JP2003194626A - 光波長測定装置 - Google Patents
光波長測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 周囲温度に対応して光波長測定装置の校正を
実現し、以て被測定光の光波長を周囲温度の影響を除外
してより正確に測定する。 【解決手段】周囲温度を検出する温度検出手段１と、該
温度検出手段１の検出結果を評価する評価手段Ｅと、該
評価手段Ｅの評価結果に基づいて校正を自動的に実行す
る実行手段Ｊとから構成される校正手段Ｋを備える。
実現し、以て被測定光の光波長を周囲温度の影響を除外
してより正確に測定する。 【解決手段】周囲温度を検出する温度検出手段１と、該
温度検出手段１の検出結果を評価する評価手段Ｅと、該
評価手段Ｅの評価結果に基づいて校正を自動的に実行す
る実行手段Ｊとから構成される校正手段Ｋを備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光波長測定装置に
係わり、特に周囲温度の変化に対する測定波長の校正技
術に関する。
係わり、特に周囲温度の変化に対する測定波長の校正技
術に関する。
【０００２】
【従来の技術】光スペクトラムアナライザは、周知のよ
うに被測定光を分光器を用いて分光して成分波長を抽出
し、各成分波長のレベルを画面表示する測定器である。
すなわち、光スペクトラムアナライザは、被測定光の成
分波長を測定する光波長測定装置としての機能を中枢機
能とし、各成分波長のレベルを測定して視覚表示するも
のである。
うに被測定光を分光器を用いて分光して成分波長を抽出
し、各成分波長のレベルを画面表示する測定器である。
すなわち、光スペクトラムアナライザは、被測定光の成
分波長を測定する光波長測定装置としての機能を中枢機
能とし、各成分波長のレベルを測定して視覚表示するも
のである。
【０００３】特開２００１−２０８６０７号公報には、
このような光スペクトラムアナライザ（光波長測定装置
の一形態）における波長校正技術が開示されている。こ
の技術は、測定波長誤差の要因は種々考えられるが、当
該測定波長誤差の大きさが測定波長の帯域に応じて異な
る点に着目し、波長校正用の基準光及びその高次回折光
の各波長、つまり複数の波長帯域において分光器の波長
校正を行うものである。そして、この技術によれば、分
光器をより正確に波長校正することができる。
このような光スペクトラムアナライザ（光波長測定装置
の一形態）における波長校正技術が開示されている。こ
の技術は、測定波長誤差の要因は種々考えられるが、当
該測定波長誤差の大きさが測定波長の帯域に応じて異な
る点に着目し、波長校正用の基準光及びその高次回折光
の各波長、つまり複数の波長帯域において分光器の波長
校正を行うものである。そして、この技術によれば、分
光器をより正確に波長校正することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記測定波
長誤差は、測定波長の帯域に応じて異なるだけではな
く、光スペクトラムアナライザの周囲温度によっても変
動する。すなわち、この周囲温度に応じて分光器を構成
する各部材が熱膨張、熱収縮を起こし、分光器の光学系
に波長ズレが生じる。この結果、光スペクトラムアナラ
イザにて被測定光の正確な光波長を測定し得ない。
長誤差は、測定波長の帯域に応じて異なるだけではな
く、光スペクトラムアナライザの周囲温度によっても変
動する。すなわち、この周囲温度に応じて分光器を構成
する各部材が熱膨張、熱収縮を起こし、分光器の光学系
に波長ズレが生じる。この結果、光スペクトラムアナラ
イザにて被測定光の正確な光波長を測定し得ない。
【０００５】本発明は、上述する問題点に鑑みてなされ
たもので、周囲温度に対応して光波長測定装置の校正を
実現し、以て被測定光の光波長を周囲温度の影響を除外
してより正確に測定することを目的とする。
たもので、周囲温度に対応して光波長測定装置の校正を
実現し、以て被測定光の光波長を周囲温度の影響を除外
してより正確に測定することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、第１の手段として、周囲温度に応じて
自動校正を実行する校正手段を具備するという手段を採
用する。
に、本発明では、第１の手段として、周囲温度に応じて
自動校正を実行する校正手段を具備するという手段を採
用する。
【０００７】また、第２の手段として、上記第１の手段
において、校正手段は、周囲温度を検出する温度検出手
段と、該温度検出手段の検出結果を評価する評価手段
