JPS6125044A - アンモニアガスに感応する電界効果装置 - Google Patents
アンモニアガスに感応する電界効果装置Info
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- JPS6125044A JPS6125044A JP14410885A JP14410885A JPS6125044A JP S6125044 A JPS6125044 A JP S6125044A JP 14410885 A JP14410885 A JP 14410885A JP 14410885 A JP14410885 A JP 14410885A JP S6125044 A JPS6125044 A JP S6125044A
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- G01—MEASURING; TESTING
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はガス・センサーに関し、特にアンモニアガス・
センサーに関する。
センサーに関する。
特に1〜11000vpの濃度範囲におけるアンモニア
ガスを検出しうるアンモニアガス・センサーの需要が増
大している。
ガスを検出しうるアンモニアガス・センサーの需要が増
大している。
英国特許第1520456号には、プラチナゲート電界
効果型トランジスタよりなるガス・センサーが記載され
ている。この装置はアンモニアガスを検出するために用
いられうるが、本来あまり関心をもたれておらずしかも
アンモニアガスに対する応答をマスクしてしまいがちな
例えばH2、H2S5CH4のような水素原子を含む他
のガスにも感応する。
効果型トランジスタよりなるガス・センサーが記載され
ている。この装置はアンモニアガスを検出するために用
いられうるが、本来あまり関心をもたれておらずしかも
アンモニアガスに対する応答をマスクしてしまいがちな
例えばH2、H2S5CH4のような水素原子を含む他
のガスにも感応する。
本発明の1つの目的はアンモニアガスを選択する装置を
提供することである。
提供することである。
従って、本発明によれば、1つの極性型式を有する半導
体材料の基板が第1および第2のケート領域を存し、こ
れらのゲート領域がそれぞれ他の極性型式を有するFレ
ン領域およびソース領域を相互に接続し、かつプラチナ
よりなる各デー1〜電極が、前記基板上の選択的に絶縁
性の材料によって前記第1および第2のゲー)IN域か
ら離間されており、 前記ゲート電極はそれぞれ蒸着およびスパッタリングに
よって被着されたものであり、前記第1および第2のゲ
ート領域における電気的伝導は、それらのゲート領域が
互いに異なる態様で接続された場合、アンモニアガスの
濃度に依存するが、装置が露呈される水素を含む他のガ
スの濃度には実質的に依存しないようになされた、アン
モニアガスに感応する電界効果装置が提供される。
体材料の基板が第1および第2のケート領域を存し、こ
れらのゲート領域がそれぞれ他の極性型式を有するFレ
ン領域およびソース領域を相互に接続し、かつプラチナ
よりなる各デー1〜電極が、前記基板上の選択的に絶縁
性の材料によって前記第1および第2のゲー)IN域か
ら離間されており、 前記ゲート電極はそれぞれ蒸着およびスパッタリングに
よって被着されたものであり、前記第1および第2のゲ
ート領域における電気的伝導は、それらのゲート領域が
互いに異なる態様で接続された場合、アンモニアガスの
濃度に依存するが、装置が露呈される水素を含む他のガ
スの濃度には実質的に依存しないようになされた、アン
モニアガスに感応する電界効果装置が提供される。
アンモニアガスに対するプラチナケート電界効果トラン
ジスタの感度は、ゲート電極を被着するために採用され
る技術に大きく依存しており、す”−ト電極が蒸着によ
って被着された場合の方が、スパッタリングによって被
着された場合よりもその感度は高くなり、他方、蒸着に
よって被着された層は不連続であるが、スパッタリング
によって被着された層は連続となる傾向があることを本
発明者等は見出した。他のガス(例えば+12.11□
S、CH,)に対する感度は、用いられる被着技術に番
よ依存しないようである。
ジスタの感度は、ゲート電極を被着するために採用され
る技術に大きく依存しており、す”−ト電極が蒸着によ
って被着された場合の方が、スパッタリングによって被
着された場合よりもその感度は高くなり、他方、蒸着に
よって被着された層は不連続であるが、スパッタリング
によって被着された層は連続となる傾向があることを本
発明者等は見出した。他のガス(例えば+12.11□
S、CH,)に対する感度は、用いられる被着技術に番
よ依存しないようである。
以下図面を参照して本発明につきさらに詳細に説明しよ
う。
う。
英国特許第1520456号には、プラチナゲ−1・電
界効果型トランジスタよりなるガスセン勺−が記載され
