JPH06148158A - バックフラッシュ時間の設定方法 - Google Patents
バックフラッシュ時間の設定方法Info
- Publication number
- JPH06148158A JPH06148158A JP32471792A JP32471792A JPH06148158A JP H06148158 A JPH06148158 A JP H06148158A JP 32471792 A JP32471792 A JP 32471792A JP 32471792 A JP32471792 A JP 32471792A JP H06148158 A JPH06148158 A JP H06148158A
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- JP
- Japan
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- gas
- backflush
- time
- component
- column
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 バックフラッシュカラムの劣化や外乱等が生
じても、最終成分の一部が廃棄されてしまったり、共存
成分の一部が廃棄されなかったりしてしまうことが、可
能な限り生じない、最適なバックフラッシュ時間を設定
する。 【構成】 測定ガスの最終成分ＣＨ4 とこれに続く共存
成分Ｃ2Ｈ6とを少なくとも混合したガスを標準ガスとし
て準備する。分析周期を長くしたうえ、バックフラッシ
ュ時間を長くして、標準ガスの全ガス成分について濃度
を検出する。この検出動作をバックフラッシュ時間を徐
々に短くしながら繰り返す。この際、共存成分Ｃ2Ｈ6の
濃度値が零となるときのバックフラッシュ時間を測定
し、また測定ガスの最終成分ＣＨ4 の濃度値が減少し始
めるときのバックフラッシュ時間を測定し、その中央を
最適バックフラッシュ時間とする。
じても、最終成分の一部が廃棄されてしまったり、共存
成分の一部が廃棄されなかったりしてしまうことが、可
能な限り生じない、最適なバックフラッシュ時間を設定
する。 【構成】 測定ガスの最終成分ＣＨ4 とこれに続く共存
成分Ｃ2Ｈ6とを少なくとも混合したガスを標準ガスとし
て準備する。分析周期を長くしたうえ、バックフラッシ
ュ時間を長くして、標準ガスの全ガス成分について濃度
を検出する。この検出動作をバックフラッシュ時間を徐
々に短くしながら繰り返す。この際、共存成分Ｃ2Ｈ6の
濃度値が零となるときのバックフラッシュ時間を測定
し、また測定ガスの最終成分ＣＨ4 の濃度値が減少し始
めるときのバックフラッシュ時間を測定し、その中央を
最適バックフラッシュ時間とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、カラム内に充填され
た充填剤とガスとの吸着性の差を利用してガス分析を行
うガスクロマトグラフに関し、特に、キャリアガスとサ
ンプルガスとの混合ガスをバックフラッシュカラムに続
きメインカラムに導く一方、適当に定められたバックフ
ラッシュ時間で共存成分をメインカラムへ導かれる前に
廃棄するバックフラッシュタイプのガスクロマトグラフ
におけるバックフラッシュ時間の設定方法に関するもの
である。
た充填剤とガスとの吸着性の差を利用してガス分析を行
うガスクロマトグラフに関し、特に、キャリアガスとサ
ンプルガスとの混合ガスをバックフラッシュカラムに続
きメインカラムに導く一方、適当に定められたバックフ
ラッシュ時間で共存成分をメインカラムへ導かれる前に
廃棄するバックフラッシュタイプのガスクロマトグラフ
におけるバックフラッシュ時間の設定方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセスなどに
おいてプロセスガスの成分分析を行い、その分析結果に
基づいて各プロセス工程を監視したり、各種制御を行っ
たりするための検出装置として、ガスクロマトグラフが
従来から一般に用いられている。
おいてプロセスガスの成分分析を行い、その分析結果に
基づいて各プロセス工程を監視したり、各種制御を行っ
たりするための検出装置として、ガスクロマトグラフが
従来から一般に用いられている。
