及
び自動車のラジオ・カセット・レコーダの如き自動車向
けの磁気スキャナに用いられる磁気ヘッドにとって特に
重要なことである。Cr2 O3 を主成分とする層は電気
的に絶縁性であるから、ヘッド面を経る短絡電流が防止
される。必要ならば、変換素子はヘッド面まで延在させ
ることができる。
【0007】Cr2 O3 を主成分とする質的にすぐれた
層は、ヘッド面上にこの層をスパッタリングすることよ
り被着して得ることができることを実験により確かめ
た。60nm以下の層厚でもスパッタリングにより高い
耐摩耗性を達成し得ることを確かめた。Cr2 O3 を主
成分とするスパッタリングによる耐摩耗層の他の利点
は、この層を300℃以下の温度で形成し得ることにあ
る。従って、層構体中に存在する磁性材料の磁気特性
が、前記耐摩耗層の形成時に損なわれない。ヘッド面上
にスパッタリングにより形成するCr2 O3 を主成分と
する耐摩耗層を有する本発明による磁気ヘッドは作動中
出力信号を良好に供給し、比較的低温での使用にも好適
であり、しかも寿命が長い。
層は、ヘッド面上にこの層をスパッタリングすることよ
り被着して得ることができることを実験により確かめ
た。60nm以下の層厚でもスパッタリングにより高い
耐摩耗性を達成し得ることを確かめた。Cr2 O3 を主
成分とするスパッタリングによる耐摩耗層の他の利点
は、この層を300℃以下の温度で形成し得ることにあ
る。従って、層構体中に存在する磁性材料の磁気特性
が、前記耐摩耗層の形成時に損なわれない。ヘッド面上
にスパッタリングにより形成するCr2 O3 を主成分と
する耐摩耗層を有する本発明による磁気ヘッドは作動中
出力信号を良好に供給し、比較的低温での使用にも好適
であり、しかも寿命が長い。
【0008】Cr2 O3 を主成分とする層は薄膜ヘッド
の層構体に用いられる全ての材料に最適に付着するとは
限らないことを確かめた。そこで、このような欠点をな
くすために、本発明の好適例では、ヘッド面とCr2 O
3 を主成分とする層との間にCrを主成分とする層を設
ける。このCrを主成分とする層をスパッタリングによ
り数ナノメートルの厚さに被着することにより、Cr2
O3 を主成分とする層がヘッド面に満足のゆくように付
着することを実験により確かめた。
の層構体に用いられる全ての材料に最適に付着するとは
限らないことを確かめた。そこで、このような欠点をな
くすために、本発明の好適例では、ヘッド面とCr2 O
3 を主成分とする層との間にCrを主成分とする層を設
ける。このCrを主成分とする層をスパッタリングによ
り数ナノメートルの厚さに被着することにより、Cr2
O3 を主成分とする層がヘッド面に満足のゆくように付
着することを実験により確かめた。
【0009】
【課題を解決するための手段(2)】本発明は、ヘッド
面及び変換素子付きの層構体を有する磁気ヘッドの製造
方法において、Cr2 O3 を主成分とする厚さが10〜
100nmの範囲内の層をヘッド面上の少なくとも層構
体の個所にスパッタ蒸着により形成することを特徴とす
る。
面及び変換素子付きの層構体を有する磁気ヘッドの製造
方法において、Cr2 O3 を主成分とする厚さが10〜
100nmの範囲内の層をヘッド面上の少なくとも層構
体の個所にスパッタ蒸着により形成することを特徴とす
る。
【0010】この場合のスパッタリングはクロムターゲ
ットに酸素を添加しながら行なうのが好適である。この
ようにすれば同じスパッタリング装置を利用できるので
処理工程が簡単となる。スパッタリング、例えばアルゴ
ン充填スペース内でのRFスパッタリングは、磁気ヘッ
ドを加熱することなく、しかもバイアス磁界なしで行な
うことができる。
ットに酸素を添加しながら行なうのが好適である。この
ようにすれば同じスパッタリング装置を利用できるので
処理工程が簡単となる。スパッタリング、例えばアルゴ
ン充填スペース内でのRFスパッタリングは、磁気ヘッ
ドを加熱することなく、しかもバイアス磁界なしで行な
うことができる。
【0011】酸素の圧力を極端に低くしなければ、この
酸素の圧力がヘッド面上に形成されるCr2 O3 を主成
分とする耐摩耗層の組成に悪影響を及ぼすことがなく、
この耐摩耗層の特性は処理工程の僅かな変動には無関係
となることを確かめた。上述した本発明による方法の確
実性を期するためには、実際上Cr2 O3 を主成分とし
て形成される層の最大厚さが60nmとなるまでスパッ
タする必要があることだけである。
酸素の圧力がヘッド面上に形成されるCr2 O3 を主成