ている。ルン・ソース電’/k (I ns)を一定と
すると、ゲー[・ソース間電圧(VGS)は、そのナン
サーが露呈される水素ガス、すなわち水素原子を含むガ
ス(例えばアンモニアガス、硫化水素またはメタン)の
濃度に依存する。
界効果型トランジスタよりなるガスセン勺−が記載され
ている。ルン・ソース電’/k (I ns)を一定と
すると、ゲー[・ソース間電圧(VGS)は、そのナン
サーが露呈される水素ガス、すなわち水素原子を含むガ
ス(例えばアンモニアガス、硫化水素またはメタン)の
濃度に依存する。
予想に反して、アンモニアに対するプラチナゲート電界
効果トランジスタの感度はデー1−電極の空孔度および
それを被着させるために用いられる技術に大きく依存す
るものであることを本発明者等は見出した。具体的に言
えば、アンモニアガスに対する装置の感度は、ゲート電
極が蒸着によって被着された場合の方が、スパッタリン
グによって被着された場合よりもはるかに高いことを認
めた。これに対して、他のガス(例えば11□、H,S
、CH4)に対する感度は、用いられる被着技術には依
存しないようである。
効果トランジスタの感度はデー1−電極の空孔度および
それを被着させるために用いられる技術に大きく依存す
るものであることを本発明者等は見出した。具体的に言
えば、アンモニアガスに対する装置の感度は、ゲート電
極が蒸着によって被着された場合の方が、スパッタリン
グによって被着された場合よりもはるかに高いことを認
めた。これに対して、他のガス(例えば11□、H,S
、CH4)に対する感度は、用いられる被着技術には依
存しないようである。
上述した本発明者等の知見に基づいて、本発明によるア
ンモニアガスを選択する装置は開発されたものである。
ンモニアガスを選択する装置は開発されたものである。
この装置は、1つの共通の基板を共用した2個のプラチ
ナゲート電界効果型トランジスタ(FET)で構成され
ている。一方の電界効果型トランジスタ(これを基準F
ETと呼ぶ)のゲート電極は蒸着によって形成されたも
のであり、従って、アンモニアガスに対して非常に顕著
なレスポンスを呈示する。これら2個のFETのドレン
およびソース電極は異なる態様で接続されうる。これら
の状況では、この装置がアンモニアガス以外のガス(例
えばH2、H2S、、CH,)に露呈された場合には、
上記2個のFETのドレン・ソースチャンネル間に発生
する電圧は互いに実質的に同一値で逆極性であるために
互いに打消し合う。他方、装置がアンモニアガスに露呈
された場合には、実質的に異なる大きさの電圧が発生し
、全体のレスポンス特性、ずなわち正味のドレン・ソー
ス間電圧は、装置が露呈されるアンモニアガスの濃度を
表わす。従って、上述した種類の二重ゲート装置は、差
動的に動作する場合、アンモニアガス・センサーとして
機能する。
ナゲート電界効果型トランジスタ(FET)で構成され
ている。一方の電界効果型トランジスタ(これを基準F
ETと呼ぶ)のゲート電極は蒸着によって形成されたも
のであり、従って、アンモニアガスに対して非常に顕著
なレスポンスを呈示する。これら2個のFETのドレン
およびソース電極は異なる態様で接続されうる。これら
の状況では、この装置がアンモニアガス以外のガス(例
えばH2、H2S、、CH,)に露呈された場合には、
上記2個のFETのドレン・ソースチャンネル間に発生
する電圧は互いに実質的に同一値で逆極性であるために
互いに打消し合う。他方、装置がアンモニアガスに露呈
された場合には、実質的に異なる大きさの電圧が発生し
、全体のレスポンス特性、ずなわち正味のドレン・ソー
ス間電圧は、装置が露呈されるアンモニアガスの濃度を
表わす。従って、上述した種類の二重ゲート装置は、差
動的に動作する場合、アンモニアガス・センサーとして
機能する。
本発明に従って構成された装置の一例が第1a図および
第1b図に平面図および断面図で示されている。この装
置は、2個の電界効果型トランジスタ、すなわち全体と
して10で示された基準FETと、全体として2Gで示
された測定FETで構成されている。これらのFETは
p型半導体材料(例えばケイ素)よりなる共通の基板1
を共用し、かつそれとは反対の導電型式すなわちn型の
トレンおよびソース領域(11,12;21゜22)を
有している。それらのドレンおよびソース領域には例え
ばCr/AuまたはAAのような適当な金属よりなる電
極が設けられている。
第1b図に平面図および断面図で示されている。この装
置は、2個の電界効果型トランジスタ、すなわち全体と
して10で示された基準FETと、全体として2Gで示
された測定FETで構成されている。これらのFETは
p型半導体材料(例えばケイ素)よりなる共通の基板1
を共用し、かつそれとは反対の導電型式すなわちn型の
トレンおよびソース領域(11,12;21゜22)を
有している。それらのドレンおよびソース領域には例え
ばCr/AuまたはAAのような適当な金属よりなる電
極が設けられている。
各FETは各ゲートiJ(域(それぞれ全体として14
