JPH06151101A - 電子部品および部品外観検査方法 - Google Patents
電子部品および部品外観検査方法Info
- Publication number
- JPH06151101A JPH06151101A JP4304230A JP30423092A JPH06151101A JP H06151101 A JPH06151101 A JP H06151101A JP 4304230 A JP4304230 A JP 4304230A JP 30423092 A JP30423092 A JP 30423092A JP H06151101 A JPH06151101 A JP H06151101A
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- Japan
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- component
- electronic component
- electronic
- same shape
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- Pending
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- Details Of Resistors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】同一形状の電子部品においても、外観検査機で
実装点に正しい部品が正しく実装されているかどうかを
素早く判断する。 【構成】一つ一つの電子部品に、外観検査機で電子部品
の検査仕様を認識可能なカラーコードまたはバーコード
などの検査認識情報を印刷するので、抵抗部品やコンデ
ンサ部品などの同一形状の電子部品においても、外観検
査機で実装点に正い部品が正しく実装されているかどう
かが素早く判断可能となり、従来は、ICT(In Circu
it Tester )で検査せざるを得なかった同一形状の電子
部品の実装判定を外観検査機で実施可能となり、すなわ
ち、接触式のものから非接触式の検査機で実施できるこ
ととなり、正確な外観検査が可能となるとともに、検査
時間の短縮化が図られる。
実装点に正しい部品が正しく実装されているかどうかを
素早く判断する。 【構成】一つ一つの電子部品に、外観検査機で電子部品
の検査仕様を認識可能なカラーコードまたはバーコード
などの検査認識情報を印刷するので、抵抗部品やコンデ
ンサ部品などの同一形状の電子部品においても、外観検
査機で実装点に正い部品が正しく実装されているかどう
かが素早く判断可能となり、従来は、ICT(In Circu
it Tester )で検査せざるを得なかった同一形状の電子
部品の実装判定を外観検査機で実施可能となり、すなわ
ち、接触式のものから非接触式の検査機で実施できるこ
ととなり、正確な外観検査が可能となるとともに、検査
時間の短縮化が図られる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、部品実装装置で部品が
実装されたプリント基板に対して外観検査を行う電子部
品および部品外観検査方法に関する。
実装されたプリント基板に対して外観検査を行う電子部
品および部品外観検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子部品の小型化により、様々な
種類の電子部品が同一形状で生産されるようになってき
ている。たとえば、1005形状(1mm×0.5mm )の電子部
品には、抵抗やコンデンサなどの電子部品が登場してき
ている。
種類の電子部品が同一形状で生産されるようになってき
ている。たとえば、1005形状(1mm×0.5mm )の電子部
品には、抵抗やコンデンサなどの電子部品が登場してき
ている。
【0003】従来、プリント基板に電子部品を実装後、
外観検査機において実装位置の検査を行っている。図3
は従来の同一形状の電子部品を外観検査機において判定
する動作を示すフロー図である。図3に示すように、ま
ず、ステップS1で装着ずれの有無を調査し、その後、
ステップS2でその装着点に装着されるべき電子部品の
形状と一致しているかどうかを調査し、これらステップ
S1,S2で電子部品が装着ずれなく形状が一致してい
れば、ステップS3で合格とし、また、そうでなけれ
ば、ステップS4で不合格としていた。
外観検査機において実装位置の検査を行っている。図3
は従来の同一形状の電子部品を外観検査機において判定
する動作を示すフロー図である。図3に示すように、ま
ず、ステップS1で装着ずれの有無を調査し、その後、
ステップS2でその装着点に装着されるべき電子部品の
形状と一致しているかどうかを調査し、これらステップ
S1,S2で電子部品が装着ずれなく形状が一致してい
れば、ステップS3で合格とし、また、そうでなけれ
ば、ステップS4で不合格としていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、上記従来
の外観検査機においては、装着ずれや同一形状の調査で
あり、部品実装位置に正しい電子部品が実装されていな
くても、合格の判定を下してしまう場合が存在する。た
とえば、ある実装点に1005形状の抵抗部品を実装しなけ
ればならないところに、誤って、同一形状(1005形状)
のコンデンサ部品を実装してしまった場合、外観検査機
は、実装ずれがなく同一形状の場合、合格という判断を
行う。すなわち、同一形状で異種の電子部品において
は、部品のセットミスなどによる装着ミスを発見するこ
とかできず、抵抗部品やコンデンサ部品などの同一形状
で異種の電子部品が基板に装着されていても合格の判定
となり、同一形状部品の合否判定は行えないのが現状で
あった。
の外観検査機においては、装着ずれや同一形状の調査で
あり、部品実装位置に正しい電子部品が実装されていな
くても、合格の判定を下してしまう場合が存在する。た
とえば、ある実装点に1005形状の抵抗部品を実装しなけ
ればならないところに、誤って、同一形状(1005形状)
のコンデンサ部品を実装してしまった場合、外観検査機