【０００３】図３は従来より採用されているバックフラ
ッシュタイプのガスクロマトグラフの基本構成を示す図
で、恒温槽を形成し所定温度に保持されるアナライザ本
体１、このアナライザ本体１内に配置されるサンプルバ
ルブ２，第１カラム（以下、バックフラッシュカラムと
呼ぶ）３−１，第２カラム（以下、メインカラムと呼
ぶ）３−２，検出器４，計量管５，抵抗カラム６、キャ
リアガス（ヘリウムガス，窒素ガスなど）ＣＧを所定圧
に減圧する減圧弁７等を備えている。
ッシュタイプのガスクロマトグラフの基本構成を示す図
で、恒温槽を形成し所定温度に保持されるアナライザ本
体１、このアナライザ本体１内に配置されるサンプルバ
ルブ２，第１カラム（以下、バックフラッシュカラムと
呼ぶ）３−１，第２カラム（以下、メインカラムと呼
ぶ）３−２，検出器４，計量管５，抵抗カラム６、キャ
リアガス（ヘリウムガス，窒素ガスなど）ＣＧを所定圧
に減圧する減圧弁７等を備えている。
【０００４】このガスクロマトグラフでは、測定時にサ
ンプルバルブ２の流路を図示破線の状態から実線の状態
に切り替えることにより、計量管５によって分取した測
定すべきサンプルガスＳＧをキャリアガスＣＧと混合し
てカラム３−１，３−２に送り込み、このカラム３−
１，３−２内で各ガス成分を分離しながら検出器４へ給
送し、この検出器４により各ガス成分の熱伝導度を測定
し、この測定した熱伝導度に基づき各ガス成分の濃度を
検出する。
ンプルバルブ２の流路を図示破線の状態から実線の状態
に切り替えることにより、計量管５によって分取した測
定すべきサンプルガスＳＧをキャリアガスＣＧと混合し
てカラム３−１，３−２に送り込み、このカラム３−
１，３−２内で各ガス成分を分離しながら検出器４へ給
送し、この検出器４により各ガス成分の熱伝導度を測定
し、この測定した熱伝導度に基づき各ガス成分の濃度を
検出する。
【０００５】すなわち、サンプルバルブ２の流路を破線
の状態から実線の状態に切り替えると、図５にその接続
状況を示すように、キャリアガスＣＧが計量管５へ送ら
れ、計量管５中のサンプルガスＳＧと混合され、この混
合ガスがカラム３−１，３−２へ導かれて、固定相に対
する各成分の吸着性（親和性）や分配係数の差異に基づ
く移動速度の差を利用して各ガス成分に分離され、この
分離された各ガス成分が検出器４へ給送される。
の状態から実線の状態に切り替えると、図５にその接続
状況を示すように、キャリアガスＣＧが計量管５へ送ら
れ、計量管５中のサンプルガスＳＧと混合され、この混
合ガスがカラム３−１，３−２へ導かれて、固定相に対
する各成分の吸着性（親和性）や分配係数の差異に基づ
く移動速度の差を利用して各ガス成分に分離され、この
分離された各ガス成分が検出器４へ給送される。
【０００６】ここで、サンプルガスＳＧには分析を必要
としない共存成分（重質量成分）が含まれており、この
共存成分が通過するとメインカラム３−２が劣化する虞
れがある。このため、共存成分は、メインカラム３−２
へ導かれる前に廃棄する。すなわち、測定ガス最終成分
がバックフラッシュカラム３−１を通過した直後の所定
のタイミングをバックフラッシュ時間として適当に定
め、このバックフラッシュ時間でサンプルバルブ２の流
路を図４に示す破線の状態から実線の状態に切り替え
る。これにより、その接続状況を図６に示すように、キ
ャリアガスＣＧによって、不要な共存成分がバックフラ
ッシュカラム３−１内を戻されて廃棄される。このと
き、メインカラム３−２には、バックフラッシュカラム
３−１と同一抵抗値の抵抗カラム７を経て、キャリアガ
スＣＧが継続して与えられる。これによって、必要とさ
れるガス成分のみがメインカラム３−２を経て、検出器
４へ給送されるものとなる。また、このとき、計量管５
にはサンプルガスＳＧが送り込まれ、次の測定に備え
る。
としない共存成分（重質量成分）が含まれており、この
共存成分が通過するとメインカラム３−２が劣化する虞
れがある。このため、共存成分は、メインカラム３−２
へ導かれる前に廃棄する。すなわち、測定ガス最終成分
がバックフラッシュカラム３−１を通過した直後の所定
のタイミングをバックフラッシュ時間として適当に定
め、このバックフラッシュ時間でサンプルバルブ２の流
路を図４に示す破線の状態から実線の状態に切り替え
る。これにより、その接続状況を図６に示すように、キ