および24で示されている)上に設けられたプラチナゲ
ート電極(13,23)を有しており、それらのゲート
領域はl゛レンよびソース領域を接続しており、これら
のドレンおよびソース領域間で電気的伝導が発生する。
および24で示されている)上に設けられたプラチナゲ
ート電極(13,23)を有しており、それらのゲート
領域はl゛レンよびソース領域を接続しており、これら
のドレンおよびソース領域間で電気的伝導が発生する。
ゲート電極は、通常二酸化ケイ素、シリコン・オキシナ
イトライドまたは窒化ケイ素よりなる電気的絶縁層2に
よって基板1から離間されている。
イトライドまたは窒化ケイ素よりなる電気的絶縁層2に
よって基板1から離間されている。
上述のように、基準FETl0のゲート電極13はスパ
ッタリングによって被着されたものであり、他方、測定
FET20のゲート電極23は蒸着によって被着された
ものであるから、前者に比較して、アンモニアガスに対
するレスポンスがはるかに顕著である。これらのデー1
〜電極を被着するために用いられた蒸着およびスパッタ
リング技術は公知のものであるから、それらについて詳
細に説明する必要はなかろう。蒸着によって被着された
電極とスパッタリングによって被着された電極とは著し
く異なるフィルム形態を呈することがSEM分解によっ
て認められた。すなわち、スパッタリングによって被着
された電極は、蒸着によって被着されたものよりも表面
平滑度か大きいことが認められた。アンモニアガスに対
する感度が異なるのは、フィルム形態におけるこの差異
に基因するものと考えられる。
ッタリングによって被着されたものであり、他方、測定
FET20のゲート電極23は蒸着によって被着された
ものであるから、前者に比較して、アンモニアガスに対
するレスポンスがはるかに顕著である。これらのデー1
〜電極を被着するために用いられた蒸着およびスパッタ
リング技術は公知のものであるから、それらについて詳
細に説明する必要はなかろう。蒸着によって被着された
電極とスパッタリングによって被着された電極とは著し
く異なるフィルム形態を呈することがSEM分解によっ
て認められた。すなわち、スパッタリングによって被着
された電極は、蒸着によって被着されたものよりも表面
平滑度か大きいことが認められた。アンモニアガスに対
する感度が異なるのは、フィルム形態におけるこの差異
に基因するものと考えられる。
上述した実施例では、基板1がn型材料であり、ドレン
およびソース領域はn型材料よりなるものであったが、
必らずしもその通りである必要はなく、それらの導電型
式は逆にしてもよい。さらに、第1a図および第1b図
に関して説明された装置はそれぞれドレンおよびソース
領域を有する2個のFET(10,20)で構成された
が、それらの2個のFETは1つの共通のソース領域ま
たは1つの共通のドレン領域を共存してもよい。
およびソース領域はn型材料よりなるものであったが、
必らずしもその通りである必要はなく、それらの導電型
式は逆にしてもよい。さらに、第1a図および第1b図
に関して説明された装置はそれぞれドレンおよびソース
領域を有する2個のFET(10,20)で構成された
が、それらの2個のFETは1つの共通のソース領域ま
たは1つの共通のドレン領域を共存してもよい。
第2図に示された種類の回路を用いて、2個のFETの
ドレン電極に得られる電圧を異なる態様で処理すること
により、この装置は選択的なアンモニアガス・センサー
として機能する。このセンサーはまた、オンデツプ加熱
および温度制御機能をも有する。
ドレン電極に得られる電圧を異なる態様で処理すること
により、この装置は選択的なアンモニアガス・センサー
として機能する。このセンサーはまた、オンデツプ加熱
および温度制御機能をも有する。
この種類の二重ゲート装置は特に有益である。
両方のゲート電極がプラチナよりなるものであるから、
両方のFETの闇値電圧は同一である。さらに、上記F
ETは1つの共通の基板を共有しており、かつ差動的に
動作するから、長期間ドリフト、温度変化、経年変化に
よる望ましくない作用が大幅に軽減される。
両方のFETの闇値電圧は同一である。さらに、上記F
ETは1つの共通の基板を共有しており、かつ差動的に
動作するから、長期間ドリフト、温度変化、経年変化に
よる望ましくない作用が大幅に軽減される。
第1a図は本発明に従って構成された二重ゲート装置の
平面図、第1b図は第1図の線xyに沿ってみた断面図
、第2図は本発明の装置に使用しうる回路を示す回路図
である。 図面において、■は基板、11.21はドレン領域、1
2.22はソース領域、13.23はゲート電極、14
.24はゲーI・領域をそれぞれ示す。
平面図、第1b図は第1図の線xyに沿ってみた断面図
、第2図は本発明の装置に使用しうる回路を示す回路図
である。 図面において、■は基板、11.21はドレン領域、1
2.22はソース領域、13.23はゲート電極、14
