JPH0610879B2 - 光メモリ装置 - Google Patents

光メモリ装置

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JPH0610879B2
JPH0610879B2 JP63171308A JP17130888A JPH0610879B2 JP H0610879 B2 JPH0610879 B2 JP H0610879B2 JP 63171308 A JP63171308 A JP 63171308A JP 17130888 A JP17130888 A JP 17130888A JP H0610879 B2 JPH0610879 B2 JP H0610879B2
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    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/14Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam specially adapted to record on, or to reproduce from, more than one track simultaneously

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、円板状やカード状などの記録媒体に光ビーム
を照射することによってデータの記録、再生を行う光メ
モリ装置に関するものである。
〔従来の技術〕
近年、大量のデータの記録、再生を行うために光メモリ
装置が用いられ、例えば光磁気ディスクや光磁気カード
等の光磁気記録媒体に対してデータの記録、再生を行う
光磁気メモリ装置などが用いられている。
上記光磁気記録媒体は、プラスティックやガラスなどが
円板状やカード状等に成型された基板の裏面に、Gd、
Te、Fe、およびCo等から成り、キュリー点以上の
温度になると、外部から作用する磁界の影響に応じて磁
化方向が変化する磁化膜が塗布されて構成されている。
このような光磁気メモリ装置によってデータの記録を行
うときには、例えば第6図および第7図に示すように、
あらかじめ磁化膜の磁化方向を所定の方向に揃えた光磁
気ディスク11、または光磁気カード16を回転、また
はスライドさせながら、磁化膜の磁化方向とは逆の方向
に、磁石12・17の発生する外部磁界を作用させる。
同時に、記録するデータに応じて強度の変化する光ビー
ムを対物レンズ13・18により1μm程度に集光し、
光磁気ディスク11、または光磁気カード16に照射す
る。
すると、光ビームの強度が大きいときには、光磁気ディ
スク11、または光磁気カード16の磁化膜における光
ビームが照射された部分の温度が局部的に上昇する。そ
して、上昇温度がキュリー点を越えると、磁化膜の磁化
方向が、磁石12・17の発生する外部磁界の影響によ
って局部的に反転する。このように光磁気ディスク11
等の磁化膜における局部的な磁化方向の反転により、デ
ータの記録を行うことができるようになっている。
一方、光磁気ディスク11等に記録されたデータを再生
するときには、直線偏光で、かつ、磁化膜の上昇温度が
キュリー点を越えない程度の強度の光ビームを光磁気デ
ィスク11等に照射し、データの記録された部分をトレ
ースする。すると、光磁気ディスク11等からの反射光
には、ファラデー効果やカー効果等の磁気光学効果によ
って、光ビームの照射された位置における磁化膜の磁化
方向に対応した偏向面の傾きが生じる。この反射光の偏
向面の傾きを検光子を介して光検出器で電気信号に変換
することにより、記録されたデータの再生が行われる。
上記のように、データの記録、再生が行われるときに
は、光ビームは、光磁気ディスク11等における適正な
位置に照射される必要がある。そこで、光磁気ディスク
11等には、例えば第8図および第9図に示すように、
光ビームと光磁気ディスク11等との相対移動方向と平
行な方向に案内溝11a…、または案内溝16a…が形
成されている。
すなわち、光ビームが案内溝11a…のエッジ部付近、
または案内溝16a…のエッジ部付近に照射されると、
回折などの影響によって反射光の強度が低下する。この
反射光の強度低下を光検出器によって電気信号に変換
し、前記磁気光学効果によって得られる信号と分離して
検出することにより、光磁気ディスク11等に対する光