ャリアガスＣＧによって、不要な共存成分がバックフラ
ッシュカラム３−１内を戻されて廃棄される。このと
き、メインカラム３−２には、バックフラッシュカラム
３−１と同一抵抗値の抵抗カラム７を経て、キャリアガ
スＣＧが継続して与えられる。これによって、必要とさ
れるガス成分のみがメインカラム３−２を経て、検出器
４へ給送されるものとなる。また、このとき、計量管５
にはサンプルガスＳＧが送り込まれ、次の測定に備え
る。
【０００７】このようなガスクロマトグラフにおいて、
バックフラッシュ時間の設定は、測定ガスの最終成分を
含んだ標準ガスを使用して次のようにして行っている。
すなわち、最初はバックフラッシュ時間を長くして、標
準ガスを流し、この標準ガスに含まれる測定ガスの最終
成分の濃度を検出する。この検出動作は、バックフラッ
シュ時間を短くしながら繰り返し、測定ガスの最終成分
の濃度のピーク値が減少し始める時間を見つける。すな
わち、測定ガスの最終成分が廃棄され始める時間を見つ
ける。そして、この廃棄され始める時間に幾分かの余裕
を設け、バックフラッシュ時間として設定する。
バックフラッシュ時間の設定は、測定ガスの最終成分を
含んだ標準ガスを使用して次のようにして行っている。
すなわち、最初はバックフラッシュ時間を長くして、標
準ガスを流し、この標準ガスに含まれる測定ガスの最終
成分の濃度を検出する。この検出動作は、バックフラッ
シュ時間を短くしながら繰り返し、測定ガスの最終成分
の濃度のピーク値が減少し始める時間を見つける。すな
わち、測定ガスの最終成分が廃棄され始める時間を見つ
ける。そして、この廃棄され始める時間に幾分かの余裕
を設け、バックフラッシュ時間として設定する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のバックフラッシュ時間の設定方法によると、
バックフラッシュ時間が測定ガスの最終成分側に近く設
定されたり、これとは逆に共存成分側に近く設定された
りすることがあり、バックフラッシュカラム３−１の劣
化や外乱等で測定ガスの最終成分や共存成分のバックフ
ラッシュカラム３−１での通過タイミングが変化した場
合、最終成分の一部が廃棄されてしまったり、共存成分
の一部が廃棄されなかったりすることがあった。
うな従来のバックフラッシュ時間の設定方法によると、
バックフラッシュ時間が測定ガスの最終成分側に近く設
定されたり、これとは逆に共存成分側に近く設定された
りすることがあり、バックフラッシュカラム３−１の劣
化や外乱等で測定ガスの最終成分や共存成分のバックフ
ラッシュカラム３−１での通過タイミングが変化した場
合、最終成分の一部が廃棄されてしまったり、共存成分
の一部が廃棄されなかったりすることがあった。
【０００９】本発明はこのような課題を解決するために
なされたもので、その目的とするところは、バックフラ
ッシュカラムの劣化や外乱等が生じても、最終成分の一
部が廃棄されてしまったり、共存成分の一部が廃棄され
なかったりしてしまうことが、可能な限り生じない、最
適なバックフラッシュ時間を設定することにある。
なされたもので、その目的とするところは、バックフラ
ッシュカラムの劣化や外乱等が生じても、最終成分の一
部が廃棄されてしまったり、共存成分の一部が廃棄され
なかったりしてしまうことが、可能な限り生じない、最
適なバックフラッシュ時間を設定することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、標準ガスとして少なくともメインカ
ラムへ導かれる測定ガスの最終成分とこれに続く共存成
分とを混合したガスを準備し、分析時間を長くしたう
え、バックフラッシュ時間を長くして、標準ガスをバッ
クフラッシュカラムに続きメインカラムに導いて各ガス
成分に分離し、これら各ガス成分の濃度を検出器によっ
て検出するものとし、この検出動作をバックフラッシュ
時間を徐々に短くしながら繰り返し、共存成分の濃度値
のピークが零となるときのバックフラッシュ時間を第１
のバックフラッシュ時間として測定し、測定ガスの最終
成分の濃度値が減少し始めるときのバックフラッシュ時
間を第２のバックフラッシュ時間として測定し、この第
１のバックフラッシュ時間と第２のバックフラッシュ時
間とのほゞ中央を最適バックフラッシュ時間として設定
