JPH061250B2 - アンモニアガスに感応する電界効果装置 - Google Patents
アンモニアガスに感応する電界効果装置Info
- Publication number
- JPH061250B2 JPH061250B2 JP60144108A JP14410885A JPH061250B2 JP H061250 B2 JPH061250 B2 JP H061250B2 JP 60144108 A JP60144108 A JP 60144108A JP 14410885 A JP14410885 A JP 14410885A JP H061250 B2 JPH061250 B2 JP H061250B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- ammonia gas
- regions
- gate regions
- drain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 27
- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims abstract description 12
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 abstract description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 abstract description 4
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 H 2 Chemical compound 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910000037 hydrogen sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
- G01N33/0036—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector specially adapted to detect a particular component
- G01N33/0054—Ammonia
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
- G01N27/4141—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS specially adapted for gases
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02A—TECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE
- Y02A50/00—TECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE in human health protection, e.g. against extreme weather
- Y02A50/20—Air quality improvement or preservation, e.g. vehicle emission control or emission reduction by using catalytic converters
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明はガス・センサーに関し、特にアンモニアガス・
センサーに関する。
センサーに関する。
特に1〜1000vpmの濃度範囲におけるアンモニアガ
スを検出しうるアンモニアガス・センサーの需要が増大
している。
スを検出しうるアンモニアガス・センサーの需要が増大
している。
英国特許第1520456号には、プラチナゲート電界
効果型トランジスタよりなるガス・センサーが記載され
ている。この装置はアンモニアガスを検出するために用
いられうるが、本来あまり関心をもたれておらずしかも
アンモニアガスに対する応答をマスクしてしまいがちな
例えばH2、H2S、CH4のような水素原子を含む他
のガスにも感応する。
効果型トランジスタよりなるガス・センサーが記載され
ている。この装置はアンモニアガスを検出するために用
いられうるが、本来あまり関心をもたれておらずしかも
アンモニアガスに対する応答をマスクしてしまいがちな
例えばH2、H2S、CH4のような水素原子を含む他
のガスにも感応する。
本発明の1つの目的はアンモニアガスを選択する装置を
提供することである。
提供することである。
従って、本発明によれば、1つの極性型式を有する半導
体材料の基板が第1および第2のゲート領域を有し、こ
れらのゲート領域がそれぞれ他の極性型式を有するドレ
ン領域およびソース領域を相互に接続し、かつプラチナ
よりなる各ゲート電極が、前記基板上の選択的に絶縁性
の材料によって前記第1および第2のゲート領域から離
間されており、 前記ゲート電極はそれぞれ蒸着およびスパッタリングに
よって被着されたものであり、前記第1および第2のゲ
ート領域における電気的伝導は、それらのゲート領域が
互いに異なる態様で接続された場合、アンモニアガスの
濃度に依存するが、装置が露呈される水素を含む他のガ
