JPH06147983A - 色彩計 - Google Patents
色彩計Info
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- JPH06147983A JPH06147983A JP31568692A JP31568692A JPH06147983A JP H06147983 A JPH06147983 A JP H06147983A JP 31568692 A JP31568692 A JP 31568692A JP 31568692 A JP31568692 A JP 31568692A JP H06147983 A JPH06147983 A JP H06147983A
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- Japan
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- sensor
- sample
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- light
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡易な構成によって正確な測定データを自動
的かつ容易に得、色彩計の信頼性を向上させる。 【構成】 試料センサ２８及び光量参照センサ２９から
出力される暗電流値を計測して機器本体の温度変動を検
知し、その温度データに基づいて測定データの温度補償
を行い、従来のような温度センサ等の部品を特に設ける
ことなく正確な測定データを自動的に得るようにしたも
の。
的かつ容易に得、色彩計の信頼性を向上させる。 【構成】 試料センサ２８及び光量参照センサ２９から
出力される暗電流値を計測して機器本体の温度変動を検
知し、その温度データに基づいて測定データの温度補償
を行い、従来のような温度センサ等の部品を特に設ける
ことなく正確な測定データを自動的に得るようにしたも
の。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検試料の色彩を定量
値で測定するようにした色彩計に関する。
値で測定するようにした色彩計に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、色彩計で試料の色測定を行う場
合には、まずセラミックスや硫酸バリウム等を完全拡散
面に近似させてなる標準白色板を試料台上に載置し、そ
の標準白色板に対し光源からの測定光を照射して反射光
を試料センサにより受光させる。試料センサからは、受
光光量に対応した光電流値が出力され、その光電流値に
基づいて標準白色板の反射率データを得ることにより装
置の校正を行う。ついで色彩測定の基準となる試料を試
料台上に載置して同様に測定光を照射し、試料センサか
ら出力される光電流値に基づいて上記基準試料の反射光
量データを得る。さらに同様にして、色彩測定を行いた
い被検試料の反射光量データを得、上記基準試料の反射
光量データに対する被検試料の反射光量データの差を算
出し、それから被検試料の反射率を求めるようにしてい
る。この測定に用いられる試料センサとしては、フォト
ダイオードアレイまたは単体のフォトダイオードが採用
されている。
合には、まずセラミックスや硫酸バリウム等を完全拡散
面に近似させてなる標準白色板を試料台上に載置し、そ
の標準白色板に対し光源からの測定光を照射して反射光
を試料センサにより受光させる。試料センサからは、受
光光量に対応した光電流値が出力され、その光電流値に
基づいて標準白色板の反射率データを得ることにより装
置の校正を行う。ついで色彩測定の基準となる試料を試
料台上に載置して同様に測定光を照射し、試料センサか
ら出力される光電流値に基づいて上記基準試料の反射光
量データを得る。さらに同様にして、色彩測定を行いた
い被検試料の反射光量データを得、上記基準試料の反射
光量データに対する被検試料の反射光量データの差を算
出し、それから被検試料の反射率を求めるようにしてい
る。この測定に用いられる試料センサとしては、フォト
ダイオードアレイまたは単体のフォトダイオードが採用
されている。
【０００３】この場合、上記光源から出射される測定光
は、光量参照センサに受光されており、その光量参照セ
ンサからの出力によって光源の光量変動が検知されてい
る。すなわち上記光量参照センサからは、光源の光量変
動に対応した光電流値が出力されており、その光電流値
に基づいて、上記反射率データの光量補償が各波長毎に
行われている。次式は、その光量補償を行う場合の一般
式である。
は、光量参照センサに受光されており、その光量参照セ
ンサからの出力によって光源の光量変動が検知されてい
