JPH06151025A - Icソケット - Google Patents

Icソケット

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JPH06151025A
JPH06151025A JP29348792A JP29348792A JPH06151025A JP H06151025 A JPH06151025 A JP H06151025A JP 29348792 A JP29348792 A JP 29348792A JP 29348792 A JP29348792 A JP 29348792A JP H06151025 A JPH06151025 A JP H06151025A
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JP
Japan
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socket
guide
positioning
lid
displaced
Prior art date
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Pending
Application number
JP29348792A
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English (en)
Inventor
Yukihiro Yasuda
幸博 安田
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Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
Original Assignee
Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Miyagi Electronics Ltd filed Critical Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
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Publication of JPH06151025A publication Critical patent/JPH06151025A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は半導体装置(IC)の最終試験等にお
いて用いられるICソケットに関し、バリの発生に拘わ
らずICを所定装着位置に装着することを目的とする。 【構成】IC1に設けられているリード4に接触する接
触子6が配設されており、IC1が装着されるソケット
基板5と、このソケット基板5に回動自在に設けられて
おり、装着時に閉蓋されることによりIC1をソケット
基板5内に固定するソケット蓋14と、ソケット基板5
内に変位可能な構成で設けられた位置決め第1乃至第4
ガイド9〜12が、IC1の装着時にIC1をソケット
基板5内の所定装着位置に向け付勢する方向に変位し、
IC1の取り出し時に上記所定装着位置から離間する方
向に変位するよう構成されたIC位置決め機構31とに
より構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はICソケットに係り、特
に半導体装置(IC)の最終試験等において用いられる
ICソケットに関する。
【0002】一般にICの製造における最終工程では、
製品として形の出来上がったICの性能試験を行うが、
この性能試験においてはICと測定器(テスター)との
電気的接触を得るための手段として、ICソケットが用
いられている。
【0003】特に、近年増加しているSMD型(表面実
装型)ICにおいては、パッケージが薄く、リードも細
く狭いピッチで配設されているため、取り扱いには高度
な技術を要する。従って、SMD型ICをセットするI
Cソケットも、複雑な形状や機構を具備することを余技
なくされている。
【0004】近年のICは隣接するリード間のピッチが
狭いため、ICソケットにICを精度良く装着しないと
リードと接触子との位置が合わず接触不良の原因となっ
てしまう。
【0005】よって、ICソケットにICを装着する
際、いかにICの位置決めを確実に行うかが最初に問題
とされる部分であり、この問題が解決されない限り、接
触子の性能等、他の問題へ移ることができない。特に、
ファインピッチと呼ばれるリードピッチが非常に狭い
(0.4 〜0.3mm)ICの場合には、この問題は重要とな
る。
【0006】SMD型ICは実装密度向上のため、前記
のようにリードのピッチは近年益々狭くなってきてお
り、このようなICの信頼性を確保するためには、最終
試験工程に於いて確実な測定,分類を行うことが不可欠
である。従って、ICソケットは、これらの基幹となる
要素を有しており、その性能向上は極めて重要な課題で
ある。
【0007】
【従来の技術】図4はSMD型のIC1を示しており、
図5は従来SMD型IC用のICソケット2を示してお
り、更に図6はICソケット2の動作原理を示してい
る。
【0008】IC1は、周知のように半導体チップを封
止した樹脂パッケージ3の外周側部より複数のリード4
が延出した構造を有している。また、このIC1はSM
D型(表面実装型)のICであるため、複数のリード4
はガルウイング状に成形されている。
【0009】ICソケット2はIC1を検査するテスタ
ーに接続されており、その内部所定位置にIC1を装着
し、テスターによりIC1の性能試験を行うものであ
る。以下、ICソケット2の構造について図5を用いて
説明する。
【0010】ICソケット2は、大略するとソケット基
板5とソケット蓋14とにより構成されている。ソケッ
ト基板5には接触子6が配設されており、IC1がIC
ソケット2に装着された状態でIC1の各リード4は接
触子6に接触し電気的導通が図られるよう構成されてい
る。
【0011】また、ICソケット2には、IC1の各リ
ード4を精度よくこの接触子6に導くためのIC位置決
め機構が設けられている。IC位置決め機構は、位置決
め台7,位置決めガイド19により構成されており、こ
のIC位置決め機構によりICソケット2内におけるI