するようにしたものである。
るために本発明は、標準ガスとして少なくともメインカ
ラムへ導かれる測定ガスの最終成分とこれに続く共存成
分とを混合したガスを準備し、分析時間を長くしたう
え、バックフラッシュ時間を長くして、標準ガスをバッ
クフラッシュカラムに続きメインカラムに導いて各ガス
成分に分離し、これら各ガス成分の濃度を検出器によっ
て検出するものとし、この検出動作をバックフラッシュ
時間を徐々に短くしながら繰り返し、共存成分の濃度値
のピークが零となるときのバックフラッシュ時間を第１
のバックフラッシュ時間として測定し、測定ガスの最終
成分の濃度値が減少し始めるときのバックフラッシュ時
間を第２のバックフラッシュ時間として測定し、この第
１のバックフラッシュ時間と第２のバックフラッシュ時
間とのほゞ中央を最適バックフラッシュ時間として設定
するようにしたものである。
【００１１】
【作用】したがってこの発明によれば、バックフラッシ
ュカラムを測定ガスの最終成分が抜けてからこれに続く
共存成分が抜けるまでの時間のほゞ中央を最適値とし
て、バックフラッシュ時間が設定される。
ュカラムを測定ガスの最終成分が抜けてからこれに続く
共存成分が抜けるまでの時間のほゞ中央を最適値とし
て、バックフラッシュ時間が設定される。
【００１２】
【実施例】以下、本発明に係るバックフラッシュ時間の
設定方法を詳細に説明する。
設定方法を詳細に説明する。
【００１３】本実施例は図３に示したバックフラッシュ
タイプのガスクロマトグラフに適用される。
タイプのガスクロマトグラフに適用される。
【００１４】先ず、標準ガスとして、メインカラム３−
２へ導かれる測定ガスの最終成分（例えば、ＣＨ4 ）と
これに続く共存成分（例えば、Ｃ2Ｈ6）とを少なくとも
混合したガスを準備する。
２へ導かれる測定ガスの最終成分（例えば、ＣＨ4 ）と
これに続く共存成分（例えば、Ｃ2Ｈ6）とを少なくとも
混合したガスを準備する。
【００１５】そして、ガスクロマトグラフにおける分析
周期を長くしたうえ、バックフラッシュ時間を長くし
て、標準ガスをサンプルガスＳＧとして計量管５へ与
え、この標準ガスＳＧをキャリアガスＣＧと混合し、こ
の混合ガスをバックフラッシュカラム３−１に続きメイ
ンカラム３−２に導いて各ガス成分に分離し、これら各
ガス成分の濃度を検出器４によって検出する。
周期を長くしたうえ、バックフラッシュ時間を長くし
て、標準ガスをサンプルガスＳＧとして計量管５へ与
え、この標準ガスＳＧをキャリアガスＣＧと混合し、こ
の混合ガスをバックフラッシュカラム３−１に続きメイ
ンカラム３−２に導いて各ガス成分に分離し、これら各
ガス成分の濃度を検出器４によって検出する。
【００１６】すなわち、通常の測定時での分析周期Ｔ１
（図２（ａ）参照）を長くして、図２（ｂ）に示すよう
な分析周期Ｔ２とし、標準ガスＳＧの全ガス成分につい
てその濃度を検出する。
（図２（ａ）参照）を長くして、図２（ｂ）に示すよう
な分析周期Ｔ２とし、標準ガスＳＧの全ガス成分につい
てその濃度を検出する。
【００１７】この検出動作をバックフラッシュ時間を徐
々に短くしながら繰り返し、共存成分Ｃ2Ｈ6の濃度値が
零となるときのバックフラッシュ時間を第１のバックフ
ラッシュ時間として測定し、測定ガスの最終成分ＣＨ4
の濃度値が減少し始めるときのバックフラッシュ時間を
第２のバックフラッシュ時間として測定する。
々に短くしながら繰り返し、共存成分Ｃ2Ｈ6の濃度値が
零となるときのバックフラッシュ時間を第１のバックフ
ラッシュ時間として測定し、測定ガスの最終成分ＣＨ4
の濃度値が減少し始めるときのバックフラッシュ時間を
第２のバックフラッシュ時間として測定する。
【００１８】そして、この第１のバックフラッシュ時間
と第２のバックフラッシュ時間との中央を最適バックフ
ラッシュ時間とし、この最適バックフラッシュ時間を自
動的にガスクロマトグラフに更新設定する。この最適バ
ックフラッシュ時間の自動的な更新設定は、定期的（キ
ャリブレーション時など）に行うものとする。
と第２のバックフラッシュ時間との中央を最適バックフ
ラッシュ時間とし、この最適バックフラッシュ時間を自
動的にガスクロマトグラフに更新設定する。この最適バ
ックフラッシュ時間の自動的な更新設定は、定期的（キ
ャリブレーション時など）に行うものとする。
