JPH0592867A - 巻枠巻回制御方法および装置 - Google Patents
巻枠巻回制御方法および装置Info
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- JPH0592867A JPH0592867A JP4051912A JP5191292A JPH0592867A JP H0592867 A JPH0592867 A JP H0592867A JP 4051912 A JP4051912 A JP 4051912A JP 5191292 A JP5191292 A JP 5191292A JP H0592867 A JPH0592867 A JP H0592867A
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- JP
- Japan
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- filament
- signal
- reel
- wound
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H54/00—Winding, coiling, or depositing filamentary material
- B65H54/02—Winding and traversing material on to reels, bobbins, tubes, or like package cores or formers
- B65H54/28—Traversing devices; Package-shaping arrangements
- B65H54/2848—Arrangements for aligned winding
- B65H54/2854—Detection or control of aligned winding or reversal
- B65H54/2869—Control of the rotating speed of the reel or the traversing speed for aligned winding
- B65H54/2878—Control of the rotating speed of the reel or the traversing speed for aligned winding by detection of incorrect conditions on the wound surface, e.g. material climbing on the next layer, a gap between windings
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S242/00—Winding, tensioning, or guiding
- Y10S242/92—Glass strand winding
Landscapes
- Winding Filamentary Materials (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、フィラメントと物理的に接触する
ことなくフィラメントの巻枠への巻回を非常に正確に制
御する方法を得ることを目的とする。 【構成】 巻枠に接近するフィラメント8 が位置される
領域を横切ってレーザビーム12で周期的に掃引し、フィ
ラメント8 によるレーザビームの遮断を検出器26で検出
し、それに反応する信号を生成し、予め定められたフィ
ラメントのアタック角度に対応する基準信号をカウンタ
36等により設定し、予め定められたアタック角度の信号
と生成された信号とをコンピュータ32において比較し、
比較された信号間の差を示すエラー信号を生成して所定
の閉ループ制御をすることを特徴としている。
ことなくフィラメントの巻枠への巻回を非常に正確に制
御する方法を得ることを目的とする。 【構成】 巻枠に接近するフィラメント8 が位置される
領域を横切ってレーザビーム12で周期的に掃引し、フィ
ラメント8 によるレーザビームの遮断を検出器26で検出
し、それに反応する信号を生成し、予め定められたフィ
ラメントのアタック角度に対応する基準信号をカウンタ
36等により設定し、予め定められたアタック角度の信号
と生成された信号とをコンピュータ32において比較し、
比較された信号間の差を示すエラー信号を生成して所定
の閉ループ制御をすることを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般に巻枠またはキャ