分とする耐摩耗層の組成に悪影響を及ぼすことがなく、
この耐摩耗層の特性は処理工程の僅かな変動には無関係
となることを確かめた。上述した本発明による方法の確
実性を期するためには、実際上Cr2 O3 を主成分とし
て形成される層の最大厚さが60nmとなるまでスパッ
タする必要があることだけである。
【0012】あらゆる状況のもとでもCr2 O3 を主成
分とする層をヘッド面に満足のゆくように付着するため
に、本発明の好適例では、ヘッド面上にCrを主成分と
する層が形成されるまではスパッタリング中に酸素を添
加しないようにする。Cr2O3 を主成分として形成さ
れる層の少なくとも層構体の個所における最大の厚さが
20nmとなったら酸素を添加し得ることを確かめた。
分とする層をヘッド面に満足のゆくように付着するため
に、本発明の好適例では、ヘッド面上にCrを主成分と
する層が形成されるまではスパッタリング中に酸素を添
加しないようにする。Cr2O3 を主成分として形成さ
れる層の少なくとも層構体の個所における最大の厚さが
20nmとなったら酸素を添加し得ることを確かめた。
【0013】なお、摩耗を抑制するためにヘッド面上に
耐摩耗層を設けることは本来既知である。バルクヘッド
に0.2μm よりも薄い炭化金属又は窒化金属のスパッ
タした耐摩耗層を設けることは欧州特許出願EP−AO
123826に提案されている。「IBM テクニカル
・ディスクロージャ ブリテン」(Technical Disclosur
e Bulletin), vol. 11,NO. 10,1969年3月、
第1199頁には耐摩耗層を形成するために耐熱磁気ヘ
ッド上にフレームメッキによりCr2 O3 を形成するこ
とが提案されている。特開昭55−73917号公報に
は、Crを含有しているパーマロイのコアリムに厚さが
0.5μm 以上のCr酸化物層を設けること及びCrを
含有していないパーマロイのコアリム上にスパッタリン
グによりCr酸化物層を形成することが提案されてい
る。
耐摩耗層を設けることは本来既知である。バルクヘッド
に0.2μm よりも薄い炭化金属又は窒化金属のスパッ
タした耐摩耗層を設けることは欧州特許出願EP−AO
123826に提案されている。「IBM テクニカル
・ディスクロージャ ブリテン」(Technical Disclosur
e Bulletin), vol. 11,NO. 10,1969年3月、
第1199頁には耐摩耗層を形成するために耐熱磁気ヘ
ッド上にフレームメッキによりCr2 O3 を形成するこ
とが提案されている。特開昭55−73917号公報に
は、Crを含有しているパーマロイのコアリムに厚さが
0.5μm 以上のCr酸化物層を設けること及びCrを
含有していないパーマロイのコアリム上にスパッタリン
グによりCr酸化物層を形成することが提案されてい
る。
【0014】
【実施例】図1,図2及び図3に示す本発明による薄膜
磁気ヘッドは、本例では磁性材料、即ちNiZnフェラ
イト製の支持体、即ち基板1を具え、この基板上に磁性
層と、導通層と、絶縁層とから成る層構体2を設けてい
る。この層構体2は非磁性材料、例えばAl2 O3 /T
iC製のカウンタブロック3により保護される。磁気ヘ
ッド3はそのヘッド面5に本例では11個の変換ギャッ
プを有している。これら11個の変換ギャップの内の9
個のギャップS1〜S9のグループは、磁気ヘッドに沿
ってx方向に移動する記録キャリヤ7からディジタル形
態の情報を読取り、且つ一対のギャップS10及びS1
1は記録キャリヤ7からアナログ形態の情報を読取るよ
うにする。ディジタル用のギャップS1〜S9のギャッ
プ長は一般にアナログ用のギャップS10及びS11の
ギャップ長よりも短くする。ギャップ長はアナログ及び
ディジタル情報の双方を全く同一のギャップを経て読取
れるように選定することができる。
磁気ヘッドは、本例では磁性材料、即ちNiZnフェラ
イト製の支持体、即ち基板1を具え、この基板上に磁性
層と、導通層と、絶縁層とから成る層構体2を設けてい
る。この層構体2は非磁性材料、例えばAl2 O3 /T
iC製のカウンタブロック3により保護される。磁気ヘ
ッド3はそのヘッド面5に本例では11個の変換ギャッ
プを有している。これら11個の変換ギャップの内の9
個のギャップS1〜S9のグループは、磁気ヘッドに沿
ってx方向に移動する記録キャリヤ7からディジタル形
態の情報を読取り、且つ一対のギャップS10及びS1
1は記録キャリヤ7からアナログ形態の情報を読取るよ
うにする。ディジタル用のギャップS1〜S9のギャッ