る。すなわち上記光量参照センサからは、光源の光量変
動に対応した光電流値が出力されており、その光電流値
に基づいて、上記反射率データの光量補償が各波長毎に
行われている。次式は、その光量補償を行う場合の一般
式である。
【数１】 上式中、Ｄn は波長ｎにおける光量補償後の真のデータ
を表し、Ｓn は波長ｎにおける試料センサからの出力値
を表し、Ｒn は波長ｎにおける光量参照センサからの出
力値を表している。この場合の光量参照センサとして
は、フォトダイオードアレイまたは単体のフォトダイオ
ードが用いられている。
を表し、Ｓn は波長ｎにおける試料センサからの出力値
を表し、Ｒn は波長ｎにおける光量参照センサからの出
力値を表している。この場合の光量参照センサとして
は、フォトダイオードアレイまたは単体のフォトダイオ
ードが用いられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の色
彩計では、上述したような光量補償によって光源の変動
分の補償はなされているが、温度補償が行われておら
ず、特に上述した標準白色板による校正を行った時点と
測定時との温度差が大きい場合には、正確な値が得られ
ないことがある。温度変動には、機器本体の電源投入に
よるもの、環境変化によるもの等があるが、試料センサ
及び光量参照センサを構成しているフォトダイオードア
レイまたは単体のフォトダイオードは温度依存性が強
く、温度変化により光吸収率が変化して感度が変わって
しまう。このような上記両センサにおけるフォトダイオ
ードの温度特性は、製造工程の条件等によって僅かでは
あるがばらつきを有しており、その温度特性の相違から
測定データに誤差を生じるものである。
彩計では、上述したような光量補償によって光源の変動
分の補償はなされているが、温度補償が行われておら
ず、特に上述した標準白色板による校正を行った時点と
測定時との温度差が大きい場合には、正確な値が得られ
ないことがある。温度変動には、機器本体の電源投入に
よるもの、環境変化によるもの等があるが、試料センサ
及び光量参照センサを構成しているフォトダイオードア
レイまたは単体のフォトダイオードは温度依存性が強
く、温度変化により光吸収率が変化して感度が変わって
しまう。このような上記両センサにおけるフォトダイオ
ードの温度特性は、製造工程の条件等によって僅かでは
あるがばらつきを有しており、その温度特性の相違から
測定データに誤差を生じるものである。
【０００５】したがって従来の色彩計においては、少な
くとも電源投入後の温度が安定するまでは測定データの
補償ができないという問題がある上に、環境変化に対応
して標準白色板による校正を頻繁に行う必要がある。標
準白色板は、常に清浄状態に維持しておく必要があるた
め簡易に取り扱うことができず、そのため標準白色板の
載せ替え作業には手間がかかり、また再校正の不実施が
生じ易くなっており、測定データの信頼性が問題となる
場合もある。
くとも電源投入後の温度が安定するまでは測定データの
補償ができないという問題がある上に、環境変化に対応
して標準白色板による校正を頻繁に行う必要がある。標
準白色板は、常に清浄状態に維持しておく必要があるた
め簡易に取り扱うことができず、そのため標準白色板の
載せ替え作業には手間がかかり、また再校正の不実施が
生じ易くなっており、測定データの信頼性が問題となる
場合もある。
【０００６】このような問題を解消するため、試料セン
サ及び光量参照センサの近傍に温度センサを配置し、そ
の温度センサからの出力によって温度変化分を補正する
ようにしたものも考えられているが、温度センサを設置
するスペースを要するとともに、信頼性にも問題があ
る。
サ及び光量参照センサの近傍に温度センサを配置し、そ
の温度センサからの出力によって温度変化分を補正する
ようにしたものも考えられているが、温度センサを設置
するスペースを要するとともに、信頼性にも問題があ
る。
【０００７】そこで本発明は、簡易な構成で、測定デー
タの温度補償を容易かつ正確に行うことができることが
できるようにした色彩計を提供することを目的とする。
タの温度補償を容易かつ正確に行うことができることが
できるようにした色彩計を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明にかかる色彩計は、試料台上に載置された被検試
料に測定光を照射する光源と、上記被検試料からの反射
光の受光光量に対応した光電流値を出力して被検試料の
反射率データを得る試料センサと、前記光源からの測定
光の受光光量に対応した光電流値を出力して光源の光量
変動を検知し、上記反射率データの光量補償を行う光量
参照センサとを備えた色彩計において、前記光源の消灯
時に、試料センサ及び光量参照センサから出力される暗