は、実装ずれがなく同一形状の場合、合格という判断を
行う。すなわち、同一形状で異種の電子部品において
は、部品のセットミスなどによる装着ミスを発見するこ
とかできず、抵抗部品やコンデンサ部品などの同一形状
で異種の電子部品が基板に装着されていても合格の判定
となり、同一形状部品の合否判定は行えないのが現状で
あった。
【0005】本発明は上記従来の問題を解決するもの
で、同一形状の電子部品においても、外観検査機で実装
点に正しい部品が正しく実装されているかどうかが素早
く判断できる電子部品および部品外観検査方法を提供す
ることを目的とする。
で、同一形状の電子部品においても、外観検査機で実装
点に正しい部品が正しく実装されているかどうかが素早
く判断できる電子部品および部品外観検査方法を提供す
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の電子部品は、部品の検査仕様を認識するため
のカラーコードまたはバーコードなどの検査認識情報を
設けたものである。
に本発明の電子部品は、部品の検査仕様を認識するため
のカラーコードまたはバーコードなどの検査認識情報を
設けたものである。
【0007】また、本発明の部品外観検査方法は、上記
電子部品を外観検査機で外観検査する工程を有し、前記
電子部品の同型異種部品においても外観検査可能とする
ものである。
電子部品を外観検査機で外観検査する工程を有し、前記
電子部品の同型異種部品においても外観検査可能とする
ものである。
【0008】
【作用】上記構成により、一つ一つの電子部品に、外観
検査機で電子部品の検査仕様を認識可能な検査認識情報
を設けるので、同一形状の電子部品においても、外観検
査機で実装点に正い部品が正しく実装されているかどう
かが素早く判断可能となり、従来は、ICT(In Circu
it Tester )で検査せざるを得なかった同一形状の電子
部品の実装判定を外観検査機で実施可能となり、すなわ
ち、接触式のものから非接触式の検査機で実施できるこ
ととなり、正確な外観検査が可能となるとともに、検査
時間の短縮化が図られる。
検査機で電子部品の検査仕様を認識可能な検査認識情報
を設けるので、同一形状の電子部品においても、外観検
査機で実装点に正い部品が正しく実装されているかどう
かが素早く判断可能となり、従来は、ICT(In Circu
it Tester )で検査せざるを得なかった同一形状の電子
部品の実装判定を外観検査機で実施可能となり、すなわ
ち、接触式のものから非接触式の検査機で実施できるこ
ととなり、正確な外観検査が可能となるとともに、検査
時間の短縮化が図られる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は本発明の実施例における電子部
品および電子部品が装着された電子部品集合体を示す外
観図である。図1において、電子部品1には、電子部品
1の検査仕様を認識するためのカラーコードまたはバー
コードなどの検査認識情報2が上面に印刷されている。
この電子部品1を複数個一列にテープ上に装着して電子
部品集合体3が構成される。これにより、抵抗部品やコ
ンデンサ部品などの同一形状の電子部品1においても、
外観検査機において、実装点に正しい部品が正しく実装
されているかどうかを、検査認識情報2を読み取ること
によって正確に素早く判断することができる。
ながら説明する。図1は本発明の実施例における電子部
品および電子部品が装着された電子部品集合体を示す外
観図である。図1において、電子部品1には、電子部品
1の検査仕様を認識するためのカラーコードまたはバー
コードなどの検査認識情報2が上面に印刷されている。
この電子部品1を複数個一列にテープ上に装着して電子
部品集合体3が構成される。これにより、抵抗部品やコ
ンデンサ部品などの同一形状の電子部品1においても、
外観検査機において、実装点に正しい部品が正しく実装
されているかどうかを、検査認識情報2を読み取ること
によって正確に素早く判断することができる。
【0010】図2は本発明の同一形状の電子部品を外観
検査機において判定する動作を示すフロー図である。図
2に示すように、まず、ステップS11で電子部品1に印
刷されたカラーコードまたはバーコードなどの検査認識
情報2を認識する。この認識結果により電子部品1の検
査仕様、たとえば抵抗部品であるのかコンデンサ部品で
あるのかなどを認識する。次に、ステップS12で電子部
品1の装着ずれを調査する。さらに、ステップS11で調
査した電子部品1の検査仕様を基に、ステップS13でそ
の装着点に正しい仕様の電子部品1が装着されているか
どうかを判定する。これらステップS12,S13の両工程
で部品合格したものについて、ステップS14で外観検査
機の判定を合格とし、片方でも不合格の判定が下された
ものに対しては、ステップS15で外観検査機の判定を不
合格とする。以上の5工程によって、本発明の同一形状
の電子部品を外観検査機で判定する。
検査機において判定する動作を示すフロー図である。図
2に示すように、まず、ステップS11で電子部品1に印
刷されたカラーコードまたはバーコードなどの検査認識
情報2を認識する。この認識結果により電子部品1の検
査仕様、たとえば抵抗部品であるのかコンデンサ部品で
あるのかなどを認識する。次に、ステップS12で電子部
品1の装着ずれを調査する。さらに、ステップS11で調
査した電子部品1の検査仕様を基に、ステップS13でそ
の装着点に正しい仕様の電子部品1が装着されているか
どうかを判定する。これらステップS12,S13の両工程
で部品合格したものについて、ステップS14で外観検査
機の判定を合格とし、片方でも不合格の判定が下された
ものに対しては、ステップS15で外観検査機の判定を不
合格とする。以上の5工程によって、本発明の同一形状
の電子部品を外観検査機で判定する。
【0011】なお、本実施例では、ステップS12,S13
の調査内容の順に説明したが、どちらを先に調査して
も、また、両方とも同時に行っても同様の効果が得られ
る。また、本実施例では、電子部品1の仕様を認識する
ための手段として、電子部品1にカラーコードまたはバ
ーコードを用いたが、電子部品の仕様を認識するための
文字および記号など他の検査認識情報であってもよい。