プ長は一般にアナログ用のギャップS10及びS11の
ギャップ長よりも短くする。ギャップ長はアナログ及び
ディジタル情報の双方を全く同一のギャップを経て読取
れるように選定することができる。
【0015】この実施例における本発明による磁気ヘッ
ドは基板1上に設けた絶縁層9を具えており、この絶縁
層に変換ギャップ内に延在し得る3つの導体C1,C2
及びC3を設ける。磁気ヘッドはMR素子とも称される
11個の磁気抵抗素子E1〜E11も具えており、これ
らのMR素子は例えばNiFe層で構成し、この層の上
には例えばAu製の1個以上の等電位細条を設けること
ができる。各MR素子E1〜E11は第1接続面13a
及び13bにてそれぞれ終端する一対の第1接続トラッ
ク11a及び11bを有している。第1接続トラック及
び第1接続面の双方はAu製とするのが好適である。な
お、等電位細条を設けたMR素子は本来既知のものであ
り、例えば米国特許第4052748号に開示されてい
る。
ドは基板1上に設けた絶縁層9を具えており、この絶縁
層に変換ギャップ内に延在し得る3つの導体C1,C2
及びC3を設ける。磁気ヘッドはMR素子とも称される
11個の磁気抵抗素子E1〜E11も具えており、これ
らのMR素子は例えばNiFe層で構成し、この層の上
には例えばAu製の1個以上の等電位細条を設けること
ができる。各MR素子E1〜E11は第1接続面13a
及び13bにてそれぞれ終端する一対の第1接続トラッ
ク11a及び11bを有している。第1接続トラック及
び第1接続面の双方はAu製とするのが好適である。な
お、等電位細条を設けたMR素子は本来既知のものであ
り、例えば米国特許第4052748号に開示されてい
る。
【0016】前記導体C1,C2及びC3はMR素子E
1〜E9、E10及びE11を制御、即ちバイアスする
の用いられ、これらの各導体には第2接続面17a及び
17bにてそれぞれ終端する一対の第2接続トラック1
5a及び15bを設ける。
1〜E9、E10及びE11を制御、即ちバイアスする
の用いられ、これらの各導体には第2接続面17a及び
17bにてそれぞれ終端する一対の第2接続トラック1
5a及び15bを設ける。
【0017】磁気ヘッドは軟磁性材料、例えばNiFe
又はAlFeSi製の11対の磁束ガイドも具えてお
り、これらの各対は第1、即ち前方磁束ガイド19a
と、これから離間させた第2、即ち後方磁束ガイド19
bとで構成する。前方磁束ガイド19aは磁気記録キャ
リヤ7と共働するヘッド面5まで延在する。MR素子E
1〜E11は基板1と磁束ガイドとの間に存在し、各M
R素子は第1磁束ガイド19aと第2磁束ガイド19b
との間のブリッジを構成する。所定の構成及び所定の用
途によっては、後方磁束ガイドを省くことができる。非
磁性基板から出発して、磁束ガイドを特別に設けること
もできる。導体、MR素子及び磁束ガイドの各々は電気
及び磁気絶縁材料、例えば酸化物又はポリマ製の複数の
絶縁層により互いに電気的に絶縁する。これらの絶縁層
を図2では参照番号21及び23にて示してある。共有
磁束ガイド19a及び19bとカウンタブロック3との
間には、例えば接着層の形態の別の絶縁層25を設け
る。
又はAlFeSi製の11対の磁束ガイドも具えてお
り、これらの各対は第1、即ち前方磁束ガイド19a
と、これから離間させた第2、即ち後方磁束ガイド19
bとで構成する。前方磁束ガイド19aは磁気記録キャ
リヤ7と共働するヘッド面5まで延在する。MR素子E
1〜E11は基板1と磁束ガイドとの間に存在し、各M
R素子は第1磁束ガイド19aと第2磁束ガイド19b
との間のブリッジを構成する。所定の構成及び所定の用
途によっては、後方磁束ガイドを省くことができる。非
磁性基板から出発して、磁束ガイドを特別に設けること
もできる。導体、MR素子及び磁束ガイドの各々は電気
及び磁気絶縁材料、例えば酸化物又はポリマ製の複数の
絶縁層により互いに電気的に絶縁する。これらの絶縁層
を図2では参照番号21及び23にて示してある。共有
磁束ガイド19a及び19bとカウンタブロック3との
間には、例えば接着層の形態の別の絶縁層25を設け
る。
【0018】ヘッド面5にはCr2 O3 を主成分とする
摩耗抑制層、即ち耐摩耗層31を設ける。この層はテー
プ状の記録キャリヤ7と共働する接触面33を構成す
る。耐摩耗性の非磁性電気絶縁層31の厚さを本例では
40nmとする。この層31は特に層構体2が摩耗しな
いように保護する。
摩耗抑制層、即ち耐摩耗層31を設ける。この層はテー