電流値を計測し、当該暗電流値から得られる温度変動に
基づいて、前記反射率データの温度補償を行う制御手段
を有する構成になされている。
本発明にかかる色彩計は、試料台上に載置された被検試
料に測定光を照射する光源と、上記被検試料からの反射
光の受光光量に対応した光電流値を出力して被検試料の
反射率データを得る試料センサと、前記光源からの測定
光の受光光量に対応した光電流値を出力して光源の光量
変動を検知し、上記反射率データの光量補償を行う光量
参照センサとを備えた色彩計において、前記光源の消灯
時に、試料センサ及び光量参照センサから出力される暗
電流値を計測し、当該暗電流値から得られる温度変動に
基づいて、前記反射率データの温度補償を行う制御手段
を有する構成になされている。
【０００９】さらに本発明にかかる色彩計は、上記手段
における制御手段が、試料センサ及び光量参照センサか
ら出力される暗電流値と、試料センサ及び光量参照セン
サの暗電流温度係数とを対照して温度変動を得る構成に
なされている。
における制御手段が、試料センサ及び光量参照センサか
ら出力される暗電流値と、試料センサ及び光量参照セン
サの暗電流温度係数とを対照して温度変動を得る構成に
なされている。
【００１０】
【作用】このような構成を有する色彩計においては、機
器本体の温度変動が、試料センサ又は光量参照センサか
ら出力される暗電流値により計測され、温度センサ等の
部品を特に設けることなく、測定データの温度補償が簡
易な構成によって自動的に行われ、正確な測定データが
容易に得られるようになっている。
器本体の温度変動が、試料センサ又は光量参照センサか
ら出力される暗電流値により計測され、温度センサ等の
部品を特に設けることなく、測定データの温度補償が簡
易な構成によって自動的に行われ、正確な測定データが
容易に得られるようになっている。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図３に表されている本発明の一実施例にお
ける色彩計では、測定部として積分球２１が用いられて
いる。積分球２１の頂上部には、上部開口２１ａが設け
られており、その上部開口２１ａの直上位置に、試料台
２２が固定状態に配置されている。この試料台２２に
は、上記積分球２１の上部開口２１ａとほぼ同軸上に開
口窓が貫通形成されており、当該試料台２２上に載置さ
れる被検試料及び標準白色板が、上記開口窓を通して積
分球２１の内部側に露出されるように構成されている。
に説明する。図３に表されている本発明の一実施例にお
ける色彩計では、測定部として積分球２１が用いられて
いる。積分球２１の頂上部には、上部開口２１ａが設け
られており、その上部開口２１ａの直上位置に、試料台
２２が固定状態に配置されている。この試料台２２に
は、上記積分球２１の上部開口２１ａとほぼ同軸上に開
口窓が貫通形成されており、当該試料台２２上に載置さ
れる被検試料及び標準白色板が、上記開口窓を通して積
分球２１の内部側に露出されるように構成されている。
【００１２】また上記積分球２１の底部側には、前記上
部開口２１ａとほぼ同軸上に対向する下部開口２１ｂが
形成されているとともに、これら上部開口２１ａの中心
と下部開口２１ｂの中心とを結ぶ軸に対して４５度をな
す線分上に、下側部開口２１ｃが設けられている。そし
てこの下側部開口２１ｃには、光源としてのキセノンラ
ンプ２３が近接配置されている。このキセノンランプ２
３には、図示を省略したフラッシュ電源が付設されてお
り、当該キセノンランプ２３から発せられた測定光が、
積分球２１の内部で拡散反射され、その一部が、前記上
部開口２１ａを通して試料台２２上の被検試料及び標準
白色板に照射されるようになっている。
部開口２１ａとほぼ同軸上に対向する下部開口２１ｂが
形成されているとともに、これら上部開口２１ａの中心
と下部開口２１ｂの中心とを結ぶ軸に対して４５度をな
す線分上に、下側部開口２１ｃが設けられている。そし
てこの下側部開口２１ｃには、光源としてのキセノンラ
ンプ２３が近接配置されている。このキセノンランプ２
３には、図示を省略したフラッシュ電源が付設されてお
り、当該キセノンランプ２３から発せられた測定光が、
積分球２１の内部で拡散反射され、その一部が、前記上
部開口２１ａを通して試料台２２上の被検試料及び標準
白色板に照射されるようになっている。
【００１３】さらに上記積分球２１の下部開口２１ｂの
直下位置には、反射ミラー２４が配置されているととも
に、この反射ミラー２４の反射光軸上に、他の反射ミラ
ー２５，２６が配置されている。また反射ミラー２６の
反射光軸上には、グレーティング（回折格子）２７が配
置されているとともに、このグレーティング２７の偏向
軸上に、シリコンフォトダイオードまたはシリコンフォ
トダイオードアレイからなる試料センサ２８が、受光素