スの濃度には実質的に依存しないようになされた、アン
モニアガスに感応する電界効果装置が提供される。
体材料の基板が第1および第2のゲート領域を有し、こ
れらのゲート領域がそれぞれ他の極性型式を有するドレ
ン領域およびソース領域を相互に接続し、かつプラチナ
よりなる各ゲート電極が、前記基板上の選択的に絶縁性
の材料によって前記第1および第2のゲート領域から離
間されており、 前記ゲート電極はそれぞれ蒸着およびスパッタリングに
よって被着されたものであり、前記第1および第2のゲ
ート領域における電気的伝導は、それらのゲート領域が
互いに異なる態様で接続された場合、アンモニアガスの
濃度に依存するが、装置が露呈される水素を含む他のガ
スの濃度には実質的に依存しないようになされた、アン
モニアガスに感応する電界効果装置が提供される。
アンモニアガスに対するプラチナゲート電界効果トラン
ジスタの感度は、ゲート電極を被着するために採用され
る技術に大きく依存しており、ゲート電極が蒸着によっ
て被着された場合の方が、スパッタリングによって被着
された場合よりもその感度は高くなり、他方、蒸着によ
って被着された層は不連続であるが、スパッタリングに
よって被着された層は連続となる傾向があることを本発
明者等は見出した。他のガス(例えばH2、H2S、C
H4)に対する感度は、用いられる被着技術には依存し
ないようである。
ジスタの感度は、ゲート電極を被着するために採用され
る技術に大きく依存しており、ゲート電極が蒸着によっ
て被着された場合の方が、スパッタリングによって被着
された場合よりもその感度は高くなり、他方、蒸着によ
って被着された層は不連続であるが、スパッタリングに
よって被着された層は連続となる傾向があることを本発
明者等は見出した。他のガス(例えばH2、H2S、C
H4)に対する感度は、用いられる被着技術には依存し
ないようである。
以下図面を参照して本発明につきさらに詳細に説明しよ
う。
う。
英国特許第1520456号には、プラチナゲート電界
効果型トランジスタよりなるガスセンサーが記載されて
いる。ドレン・ソース電流(IDS)を一定とすると、
ゲート・ソース間電圧(VGS)は、そのセンサーが露
呈される水素ガス、すなわち水素原子を含むガス(例え
ばアンモニアガス、硫化水素またはメタン)の濃度に依
存する。
効果型トランジスタよりなるガスセンサーが記載されて
いる。ドレン・ソース電流(IDS)を一定とすると、
ゲート・ソース間電圧(VGS)は、そのセンサーが露
呈される水素ガス、すなわち水素原子を含むガス(例え
ばアンモニアガス、硫化水素またはメタン)の濃度に依
存する。
予想に反して、アンモニアに対するプラチナゲート電界
効果トランジスタの感度はゲート電極の空孔度およびそ
れを被着させるために用いられる技術に大きく依存する
ものであることを本発明者等は見出した。具体的に言え
ば、アンモニアガスに対する装置の感度は、ゲート電極
が蒸着によって被着された場合の方が、スパッタリング
によって被着された場合よりもはるかに高いことを認め
た。これに対して、他のガス(例えばH2、H2S、C
H4)に対する感度は、用いられる被着技術には依存し
ないようである。
効果トランジスタの感度はゲート電極の空孔度およびそ
れを被着させるために用いられる技術に大きく依存する
ものであることを本発明者等は見出した。具体的に言え
ば、アンモニアガスに対する装置の感度は、ゲート電極
が蒸着によって被着された場合の方が、スパッタリング
によって被着された場合よりもはるかに高いことを認め
た。これに対して、他のガス(例えばH2、H2S、C
H4)に対する感度は、用いられる被着技術には依存し
ないようである。
上述した本発明者等の知見に基づいて、本発明によるア
ンモニアガスを選択する装置は開発されたものである。
この装置は、1つの共通の基板を共用した2個のプラチ
ナゲート電界効果型トランジスタ(FET)で構成され
ている。一方の電界効果型トランジスタ(これを基準F
ETと呼ぶ)のゲート電極は蒸着によって形成されたも
のであり、従って、アンモニアガスに対して非常に顕著
なレンポンスを呈示する。これら2個のFETのドレン
およびソース電極は異なる態様で接続されうる。これら
の状況では、この装置がアンモニアガス以外のガス(例
えばH2、H2S、CH4)に露呈された場合には、上
記2個のFETのドレン・ソースチャンネル間に発生す
る電圧は互いに実質的に同一値で逆極性であるために互
いに打消し合う。他方、装置がアンモニアガスに露呈さ
れた場合には、実質的に異なる大きさの電圧が発生し、
全体のレスポンス特性、すなわち正味のドレン・ソース
間電圧は、装置が露呈されるアンモニアガスの濃度を表
わす。従って、上述した種類の二重ゲート装置は、差動
的に動作する場合、アンモニアガス・センサーとして機
能する。
ンモニアガスを選択する装置は開発されたものである。
この装置は、1つの共通の基板を共用した2個のプラチ
ナゲート電界効果型トランジスタ(FET)で構成され
ている。一方の電界効果型トランジスタ(これを基準F
ETと呼ぶ)のゲート電極は蒸着によって形成されたも
のであり、従って、アンモニアガスに対して非常に顕著
なレンポンスを呈示する。これら2個のFETのドレン
およびソース電極は異なる態様で接続されうる。これら
の状況では、この装置がアンモニアガス以外のガス(例
えばH2、H2S、CH4)に露呈された場合には、上
記2個のFETのドレン・ソースチャンネル間に発生す
る電圧は互いに実質的に同一値で逆極性であるために互