ニスタ上のフィラメントの巻回に関し、特にこの目的の
ためにフィラメントと物理的に接触することなくそのよ
うなフィラメントの巻回を非常に正確に制御する方法に
関する。
ニスタ上のフィラメントの巻回に関し、特にこの目的の
ためにフィラメントと物理的に接触することなくそのよ
うなフィラメントの巻回を非常に正確に制御する方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】フィラメントは巻枠またはキャニスタ上
に均等に一致して巻回される多くの状態があり、その場
合、ギャップまたは巻回のずれにより生じる重なりのよ
うな不一致によって不良状態が生じる。例えば、光ファ
イバまたは金属線フィラメントが運動体の飛行中に続け
て繰出すためにキャニスタ上に巻回され、発射装置との
データリンクを維持する。この目的のためにそれを使用
するとき、適当に巻回されない巻枠またはキャニスタは
繰出し中にフィラメントを破損させるフィラメントの応
力、或いはそうでないとしてもデータの伝送が有効でな
い応力を生成する可能性がある。
に均等に一致して巻回される多くの状態があり、その場
合、ギャップまたは巻回のずれにより生じる重なりのよ
うな不一致によって不良状態が生じる。例えば、光ファ
イバまたは金属線フィラメントが運動体の飛行中に続け
て繰出すためにキャニスタ上に巻回され、発射装置との
データリンクを維持する。この目的のためにそれを使用
するとき、適当に巻回されない巻枠またはキャニスタは
繰出し中にフィラメントを破損させるフィラメントの応
力、或いはそうでないとしてもデータの伝送が有効でな
い応力を生成する可能性がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】巻回の正確性を制御す
る既知の現在のシステムは開放ループ制御に依存し、そ
れは巻枠に供給されるとき、或いは巻枠にすでに配置さ
れた後には、実際のフィラメント位置を監視しない。こ
れらの既知の技術にしたがって、フィラメントは予めプ
ログラムされた位置にキャニスタを移動させることによ
って巻回され、フィラメントが適切な位置にあることが
単に仮定或いは予想されるに過ぎない。フィラメントが
巻回中にキャニスタに接近するときに形成する角度、フ
ィラメントの直径、およびフィラメントの張力並びに表
面仕上げの変化はフィラメントが巻枠上に適切に配置さ
れず取外し或いは巻き戻されなければならない欠点のあ
る巻回で巻回し終えることを容易に生じさせる。これら
全てはフィラメント応力、汚染、および増加した巻回時
間の可能性を増加させる。そのような巻枠はミサイル上
のデータリンクに使用されるとき、例えばもしフィラメ
ントが欠点のある巻回によって破損されるならば、ミサ
イルはその目標の位置を決定することは不可能である。
る既知の現在のシステムは開放ループ制御に依存し、そ
れは巻枠に供給されるとき、或いは巻枠にすでに配置さ
れた後には、実際のフィラメント位置を監視しない。こ
れらの既知の技術にしたがって、フィラメントは予めプ
ログラムされた位置にキャニスタを移動させることによ
って巻回され、フィラメントが適切な位置にあることが
単に仮定或いは予想されるに過ぎない。フィラメントが
巻回中にキャニスタに接近するときに形成する角度、フ
ィラメントの直径、およびフィラメントの張力並びに表
面仕上げの変化はフィラメントが巻枠上に適切に配置さ
れず取外し或いは巻き戻されなければならない欠点のあ
る巻回で巻回し終えることを容易に生じさせる。これら
全てはフィラメント応力、汚染、および増加した巻回時
間の可能性を増加させる。そのような巻枠はミサイル上
のデータリンクに使用されるとき、例えばもしフィラメ
ントが欠点のある巻回によって破損されるならば、ミサ
イルはその目標の位置を決定することは不可能である。
【０００４】本発明は、巻枠上に巻回されるフィラメン
トの位置を正確に且つ連続的に感知する方法および装置
を提供し、したがって、この目的のために物理的接触な
しでのフィラメントのアタック角度を正確に且つ連続的
に感知する方法および装置を提供することを目的とす
る。本発明の別の目的は、閉ループ制御が予め定められ
た所望の標準に対する巻回角度の変化を可能にする方法
および装置を提供することである。
トの位置を正確に且つ連続的に感知する方法および装置
を提供し、したがって、この目的のために物理的接触な
しでのフィラメントのアタック角度を正確に且つ連続的
に感知する方法および装置を提供することを目的とす
る。本発明の別の目的は、閉ループ制御が予め定められ
た所望の標準に対する巻回角度の変化を可能にする方法
および装置を提供することである。