と、該評価手段の評価結果に基づいて校正を自動的に実
行する実行手段とを備えるという手段を採用する。
において、校正手段は、周囲温度を検出する温度検出手
段と、該温度検出手段の検出結果を評価する評価手段
と、該評価手段の評価結果に基づいて校正を自動的に実
行する実行手段とを備えるという手段を採用する。
【０００８】第３の手段として、上記第１または第２の
手段において、周囲温度の評価結果に応じて校正の必要
を報知する校正報知手段をさらに備え、動作モードに応
じて実行手段による自動校正あるいは校正報知手段によ
る校正の必要報知を実行するという手段を採用する。
手段において、周囲温度の評価結果に応じて校正の必要
を報知する校正報知手段をさらに備え、動作モードに応
じて実行手段による自動校正あるいは校正報知手段によ
る校正の必要報知を実行するという手段を採用する。
【０００９】第４の手段として、周囲温度の評価結果に
応じて校正の必要を報知する校正報知手段を具備すると
いう手段を採用する。
応じて校正の必要を報知する校正報知手段を具備すると
いう手段を採用する。
【００１０】第５の手段として、上記第４の手段におい
て、校正報知手段は、周囲温度を検出する温度検出手段
と、該温度検出手段の検出結果を評価する評価手段と、
該評価手段の評価結果に基づいて報知を実行する報知実
行手段とを備えるという手段を採用する。
て、校正報知手段は、周囲温度を検出する温度検出手段
と、該温度検出手段の検出結果を評価する評価手段と、
該評価手段の評価結果に基づいて報知を実行する報知実
行手段とを備えるという手段を採用する。
【００１１】第６の手段として、上記第２または第５の
手段において、評価手段は、前回の測定時における周囲
温度と温度検出手段によって検出された実際の周囲温度
との差を所定のしきい値と比較することにより校正の要
否を評価するという手段を採用する。
手段において、評価手段は、前回の測定時における周囲
温度と温度検出手段によって検出された実際の周囲温度
との差を所定のしきい値と比較することにより校正の要
否を評価するという手段を採用する。
【００１２】第７の手段として、上記第２または第５の
手段において、評価手段は、前回の校正時における周囲
温度と温度検出手段によって検出された実際の周囲温度
との差を所定のしきい値と比較することにより校正の要
否を評価するという手段を採用する。
手段において、評価手段は、前回の校正時における周囲
温度と温度検出手段によって検出された実際の周囲温度
との差を所定のしきい値と比較することにより校正の要
否を評価するという手段を採用する。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
係わる光波長測定装置及びその校正方法の一実施形態に
ついて説明する。なお、本実施形態は、光波長測定装置
を光スペクトラムアナライザとして構成した場合に関す
るものである。
係わる光波長測定装置及びその校正方法の一実施形態に
ついて説明する。なお、本実施形態は、光波長測定装置
を光スペクトラムアナライザとして構成した場合に関す
るものである。
【００１４】図１は、本光スペクトラムアナライザの構
成を示すブロック図である。この図において、符号１は
温度センサ、２はＡ／Ｄ変換器、３は比較処理部、４は
基準温度記憶部、５は校正温度記憶部、６は制御演算
部、７は被測定光入射端、８は基準光源、９は光スイッ
チ、１０は分光器、１１は光検出器、１２はＡ／Ｄ変換
器、１３は表示部、また１４は警報ブザーである。
成を示すブロック図である。この図において、符号１は
温度センサ、２はＡ／Ｄ変換器、３は比較処理部、４は
基準温度記憶部、５は校正温度記憶部、６は制御演算
部、７は被測定光入射端、８は基準光源、９は光スイッ
チ、１０は分光器、１１は光検出器、１２はＡ／Ｄ変換
器、１３は表示部、また１４は警報ブザーである。
【００１５】これら各構成要素のうち、温度センサ１、
Ａ／Ｄ変換器２、比較処理部３、基準温度記憶部４、校
正温度記憶部５、制御演算部６、基準光源８、光スイッ
チ９、分光器１０、光検出器１１及びＡ／Ｄ変換器１２
は本実施形態における校正手段Ｋを構成している。ま
た、比較処理部３、基準温度記憶部４及び校正温度記憶
部５は、本実施形態における評価手段Ｅを構成してい
る。また、制御演算部６、基準光源８、光スイッチ９、
分光器１０、光検出器１１及びＡ／Ｄ変換器１２は本実
施形態における実行手段Ｊを構成している。また、温度
センサ１、Ａ／Ｄ変換器２、比較処理部３、基準温度記
憶部４、校正温度記憶部５、制御演算部６、表示部１３