C1の位置決めが行われる。位置決め台7はソケット基
板5に上下方向に変位できる構成で取り付けられてお
り、また位置決めガイド19はソケット基板5に一体的
な構成で形成されており、ソケット基板5に固定されて
いる。
【0012】ソケット蓋14はソケット基板5に回動可
能な構成で取り付けられており、この取付部にはネジリ
コイルバネ15が配設されている。このネジリコイルバ
ネ15はソケット蓋14を常に開蓋方向に付勢するよう
構成されている。また、ソケット蓋14にはラッチ17
が配設されており、このラッチ17はソケット蓋14が
閉蓋状態においてソケット基板5に形成されているロッ
ク爪13と係合し、ソケット蓋14が閉蓋状態を維持
(ロック)できるよう構成されている。更に、ソケット
蓋14にはリード押さえ16が形成されている。このリ
ード押さえ16は、ソケット蓋14が閉蓋された状態で
IC1のリード4を接触子6に押圧するものである。
【0013】ここで、IC位置決め機構の構成及び動作
について図3を用いて説明する。同図(A)に示すよう
に、IC1をソケット蓋14が開蓋された状態のICソ
ケット2に装着すると、IC1は先ず位置決めガイド1
9のテーパ部19aに案内されて位置決めがされて位置
決め台7に載置される。位置決め台7は圧縮コイルバネ
8による上下機構となっており、IC1が位置決め台7
に載置された状態ではIC1のリード4と接触子6は接
触しない構成とされている。
【0014】この状態より同図(B)から同図(C)に
示すようにソケット蓋14は閉蓋される。ソケット蓋1
4が閉蓋されることにより、リード押さえ16はIC1
を下方に押圧付勢してリード4を接触子6に圧着させ、
よってリード4と接触子6は接触し電気的な導通が図ら
れる。このIC1が下動する間も、IC1の位置決めは
全て位置決めガイド19が基準となって行われ、従って
位置決めガイド19は、その機能からも、IC1の外形
寸法に対して高い寸法精度が要求されていた。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図4(A)
に示すように、一般にSMD型IC1は樹脂パッケージ
が主流を占めているが、それ故にパッケージ3のモール
ド工程時においてパッケージ3の四隅位置には幾らかの
バリ3aが発生してしまう。このバリ3aの量は、製造
条件や設備の状態等により変動するばかりか、現在の技
術ではこれを完全に取り除くのは非常に難しい問題とな
っている。
【0016】従って、実際にICソケット2を設計する
場合には、モールド工程時にパッケージ3から発生する
バリ3aも考慮に含めて設計を行う必要があり、特に位
置決めガイド19の形状や配設位置等の設定が困難であ
るという問題点があった。
【0017】また、所定の条件に基づき位置決めガイド
19の形状や配設位置等を設定したとしても、上記のよ
うにバリ3aの発生は製造条件や設備の状態等により変
動するため、バリ3aと位置決めガイド19の状態は一
定とはならない。よって、バリ3aが少ない場合には位
置決めガイド19とIC1との間のクリアランスが大き
くなってしまいIC1をICソケット2内の所定装着位
置に装着することができなくなり、リード4と接触子6
との接触不良を発生するおそれがある。
【0018】一方、バリ3aの発生量が多い場合には、
位置決めガイド19とIC1との間隙部分にバリ3aが
多く存在するため、この状態でソケット蓋14を閉蓋し
IC1を下動させると、バリ3aが位置決めガイド19
とIC1との間で強く挟まれてしまい、ICソケット1
よりIC1が外せなくなるおそれがあるという問題点も
あった。
【0019】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、バリの発生に拘わらずICを所定装着位置に装着
しうるICソケットを提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記課題は、ICに設け
られているリードに接触する接触子が配設されており、
上記ICが装着されるソケット本体部と、このソケット
本体部に回動自在に設けられており、装着時に閉蓋され
ることによりICをソケット本体内に固定する蓋体部
と、ソケット本体部内に変位可能な構成で設けられた位
置決めガイドが、ICの装着時にこのICをソケット本
体部内の所定装着位置に向け付勢する方向に変位し、I
Cの取り出し時に上記所定装着位置から離間する方向に
変位するよう構成されたIC位置決め機構と、を設けて
なることを特徴とするICソケットにより解決すること
ができる。
【0021】また、上記IC位置決め機構を、上記蓋体
部の閉蓋動作を駆動源として上記位置決めガイドを上記
所定装着位置に向けて変位させると共に、上記蓋体部の
開蓋動作を駆動源として上記位置決めガイドを上記所定
装着位置から離間する方向に変位させる構成とすること
により、より効果的に解決することができる。
【0022】
【作用】ICソケットを上記構成とすることにより、蓋
体部の閉蓋時には位置決めガイドはその変位に伴いIC
をソケット本体部内の所定装着位置に位置決めするた
め、ICを所定装着位置に高精度に位置決めすることが
できる。また、蓋体部の開蓋時にはガイドはICから離
間する方向に変位するため、バリの噛み込みを防止する
ことができる。
【0023】
【実施例】次に本発明の実施例について図面と共に説明
する。図1は本発明の一実施例であるICソケット30
の斜視図であり、図2は後述するIC位置決め機構31
の斜視図であり、図3はICソケット30の動作説明図
である。尚、各図において、前記した図4乃至図6を用
いて説明したICパッケージ2と同一構成部分について
は同一符号を付してその説明を省略する。
【0024】本発明に係るICソケット30は、IC位
置決め機構31に特徴を有するものである。IC位置決
め機構31は、ソケット基板5に配設された第1乃至第
4の可動ガイド9〜12と、ソケット蓋14に配設され
た一対のガイドピン18とにより構成されている。
【0025】図2に示すように、可動ガイド9〜12
は、それぞれ放射状に拡縮動作する4個の部品に分かれ
ており、第1可動ガイド9と第2可動ガイド10,第3
可動ガイド11と第4可動ガイド12が対角をなし、両
者の動作が相互に干渉しないよう構成されている。尚、
第1可動ガイド9と第3可動ガイド11、また第2可動