いに打消し合う。他方、装置がアンモニアガスに露呈さ
れた場合には、実質的に異なる大きさの電圧が発生し、
全体のレスポンス特性、すなわち正味のドレン・ソース
間電圧は、装置が露呈されるアンモニアガスの濃度を表
わす。従って、上述した種類の二重ゲート装置は、差動
的に動作する場合、アンモニアガス・センサーとして機
能する。
本発明に従って構成された装置の一例が第1a図および
第1b図に平面図および断面図で示されている。この装
置は、2個の電界効果型トランジスタ、すなわち全体と
して10で示された基準FETと、全体として20で示
された測定FETで構成されている。これらのFETは
p型半導体材料(例えばケイ素)よりなる共通の基板1
を共用し、かつそれとは反対の導電型式すなわちn型の
ドレンおよびソース領域(11,12;21,22)を
有している。それらのドレンおよびソース領域には例え
ばCr/AuまたはAlのような適当な金属よりなる電
極が設けられている。
第1b図に平面図および断面図で示されている。この装
置は、2個の電界効果型トランジスタ、すなわち全体と
して10で示された基準FETと、全体として20で示
された測定FETで構成されている。これらのFETは
p型半導体材料(例えばケイ素)よりなる共通の基板1
を共用し、かつそれとは反対の導電型式すなわちn型の
ドレンおよびソース領域(11,12;21,22)を
有している。それらのドレンおよびソース領域には例え
ばCr/AuまたはAlのような適当な金属よりなる電
極が設けられている。
各FETは各ゲート領域(それぞれ全体として14およ
び24で示されている)上に設けられたプラチナゲート
電極(13、23)を有しており、それらのゲート領域
はドレンおよびソース領域を接続しており、これらのド
レンおよびソース領域間で電気的伝導が発生する。ゲー
ト電極は、通常二酸化ケイ素、シリコン・オキシナイト
ライドまたは窒化ケイ素よりなる電気的絶縁層2によっ
て基板1から離間されている。
び24で示されている)上に設けられたプラチナゲート
電極(13、23)を有しており、それらのゲート領域
はドレンおよびソース領域を接続しており、これらのド
レンおよびソース領域間で電気的伝導が発生する。ゲー
ト電極は、通常二酸化ケイ素、シリコン・オキシナイト
ライドまたは窒化ケイ素よりなる電気的絶縁層2によっ
て基板1から離間されている。
上述のように、基準FET10のゲート電極13はスパ
ッタリングによって被着されたものであり、他方、測定
FET20のゲート電極23は蒸着によって被着された
ものであるから、前者に比較して、アンモニアガスに対
するレスポンスがはるかに顕著である。これらのゲート
電極を被着するために用いられた蒸着およびスパッタリ
ング技術は公知のものであるから、それらについて詳細
に説明する必要はなかろう。蒸着によって被着された電
極とスパッタリングによって被着された電極とは著しく
異なるフィルム形態を呈することがSEM分解によって
認められた。すなわち、スパッタリングによって被着さ
れた電極は、蒸着によって被着されたものよりも表面平
滑度が大きいことが認められた。アンモニアガスに対す
る感度が異なるのは、フィルム形態におけるこの差異に
基因するものと考えられる。
ッタリングによって被着されたものであり、他方、測定
FET20のゲート電極23は蒸着によって被着された
ものであるから、前者に比較して、アンモニアガスに対
するレスポンスがはるかに顕著である。これらのゲート
電極を被着するために用いられた蒸着およびスパッタリ
ング技術は公知のものであるから、それらについて詳細
に説明する必要はなかろう。蒸着によって被着された電
極とスパッタリングによって被着された電極とは著しく
異なるフィルム形態を呈することがSEM分解によって
認められた。すなわち、スパッタリングによって被着さ
れた電極は、蒸着によって被着されたものよりも表面平
滑度が大きいことが認められた。アンモニアガスに対す
る感度が異なるのは、フィルム形態におけるこの差異に
基因するものと考えられる。
上述した実施例では、基板1がp型材料であり、ドレン
およびソース領域はn型材料よりなるものであったが、
必らずしもその通りである必要はなく、それらの導電型
式は逆にしてもよい。さらに、第1a図および第1b図
に関して説明された装置はそれぞれドレンおよびソース
領域を有する2個のFET(10、20)で構成された
が、それらの2個のFETは1つの共通のソース領域ま
たは1つの共通のドレン領域を共有してもよい。
およびソース領域はn型材料よりなるものであったが、
必らずしもその通りである必要はなく、それらの導電型
式は逆にしてもよい。さらに、第1a図および第1b図
に関して説明された装置はそれぞれドレンおよびソース
領域を有する2個のFET(10、20)で構成された
が、それらの2個のFETは1つの共通のソース領域ま
たは1つの共通のドレン領域を共有してもよい。
第2図に示された種類の回路を用いて、2個のFETの
ドレン電極に得られる電圧を異なる態様で処理すること
により、この装置は選択的なアンモニアガス・センサー
として機能する。このセンサーはまた、オンチップ加熱
および温度制御機能をも有する。
ドレン電極に得られる電圧を異なる態様で処理すること
により、この装置は選択的なアンモニアガス・センサー
として機能する。このセンサーはまた、オンチップ加熱
および温度制御機能をも有する。
この種類の二重ゲート装置は特に有益である。両方のゲ
ートがプラチナよりなるものであるから、両方のFET