及び警報ブザー１４は本実施形態における校正報知手段
Ｈを構成している。さらに、制御演算部６、表示部１３
及び警報ブザー１４は、本実施形態における報知実行手
段ＨＪを構成している。
Ａ／Ｄ変換器２、比較処理部３、基準温度記憶部４、校
正温度記憶部５、制御演算部６、基準光源８、光スイッ
チ９、分光器１０、光検出器１１及びＡ／Ｄ変換器１２
は本実施形態における校正手段Ｋを構成している。ま
た、比較処理部３、基準温度記憶部４及び校正温度記憶
部５は、本実施形態における評価手段Ｅを構成してい
る。また、制御演算部６、基準光源８、光スイッチ９、
分光器１０、光検出器１１及びＡ／Ｄ変換器１２は本実
施形態における実行手段Ｊを構成している。また、温度
センサ１、Ａ／Ｄ変換器２、比較処理部３、基準温度記
憶部４、校正温度記憶部５、制御演算部６、表示部１３
及び警報ブザー１４は本実施形態における校正報知手段
Ｈを構成している。さらに、制御演算部６、表示部１３
及び警報ブザー１４は、本実施形態における報知実行手
段ＨＪを構成している。
【００１６】温度センサ１は、本光スペクトラムアナラ
イザの使用環境における周囲温度を検出し検出信号とし
てＡ／Ｄ変換器２に出力するものであり、例えば温度検
出用ＩＣあるいはサーミスタ等である。分光器１０は周
囲温度に応じて熱膨張や熱収縮を起こし、このような熱
膨張や熱収縮に起因して分光器１０の分光特性に誤差
（測定波長誤差）が生じるので、温度センサ１の取付場
所としては、分光器１０の近傍等が好ましい。
イザの使用環境における周囲温度を検出し検出信号とし
てＡ／Ｄ変換器２に出力するものであり、例えば温度検
出用ＩＣあるいはサーミスタ等である。分光器１０は周
囲温度に応じて熱膨張や熱収縮を起こし、このような熱
膨張や熱収縮に起因して分光器１０の分光特性に誤差
（測定波長誤差）が生じるので、温度センサ１の取付場
所としては、分光器１０の近傍等が好ましい。
【００１７】Ａ／Ｄ変換器２は、上記検出信号をデジタ
ル信号（温度データ）に変換して比較処理部３に出力す
る。比較処理部３は、減算器３ａと比較器３ｂとから構
成されており、減算器３ａには上記温度データが入力さ
れる。減算器３ａには、温度データの他に、基準温度記
憶部４から基準温度（デジタル信号）が入力されてい
る。減算器３ａは、基準温度から温度データを減算し、
その減算結果を比較器３ｂに出力する。比較器３には、
上記減算結果の他に、校正温度記憶部５から校正温度
（デジタル信号）が入力されている。比較器３は、上記
減算結果と校正温度とを比較し、その比較結果を制御演
算部６に出力する。
ル信号（温度データ）に変換して比較処理部３に出力す
る。比較処理部３は、減算器３ａと比較器３ｂとから構
成されており、減算器３ａには上記温度データが入力さ
れる。減算器３ａには、温度データの他に、基準温度記
憶部４から基準温度（デジタル信号）が入力されてい
る。減算器３ａは、基準温度から温度データを減算し、
その減算結果を比較器３ｂに出力する。比較器３には、
上記減算結果の他に、校正温度記憶部５から校正温度
（デジタル信号）が入力されている。比較器３は、上記
減算結果と校正温度とを比較し、その比較結果を制御演
算部６に出力する。
【００１８】基準温度記憶部４は、上記基準温度を記憶
し減算器３ａに出力する。この基準温度は、例えば前回
の測定（本光スペクトラムアナライザによる被測定光の
測定）時に温度センサ１によって検出された周囲温度、
あるいは前回の校正（本光スペクトラムアナライザの校
正）時に温度センサ１によって検出された周囲温度であ
り、温度センサ１によって検出される現在の周囲温度を
評価するためのものである。基準温度として前回測定時
の周囲温度を基準温度記憶部４に記憶した場合、測定毎
の周囲温度の変化、つまり短期間の温度変化を評価する
ことが可能となる。これに対して、基準温度記憶部４に
前回校正時の周囲温度を記憶させた場合には、前回校正
時に対する周囲温度の変化、つまり短期的な温度変化だ
けではなく長期的な温度変化をも評価することが可能と
なる。
し減算器３ａに出力する。この基準温度は、例えば前回
の測定（本光スペクトラムアナライザによる被測定光の
測定）時に温度センサ１によって検出された周囲温度、
あるいは前回の校正（本光スペクトラムアナライザの校
正）時に温度センサ１によって検出された周囲温度であ
り、温度センサ１によって検出される現在の周囲温度を
評価するためのものである。基準温度として前回測定時
の周囲温度を基準温度記憶部４に記憶した場合、測定毎
の周囲温度の変化、つまり短期間の温度変化を評価する
ことが可能となる。これに対して、基準温度記憶部４に