プ状の記録キャリヤ7と共働する接触面33を構成す
る。耐摩耗性の非磁性電気絶縁層31の厚さを本例では
40nmとする。この層31は特に層構体2が摩耗しな
いように保護する。
【0019】ヘッド面5の上に耐摩耗層31を設ける方
法を図4を参照して説明する。基板1と、層構体2と、
カウンタブロック3とのアセンブリに例えば研削及び/
又は研磨処理によりヘッド面5を形成した後に、このア
センブリをクロムターゲットを具えている既知のスパッ
タリング装置内に入れる。反応性RFスパッタリング、
例えば10mトルのArと1mトルのO2 でのRFダイ
オードスパッタリングにより、Cr2 O3 を主成分とす
る層を変換ギャップS1〜S11の個所及びその両側の
ヘッド面5上に形成する。
法を図4を参照して説明する。基板1と、層構体2と、
カウンタブロック3とのアセンブリに例えば研削及び/
又は研磨処理によりヘッド面5を形成した後に、このア
センブリをクロムターゲットを具えている既知のスパッ
タリング装置内に入れる。反応性RFスパッタリング、
例えば10mトルのArと1mトルのO2 でのRFダイ
オードスパッタリングにより、Cr2 O3 を主成分とす
る層を変換ギャップS1〜S11の個所及びその両側の
ヘッド面5上に形成する。
【0020】図5に示した本発明による磁気ヘッドは、
層構体102及び保護ブロック103が上に設けられる
基板1を具えている。基板101、層構体102及び保
護ブロック103によって構成したヘッド面上にスパッ
タリングによりCrを主成分とする薄層135を形成す
る。この薄層は少なくとも層構体102の個所にて10
nmの最大厚さを有する。薄層135の上にはCr2 O
3 を主成分とし、同じくスパッタリングにより形成され
る層131も設ける。このCr2 O3 層の少なくとも層
構体102に対向する個所の厚さは約50nmとする。
上記2つの薄層は、Crを主成分とする層135が形成
されるまでは酸素を加えないようにするクロムターゲッ
トを含むRFスパッタリングにより同一のスパッタリン
グ装置にて形成することができる。
層構体102及び保護ブロック103が上に設けられる
基板1を具えている。基板101、層構体102及び保
護ブロック103によって構成したヘッド面上にスパッ
タリングによりCrを主成分とする薄層135を形成す
る。この薄層は少なくとも層構体102の個所にて10
nmの最大厚さを有する。薄層135の上にはCr2 O
3 を主成分とし、同じくスパッタリングにより形成され
る層131も設ける。このCr2 O3 層の少なくとも層
構体102に対向する個所の厚さは約50nmとする。
上記2つの薄層は、Crを主成分とする層135が形成
されるまでは酸素を加えないようにするクロムターゲッ
トを含むRFスパッタリングにより同一のスパッタリン
グ装置にて形成することができる。
【0021】本発明は上述した例のみに限定されるもの
でなく、幾多の変更を加え得ること勿論である。例えば
本発明による磁気ヘッドにはMR素子の代わりか、又は
それに加えて1個以上の誘導性変換素子を設けることが
できる。磁気ヘッドは磁束ガイドなしで形成することも
できる。本発明による方法では、Cr2 O3 ターゲット
でスパッタリングして、Cr2 O3 を主成分とする層を
形成するようにすることもできるが、これは左程魅力の
ある方法ではない。
でなく、幾多の変更を加え得ること勿論である。例えば
本発明による磁気ヘッドにはMR素子の代わりか、又は
それに加えて1個以上の誘導性変換素子を設けることが
できる。磁気ヘッドは磁束ガイドなしで形成することも
できる。本発明による方法では、Cr2 O3 ターゲット
でスパッタリングして、Cr2 O3 を主成分とする層を
形成するようにすることもできるが、これは左程魅力の
ある方法ではない。
【図1】本発明による磁気ヘッドの第1実施例のレイア
ウトを示す図である。
ウトを示す図である。
【図2】図1の磁気ヘッドの変換ギャップを通るII−II
線上での断面図である。
線上での断面図である。
【図3】図1の磁気ヘッドの斜視図である。
【図4】耐摩耗層を未だ設けてない製造段階における図
1の磁気ヘッドの斜視図である。
1の磁気ヘッドの斜視図である。
【図5】本発明による磁気ヘッドの第2実施例を示す斜
視図である。
視図である。