の闘値電圧は同一である。さらに、上記FETは1つの
共通の基板を共有しており、かつ差動的に動作するか
ら、長期間ドリフト、温度変化、経年変化による望まし
くない作用が大幅に軽減される。
ートがプラチナよりなるものであるから、両方のFET
の闘値電圧は同一である。さらに、上記FETは1つの
共通の基板を共有しており、かつ差動的に動作するか
ら、長期間ドリフト、温度変化、経年変化による望まし
くない作用が大幅に軽減される。
第1a図は本発明に従って構成された二重ゲート装置の
平面図、第1b図は第1図の線XYに沿ってみた断面
図、第2図は本発明の装置に使用しうる回路を示す回路
図である。 図面において、1は基板、11、21はドレン領域、1
2、22はソース領域、13、23はゲート電極、1
4、24はゲート領域をそれぞれ示す。
平面図、第1b図は第1図の線XYに沿ってみた断面
図、第2図は本発明の装置に使用しうる回路を示す回路
図である。 図面において、1は基板、11、21はドレン領域、1
2、22はソース領域、13、23はゲート電極、1
4、24はゲート領域をそれぞれ示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ブライアン クリストフアー ウエブ イギリス国ミドルセツクス、サンベリイ・ オン・テームズ、サンミード ロード 55
Claims (4)
- 【請求項1】アンモニアガスに感応する二重ゲート電界
効果型検出装置で有って、当該装置は、第1及び第2の
ゲート領域を有し、且つ当該各ゲート領域は、それぞ
れ、ドレイン領域及びソース領域とを相互に接続してい
る、半導体材料、及び電気的絶縁材料によりそれぞれ該
第1及び第2のゲート領域から離間せしめられている、
プラチナよりなる第1及び第2のゲート電極、とから構
成されており、当該第1のプラチナ電極は、スパッタリ
ングによって形成せしめられたものであり、又該第2の
プラチナ電極は、蒸着によって形成せしめられたもので
ある事を特徴とするアンモニアガスに感応する二重ゲー
ト電界効果型検出装置。 - 【請求項2】1つの導電型式を有する半導体材料よりな
る基板が、第1及び第2のゲート領域を有し、それらの
ゲート領域はそれぞれ他の導電型式を有するドレイン領
域及びソース領域を接続しており、且つ各ゲート電極
は、前記基板上の電気的絶縁材料により前記第1及び第
2のゲート領域から離間されており、前記ゲート電極は
それぞれ蒸着及びスパッタリングによって被着されてお
り、前記第1及び第2のゲート電極に於ける電気的伝導
は、それらのゲート領域が互いに差動的に接続された場
合には、アンモニアガスの濃度に依存するが、装置が露
呈される水素を含む他のガスの濃度には実質的に依存し
ないようになされた特許請求の範囲第1項記載の装置。 - 【請求項3】前記第1及び第2のゲート領域が、一つの
領域とそれぞれのドレイン領域を接続している事を特徴
とする特許請求の範囲第2項記載の装置。 - 【請求項4】前記第1及び第2のゲート領域が、一つの
共通のドレイン領域と各ソース領域を接続している事を
特徴とする特許請求の範囲第2項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8416994 | 1984-07-04 | ||
GB848416994A GB8416994D0 (en) | 1984-07-04 | 1984-07-04 | Gas sensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6125044A JPS6125044A (ja) | 1986-02-03 |
JPH061250B2 true JPH061250B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=10563378
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60144108A Expired - Lifetime JPH061250B2 (ja) | 1984-07-04 | 1985-07-02 | アンモニアガスに感応する電界効果装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4650561A (ja) |
EP (1) | EP0168200B1 (ja) |
JP (1) | JPH061250B2 (ja) |
AT (1) | ATE63387T1 (ja) |
DE (1) | DE3582757D1 (ja) |
GB (1) | GB8416994D0 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0814418B2 (ja) * | 1987-10-30 | 1996-02-14 | リンナイ株式会社 | 給湯器 |
EP0426989B1 (de) * | 1989-11-04 | 1994-02-02 | Dornier Gmbh | Selektiver Gassensor |
GB9208780D0 (en) * | 1992-04-23 | 1992-06-10 | Central Research Lab Ltd | Method and apparatus for determining the concentration of ammonium ions in solution |