前回校正時の周囲温度を記憶させた場合には、前回校正
時に対する周囲温度の変化、つまり短期的な温度変化だ
けではなく長期的な温度変化をも評価することが可能と
なる。
【００１９】校正温度記憶部５は、上記校正温度を記憶
し比較器３に出力する。この校正温度は、上記減算結果
に対するしきい値であり、自動校正の実行の要否の基準
となるものである。制御演算部６は、Ａ／Ｄ変換器１２
から入力される光強度データに基づいて被測定光の波長
成分及び当該各波長成分のレベルを示す測定画像を生成
し、該測定画像を測定結果として表示部１３に表示させ
る。また、制御演算部６は、比較器３から入力される上
記比較結果に基づいて基準光源８、この光スイッチ９及
び分光器１０を制御することにより当該分光器１０を自
動校正する、あるいは、上記比較結果に基づいて警報信
号を表示部１３あるいは警報ブザー１４に出力して校正
の必要を外部に報知する。
し比較器３に出力する。この校正温度は、上記減算結果
に対するしきい値であり、自動校正の実行の要否の基準
となるものである。制御演算部６は、Ａ／Ｄ変換器１２
から入力される光強度データに基づいて被測定光の波長
成分及び当該各波長成分のレベルを示す測定画像を生成
し、該測定画像を測定結果として表示部１３に表示させ
る。また、制御演算部６は、比較器３から入力される上
記比較結果に基づいて基準光源８、この光スイッチ９及
び分光器１０を制御することにより当該分光器１０を自
動校正する、あるいは、上記比較結果に基づいて警報信
号を表示部１３あるいは警報ブザー１４に出力して校正
の必要を外部に報知する。
【００２０】被測定光入射端７は、被測定光を本光スペ
クトラムアナライザに取り込むためのものである。被測
定光入射端７に入射された被測定光は、光スイッチ９に
出力される。基準光源８は、分光器１０を校正するため
の基準光を出力するものであり、該基準光は、光スイッ
チ９に出力される。光スイッチ９は、制御演算部６によ
る制御の下に、被測定光あるいは基準光の何れかを択一
的に選択して分光器に出力する。
クトラムアナライザに取り込むためのものである。被測
定光入射端７に入射された被測定光は、光スイッチ９に
出力される。基準光源８は、分光器１０を校正するため
の基準光を出力するものであり、該基準光は、光スイッ
チ９に出力される。光スイッチ９は、制御演算部６によ
る制御の下に、被測定光あるいは基準光の何れかを択一
的に選択して分光器に出力する。
【００２１】分光器１０は、図２に示すようにツェルニ
ターナ型分光器である。すなわち、この分光器１０は、
入射スリット１０ａ、凹面鏡１０ｂ、回折格子１０ｃ、
回転駆動部１０ｄ、凹面鏡１０ｅ及び出射スリット１０
ｆから構成されている。外部から分光器に取り込まれて
入射スリット１０ａを通過した被分析光は、凹面鏡１０
ｂで反射されることにより平行光として回折格子１０ｃ
に入射する。回折格子ｃは、回転駆動部１０ｄによって
回転駆動され、凹面鏡１０ｂから入射する光（入射光）
に対する対向角が回動角に応じて可変する。このような
回折格子ｃの回折光は、凹面鏡１０ｂにおいて反射する
ことにより出射スリット１０ｆへ結像され、該出射スリ
ット１０ｆを通過した光は、光検出器１１によって検出
される。
ターナ型分光器である。すなわち、この分光器１０は、
入射スリット１０ａ、凹面鏡１０ｂ、回折格子１０ｃ、
回転駆動部１０ｄ、凹面鏡１０ｅ及び出射スリット１０
ｆから構成されている。外部から分光器に取り込まれて
入射スリット１０ａを通過した被分析光は、凹面鏡１０
ｂで反射されることにより平行光として回折格子１０ｃ
に入射する。回折格子ｃは、回転駆動部１０ｄによって
回転駆動され、凹面鏡１０ｂから入射する光（入射光）
に対する対向角が回動角に応じて可変する。このような
回折格子ｃの回折光は、凹面鏡１０ｂにおいて反射する
ことにより出射スリット１０ｆへ結像され、該出射スリ
ット１０ｆを通過した光は、光検出器１１によって検出
される。
【００２２】このように構成された分光器１０では、周
知のように回折光の回折角は入射光の波長に応じて変化
するので、回折格子１０ｃの回動角に応じた特定波長の
回折光が出射スリット１０ｆから取り出される。上記回
動角を規定する回転駆動部１０ｄは、図示するように制
御演算部６によって制御され、出射スリット１０ｆから
取り出された特定波長の回折光は、光検出器１１によっ
て電気信号に変換される。この電気信号は、上記特定波
長の回折光の光強度を示す光強度信号である。すなわ
ち、本分光器１０によれば、回折格子１０ｃの回動角を
一定回動範囲内で連続的に可変設定することにより、当