1 基板 2 層構体 3 カウンタブロック 5 ヘッド面 7 記録キャリヤ 9 絶縁層 11a,11b 接続トラック 13a,13b 第1接続面 15a,15b 第2接続トラック 17a,17b 第2接続面 19a 前方磁束ガイド 19b 後方磁束ガイド 21,23,25 絶縁層 31 耐摩耗層 33 テープ接触面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アーノルド ブロッセ ファン フロッノ ウ オランダ国 5582 エー アー ウァール レ ジュリアナ デ ランノイラーン 27 (72)発明者 ペテル ラシンスキー オランダ国 5621 ベーアー アインドー フェン フルーネヴァウツウェッハ 1 (72)発明者 レオ−フランシスカス マリア ファン オルスホト オランダ国 5621 ベーアー アインドー フェン フルーネヴァウツウェッハ 1
Claims (11)
- 【請求項1】 ヘッド面と、このヘッド面にて終端する
変換素子及び変換ギャップを有する層構体とを具えてい
る磁気ヘッドにおいて、前記ヘッド面の少なくとも層構
体の個所に接触面を形成するためのCr2 O3 を主成分
とする層を被着し、この層の厚さを10〜100nmの
範囲内の厚さとしたことを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項2】 前記Cr2 O3 を主成分とする層をスパ
ッタリングにより形成したことを特徴とする請求項1に
記載の磁気ヘッド。 - 【請求項3】 前記Cr2 O3 を主成分とする層の厚さ
を60nm以下としたことを特徴とする請求項1又は2
に記載の磁気ヘッド。 - 【請求項4】 前記ヘッド面と前記Cr2 O3 を主成分
とする層との間にCrを主成分とする層を設けたことを
特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の磁気ヘ
ッド。 - 【請求項5】 前記Crを主成分とする層の最大厚さを
20nmとしたことを特徴とする請求項4に記載の磁気
ヘッド。 - 【請求項6】 前記Crを主成分とする層をスパッタリ
ングによりヘッド面上に形成したことを特徴とする請求
項4又は5に記載の磁気ヘッド。 - 【請求項7】 ヘッド面及び変換素子付きの層構体を有
する磁気ヘッドの製造方法において、Cr2 O3 を主成
分とする厚さが10〜100nmの範囲内の層をヘッド
面上の少なくとも層構体の個所にスパッタ蒸着により形
成することを特徴とする磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項8】 前記スパッタリングをクロムターゲット
に酸素を添加しながら行うことを特徴とする請求項7に
記載の磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項9】 前記スパッタリングを少なくとも前記層
構体に対向して形成されるCr2 O3 を主成分とする層
の最大厚さが60nmとなるまで行なうことを特徴とす
る請求項7又は8に記載の磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項10】 ヘッド面上にCrを主成分とする層が
形成されるまではスパッタリング中に酸素を添加しない
ようにすることを特徴とする請求項8に記載の磁気ヘッ
ドの製造方法。 - 【請求項11】 Crを主成分とする層の少なくとも層
構体の個所における最大厚さが20nmとなった後に酸
素を添加することを特徴とする請求項10に記載の磁気
ヘッドの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP92202392 | 1992-08-03 | ||
NL92202392:4 | 1992-08-03 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06162444A true JPH06162444A (ja) | 1994-06-10 |
Family
ID=8210824
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5192204A Pending JPH06162444A (ja) | 1992-08-03 | 1993-08-03 | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5896253A (ja) |
JP (1) | JPH06162444A (ja) |
DE (1) | DE4323115A1 (ja) |
FR (1) | FR2694835B1 (ja) |