【０００５】本発明のさらに別の目的は、フィラメント
の部分が不所望のギャップまたは巻線の交差した重なり
を検出して取外され巻回し続けるために使用される全て
閉ループによる前述の目的による方法および装置を提供
することである。
の部分が不所望のギャップまたは巻線の交差した重なり
を検出して取外され巻回し続けるために使用される全て
閉ループによる前述の目的による方法および装置を提供
することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の方法を実行する
装置は、フィラメントが巻枠上に巻回される通路の領域
を走査するレーザマイクロメータを含む。マイクロメー
タは固定した点からフィラメントエッジまでの距離の連
続的な読取りを行うフィラメントケーブルの位置を正確
に感知する。これらの読取りはフィラメントが巻回され
る巻枠表面に関してフィラメントの実際の角度を与え
る。
装置は、フィラメントが巻枠上に巻回される通路の領域
を走査するレーザマイクロメータを含む。マイクロメー
タは固定した点からフィラメントエッジまでの距離の連
続的な読取りを行うフィラメントケーブルの位置を正確
に感知する。これらの読取りはフィラメントが巻回され
る巻枠表面に関してフィラメントの実際の角度を与え
る。
【０００７】実際測定された角度と予め定められた所望
の角度とを比較してエラー信号が生成され、それは巻枠
の位置をエラーを取除く方向に補正するために使用され
る。この方法において、巻枠角度に適切にフィラメント
を維持することによって、巻回層中でのフィラメントの
適切な配置が成遂げられる。巻枠は非回転リールからフ
ィラメントを繰出すために巻回されるとき、欠点のある
巻回を形成するギャップまたは交差による重なりの生成
を減少するために巻回パターンを非常に正確に制御する
ことは特に望ましい。したがって、本発明の実施におい
て、フィラメントセンサは前に巻回されたフィラメント
の位置を示すように供給されるケーブルの偏向によって
巻枠上のフィラメント配置点の直ぐ近くに隣接して位置
される。このデータの解析はフィラメントがそれ自体に
よってギャップ或いは交差による重なりできる任意の点
の位置を決定して阻止することを可能にする。さらに、
このデータの解析は必要な交差が生じる点の位置を決定
し、連続的な交差およびステップバックの位置の制御を
可能にする。
の角度とを比較してエラー信号が生成され、それは巻枠
の位置をエラーを取除く方向に補正するために使用され
る。この方法において、巻枠角度に適切にフィラメント
を維持することによって、巻回層中でのフィラメントの
適切な配置が成遂げられる。巻枠は非回転リールからフ
ィラメントを繰出すために巻回されるとき、欠点のある
巻回を形成するギャップまたは交差による重なりの生成
を減少するために巻回パターンを非常に正確に制御する
ことは特に望ましい。したがって、本発明の実施におい
て、フィラメントセンサは前に巻回されたフィラメント
の位置を示すように供給されるケーブルの偏向によって
巻枠上のフィラメント配置点の直ぐ近くに隣接して位置
される。このデータの解析はフィラメントがそれ自体に
よってギャップ或いは交差による重なりできる任意の点
の位置を決定して阻止することを可能にする。さらに、
このデータの解析は必要な交差が生じる点の位置を決定
し、連続的な交差およびステップバックの位置の制御を
可能にする。
【０００８】ギャップおよび交差による重なりのような
欠点の検出は実際のフィラメント位置と所望のフィラメ
ント位置とを連続して比較することによって達成され
る。欠点（例えば、ギャップおよび交差による重なり）
について述べると、巻回は欠点を取除くために停止され
逆転され、その後、通常の巻回が再開される。
欠点の検出は実際のフィラメント位置と所望のフィラメ
ント位置とを連続して比較することによって達成され
る。欠点（例えば、ギャップおよび交差による重なり）
について述べると、巻回は欠点を取除くために停止され
逆転され、その後、通常の巻回が再開される。
【０００９】
【実施例】フィラメント、特に光ファイバフィラメント
の巻回は非常に正確な巻回装置と共に熟練したオペレー
タを必要とする。巻回されるべきファイバの全長が非常
に長く、例えば１０ｋｍである場合、これは特に当ては
まる。さらに、光ファイバの直径（１８０ミクロン）が
連続して減少するので、それに対応して巻回欠点を検出
することはさらに困難になる。典型的に、オペレータは
巻枠上をほぼ１００回巻回し、巻回動作を停止し、ファ
イバの適合性を検査する、すなわち、もしギャップが存
在したり、ずれた交差が見られるかどうかを検査し、一
般的な外見を検査する。すなわち、各１００巻回の層部