該一定回動範囲に対応する一定波長範囲の特定波長の回
折光が出射スリット１０ｆから順次取り出される。
知のように回折光の回折角は入射光の波長に応じて変化
するので、回折格子１０ｃの回動角に応じた特定波長の
回折光が出射スリット１０ｆから取り出される。上記回
動角を規定する回転駆動部１０ｄは、図示するように制
御演算部６によって制御され、出射スリット１０ｆから
取り出された特定波長の回折光は、光検出器１１によっ
て電気信号に変換される。この電気信号は、上記特定波
長の回折光の光強度を示す光強度信号である。すなわ
ち、本分光器１０によれば、回折格子１０ｃの回動角を
一定回動範囲内で連続的に可変設定することにより、当
該一定回動範囲に対応する一定波長範囲の特定波長の回
折光が出射スリット１０ｆから順次取り出される。
【００２３】光検出器１１は、上述したように分光器１
０の出射光（上記特定波長の回折光）を光強度信号に変
換してＡ／Ｄ変換器１２に出力する。Ａ／Ｄ変換器１２
は、アナログ信号である光強度信号をデジタル信号（光
強度データ）に変換して制御演算部６に出力する。ま
た、表示部１３は、制御演算部６が光強度データに基づ
いて生成した測定画像を表示すると共に、上述した警報
信号に基づく警報メッセージを表示する。警報ブザー１
４は、警報信号に基づく警報音を発音する、
０の出射光（上記特定波長の回折光）を光強度信号に変
換してＡ／Ｄ変換器１２に出力する。Ａ／Ｄ変換器１２
は、アナログ信号である光強度信号をデジタル信号（光
強度データ）に変換して制御演算部６に出力する。ま
た、表示部１３は、制御演算部６が光強度データに基づ
いて生成した測定画像を表示すると共に、上述した警報
信号に基づく警報メッセージを表示する。警報ブザー１
４は、警報信号に基づく警報音を発音する、
【００２４】次に、このように構成された本光スペクト
ラムアナライザの動作について説明する。
ラムアナライザの動作について説明する。
【００２５】被測定光を測定する場合、制御演算部６
は、被測定光入射端７を選択するように光スイッチ９を
制御することにより、被測定光を分光器１０に入射され
る。そして、制御演算部６は、回転駆動部１０ｄを制御
することにより回折格子１０ｃの回動角を一定回動範囲
内で連続的に可変設定することにより、当該一定回動範
囲に対応する一定波長範囲内の特定波長の回折光を出射
スリット１０ｆから順次取り出し、当該回折光の光強度
データをＡ／Ｄ変換器１２から順次取り込む。制御演算
部６は、このようにして取得した光強度データに基づい
て、図３に示すような被測定光に関する波長と強度との
関係を示す測定画像を生成して表示部１３に出力する。
は、被測定光入射端７を選択するように光スイッチ９を
制御することにより、被測定光を分光器１０に入射され
る。そして、制御演算部６は、回転駆動部１０ｄを制御
することにより回折格子１０ｃの回動角を一定回動範囲
内で連続的に可変設定することにより、当該一定回動範
囲に対応する一定波長範囲内の特定波長の回折光を出射
スリット１０ｆから順次取り出し、当該回折光の光強度
データをＡ／Ｄ変換器１２から順次取り込む。制御演算
部６は、このようにして取得した光強度データに基づい
て、図３に示すような被測定光に関する波長と強度との
関係を示す測定画像を生成して表示部１３に出力する。
【００２６】ここで、図３の測定画像では、被測定光の
基本波の波長がλaとして測定された状態を示している
が、回折格子１０ｃの熱膨張や熱収縮等に起因して分光
器１０の分光特性に測定波長誤差±Δλが生じた場合に
は、上記基本波の波長はλaとして測定されず、測定波
長誤差±Δλに応じた波長、つまり（λa±Δλ）とし
て測定される。そして、このような測定波長誤差±Δλ
を校正するためには、回折格子１０ｃの回動角を測定波
長誤差±Δλに応じて補正する必要がある。
基本波の波長がλaとして測定された状態を示している
が、回折格子１０ｃの熱膨張や熱収縮等に起因して分光
器１０の分光特性に測定波長誤差±Δλが生じた場合に
は、上記基本波の波長はλaとして測定されず、測定波
長誤差±Δλに応じた波長、つまり（λa±Δλ）とし
て測定される。そして、このような測定波長誤差±Δλ
を校正するためには、回折格子１０ｃの回動角を測定波
長誤差±Δλに応じて補正する必要がある。
【００２７】制御演算部６は、比較器３から入力される
減算結果と校正温度との比較結果を常時モニタしてお
り、本光スペクトラムアナライザの動作モードが自動校
正モードに設定されている場合、減算結果と校正温度と
の差異が校正が必要な程度に大きくなると、基準光源８
