JPH0611461Y2 - プローブ - Google Patents
プローブInfo
- Publication number
- JPH0611461Y2 JPH0611461Y2 JP1988077274U JP7727488U JPH0611461Y2 JP H0611461 Y2 JPH0611461 Y2 JP H0611461Y2 JP 1988077274 U JP1988077274 U JP 1988077274U JP 7727488 U JP7727488 U JP 7727488U JP H0611461 Y2 JPH0611461 Y2 JP H0611461Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- probe
- contact
- input
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988077274U JPH0611461Y2 (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988077274U JPH0611461Y2 (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02663U JPH02663U (US20030199744A1-20031023-C00003.png) | 1990-01-05 |
JPH0611461Y2 true JPH0611461Y2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=31302270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1988077274U Expired - Lifetime JPH0611461Y2 (ja) | 1988-06-13 | 1988-06-13 | プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0611461Y2 (US20030199744A1-20031023-C00003.png) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2531043Y2 (ja) * | 1990-09-28 | 1997-04-02 | アンリツ株式会社 | プローブヘッドの先端構造 |
JP2531042Y2 (ja) * | 1990-09-28 | 1997-04-02 | アンリツ株式会社 | プローブヘッド |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58100439A (ja) * | 1981-12-11 | 1983-06-15 | Hitachi Ltd | プロ−バ |
JPS6080772A (ja) * | 1983-10-08 | 1985-05-08 | Rohm Co Ltd | プロ−ブニ−ドル |
JPS6297966U (US20030199744A1-20031023-C00003.png) * | 1985-12-11 | 1987-06-22 |
-
1988
- 1988-06-13 JP JP1988077274U patent/JPH0611461Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02663U (US20030199744A1-20031023-C00003.png) | 1990-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6575767B2 (en) | Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts | |
JP6174172B2 (ja) | コンタクトプローブ | |
US6023171A (en) | Dual-contact probe tip for flying probe tester | |
JPH0611461Y2 (ja) | プローブ | |
JP3323449B2 (ja) | 半導体用ソケット | |
JP4019389B2 (ja) | Icソケットのコンタクトピン、コンタクトピンユニット及びicソケット | |
JPH0745021Y2 (ja) | プローブの接点構造 | |
JP4056983B2 (ja) | プローブカード | |
JP7473810B2 (ja) | プローブ及び検査装置 | |
JPH09199552A (ja) | 微細構造の接触部を有する回路素子のための測定用プローバ | |
JPH0747740Y2 (ja) | プローブの接点構造 | |
JP2757990B2 (ja) | Icソケット | |
JPH082617Y2 (ja) | プローブ構造 | |
JP4062919B2 (ja) | 検査プローブ及びこれを用いた検査治具 | |
JPH0745020Y2 (ja) | プローブの接点構造 | |
JPH06216215A (ja) | プローブカードにおける接触子構造 | |
JP3396316B2 (ja) | 電子部品用コネクタ | |
JP2806877B2 (ja) | Ic測定用ソケット | |
JP2770785B2 (ja) | プローブカード | |
JP3018248U (ja) | 検査用プローブ | |
JPH07130800A (ja) | プローブカード | |
JP2710203B2 (ja) | Icソケット | |
JP3200079B2 (ja) | チップ型電子部品の測定端子の製造法 | |
JPH0729497Y2 (ja) | 多ピンプローブ | |
JP2002005962A (ja) | プローブカード |