ガイド10と第4可動ガイド12は同一構成であるた
め、以下の説明においては第1可動ガイド9と第2可動
ガイド10の対についてのみ行い、第3可動ガイド11
と第4可動ガイド12の対についての説明は省略するも
のとする。
【0026】第2可動ガイド10は、装着されるIC1
と直接当接し装着を案内するガイド部10aと、ガイド
部10aの下部より第1可動ガイド9の配設位置に向け
延出した延出部10bと、延出部10bの端部(ガイド
部10aの配設位置と異なる側の端部)に立設形成され
た立設部10cとにより構成されている。このガイド部
10a,延出部10b,及び立設部10cは一体的に樹
脂成形されている。
【0027】第1可動ガイド9は、この第2可動ガイド
10の上部に図中矢印A1,A2方向に摺動可能な構成
で配設されており、またIC1と当接しその装着を案内
するガイド部9aが形成されている。また、第1可動ガ
イド9の配設位置は、第2可動ガイド10の上部におい
て、立設部10cに近い位置とされている。この第1可
動ガイド9と立設部10cとの間にはネジリコイルバネ
13が配設されており、このネジリコイルバネ13の弾
性力により第1可動ガイド9は立設部10cに向け(A
2方向に向け)、常時付勢された構成となっている。但
し、第1可動ガイド9の立設部10cと対向する部位に
は当接部9bが形成されており、当接部9bが立設部1
0cと当接することにより、第1可動ガイド9と立設部
10cとの間には所定の離間部分が形成されるよう構成
されている。
【0028】ガイドピン18は、ソケット蓋14のソケ
ット基板5と対向する面に突出形成されており、その形
成位置はソケット蓋14が閉蓋された際、前記した第1
可動ガイド9と立設部10cとの離間部分に位置するよ
う選定されている。
【0029】続いて、上記構成を有するIC位置決め機
構31の動作について図3を用いて説明する。
【0030】先ず、IC1がICソケット30に装着さ
れる時の動作について説明する。同図(A)はソケット
蓋14が開蓋された状態(即ち、IC1の装着動作の始
まる前の状態)を示している。この状態においては、ネ
ジリコイルバネ13の弾性力により相対的に第2可動ガ
イド10は矢印A1方向に、第1可動ガイド9は矢印A
2方向に変位している。即ち、各ガイド9,10のガイ
ド部9a,10aは離間した状態となっている。
【0031】一方、IC1がICソケット30に装着さ
れる時、ソケット蓋14は閉蓋される。前記したよう
に、ソケット蓋14にはガイドピン18が形成されてお
り、その形成位置は第1可動ガイド9と立設部10cと
の離間部分に位置するよう選定されているため、ソケッ
ト蓋14の閉蓋に伴いガイドピン18は同図(B)に示
されるように上記離間部分に進入する。
【0032】ガイドピン18の径寸法は、上記離間部分
の寸法より大となるよう構成されているため、ガイドピ
ン18の進入に伴い第1可動ガイド9は図中矢印A1方
向に変位し、よって各ガイド9,10のガイド部9a,
10aは相対的に近接するよう変位する。よって、IC
1は各ガイド部9a,10aにより挟持される構成とな
り、IC1は所定装着位置に向け付勢される。これによ
り、同図(C)に示すようにソケット蓋14が完全に閉
蓋された状態で、IC1はガイド部9a,10aにより
所定装着位置に固定される。従って、IC1を所定装着
位置に高精度に位置決めすることができる。
【0033】またこの時、IC1のパッケージ3に発生
しているバリ3a(図4(B)参照)の大概はガイド部
9a,10aの挟持力により潰されるため、実質的にも
本来のパッケージ外寸を位置決めする形となり、位置決
め精度の向上を図る上で、より理想的である。
【0034】続いて、IC1をICソケット30から取
り出す時の動作について説明する。この時の動作は前記
した装着時のちょうど逆動作となる。IC1をICソケ
ット30から取り出すには、ラッチ17を操作しソケッ
ト蓋14を開蓋するが、このソケット蓋14の開蓋動作
に伴いガイドピン18は第1可動ガイド9と立設部10
cとの離間部分より離脱していく。これにより、第1可
動ガイド9は図中矢印A2方向に変位し、各ガイド9,
10のガイド部9a,10aは相対的に離間するよう変
位する。
【0035】このように、IC1の取り出し時において
は各ガイド部9a,10aはIC1から離間する方向に
変位するため、IC1と各ガイド部9a,10aとの間
には隙間ができ、パッケージ3に形成されたバリ3aが
引っ掛かるようなことはなく、IC1を円滑にICソケ
ット30から取り出すことができる。
【0036】尚、上記のように各ガイド9,10は相対
的に移動するが、その移動量は実質的にはIC1のバリ
3aの突出量を見越したほんの微量で十分である。従っ
て、IC位置決め機構31の構成も比較的簡単なもので
済み、耐久性やコストの面で従来構成のICソケット2
と比較して遜色はないことを付記しておく。
【0037】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、蓋体部の閉
蓋時(IC装着時)には位置決めガイドはその変位に伴
いICをソケット本体部内の所定装着位置に位置決めす
るためICを所定装着位置に高精度に位置決めすること
ができ、また蓋体部の開蓋時(IC取り出し時)にはガ
イドはICから離間する方向に変位するため、バリの噛
み込みを防止することができる等の特長を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるICソケットの斜視図
である。
【図2】IC位置決め機構の一例を示す斜視図である。
【図3】ICソケットの動作説明図である。
【図4】SMD型のICの一例を示す斜視図である。
【図5】従来のICソケットの一例を示す斜視図であ
る。
【図6】従来のICソケットの動作説明図である。
【符号の説明】
3 パッケージ 3a バリ 4 リード 5 ソケット基板 6 接触子 7 位置決め台 9 第1可動ガイド 9a ガイド部 9b 当接部 10 第2可動ガイド 10a,12a ガイド部 10b,12b 延出部 10c,12c 立設部 11 第3可動ガイド 12 第4可動ガイド 13,15 ネジリコイルバネ 14 ソケット蓋 16 リード押さえ 17 ラッチ 18 ガイドピン 19 位置決めガイド 30 ICソケット 31 IC位置決め機構