を選択するように光スイッチ９を切り替えて分光器１０
に基準光を入力させる。そして、この基準光の波長は特
定の既知波長であるため、制御演算部６は、基準光の測
定波長と既知波長との差異が「０」となるように回折格
子１０ｃの回動角を補正する。
減算結果と校正温度との比較結果を常時モニタしてお
り、本光スペクトラムアナライザの動作モードが自動校
正モードに設定されている場合、減算結果と校正温度と
の差異が校正が必要な程度に大きくなると、基準光源８
を選択するように光スイッチ９を切り替えて分光器１０
に基準光を入力させる。そして、この基準光の波長は特
定の既知波長であるため、制御演算部６は、基準光の測
定波長と既知波長との差異が「０」となるように回折格
子１０ｃの回動角を補正する。
【００２８】一方、本光スペクトラムアナライザの動作
モードが警報モードに設定されている場合には、制御演
算部６は、減算結果と校正温度との差異が校正が必要な
程度に大きくなっても上記自動校正を行わず、校正が必
要なことを示す警報信号を表示部１３及び警報ブザー１
４に出力する。この結果、表示部１３には校正の必要が
メッセージとして表示され、警報ブザー１４は、校正の
必要を示す警報音を報知する。
モードが警報モードに設定されている場合には、制御演
算部６は、減算結果と校正温度との差異が校正が必要な
程度に大きくなっても上記自動校正を行わず、校正が必
要なことを示す警報信号を表示部１３及び警報ブザー１
４に出力する。この結果、表示部１３には校正の必要が
メッセージとして表示され、警報ブザー１４は、校正の
必要を示す警報音を報知する。
【００２９】このような本実施形態によれば、動作モー
ドに応じて温度センサ１によって検出された周囲温度に
応じた自動校正あるいは校正の必要の報知がなされるの
で、被測定光の光波長を周囲温度の影響を除外して、よ
り正確に測定することができる。
ドに応じて温度センサ１によって検出された周囲温度に
応じた自動校正あるいは校正の必要の報知がなされるの
で、被測定光の光波長を周囲温度の影響を除外して、よ
り正確に測定することができる。
【００３０】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではなく、例えば以下のような変形が考えられ
る。 （１）上記実施形態では、分光器１０としてツェルニタ
ーナ型分光器を用いたが、他方式の分光器を用いても良
い。 （２）自動校正機能のみを搭載して校正の必要を報知す
る機能を削除する、あるいは校正の必要を報知する機能
のみを搭載して自動校正機能を削除することが考えられ
る。 （３）上記実施形態では、比較処理部３を減算器３ａと
比較器３ｂとから構成したが、比較処理部３の構成は、
これに限定されるものではない。
るものではなく、例えば以下のような変形が考えられ
る。 （１）上記実施形態では、分光器１０としてツェルニタ
ーナ型分光器を用いたが、他方式の分光器を用いても良
い。 （２）自動校正機能のみを搭載して校正の必要を報知す
る機能を削除する、あるいは校正の必要を報知する機能
のみを搭載して自動校正機能を削除することが考えられ
る。 （３）上記実施形態では、比較処理部３を減算器３ａと
比較器３ｂとから構成したが、比較処理部３の構成は、
これに限定されるものではない。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
周囲温度に対して光波長測定装置の校正を実現すること
が可能であり、以て被測定光の光波長を周囲温度の影響
を除外してより正確に測定することができる。
周囲温度に対して光波長測定装置の校正を実現すること
が可能であり、以て被測定光の光波長を周囲温度の影響
を除外してより正確に測定することができる。
【図１】 本発明の一実施形態の機能構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】 本発明の一実施形態における分光器の機能構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図３】 本発明の一実施形態における測定画像を示す
模式図である。
模式図である。
１……温度センサ
２……Ａ／Ｄ変換器
３……比較処理部
３ａ……減算器
３ｂ……比較器
４……基準温度記憶部
５……校正温度記憶部
６……制御演算部
７……被測定光入射端
８……基準光源
９……光スイッチ
１０……分光器
１０ａ……入射スリット
１０ｂ……凹面鏡
１０ｃ……回折格子
１０ｄ……回転駆動部
１０ｅ……凹面鏡
１０ｆ……出射スリット
１１……光検出器
１２……Ａ／Ｄ変換器