【００１９】すなわち、本実施例によれば、図１に示す
ように、バックフラッシュカラム３−１を測定ガスの最
終成分ＣＨ4 が抜けてからこれに続く共存成分Ｃ2Ｈ6が
抜けるまでの時間のほゞ中央が最適バックフラッシュ時
間ＴBFとして設定される。このため本実施例によれば、
バックフラッシュカラム３−１の劣化や外乱等が生じて
も、最終成分ＣＨ4 の一部が廃棄されてしまったり、共
存成分Ｃ2Ｈ6の一部が廃棄されなかったりしてしまうこ
とが、可能な限り生じないものとなる。
ように、バックフラッシュカラム３−１を測定ガスの最
終成分ＣＨ4 が抜けてからこれに続く共存成分Ｃ2Ｈ6が
抜けるまでの時間のほゞ中央が最適バックフラッシュ時
間ＴBFとして設定される。このため本実施例によれば、
バックフラッシュカラム３−１の劣化や外乱等が生じて
も、最終成分ＣＨ4 の一部が廃棄されてしまったり、共
存成分Ｃ2Ｈ6の一部が廃棄されなかったりしてしまうこ
とが、可能な限り生じないものとなる。
【００２０】なお、上述した実施例においては、第１の
バックフラッシュ時間と第２のバックフラッシュ時間と
の中央を最適バックフラッシュ時間として設定したが、
厳密に中央でなければならないというものではない。
バックフラッシュ時間と第２のバックフラッシュ時間と
の中央を最適バックフラッシュ時間として設定したが、
厳密に中央でなければならないというものではない。
【００２１】また、上述した実施例においては、最適バ
ックフラッシュ時間を自動的に更新設定するものとした
が、手動で行うものとしてもよい。
ックフラッシュ時間を自動的に更新設定するものとした
が、手動で行うものとしてもよい。
【００２２】また、最適バックフラッシュの変更の履歴
を持てば、バックフラッシュカラム３−１の劣化を診断
することもできる。例えば、最適バックフラッシュ時間
が初期値より１０％以上変わったら、バックフラッシュ
カラム３−１の寿命と判断する。
を持てば、バックフラッシュカラム３−１の劣化を診断
することもできる。例えば、最適バックフラッシュ時間
が初期値より１０％以上変わったら、バックフラッシュ
カラム３−１の寿命と判断する。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように本
発明によれば、バックフラッシュカラムを測定ガスの最
終成分が抜けてからこれに続く共存成分が抜けるまでの
時間のほゞ中央を最適値としてバックフラッシュ時間が
設定されるものとなり、バックフラッシュカラムの劣化
や外乱等が生じても、最終成分の一部が廃棄されてしま
ったり、共存成分の一部が廃棄されなかったりしてしま
うことが、可能な限り生じないものとなる。
発明によれば、バックフラッシュカラムを測定ガスの最
終成分が抜けてからこれに続く共存成分が抜けるまでの
時間のほゞ中央を最適値としてバックフラッシュ時間が
設定されるものとなり、バックフラッシュカラムの劣化
や外乱等が生じても、最終成分の一部が廃棄されてしま
ったり、共存成分の一部が廃棄されなかったりしてしま
うことが、可能な限り生じないものとなる。
【図１】バックフラッシュカラムを測定ガスの最終成分
が抜けてからこれに続く共存成分が抜けるまでの時間の
ほゞ中央が最適バックフラッシュ時間として設定される
状況を説明する図。
が抜けてからこれに続く共存成分が抜けるまでの時間の
ほゞ中央が最適バックフラッシュ時間として設定される
状況を説明する図。
【図２】本発明に係るバックフラッシュ時間の設定方法
の適用例において通常の測定時よりもその分析周期が長
くされる状況を説明する図。
の適用例において通常の測定時よりもその分析周期が長
くされる状況を説明する図。
【図３】従来より採用されているバックフラッシュタイ
プのガスクロマトグラフの基本構成を示す図。
プのガスクロマトグラフの基本構成を示す図。
【図４】このガスクロマトグラフにおいてサンプルバル
ブの流路をバックフラッシュ時間で切り替えた状況を示
す図。
ブの流路をバックフラッシュ時間で切り替えた状況を示
す図。
【図５】図３に示したサンプルバルブの流路切替状況に
対応するガスクロマトグラフの接続状況を示す図。
対応するガスクロマトグラフの接続状況を示す図。
【図６】図４に示したサンプルバルブの流路切替状況に
対応するガスクロマトグラフの接続状況を示す図。
対応するガスクロマトグラフの接続状況を示す図。