ビームの照射位置が適正であるかどうかが検出される。
そして、検出された信号に基づいて光ビームの照射位置
を制御することにより、光磁気ディスク11や光磁気カ
ード16を回転軸、またはスライド台に装着するときの
偏心や傾きなどを吸収することができるようになつてい
る。
また、案内溝11a…、または案内溝16a…の一部に
は、それぞれ、光ビームの照射されている案内溝11
a、または案内溝16aがいずれの案内溝であるかを識
別するために、例えば第10図および第11図に示すよ
うに、凹凸のパターンが形成されて成るID部11b
…、またはID部16b…が設けられている。すなわ
ち、ID部11b、またはID部16bに光ビームが照
射されると、凹凸のパターンに応じて、やはり、回折な
どの影響による反射光の強度変化が生じる。この反射光
の強度変化を検出してID信号を再生することにより、
光ビームの照射されている案内溝11a、または案内溝
16aがいずれの案内溝であるかを識別することができ
るようになつている。
ところで、光ビームが所望の案内溝11a…、または案
内溝16a…に照射されるようにするためには、光ビー
ムを案内溝11a…、または案内溝16a…の方向と垂
直の方向に移動させるアクセス動作を行う。この場合、
光ビームが移動している状態ではID信号の再生を行う
ことができないので、まず、移動先の案内溝11a・1
6aまでの光ビームの移動距離を推定し、この推定距離
だけ光ビームを移動させる粗アクセス動作を行う。
その後に、光ビームを移動先の案内溝11a・16aに
追従させてID信号の再生を行い、光ビームの照射され
る案内溝11a・16aが所望の案内溝11a・16a
であるかどうかを確認する。そして、所望の案内溝11
a・16aのID信号が再生されるまで光ビームを微動
させることにより、所望の案内溝11a・16aに光ビ
ームが照射される位置まで到達させることができる。
上記のような粗アクセス動作を行う場合、案内溝11a
…、または案内溝16a…のピツチがμmオーダである
のに対し、光ビームを移動させる機構の機械的な精度を
同程度のオーダの精度にまで高めることは困難である。
そこで、例えば第12図に示すように、光磁気デイスク
11等からの反射光を、ハーフミラー21を介して光検
出器22に導き、電気信号に変換する。この電気信号を
コンパレータ23によって、例えば電圧Vtのしきい値
で2値化すると、パルス信号が得られる。このパルス信
号におけるパルス数を図示しないディジタルカウンタに
よって計数する、いわゆるトラツクカウント法により、
光ビームの横切った案内溝11a…の数、すなわち、光
ビームの移動量を把持することができるようになってい
た。
〔発明が解決しようとする課題〕
光磁気ディスク11、または光磁気カード16の回転、
またはスライド動作の駆動は、通常、光ビームが所望の
案内溝11a・16aに照射されるようにするためのア
クセス動作をおこなう場合でも継続してけ行われるよう
になっている。そのために、光ビームは案内溝11a
…、または案内溝16a…を斜めに横切ることになり、
ID部11b・16bを通過することがある。
この場合、光検出器22の出力信号中には、例えば第1
3図に示すように、ID部11bに形成された凹凸のパ
ターンに基づくID信号などが混在し、コンパレータ2
3の出力するパルス信号におけるパルス数と、光ビーム
14が実際に横切った案内溝11a…の数とが一致しな
くなってしまう。
ところが、上記従来の光メモリ装置では、コンパレータ
23の出力するパルス信号におけるパルス数を、光ビー
ムが横切った案内溝11a…の数として計数してしまう
ために、光ビームの移動量を正確に把握することができ
ず、アクセス動作の精度が低いという問題点を有してい
た。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る光メモリ装置は、上記の課題を解決するた
めに、複数の光ビームを発生する光ビーム発生手段と、
光ビームを案内する複数の案内溝、および光ビームの照
射されている案内溝が何れの案内溝であるかを識別する
ID部が形成された記録媒体と、記録媒体に照射された
それぞれの光ビームの反射光または透過光の強度を検出
する複数の光検出器と、それぞれの光検出器から出力さ
れる信号を2値化する複数のコンパレータと、複数のコ
ンパレータのうち、過半数のコンパレータから出力され
る信号のレベルに等しいレベルの信号を出力する多数決
論理回路と、光ビームが案内溝と垂直な方向に移動する