GB (1) | GB2269931B (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10503314A (ja) * | 1995-05-08 | 1998-03-24 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | 薄い耐磨耗層を有する磁気ヘッドの製造方法及びこの方法によって得ることのできる磁気ヘッド |
US6099699A (en) * | 1998-04-22 | 2000-08-08 | Matsushita-Kotobuki Electronics Industries, Ltd. | Thin encapsulation process for making thin film read/write heads |
JP2000242912A (ja) * | 1999-02-22 | 2000-09-08 | Mitsumi Electric Co Ltd | 薄膜磁気ヘッド |
NL1015985C2 (nl) * | 2000-08-22 | 2002-03-11 | Onstream B V | Magneetkop. |
US6639753B1 (en) * | 2000-09-01 | 2003-10-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming a head assembly, a head assembly, and a linear tape drive |
US7170721B2 (en) | 2002-06-25 | 2007-01-30 | Quantum Corporation | Method of producing flux guides in magnetic recording heads |
US6995948B2 (en) * | 2002-07-11 | 2006-02-07 | Tdk Corporation | Thin-film magnetic head, method for producing the same and magnetic disk device using the same |
US6879470B2 (en) * | 2002-08-19 | 2005-04-12 | Quantum Corporation | Thin film recording head with a localized coating to protect against corrosion and electrostatic discharge |
US7290325B2 (en) | 2004-08-13 | 2007-11-06 | Quantum Corporation | Methods of manufacturing magnetic heads with reference and monitoring devices |
US7751154B2 (en) * | 2005-05-19 | 2010-07-06 | Quantum Corporation | Magnetic recording heads with bearing surface protections and methods of manufacture |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3665436A (en) * | 1970-06-17 | 1972-05-23 | Potter Instrument Co Inc | Long-wearing magnetic head |
US4052748A (en) * | 1974-04-01 | 1977-10-04 | U.S. Philips Corporation | Magnetoresistive magnetic head |
SU622151A1 (ru) * | 1977-03-18 | 1978-08-02 | Предприятие П/Я А-3103 | Защитный слой рабочей поверхности магнитной головки |
AT365804B (de) * | 1977-12-20 | 1982-02-25 | Bogen Wolfgang | Abriebfester magnetkopf |
JPS5570926A (en) * | 1978-11-22 | 1980-05-28 | Hitachi Ltd | Magnetic head of wear proof |