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 IC(1)に設けられているリード
    (4)に接触する接触子(6)が配設されており、該I
    C(1)が装着されるソケット本体部(5)と、 該ソケット本体部(5)に回動自在に設けられており、
    装着時に閉蓋されることにより該IC(1)を該ソケッ
    ト本体部(5)内に固定する蓋体部(14)と、 ソケット本体部(5)内に変位可能な構成で設けられた
    位置決めガイド(9〜12)が、該IC(1)の装着時
    に該IC(1)を該ソケット本体部(5)内の所定装着
    位置に向け付勢する方向に変位し、該IC(1)の取り
    出し時に上記所定装着位置から離間する方向に変位する
    よう構成されたIC位置決め機構(31)と、を設けて
    なることを特徴とするICソケット。
  2. 【請求項2】 該IC位置決め機構(31)を、該蓋体
    部(14)の閉蓋動作を駆動源として該位置決めガイド
    (9〜12)を上記所定装着位置に向けて変位させると
    共に、該蓋体部(14)の開蓋動作を駆動源として該位
    置決めガイド(9〜12)を上記所定装着位置から離間
    する方向に変位させる構成としたことを特徴とする請求
    項1のICソケット。
JP29348792A 1992-10-30 1992-10-30 Icソケット Pending JPH06151025A (ja)

Priority Applications (1)

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JP29348792A JPH06151025A (ja) 1992-10-30 1992-10-30 Icソケット

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JP29348792A JPH06151025A (ja) 1992-10-30 1992-10-30 Icソケット

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JPH06151025A true JPH06151025A (ja) 1994-05-31

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ID=17795379

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JP29348792A Pending JPH06151025A (ja) 1992-10-30 1992-10-30 Icソケット

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JP (1) JPH06151025A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100293590B1 (ko) * 1998-03-17 2001-07-12 장 흥 순 반도체소자검사장치용캐리어모듈
JP2004071255A (ja) * 2002-08-02 2004-03-04 Yamaichi Electronics Co Ltd Icソケット
KR100488890B1 (ko) * 2000-06-19 2005-05-11 가부시키가이샤 엔프라스 전기부품용 소켓
US7291022B2 (en) 2004-06-23 2007-11-06 Tyco Elctronics Amp Kk IC socket

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