ときに、多数決論理回路から出力されるパルス信号にお
けるパルスの数を計数して、光ビームの移動量を検出す
る移動量検出手段とを備えるとともに、記録媒体に照射
される複数の光ビームのうち、同時にID部に照射され
る光ビームの数が、半数未満になるように、複数の光ビ
ームと複数の案内溝のID部とのうち、少なくとも何れ
か一方が、案内溝と平行な方向にずらして配置されてい
ることを特徴としている。
〔作 用〕
上記の構成により、記録媒体に照射される複数の光ビー
ムのうち、同時にID部に照射される光ビームの数が半
数未満になるように、複数の光ビームと複数の案内溝の
ID部とのうち、少なくとも何れか一方が、案内溝と平
行な方向にずらして配置されているので、光ビームを案
内溝と垂直な方向に移動させるときでも、過半数の光ビ
ームがID部に照射されることはない。
そこで、記録媒体に照射されたそれぞれの光ビームの反
射光または透過光に基づいて2値化信号を出力する複数
のコンパレータのうち、過半数のコンパレータからは、
常に、ID信号等の影響が混在していない信号が出力さ
れる。それゆえ、多数決論理回路によって出力されるパ
ルス信号からは、ID信号等の影響によるパルスが除去
され、パルス信号に含まれるパルスの数は、光ビームが
実際に横切った案内溝の数に一致する。
したがって、移動量検出手段によって、多数決論理回路
から出力されるパルス信号におけるパルスの数を計数す
ることにより、光ビームの移動量を正確に把握すること
ができるので、アクセス動作の精度を高くすることがで
きる。
〔実施例〕
本発明の一実施例として、光磁気ディスクに対してデー
タの記録、再生を行う光メモリ装置の例を第1図ないし
第4図に基づいて説明すれば、以下の通りである。
光メモリ装置31には、例えば第1図に示すように、レ
ーザ光源等の光ビーム源33と回折格子34とから成る
光ビーム発生手段32が設けられている。この光ビーム
発生手段32では、光ビーム源33から発せられた光を
回折格子34によって、1つの0次光と、2つの1次光
とに分割することにより、3つの光ビーム37〜39を
発生するようになっている。
光ビーム発生手段32の下方には、ハーフミラー35、
および対物レンズ36が設けられている。対物レンズ3
6は、光ビーム発生手段32が発生した3つの光ビーム
37〜39をそれぞれ集光して記録媒体である光磁気デ
ィスク41に照射するようになっている。
光磁気ディスク41は、例えば、プラスティックやガラ
スなどが円板状に成型された基板の裏面に、Gd、T
e、Fe、およびCo等から成り、キュリー点以上の温
度になると、外部から作用する磁界の影響に応じて磁化
方向が変化する磁化膜が塗布されて構成され、図示しな
い駆動手段によって回転駆動されるようになっている。
また、光磁気ディスク41には、光ビーム37〜39を
案内する同心円状の案内溝41a…が形成され、光ビー
ム発生手段32が発生した3つの光ビーム37〜39
が、互いに隣り合う案内溝41a…に照射されるように
なっている。
光磁気ディスク41に照射された3つの光ビーム37〜
39の反射光は、それぞれ、ハーフミラー35によって
進行方向を転向され、ハーフミラー35の側方に設けら
れて、それぞれの反射光の強度を検出する光検出器51
〜53に導かれるようになっている。光検出器51〜5
3は、光検出器51〜53から出力される信号のレベル
と、あらかじめ設定された基準電圧Vtとを比較して2
値化するコンパレータ54〜56に接続されている。
コンパレータ54〜56は、3つのAND回路57a…
と、1つのOR回路57bとから成る多数決論理回路5
7に接続されている。この多数決論理回路57は、3つ
のコンパレータ54〜56のうち、2つ以上のコンパレ
ータから出力される信号のレベルに等しいレベルの信号
を出力するようになっている。
多数決論理回路57は、光ビーム37〜39が、光磁気
ディスク41の案内溝41a…と垂直な方向に移動する
ときに、多数決論理回路57から出力されるパルス信号
におけるパルスの数を計数して、光ビーム37〜39の
移動量を検出する移動量検出手段58に接続されてい
る。この移動量検出手段58は、例えばディジタルカウ
ンタ等によって構成されている。
また、前記光磁気ディスク41におけるそれぞれの案内
溝41a…には、例えば第2図に示すように、光ビーム
37〜39の照射されている案内溝41aが何れの案内
溝であるかを識別するための、凹凸のパターンが形成さ