JPS5573917A (en) * | 1978-11-29 | 1980-06-04 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | Magnetic head core with excellent resistance to wear |
JPS5619517A (en) * | 1979-07-25 | 1981-02-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Magnetic head |
DE3010348A1 (de) * | 1980-03-18 | 1981-09-24 | Grundig E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig & Co KG, 8510 Fürth | Gehaeuse in becherform zur aufnahme eines oder mehrerer magnetkopfsysteme |
JPS56159820A (en) * | 1980-05-13 | 1981-12-09 | Hitachi Metals Ltd | Magnetic head for video tape recorder |
DE3307776A1 (de) * | 1983-03-04 | 1984-09-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Aufzeichnungsanordnung fuer einen magnetschichtspeicher |
JPS6337811A (ja) * | 1986-07-30 | 1988-02-18 | Toshiba Corp | ヨ−クタイプ磁気抵抗効果型薄膜磁気ヘツド |
JPS6358613A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 薄膜磁気ヘツド |
JPH01282711A (ja) * | 1988-05-07 | 1989-11-14 | Tdk Corp | 磁気ヘッド |
JPH0366006A (ja) * | 1989-08-03 | 1991-03-20 | Canon Electron Inc | 磁気ヘッド |
JP2912694B2 (ja) * | 1990-09-07 | 1999-06-28 | 松下電器産業株式会社 | 記録再生装置 |
NL9101270A (nl) * | 1991-07-19 | 1993-02-16 | Philips Nv | Magneetkopeenheid, magneetkop ten gebruike in de magneetkopeenheid en magneetkopstructuur ten gebruike in de magneetkop. |
-
1993
- 1993-07-10 DE DE4323115A patent/DE4323115A1/de not_active Withdrawn
- 1993-07-28 GB GB9315621A patent/GB2269931B/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-02 FR FR9309489A patent/FR2694835B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-03 JP JP5192204A patent/JPH06162444A/ja active Pending
-
1996
- 1996-08-13 US US08/695,950 patent/US5896253A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5896253A (en) | 1999-04-20 |
GB2269931A (en) | 1994-02-23 |
FR2694835A1 (fr) | 1994-02-18 |
DE4323115A1 (de) | 1994-02-10 |
GB2269931B (en) | 1996-05-15 |
GB9315621D0 (en) | 1993-09-08 |
FR2694835B1 (fr) | 1995-05-19 |
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