子を構成するように配置されている。
直下位置には、反射ミラー２４が配置されているととも
に、この反射ミラー２４の反射光軸上に、他の反射ミラ
ー２５，２６が配置されている。また反射ミラー２６の
反射光軸上には、グレーティング（回折格子）２７が配
置されているとともに、このグレーティング２７の偏向
軸上に、シリコンフォトダイオードまたはシリコンフォ
トダイオードアレイからなる試料センサ２８が、受光素
子を構成するように配置されている。
【００１４】上記試料センサ２８は、上述した光路を通
して照射されるキセノンランプ２３からの測定光の受光
光量に対応した光電流を出力し、その光電流値に基づい
て被検試料及び標準白色板の反射率データを得るように
構成されているものであるが、上記キセノンランプ２３
の消灯時には、所定の暗電流が出力される。この場合試
料センサ２８は、製造条件によって決定される特有の温
度特性すなわち温度係数ＰS （傾き）を有している。ま
た暗電流値は、温度に対してほぼ直線的な関係を有して
いる。
して照射されるキセノンランプ２３からの測定光の受光
光量に対応した光電流を出力し、その光電流値に基づい
て被検試料及び標準白色板の反射率データを得るように
構成されているものであるが、上記キセノンランプ２３
の消灯時には、所定の暗電流が出力される。この場合試
料センサ２８は、製造条件によって決定される特有の温
度特性すなわち温度係数ＰS （傾き）を有している。ま
た暗電流値は、温度に対してほぼ直線的な関係を有して
いる。
【００１５】さらに上記積分球２１において、キセノン
ランプ２３が配置されている下側部開口２１ｃのやや上
方には、上側部開口２１ｄが設けられており、この上側
部開口２１ｄに近接するようにして、シリコンフォトダ
イオードまたはシリコンフォトダイオードアレイからな
る光量参照センサ２９が、受光素子を構成するように配
置されている。この光量参照センサ２９は、キセノンラ
ンプ２３の点灯による発光の受光光量に対応した光電流
を出力してキセノンランプ２３の光量変動を検知し、上
記反射率データの光量補償を行うように構成されている
ものであるが、キセノンランプ２３の消灯時には、所定
の暗電流が出力される。この暗電流値は、光量参照セン
サ２９は、製造条件によって決定される特有の温度特性
すなわち温度係数ＰR （傾き）を有している。また暗電
流値は、温度に対してほぼ直線的な関係を有している。
ランプ２３が配置されている下側部開口２１ｃのやや上
方には、上側部開口２１ｄが設けられており、この上側
部開口２１ｄに近接するようにして、シリコンフォトダ
イオードまたはシリコンフォトダイオードアレイからな
る光量参照センサ２９が、受光素子を構成するように配
置されている。この光量参照センサ２９は、キセノンラ
ンプ２３の点灯による発光の受光光量に対応した光電流
を出力してキセノンランプ２３の光量変動を検知し、上
記反射率データの光量補償を行うように構成されている
ものであるが、キセノンランプ２３の消灯時には、所定
の暗電流が出力される。この暗電流値は、光量参照セン
サ２９は、製造条件によって決定される特有の温度特性
すなわち温度係数ＰR （傾き）を有している。また暗電
流値は、温度に対してほぼ直線的な関係を有している。
【００１６】このような色彩計の測定部には、図１に示
されているように、上記暗電流値に基づいて反射率デー
タの温度補償を行う制御手段Ｓが設けられている。この
制御手段ＳにおけるＣＰＵ（中央演算処理装置）１、Ｒ
ＯＭ２及びＲＡＭ３には、制御ロジック回路４が付設さ
れており、この制御ロジック回路４を通して、前記試料
センサ２８及び光量参照センサ２９から出力される光電
流値の温度補償が行われるように構成されている。
されているように、上記暗電流値に基づいて反射率デー
タの温度補償を行う制御手段Ｓが設けられている。この
制御手段ＳにおけるＣＰＵ（中央演算処理装置）１、Ｒ
ＯＭ２及びＲＡＭ３には、制御ロジック回路４が付設さ
れており、この制御ロジック回路４を通して、前記試料
センサ２８及び光量参照センサ２９から出力される光電
流値の温度補償が行われるように構成されている。
【００１７】すなわち上記制御手段Ｓは、前記キセノン
ランプ２３の消灯時に試料センサ２８及び光量参照セン
サ２９から出力される各暗電流値をそれぞれ計測し、こ
れらの各暗電流値から得られる温度変動に基づいて、上
記試料センサ２８及び光量参照センサ２９から出力され
る光電流値の温度補償を行う機能を有するものであっ
て、前記キセノンランプ２３に付設されたフラッシュ電
源５が、当該制御ロジック回路４からの動作指令を受け
るように接続されているとともに、前記試料センサ２８
及び光量参照センサ２９に付設されたアナログマルチプ
レクサ６，７が、制御ロジック回路４からの動作指令を
受けるように接続されている。さらに上記各アナログマ