の調査内容の順に説明したが、どちらを先に調査して
も、また、両方とも同時に行っても同様の効果が得られ
る。また、本実施例では、電子部品1の仕様を認識する
ための手段として、電子部品1にカラーコードまたはバ
ーコードを用いたが、電子部品の仕様を認識するための
文字および記号など他の検査認識情報であってもよい。
【0012】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、同一形状
の電子部品においても、外観検査機において、実装点に
正しい部品が正しく実装されているかどうかを素早く判
断することができ、したがって、従来、ICT(In Cir
cuit Tester )で検査せざるを得なかった同一形状の電
子部品の実装判定を外観検査機で実施できて、製品基板
の品質向上および検査時間の短縮化を図ることができ
る。
の電子部品においても、外観検査機において、実装点に
正しい部品が正しく実装されているかどうかを素早く判
断することができ、したがって、従来、ICT(In Cir
cuit Tester )で検査せざるを得なかった同一形状の電
子部品の実装判定を外観検査機で実施できて、製品基板
の品質向上および検査時間の短縮化を図ることができ
る。
【図1】本発明の実施例における電子部品および電子部
品が装着された電子部品集合体を示す外観図
品が装着された電子部品集合体を示す外観図
【図2】本発明の実施例における同一形状の電子部品を
外観検査機において判定する動作を示すフロー図
外観検査機において判定する動作を示すフロー図
【図3】従来の同一形状の電子部品を外観検査機におい
て判定する動作を示すフロー図
て判定する動作を示すフロー図
1 電子部品 2 検査認識情報 3 電子部品集合体
Claims (2)
- 【請求項1】部品の検査仕様を認識するためのカラーコ
ードまたはバーコードなどの検査認識情報を設けた電子
部品。 - 【請求項2】請求項1に記載の電子部品を外観検査機で
外観検査する工程を有し、前記電子部品の同型異種部品
においても外観検査可能とする部品外観検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4304230A JPH06151101A (ja) | 1992-11-16 | 1992-11-16 | 電子部品および部品外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4304230A JPH06151101A (ja) | 1992-11-16 | 1992-11-16 | 電子部品および部品外観検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06151101A true JPH06151101A (ja) | 1994-05-31 |
Family
ID=17930574
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4304230A Pending JPH06151101A (ja) | 1992-11-16 | 1992-11-16 | 電子部品および部品外観検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06151101A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989004004A1 (en) * | 1987-10-24 | 1989-05-05 | Ito Optical Industrial Co., Ltd. | Processing solution for preventing reflection of optical parts and process for preventing reflection using the solution |
US6777069B2 (en) | 2000-06-20 | 2004-08-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Transparent film-coated substrate, coating liquid for transparent film formation, and display device |
JP2019060804A (ja) * | 2017-09-28 | 2019-04-18 | アンリツインフィビス株式会社 | 物品検査装置 |
-
1992
- 1992-11-16 JP JP4304230A patent/JPH06151101A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989004004A1 (en) * | 1987-10-24 | 1989-05-05 | Ito Optical Industrial Co., Ltd. | Processing solution for preventing reflection of optical parts and process for preventing reflection using the solution |
US6777069B2 (en) | 2000-06-20 | 2004-08-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Transparent film-coated substrate, coating liquid for transparent film formation, and display device |
US8029898B2 (en) | 2000-06-20 | 2011-10-04 | Jgc Catalysts And Chemicals Ltd. | Inorganic compound particle |
JP2019060804A (ja) * | 2017-09-28 | 2019-04-18 | アンリツインフィビス株式会社 | 物品検査装置 |
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