１ アナライザ本体 ２ サンプルバルブ ３−１ 第１カラム（バックフラッシュカラム） ３−２ 第２カラム（メインカラム） ４ 検出器 ＣＧ キャリアガス ＳＧ サンプルガス ＴBF 最適バックフラッシュ時間
Claims (1)
- 【請求項１】 キャリアガスをサンプルガスと混合し、
この混合ガスをバックフラッシュカラムに続きメインカ
ラムに導いて各ガス成分に分離し、これら各ガス成分の
濃度を検出器によって検出する一方、適当に定められた
バックフラッシュ時間で前記混合ガスに含まれる共存成
分を前記メインカラムへ導かれる前に廃棄するバックフ
ラッシュタイプのガスクロマトグラフにおいて、 標準ガスとして少なくとも前記メインカラムへ導かれる
測定ガスの最終成分とこれに続く共存成分とを混合した
ガスを準備し、 分析時間を長くしたうえ、前記バックフラッシュ時間を
長くして、前記標準ガスをバックフラッシュカラムに続
きメインカラムに導いて各ガス成分に分離し、これら各
ガス成分の濃度を検出器によって検出するものとし、 この検出動作を前記バックフラッシュ時間を徐々に短く
しながら繰り返し、 前記共存成分の濃度値のピークが零となるときのバック
フラッシュ時間を第１のバックフラッシュ時間として測
定し、 前記測定ガスの最終成分の濃度値が減少し始めるときの
バックフラッシュ時間を第２のバックフラッシュ時間と
して測定し、 この第１のバックフラッシュ時間と第２のバックフラッ
シュ時間とのほゞ中央を最適バックフラッシュ時間とし
て設定するようにしたことを特徴とするバックフラッシ
ュ時間の設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32471792A JPH06148158A (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | バックフラッシュ時間の設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32471792A JPH06148158A (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | バックフラッシュ時間の設定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06148158A true JPH06148158A (ja) | 1994-05-27 |
Family
ID=18168927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32471792A Pending JPH06148158A (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | バックフラッシュ時間の設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06148158A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0829717A2 (en) * | 1996-09-13 | 1998-03-18 | The Perkin-Elmer Corporation | Backflushing system for gas chromatography |
-
1992
- 1992-11-11 JP JP32471792A patent/JPH06148158A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0829717A2 (en) * | 1996-09-13 | 1998-03-18 | The Perkin-Elmer Corporation | Backflushing system for gas chromatography |
| EP0829717A3 (en) * | 1996-09-13 | 1998-04-08 | The Perkin-Elmer Corporation | Backflushing system for gas chromatography |
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