JP3457826B2 (ja) * | 1997-01-31 | 2003-10-20 | 株式会社リコー | 薄膜式抵抗体及びその製造方法、流量センサ、湿度センサ、ガスセンサ、温度センサ |
DE19814855C1 (de) * | 1998-04-02 | 1999-11-04 | Siemens Ag | Gassensor nach dem Prinzip der Messung der Austrittsarbeit bzw. des Kontaktpotentiales |
US7901553B2 (en) * | 2004-01-27 | 2011-03-08 | H2Scan Corporation | Method and system for sensing gas incorporating an integrated reference element |
DE102004013678A1 (de) * | 2004-03-18 | 2005-10-20 | Micronas Gmbh | Vorrichtung zur Detektion eines Gases oder Gasgemischs |
FR2872914B1 (fr) * | 2004-07-07 | 2006-10-13 | Univ Rennes I Etablissement Pu | Capteur pour la detection et/ou la mesure d'une concentration de charges electriques contenues dans une ambiance, utilisations et procede de fabrication correspondants |
DE102008042859A1 (de) * | 2008-10-15 | 2010-04-22 | Robert Bosch Gmbh | Elektronisches Bauelement |
KR101869811B1 (ko) * | 2011-12-13 | 2018-06-22 | 삼성전자주식회사 | 암모니아 가스 검출장치 및 그를 구비하는 반도체 생산라인의 관리 시스템 |
WO2016037663A1 (en) * | 2014-09-12 | 2016-03-17 | Siemens Aktiengesellschaft | A helicobacter pylori sensor based on a chemical field-effect transistor |
GB2561246A (en) | 2017-04-07 | 2018-10-10 | Sumitomo Chemical Co | Gas Sensor system and method |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3831432A (en) * | 1972-09-05 | 1974-08-27 | Texas Instruments Inc | Environment monitoring device and system |
SE387444B (sv) * | 1974-09-09 | 1976-09-06 | C M Svensson | Detektor for pavisande av vete |
JPS5466194A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Kuraray Co | Fet sensor |
US4180771A (en) * | 1977-12-02 | 1979-12-25 | Airco, Inc. | Chemical-sensitive field-effect transistor |
JPS5825221B2 (ja) * | 1977-12-12 | 1983-05-26 | 株式会社クラレ | Fet比較電極 |
JPS5626250A (en) * | 1979-08-10 | 1981-03-13 | Olympus Optical Co Ltd | Composite chemical sensor |
EP0044298A1 (en) * | 1979-07-24 | 1982-01-27 | DANIELSSON, Bengt | A method and apparatus for indicating the presence of substances which, in a chemical reaction, generate or consume gas |
US4397714A (en) * | 1980-06-16 | 1983-08-09 | University Of Utah | System for measuring the concentration of chemical substances |
GB2096825A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-20 | Sibbald Alastair | Chemical sensitive semiconductor field effect transducer |
GB2096824A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-20 | Sibbald Alastair | Chemically sensitive field effect transistor |