ルチプレクサ６，７は、当該アナログマルチプレクサ
６，７から出力される検出信号が、オペアンプ８，９及
びＡ／Ｄコンバータ１１を通して前記制御手段ＳのＣＰ
Ｕ１、ＲＯＭ２及びＲＡＭ３に入力されるように接続さ
れている。さらにまた上記オペアンプ８，９には、スイ
ッチ１２，１３がそれぞれ付設されており、これらの各
スイッチ１２，１３が、上記制御ロジック回路１４から
の動作指令を受けるように接続されている。
ランプ２３の消灯時に試料センサ２８及び光量参照セン
サ２９から出力される各暗電流値をそれぞれ計測し、こ
れらの各暗電流値から得られる温度変動に基づいて、上
記試料センサ２８及び光量参照センサ２９から出力され
る光電流値の温度補償を行う機能を有するものであっ
て、前記キセノンランプ２３に付設されたフラッシュ電
源５が、当該制御ロジック回路４からの動作指令を受け
るように接続されているとともに、前記試料センサ２８
及び光量参照センサ２９に付設されたアナログマルチプ
レクサ６，７が、制御ロジック回路４からの動作指令を
受けるように接続されている。さらに上記各アナログマ
ルチプレクサ６，７は、当該アナログマルチプレクサ
６，７から出力される検出信号が、オペアンプ８，９及
びＡ／Ｄコンバータ１１を通して前記制御手段ＳのＣＰ
Ｕ１、ＲＯＭ２及びＲＡＭ３に入力されるように接続さ
れている。さらにまた上記オペアンプ８，９には、スイ
ッチ１２，１３がそれぞれ付設されており、これらの各
スイッチ１２，１３が、上記制御ロジック回路１４から
の動作指令を受けるように接続されている。
【００１８】上記制御手段ＳのＲＯＭ３内には、上述し
た試料センサ２８の感度の温度係数ＰS 及び光量参照セ
ンサ２９の感度の温度係数ＰR が、プログラムデータと
して予め格納されている。
た試料センサ２８の感度の温度係数ＰS 及び光量参照セ
ンサ２９の感度の温度係数ＰR が、プログラムデータと
して予め格納されている。
【００１９】このような制御系によって、色彩（反射
率）の測定が図２に示されているような手順で測定が実
行される。装置の電源が投入されると（ステップ１）、
まず校正を行うか否かが判断され（ステップ２）、校正
を行う場合には、試料台２２上に標準白色板が載置され
る。そしてキセノンランプ２３の消灯時において、試料
センサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力さ
れる暗電流値ＯＤC 及びＲＤC の測定が行われ（ステッ
プ３，４）、計測値が制御手段Ｓ内に格納される。
率）の測定が図２に示されているような手順で測定が実
行される。装置の電源が投入されると（ステップ１）、
まず校正を行うか否かが判断され（ステップ２）、校正
を行う場合には、試料台２２上に標準白色板が載置され
る。そしてキセノンランプ２３の消灯時において、試料
センサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力さ
れる暗電流値ＯＤC 及びＲＤC の測定が行われ（ステッ
プ３，４）、計測値が制御手段Ｓ内に格納される。
【００２０】なおこのとき図１中に示したオペアンプ
８，９のスイッチ４２，４３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって開状態に維持されており、上記
試料センサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出
力される暗電流が、オペアンプ８，９により増幅されつ
つが測定が行われるようになっている。
８，９のスイッチ４２，４３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって開状態に維持されており、上記
試料センサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出
力される暗電流が、オペアンプ８，９により増幅されつ
つが測定が行われるようになっている。
【００２１】次に、キセノンランプ２３が点灯されて上
記標準白色板に対し測定光が照射され、その反射光が試
料センサ２８に受光される。試料センサ２８からは、受
光光量に対応した光電流値ＯＬC が出力されて測定が行
われ（ステップ５）、計測値が制御手段Ｓ内に格納され
る。また上記キセノンランプ２３から出射される測定光
は、光量参照センサ２９にも受光されており、キセノン
ランプ２３の光量変動が検知される。すなわち光量参照
センサ２９から出力される光電流値ＲＬC は、キセノン
ランプ２３の発光光量に対応しており、その出力光電流
値ＲＬC の測定が行われて制御手段Ｓに格納される（ス
テップ６）。
記標準白色板に対し測定光が照射され、その反射光が試
料センサ２８に受光される。試料センサ２８からは、受
