JPH06101069A - プラズマエッチング装置の制御方法 - Google Patents

プラズマエッチング装置の制御方法

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Publication number
JPH06101069A
JPH06101069A JP24960492A JP24960492A JPH06101069A JP H06101069 A JPH06101069 A JP H06101069A JP 24960492 A JP24960492 A JP 24960492A JP 24960492 A JP24960492 A JP 24960492A JP H06101069 A JPH06101069 A JP H06101069A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flow rate
gas
voltage
vacuum container
plasma etching
Prior art date
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Pending
Application number
JP24960492A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Yamamoto
祐二 山本
Hirohide Omoto
博秀 大本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH06101069A publication Critical patent/JPH06101069A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】プラズマエッチング装置の制御方法 【構成】プラズマエッチング装置の制御方法において、
マスフローコントローラへの流量設定信号にマイナス電
圧(−60mV)を付加することで、流量センサゼロ電
圧を正確に計測することが可能となる。 【効果】マスフローコントローラの流量センサのゼロド
リフトを常時監視することにより、安定したガス供給が
行える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プラズマエッチング装
置におけるガス供給の制御方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のプラズマエッチング装置は例え
ば、特開昭59−113183号公報に記載されるよう
に、真空容器内にガスを供給するマスフローコントロー
ラ(以下、MFCと略す)の流量設定信号は、本体装置
より出力される0〜5V(0〜100%)であった。M
FCに任意の流量を設定すると、その設定電圧値とMF
C本体内にある流量センサー電圧の比較演算処理が行な
われ、設定流量になる様に、MFC内部のバルブ開度が
調節される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、MF
Cの流量センサ出力のゼロドリフトに対して配慮がなか
った。このことにより、流量センサーのゼロ電圧(流量
0%時の電圧)がマイナス側にシフトした状態では、流
量設定0%にすると、比較演算処理上、流量センサ電圧
=0Vになるため、バルブ開度は増加し、ガスが流れる
ことになる。即ち、流量設定0%=流量センサーのゼロ
電圧(バルブ開度 0%)とならない不具合が生じてい
る。
【0004】MFC下流には、ストップ弁を設けている
が、上記不具合によりMFC〜ストップ弁の間にガスが
圧封される。従って、真空容器にガス導入開始と共に圧
封されたガスが流れ込み、真空容器の圧力変動が生じて
いた。本発明の目的は、MFCの流量センサ出力電圧の
ゼロドリフトを常時監視し、安定したガス供給を行うプ
ラズマエッチング装置の制御方法を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、プラズマエッチング装置の制御方法において、ガス
供給手段のガス流量を設定するMFCへの流量設定信号
として、マイナス電圧(−60mV:流量センサーゼロ
電圧許容範囲±50mV)を付加することによって、流
量センサーのゼロ電圧を正確に計測することを可能にし
たものである。
【0006】
【作用】エッチング処理開始前(真空容器にガス供給す
る前)にMFC流量設定信号として、−60mVを付加
することによって、MFCのバルブを全閉(ガスの流れ
がない状態)にすることが可能となり、正確に流量セン
サーゼロ電圧が認識でき、許容ゼロドリフト値を設定す
ることによって、エッチング処理にインターロックをか
けることができ、安定したガス供給を行える信頼性の高
い装置となるものである。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。図1において、1は石英ベルジャー、2は金属フ
タ、3は試料例えばウエハ、4は試料台、5はパイプ、
6はストップ弁、7はマスフロントコントローラ、8は
ガスボンベ、9はコントロールバルブ、10は真空ポン
プ、11はマグネトロンである。
【0008】上記の構成は、内部にプラズマが生成され
る真空容器と、該真空容器に接続され真空容器内のガス
を排気する排気手段と、真空容器内にプラズマ発生用の
ガスを供給する手段とを備えたプラズマエッチング装置
である。
【0009】上記の構成において、マスフロントコント
ローラ7への流量設定信号にマイナス電圧(−60m
V)を付加することで、流量センサゼロ電圧を正確に計
測するものである。本実施例によれば、マスフロントコ
ントローラの流量センサのゼロドリフトを常時監視する
ことにより、安定したガス供給が行える。これにより、
信頼性の高いガス供給手段をもつ装置となる。
【0010】
【発明の効果】本発明によれば、マスフローコントロー
ラの流量センサー電圧のゼロドリフトを常時監視するこ
とが可能となり、安定したガス供給が行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるプラズマエッチング装
置を示す構成図である。
【符号の説明】
1…石英ベルジャー、2…金属フタ、3…ウエハ、4…
試料台、5…パイプ、6…ストップ弁、7…マスフロー
コントローラ、8…ガスボンベ、9…コントロールバル
ブ、10…真空ポンプ、11…マグネトロン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】内部にプラズマが生成される真空容器と、
    該真空容器に接続され真空容器内のガスを排気する排気
    手段と、真空容器に接続され真空容器内にプラズマ発生
    用のガスを供給するガス供給手段とから成るプラズマエ
    ッチング装置の制御方法において、前記ガス供給手段へ
    の流量設定信号にマイナス電圧(−60mV)を付加
    し、流量センサーゼロ電圧を計測することを特徴とする
    プラズマエッチング装置の制御方法。
JP24960492A 1992-09-18 1992-09-18 プラズマエッチング装置の制御方法 Pending JPH06101069A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015075405A (ja) * 2013-10-09 2015-04-20 旭有機材工業株式会社 流量制御装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015075405A (ja) * 2013-10-09 2015-04-20 旭有機材工業株式会社 流量制御装置

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