分についてこれを繰返すことは巻回時間効率に有害であ
り、その場合、例えば各層は１５００の巻回を含むこと
ができる。したがって、手動の巻回動作に関連する困難
さを減少できることは望ましく、これは欠点検出のため
のインライン手動検査およびフィラメントの配置の連続
的な視覚監視を省くか或いは実質上少なくさせる本発明
によって達成される。
の巻回は非常に正確な巻回装置と共に熟練したオペレー
タを必要とする。巻回されるべきファイバの全長が非常
に長く、例えば１０ｋｍである場合、これは特に当ては
まる。さらに、光ファイバの直径（１８０ミクロン）が
連続して減少するので、それに対応して巻回欠点を検出
することはさらに困難になる。典型的に、オペレータは
巻枠上をほぼ１００回巻回し、巻回動作を停止し、ファ
イバの適合性を検査する、すなわち、もしギャップが存
在したり、ずれた交差が見られるかどうかを検査し、一
般的な外見を検査する。すなわち、各１００巻回の層部
分についてこれを繰返すことは巻回時間効率に有害であ
り、その場合、例えば各層は１５００の巻回を含むこと
ができる。したがって、手動の巻回動作に関連する困難
さを減少できることは望ましく、これは欠点検出のため
のインライン手動検査およびフィラメントの配置の連続
的な視覚監視を省くか或いは実質上少なくさせる本発明
によって達成される。
【００１０】データリンクとして使用される巻枠は典型
的にテーパを有し、フィラメントは巻枠の回転なしに繰
出される。そのようなテーパを有するフィラメントパッ
クの巻回において、巻回は巻枠の大きい端部で開始し、
到来フィラメント８と巻枠の軸の間において９０°未満
の角度βを有する。その角度は図１の（ａ）に示され、
「遅延」と呼ばれる。この遅延角度が初め適切に設定さ
れていないとき、機械は図１の（ｂ）と（ｃ）に示され
ているような「ゼロ」または「リード」角度で巻回で
き、この場合、フィラメントがその適切な溝から隣接す
る溝に飛越える危険性がある。従来において、オペレー
タが繰返して巻回するのを停止し、予め定められた角度
が維持されていることを保証するために測定するほかに
パックの巻回中にアタック角度を検査するのに十分に適
した方法はなかった。
的にテーパを有し、フィラメントは巻枠の回転なしに繰
出される。そのようなテーパを有するフィラメントパッ
クの巻回において、巻回は巻枠の大きい端部で開始し、
到来フィラメント８と巻枠の軸の間において９０°未満
の角度βを有する。その角度は図１の（ａ）に示され、
「遅延」と呼ばれる。この遅延角度が初め適切に設定さ
れていないとき、機械は図１の（ｂ）と（ｃ）に示され
ているような「ゼロ」または「リード」角度で巻回で
き、この場合、フィラメントがその適切な溝から隣接す
る溝に飛越える危険性がある。従来において、オペレー
タが繰返して巻回するのを停止し、予め定められた角度
が維持されていることを保証するために測定するほかに
パックの巻回中にアタック角度を検査するのに十分に適
した方法はなかった。
【００１１】図２を参照すると、巻回動作中にフィラメ
ントの位置上の識別を達成する本発明の装置の全体の概
略を構成する機能的ブロック図が示されている。半導体
レーザ10は八角形ミラー14の方向に導かれそこから反射
されるレーザビーム12を生成する。ミラーはレーザビー
ム12が反射器16を横切って掃引され、同様に光学系18を
横切って掃引される予め定められた角度速度で回転す
る。光学系18はコリメータレンズ20と、受信レンズ22
と、反射器16の中心に集まる光軸24と、レーザビームの
入射に応答する信号を生成する光感知素子26から構成さ
れている。
ントの位置上の識別を達成する本発明の装置の全体の概
略を構成する機能的ブロック図が示されている。半導体
レーザ10は八角形ミラー14の方向に導かれそこから反射
されるレーザビーム12を生成する。ミラーはレーザビー
ム12が反射器16を横切って掃引され、同様に光学系18を
横切って掃引される予め定められた角度速度で回転す
る。光学系18はコリメータレンズ20と、受信レンズ22
と、反射器16の中心に集まる光軸24と、レーザビームの
入射に応答する信号を生成する光感知素子26から構成さ
れている。
【００１２】レーザがフィラメント８が位置される範囲
内のコリメータレンズ20と受信レンズ22の間の領域を横
切って掃引するとき、フィラメント前方エッジによるレ
ーザビームの遮断に応答するエッジ検出回路28により時
間の定まった関係の信号が生成される。したがって、回
路28の出力で利用可能な信号はフィラメントに対する実
際の巻回遅延角度βを示す。固定した遅延角度（すなわ