US4514263A (en) * | 1982-01-12 | 1985-04-30 | University Of Utah | Apparatus and method for measuring the concentration of components in fluids |
JPS59102154A (ja) * | 1982-12-06 | 1984-06-13 | Olympus Optical Co Ltd | 化学的感応素子 |
US4505799A (en) * | 1983-12-08 | 1985-03-19 | General Signal Corporation | ISFET sensor and method of manufacture |
US4508613A (en) * | 1983-12-19 | 1985-04-02 | Gould Inc. | Miniaturized potassium ion sensor |
-
1984
- 1984-07-04 GB GB848416994A patent/GB8416994D0/en active Pending
-
1985
- 1985-06-27 DE DE8585304589T patent/DE3582757D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-06-27 EP EP85304589A patent/EP0168200B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-06-27 AT AT85304589T patent/ATE63387T1/de active
- 1985-07-02 JP JP60144108A patent/JPH061250B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1985-07-02 US US06/751,146 patent/US4650561A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0168200A2 (en) | 1986-01-15 |
US4650561A (en) | 1987-03-17 |
JPS6125044A (ja) | 1986-02-03 |
EP0168200B1 (en) | 1991-05-08 |
EP0168200A3 (en) | 1987-08-12 |
GB8416994D0 (en) | 1984-08-08 |
ATE63387T1 (de) | 1991-05-15 |
DE3582757D1 (de) | 1991-06-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970003739A (ko) | 박막 트랜지스터를 이용한 생화학적 감지기 및 그 제조 방법 | |
US4397714A (en) | System for measuring the concentration of chemical substances | |
JPH061250B2 (ja) | アンモニアガスに感応する電界効果装置 | |
US4849798A (en) | Field effect transistor type sensor with an auxiliary electrode | |
US4512870A (en) | Chemically sensitive element | |
KR920003549A (ko) | Mis형 반도체장치 | |
JPS5870155A (ja) | イオンに応答する半導体装置 | |
JPH0777262B2 (ja) | 縦型電界効果トランジスタ | |
US4909921A (en) | Electrochemical sensor facilitating repeated measurement | |
US6955749B2 (en) | Sensor for measuring an ion concentration or gas concentration | |
US6929728B2 (en) | Sensor for measuring a gas concentration or ion concentration | |
JP3167022B2 (ja) | ガスセンサ | |
JP2546340B2 (ja) | 感湿素子およびその動作回路 | |
JPS61153537A (ja) | 半導体圧力センサ | |
US7326974B2 (en) | Sensor for measuring a gas concentration or ion concentration | |
JPH0374789B2 (ja) | ||
JPH0329326A (ja) | 接合型電界効果型トランジスタ | |
JPH0116379B2 (ja) | ||
JPS6113180B2 (ja) | ||
JP2000187018A (ja) | 半導体イオンセンサ | |
JPH02249962A (ja) | Fetセンサ | |
JPH029306B2 (ja) | ||
JPH0580026A (ja) | 半導体イオンセンサ | |
JPS59129472A (ja) | Mos型トランジスタ | |
JP2000187016A (ja) | 半導体イオンセンサ |