れて成るID部41b…が設けられている。このID部
41b…は、同図に示すように、互いに隣り合う3つの
ID部41b…が、それぞれ案内溝41a…と平行な方
向にずれて位置するように配置され、例えば光ビーム3
7がID部41bに照射されているときには、他の2つ
の光ビーム38・39は、何れもID部41b…に照射
されないようになっている。
上記の構成において、光磁気ディスク41が回転駆動さ
れるのに伴って、光磁気ディスク41における光ビーム
37〜39の照射位置が矢印Aで示す方向に移動する
と、光ビーム37、光ビーム38、および光ビーム39
が、それぞれ順にID部41b…にさしかかる。そこ
で、光検出器51〜53は、順にID部41b…に形成
された凹凸のパターンに基づく信号を出力し、コンパレ
ータ54〜56からは、ID信号に応じたパルス信号、
すなわち、光ビーム37〜39の照射されている案内溝
41aが何れの案内溝であるかを示すID信号が出力さ
れる。
一方、光ビーム37〜39が所望の案内溝41aに照射
されるようにするためには、光ビーム37〜39を案内
溝41a…と垂直な方向に移動させるアクセス動作を行
う。この場合、光磁気ディスク41は、光ビーム37〜
39が案内溝41a…と垂直な方向に移動するときでも
回転駆動状態が維持されているので、光ビーム37〜3
9は、例えば第3図に矢印Bで示すように、案内溝41
a…を斜めに横切ることになる。
そして、光ビーム37〜39が案内溝41a…を横切る
ときには、光ビーム37〜39が案内溝41a…のエッ
ジ部付近に照射されるごとに、回折などの影響によって
反射光の強度が低下する。そこで、コンパレータ54〜
56からは、例えば第4図に示すように、光ビーム37
〜39が案内溝41a…の間を通過するごとにローレベ
ルになる信号が出力される。
また、光ビーム37〜39が光磁気ディスク41のID
部41b…に照射されるときには、やはり、上記案内溝
41a…の間を通過するときと同様に、ID部41b…
に形成された凹凸パターンに応じた回折などの影響によ
って反射光の強度が低下し、コンパレータ54〜56か
らは、ID信号等に応じたパルス信号列61…が出力さ
れる。
ところが、ID部41b…は、第3図に示すように、互
いに隣り合うID部41b…がそれぞれ案内溝41a…
と平行な方向にずれて位置するように配置されているの
で、光ビーム37〜39のうちの何れかがID部41b
に照射されるときには、他の2つの光ビームは、常に、
ID部41b…には照射されず、同時に2つ以上のコン
パレータからID信号等に応じたパルス信号列61…が
出力されることはない。
そこで、コンパレータ54〜56から出力される信号が
多数決論理回路57に入力されると、多数決論理回路5
7からは、ID信号等に応じたパルス信号の影響の除去
された信号が出力される。つまり、多数決論理回路57
は、3つのコンパレータ54〜56のうち、2つ以上の
コンパレータから出力される信号のレベルに等しいレベ
ルの信号が出力されるので、多数決論理回路57から出
力されるパルス信号の数は、光ビーム37〜39が実際
に横切った案内溝41a…の数に一致する。
したがって、移動量検出手段58で、多数決論理回路5
7から出力されるパルス信号におけるパルスの数を計数
することにより、ID信号等の影響を受けることなく、
光ビーム37〜39の移動量を正確に把握することがで
きる。
なお、本実施例においては、互いに隣り合う3つのID
部41b…を、それぞれ案内溝41a…と平行な方向に
ずれて位置するように配置することにより、光磁気ディ
スク41に照射される光ビーム37〜39のうち、同時
にID部41b…に照射される光ビームの数が半数未満
になるように構成したが、これに限らず、例えば第5図
に示すように、ID部41b…を案内溝41a…に垂直
な方向に1列に配置する一方、光ビーム37〜39を案
内溝41a…と平行な方向にずらし、かつ、それぞれの
光ビーム37〜39の間隔がID部41b…の長さより
も長くなるように配置した場合などでも同じ効果は得ら
れる。
また、多数決論理回路57も、上記のようにAND回路
57a…とOR回路57bとによって構成されたものに
限るものではない。
〔発明の効果〕
本発明に係る光メモリ装置は、以上のように、複数の光
ビームを発生する光ビーム発生手段と、光ビームを案内
する複数の案内溝、および光ビームの照射されている案
内溝が何れの案内溝であるかを識別するID部が形成さ
れた記録媒体と、記録媒体に照射されたそれぞれの光ビ