光光量に対応した光電流値ＯＬC が出力されて測定が行
われ（ステップ５）、計測値が制御手段Ｓ内に格納され
る。また上記キセノンランプ２３から出射される測定光
は、光量参照センサ２９にも受光されており、キセノン
ランプ２３の光量変動が検知される。すなわち光量参照
センサ２９から出力される光電流値ＲＬC は、キセノン
ランプ２３の発光光量に対応しており、その出力光電流
値ＲＬC の測定が行われて制御手段Ｓに格納される（ス
テップ６）。
【００２２】なおこのとき図１中に示したオペアンプ
８，９のスイッチ１２，１３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって閉状態に維持され、上記試料セ
ンサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力され
る光電流が、オペアンプ８，９による増幅作用を受ける
ことなく測定が行われるようになっている。
８，９のスイッチ１２，１３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって閉状態に維持され、上記試料セ
ンサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力され
る光電流が、オペアンプ８，９による増幅作用を受ける
ことなく測定が行われるようになっている。
【００２３】このようにして得た各データＯＤC 、ＲＤ
C 、ＯＬC 、ＲＬC から、次式のような校正値が求めら
れる（ステップ７）。
C 、ＯＬC 、ＲＬC から、次式のような校正値が求めら
れる（ステップ７）。
【数２】
【００２４】ついで被検試料の測定を行うか否かが判断
され（ステップ８）、測定を行う場合には、試料台２２
上に被検試料が載置される。そしてキセノンランプ２３
の消灯時において、試料センサ２８及び光量参照センサ
２９からそれぞれ出力される暗電流値ＯＤM 及びＲＤM
の測定が行われ（ステップ９，１０）、その計測値が制
御手段Ｓ内に格納される。
され（ステップ８）、測定を行う場合には、試料台２２
上に被検試料が載置される。そしてキセノンランプ２３
の消灯時において、試料センサ２８及び光量参照センサ
２９からそれぞれ出力される暗電流値ＯＤM 及びＲＤM
の測定が行われ（ステップ９，１０）、その計測値が制
御手段Ｓ内に格納される。
【００２５】なおこのとき図１中に示したオペアンプ
８，９のスイッチ１２，１３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって開状態に維持され、上記試料セ
ンサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力され
る暗電流が、オペアンプ８，９により増幅されつつが測
定が行われるようになっている。
８，９のスイッチ１２，１３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって開状態に維持され、上記試料セ
ンサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力され
る暗電流が、オペアンプ８，９により増幅されつつが測
定が行われるようになっている。
【００２６】次にキセノンランプ２３が点灯され、上記
被検試料に対し測定光が照射されて被検試料からの反射
光が試料センサ２８に受光される。試料センサ２８から
は、受光光量に対応した光電流値ＯＬM が出力されて測
定が行われ（ステップ１１）、その計測値が制御手段Ｓ
内に格納される。また上記キセノンランプ２３から出射
される測定光は、光量参照センサ２９にも受光されてお
り、キセノンランプ２３の光量変動が検知される。すな
わちこの光量参照センサ２９から出力される光電流値Ｒ
ＬM は、キセノンランプ２３からの発光光量に対応して
おり、その出力光電流値ＲＬM の測定が行われて制御手
段Ｓに格納される（ステップ１２）。
被検試料に対し測定光が照射されて被検試料からの反射
光が試料センサ２８に受光される。試料センサ２８から
は、受光光量に対応した光電流値ＯＬM が出力されて測
定が行われ（ステップ１１）、その計測値が制御手段Ｓ
内に格納される。また上記キセノンランプ２３から出射
される測定光は、光量参照センサ２９にも受光されてお
り、キセノンランプ２３の光量変動が検知される。すな
わちこの光量参照センサ２９から出力される光電流値Ｒ
ＬM は、キセノンランプ２３からの発光光量に対応して
おり、その出力光電流値ＲＬM の測定が行われて制御手
段Ｓに格納される（ステップ１２）。
【００２７】なおこのとき図１中に示したオペアンプ
８，９のスイッチ１２，１３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって閉状態に維持され、上記試料セ
ンサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力され
る光電流が、オペアンプ８，９による増幅作用を受ける
ことなく測定が行われるようになっている。
８，９のスイッチ１２，１３は、制御ロジック回路３４
からの動作指令によって閉状態に維持され、上記試料セ
ンサ２８及び光量参照センサ２９からそれぞれ出力され
る光電流が、オペアンプ８，９による増幅作用を受ける
ことなく測定が行われるようになっている。
【００２８】そしてこのようにして得た各データＯＤ
M 、ＲＤM 、ＯＬM 、ＲＬM から、次式によって被検試
料の測定値（反射率データ）が温度補償され、真のデー
タが求められる（ステップ１３）。
M 、ＲＤM 、ＯＬM 、ＲＬM から、次式によって被検試
料の測定値（反射率データ）が温度補償され、真のデー
タが求められる（ステップ１３）。
【数３】
【００２９】上式中の温度差ＴS ，ＴR は、上述した標
準白色板による校正を行った時点と測定時との間におけ
る各センサ２８，２９の温度差であって、機器本体の電
源投入による温度差や、環境変化による温度差等があ
る。そしてこれらの温度差は、試料センサ２８及び光量
参照センサ２９から出力される各暗電流測定値ＯＤM ，
ＯＤC ，ＲＤM ，ＲＤC と、前記制御手段ＳのＲＯＭ３
内に格納されている試料センサ２８の感度の温度係数Ｐ
S 及び光量参照センサ２９の感度の温度係数ＰRとを対
照して得られる。具体的には (ＯＤM −ＯＤC ）及び
（ＲＤM −ＲＤC ）なる式に基づいてそれぞれ算出され
る。
準白色板による校正を行った時点と測定時との間におけ
る各センサ２８，２９の温度差であって、機器本体の電
源投入による温度差や、環境変化による温度差等があ
る。そしてこれらの温度差は、試料センサ２８及び光量
参照センサ２９から出力される各暗電流測定値ＯＤM ，
ＯＤC ，ＲＤM ，ＲＤC と、前記制御手段ＳのＲＯＭ３
内に格納されている試料センサ２８の感度の温度係数Ｐ
S 及び光量参照センサ２９の感度の温度係数ＰRとを対
照して得られる。具体的には (ＯＤM −ＯＤC ）及び
（ＲＤM −ＲＤC ）なる式に基づいてそれぞれ算出され
る。
【００３０】なおこの場合、厳密にはアナログ回路系の
温度変化も測定値に影響を及ぼすものであるが、アナロ
グ回路系の温度係数ＰC ×温度差ＴC の積としては、上
記両センサ２８，２９においてほぼ同値となるため、実
際には殆ど無視できるものである。
温度変化も測定値に影響を及ぼすものであるが、アナロ
グ回路系の温度係数ＰC ×温度差ＴC の積としては、上
記両センサ２８，２９においてほぼ同値となるため、実
際には殆ど無視できるものである。
【００３１】このようにして測定を終了したら、装置の
再校正を行うか否かが判断され（ステップ１４）、校正
を行う場合には符号Ａで示したようにリターンされ、再
校正を行わない場合には、再測定を行うか否かが判断さ
れる（ステップ１５）。再測定を行う場合には、符号Ｂ
で示したようにリターンされ、再測定を行わない場合に
は、上記校正を行うか否かの判断ステップに戻される。
再校正を行うか否かが判断され（ステップ１４）、校正
を行う場合には符号Ａで示したようにリターンされ、再
校正を行わない場合には、再測定を行うか否かが判断さ
れる（ステップ１５）。再測定を行う場合には、符号Ｂ
で示したようにリターンされ、再測定を行わない場合に
は、上記校正を行うか否かの判断ステップに戻される。
【００３２】このように本発明にかかる装置において
は、機器本体の温度変動が、試料センサ２８及び光量参
照センサ２９から出力される暗電流値により計測され、
したがって温度センサ等の部品を特に設けることなく、
測定データの温度補償が簡易な構成によって自動的に行
われ、正確な測定データが容易に得られるようになって
いる。
は、機器本体の温度変動が、試料センサ２８及び光量参
照センサ２９から出力される暗電流値により計測され、
したがって温度センサ等の部品を特に設けることなく、
測定データの温度補償が簡易な構成によって自動的に行
われ、正確な測定データが容易に得られるようになって
いる。
【００３３】なお上記実施例では、暗電流の温度検知に
よって温度補償を自動で行っているが、自動温度補償を
行うことなく、「再校正要」のメッセージを表示するよ
うに構成することも可能である。
よって温度補償を自動で行っているが、自動温度補償を
行うことなく、「再校正要」のメッセージを表示するよ
うに構成することも可能である。
【００３４】
【発明の効果】以上述べたように本発明は、試料センサ
及び光量参照センサから出力される暗電流値を計測して
機器本体の温度変動を検知し、その温度データに基づい