１３……表示部
１４……警報ブザー
Ｋ……校正手段
Ｅ……評価手段
Ｊ……実行手段
Ｈ……校正報知手段
ＨＪ……報知実行手段
Claims (7)
- 【請求項１】 周囲温度に応じて自動校正を実行する
校正手段（Ｋ）を具備することを特徴とする光波長測定
装置。 - 【請求項２】 校正手段（Ｋ）は、 周囲温度を検出する温度検出手段（１）と、 該温度検出手段（１）の検出結果を評価する評価手段
（Ｅ）と、 該評価手段（Ｅ）の評価結果に基づいて校正を自動的に
実行する実行手段（Ｊ）とを備えることを特徴とする請
求項１記載の光波長測定装置。 - 【請求項３】 周囲温度の評価結果に応じて校正の必
要を報知する校正報知手段（Ｈ）をさらに備え、動作モ
ードに応じて実行手段（Ｊ）による自動校正あるいは校
正報知手段（Ｈ）による校正の必要報知を実行すること
を特徴とする請求項１または２記載の光波長測定装置。 - 【請求項４】 周囲温度の評価結果に応じて校正の必
要を報知する校正報知手段（Ｈ）を具備することを特徴
とする光波長測定装置。 - 【請求項５】 校正報知手段（Ｈ）は、 周囲温度を検出する温度検出手段（１）と、 該温度検出手段（１）の検出結果を評価する評価手段
（Ｅ）と、 該評価手段（Ｅ）の評価結果に基づいて報知を実行する
報知実行手段（ＨＪ）とを備えることを特徴とする請求
項４記載の光波長測定装置。 - 【請求項６】 評価手段（Ｅ）は、前回の測定時にお
ける周囲温度と温度検出手段（１）によって検出された
実際の周囲温度との差を所定のしきい値と比較すること
により校正の要否を評価することを特徴とする請求項２
または５記載の光波長測定装置。 - 【請求項７】 評価手段（Ｅ）は、前回の校正時にお
ける周囲温度と温度検出手段（１）によって検出された
実際の周囲温度との差を所定のしきい値と比較すること
により校正の要否を評価することを特徴とする請求項２
または５記載の光波長測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001396654A JP2003194626A (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 光波長測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001396654A JP2003194626A (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 光波長測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003194626A true JP2003194626A (ja) | 2003-07-09 |
Family
ID=27602692
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001396654A Withdrawn JP2003194626A (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 光波長測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003194626A (ja) |
-
2001
- 2001-12-27 JP JP2001396654A patent/JP2003194626A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040914 |
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| A711 | Notification of change in applicant |
Effective date: 20041001 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 |
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| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20050221 |
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| A977 | Report on retrieval |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20060818 |