ームの反射光または透過光の強度を検出する複数の光検
出器と、それぞれの光検出器から出力される信号を2値
化する複数のコンパレータと、複数のコンパレータのう
ち、過半数のコンパレータから出力される信号のレベル
に等しいレベルの信号を出力する多数決論理回路と、光
ビームが案内溝と垂直な方向に移動するときに、多数決
論理回路から出力されるパルス信号におけるパルスの数
を計数して、光ビームの移動量を検出する移動量検出手
段とを備えるとともに、記録媒体に照射される複数の光
ビームのうち、同時にID部に照射される光ビームの数
が、半数未満になるように、複数の光ビームと複数の案
内溝のID部とのうち、少なくとも何れか一方が、案内
溝と平行な方向にずらして配置された構成である。
これにより、光ビームを案内溝と垂直な方向に移動させ
るときに多数決論理回路から出力されるパルス信号にお
けるパルスの数は、ID信号等の影響を受けることがな
く、光ビームが横切った案内溝の数に一致する。したが
って、光ビームの移動量を正確に把握することができ、
アクセス動作の精度を高くすることができるという効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明の一実施例を示すものであ
って、第1図は光メモリ装置の構成を示す説明図、第2
図は光ビーム、および光磁気ディスクにおけるID部の
配置例と、光検出器、およびコンパレータから出力され
る信号の例を示す説明図、第3図はアクセス動作が行わ
れるときにコンパレータから出力される信号の例を示す
説明図、第4図はコンパレータ、および多数決論理回路
から出力される信号の例を示す説明図である。 第5図は他の実施例を示すものであって、光ビーム、お
よび光磁気ディスクにおけるID部の配置例を示す説明
図である。 第6図ないし第13図は従来例を示すものであって、第
6図は光磁気ディスクへのデータの記録原理を示す説明
図、第7図は光磁気カードへのデータの記録原理を示す
説明図、第8図は光磁気ディスクの構成を示す斜視図、
第9図は光磁気カードの構成を示す斜視図、第10図は
光磁気ディスクにおけるID部の構成を示す拡大斜視
図、第11図は光磁気カードにおけるID部の構成を示
す拡大斜視図、第12図はアクセス動作が行われるとき
に光検出器、およびコンパレータから出力される信号の
例を示す説明図、第13図は光ビームがID部を横切る
ときに光検出器、およびコンパレータから出力される信
号の例を示す説明図である。 31は光メモリ装置、32は光ビーム発生手段、37〜
39は光ビーム、41は光磁気ディスク(記録媒体)、
41aは案内溝、41bはID部、51〜53は光検出
器、54〜56はコンパレータ、57は多数決論理回
路、58は移動量検出手段である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小嶋 邦男 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 山口 毅 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の光ビームを発生する光ビーム発生手
    段と、光ビームを案内する複数の案内溝、および光ビー
    ムの照射されている案内溝が何れの案内溝であるかを識
    別するID部が形成された記録媒体と、記録媒体に照射
    されたそれぞれの光ビームの反射光または透過光の強度
    を検出する複数の光検出器と、それぞれの光検出器から
    出力される信号を2値化する複数のコンパレータと、複
    数のコンパレータのうち、過半数のコンパレータから出
    力される信号のレベルに等しいレベルの信号を出力する
    多数決論理回路と、光ビームが案内溝と垂直な方向に移
    動するときに、多数決論理回路から出力されるパルス信
    号におけるパルスの数を計数して、光ビームの移動量を
    検出する移動量検出手段とを備えるとともに、記録媒体
    に照射される複数の光ビームのうち、同時にID部に照
    射される光ビームの数が、半数未満になるように、複数
    の光ビームと複数の案内溝のID部とのうち、少なくと
    も何れか一方が、案内溝と平行な方向にずらして配置さ
    れていることを特徴とする光メモリ装置。
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