て測定データの温度補償を行うようにしたものであるか
ら、従来のような温度センサ等の部品を特に設けること
なく、簡易な構成によって正確な測定データを自動的か
つ容易に得ることができ、色彩計の信頼性を向上させる
ことができる。
及び光量参照センサから出力される暗電流値を計測して
機器本体の温度変動を検知し、その温度データに基づい
て測定データの温度補償を行うようにしたものであるか
ら、従来のような温度センサ等の部品を特に設けること
なく、簡易な構成によって正確な測定データを自動的か
つ容易に得ることができ、色彩計の信頼性を向上させる
ことができる。
【図１】本発明の一実施例における色彩計に用いられて
いる制御手段の構成を表したブロック図である。
いる制御手段の構成を表したブロック図である。
【図２】図１に表された制御手段による測定手順を表し
たフロー図である。
たフロー図である。
【図３】本発明の一実施例における色彩計の測定部の構
造を表した外観斜視説明図である。
造を表した外観斜視説明図である。
Ｓ 制御手段 ２３ キセノンランプ（光源） ２８ 試料センサ ２９ 光量参照センサ
Claims (2)
- 【請求項１】 試料台上に載置された被検試料に測定光
を照射する光源と、上記被検試料からの反射光の受光光
量に対応した光電流値を出力して被検試料の反射率デー
タを得る試料センサと、前記光源からの測定光の受光光
量に対応した光電流値を出力して光源の光量変動を検知
し、上記反射率データの光量補償を行う光量参照センサ
とを備えた色彩計において、 前記光源の消灯時に、試料センサ及び光量参照センサか
ら出力される暗電流値を計測し、当該暗電流値から得ら
れる温度変動に基づいて、前記反射率データの温度補償
を行う制御手段を有していることを特徴とする色彩計。 - 【請求項２】 請求項１に記載の色彩計において、 制御手段は、試料センサ及び光量参照センサから出力さ
れる暗電流値と、試料センサ及び光量参照センサの暗電
流温度係数とを対照して温度変動を得るように構成され
ていることを特徴とする色彩計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31568692A JPH06147983A (ja) | 1992-10-31 | 1992-10-31 | 色彩計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31568692A JPH06147983A (ja) | 1992-10-31 | 1992-10-31 | 色彩計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06147983A true JPH06147983A (ja) | 1994-05-27 |
Family
ID=18068339
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31568692A Withdrawn JPH06147983A (ja) | 1992-10-31 | 1992-10-31 | 色彩計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06147983A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006047307A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-16 | Agilent Technol Inc | カラーセンサの温度補償方法および装置 |
| JP2012526276A (ja) * | 2009-05-08 | 2012-10-25 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 光の特性を検知するための回路及び方法 |
-
1992
- 1992-10-31 JP JP31568692A patent/JPH06147983A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006047307A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-16 | Agilent Technol Inc | カラーセンサの温度補償方法および装置 |
| JP2012526276A (ja) * | 2009-05-08 | 2012-10-25 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 光の特性を検知するための回路及び方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000104 |