.24はゲーI・領域をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、1つの導電型式を有する半導体材料よりなる基板(
1)が第1および第2のゲート領域(14、24)を有
し、それらのゲート領域はそれぞれ、他の導電型式を有
するドレン領域(11、21)およびソース領域(12
、22)を接続しており、かつ各ゲート電極(13、2
3)は前記基板上の電気的絶縁材料により前記第1およ
び第2のゲート領域(14、24)から離間されており
、前記ゲート電極(13、23)はそれぞれ蒸着および
スパッタリングによって被着されており、前記第1およ
び第2のゲート領域(14、24)における電気的伝導
は、それらのゲート領域が互いに差動的に接続された場
合には、アンモニアガスの濃度に依存するが、装置が露
呈される水素を含む他のガスの濃度には実質的に依存し
ないようになされたアンモニアガスに感応する電界効果
装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の電界効果装置において
、前記第1および第2のゲート領域(14、24)が1
つの領域とそれぞれのドレン領域を接続している前記装
置。 3、特許請求の範囲第1項記載の電界効果装置において
、前記第1および第2のゲート領域が1つの共通のドレ
ン領域と各ソース領域を接続している前記装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8416994 | 1984-07-04 | ||
GB848416994A GB8416994D0 (en) | 1984-07-04 | 1984-07-04 | Gas sensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6125044A true JPS6125044A (ja) | 1986-02-03 |
JPH061250B2 JPH061250B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=10563378
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60144108A Expired - Lifetime JPH061250B2 (ja) | 1984-07-04 | 1985-07-02 | アンモニアガスに感応する電界効果装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4650561A (ja) |
EP (1) | EP0168200B1 (ja) |
JP (1) | JPH061250B2 (ja) |
AT (1) | ATE63387T1 (ja) |
DE (1) | DE3582757D1 (ja) |
GB (1) | GB8416994D0 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01239340A (ja) * | 1987-10-30 | 1989-09-25 | Rinnai Corp | 給湯器 |
JP2007519929A (ja) * | 2004-01-27 | 2007-07-19 | エイチツースキャン コーポレイション | 集積された基準素子を組み込んだガスセンサー |
JP2008506099A (ja) * | 2004-07-07 | 2008-02-28 | ユニヴェルシテ・ドゥ・レンヌ・1 | 環境内に含まれる電荷の濃度を検出および/または測定するためのセンサとその用途並びにその製造方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0426989B1 (de) * | 1989-11-04 | 1994-02-02 | Dornier Gmbh | Selektiver Gassensor |
GB9208780D0 (en) * | 1992-04-23 | 1992-06-10 | Central Research Lab Ltd | Method and apparatus for determining the concentration of ammonium ions in solution |
JP3457826B2 (ja) * | 1997-01-31 | 2003-10-20 | 株式会社リコー | 薄膜式抵抗体及びその製造方法、流量センサ、湿度センサ、ガスセンサ、温度センサ |
DE19814855C1 (de) * | 1998-04-02 | 1999-11-04 | Siemens Ag | Gassensor nach dem Prinzip der Messung der Austrittsarbeit bzw. des Kontaktpotentiales |
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