ち所望の遅延角度）に対して既知の基準信号をセットす
ることによって、これはフィラメントの遅延角度の連続
的な監視を可能にする。特に、回路28からの方形波出力
はフィラメントエッジの位置を計算する中央処理装置32
に供給されるラッチ30の出力をセットする。クロックパ
ルス発生器34は予め定められたカウントが新しいフィラ
メント検出サイクルを開始するために累積した後にラッ
チをリセットするカウンタ36を励起する。
内のコリメータレンズ20と受信レンズ22の間の領域を横
切って掃引するとき、フィラメント前方エッジによるレ
ーザビームの遮断に応答するエッジ検出回路28により時
間の定まった関係の信号が生成される。したがって、回
路28の出力で利用可能な信号はフィラメントに対する実
際の巻回遅延角度βを示す。固定した遅延角度（すなわ
ち所望の遅延角度）に対して既知の基準信号をセットす
ることによって、これはフィラメントの遅延角度の連続
的な監視を可能にする。特に、回路28からの方形波出力
はフィラメントエッジの位置を計算する中央処理装置32
に供給されるラッチ30の出力をセットする。クロックパ
ルス発生器34は予め定められたカウントが新しいフィラ
メント検出サイクルを開始するために累積した後にラッ
チをリセットするカウンタ36を励起する。
【００１３】フィラメント角度巻回位置エラーがフィラ
メント位置監視および制御装置38によって決定されると
き、キャリッジ駆動装置40は巻回されるフィラメント８
のアタック角度を変化し、エラーをゼロにするために適
切な方向に軸に沿って巻枠42を再位置させるように駆動
される。このようにして、要求される許容誤差内の遅延
角度を連続的に維持する閉ループシステムが提供され
る。
メント位置監視および制御装置38によって決定されると
き、キャリッジ駆動装置40は巻回されるフィラメント８
のアタック角度を変化し、エラーをゼロにするために適
切な方向に軸に沿って巻枠42を再位置させるように駆動
される。このようにして、要求される許容誤差内の遅延
角度を連続的に維持する閉ループシステムが提供され
る。
【００１４】巻回欠点を定めてそれらを補正するように
特に導かれた本発明の概念の次の説明のために、機能的
ブロック回路を概略的に示す図２の（ａ）と（ｂ）を参
照する。フィラメントの位置は前述のように検出され、
ＣＰＵ32からフィラメント位置監視および制御装置38に
送られる。その場合、別のエラー信号は最後に巻回され
たファイバ巻回の瞬間的条件と予め蓄積された所望の値
とを比較するときに得られる。戻って重なったりギャッ
プがあることが決定されると、キャリッジ駆動装置40お
よびスピンドル駆動装置41は巻回欠点が検出される前に
巻枠から適切な点に戻される。それ故、通常の巻回が再
び開始されることができる。
特に導かれた本発明の概念の次の説明のために、機能的
ブロック回路を概略的に示す図２の（ａ）と（ｂ）を参
照する。フィラメントの位置は前述のように検出され、
ＣＰＵ32からフィラメント位置監視および制御装置38に
送られる。その場合、別のエラー信号は最後に巻回され
たファイバ巻回の瞬間的条件と予め蓄積された所望の値
とを比較するときに得られる。戻って重なったりギャッ
プがあることが決定されると、キャリッジ駆動装置40お
よびスピンドル駆動装置41は巻回欠点が検出される前に
巻枠から適切な点に戻される。それ故、通常の巻回が再
び開始されることができる。
【００１５】上述の自動フィラメントのアタック角度制
御は巻回欠点の検出と欠点除去とに別々に使用できる
が、同時に両方を行うことが大抵の場合において有利で
ある。実際、実質上相互作用効果の可能性があるので、
両者は同時に用いられることが好ましい。それ故、１つ
のシステムに含まれる補正動作は別のシステムに含まれ
る別の補正を必要とする。
御は巻回欠点の検出と欠点除去とに別々に使用できる
が、同時に両方を行うことが大抵の場合において有利で
ある。実際、実質上相互作用効果の可能性があるので、
両者は同時に用いられることが好ましい。それ故、１つ
のシステムに含まれる補正動作は別のシステムに含まれ
る別の補正を必要とする。
【００１６】本発明の特別の実施例が示され説明された
が、変形および変更は本発明の技術的範囲から逸脱する
ことなく行われることは当業者には明らかである。した
がって、そのような全ての変形および変更は添付特許請
求の範囲に記載された本発明の技術的範囲に含まれるべ
きである。
が、変形および変更は本発明の技術的範囲から逸脱する
ことなく行われることは当業者には明らかである。した
がって、そのような全ての変形および変更は添付特許請
求の範囲に記載された本発明の技術的範囲に含まれるべ
きである。
【図１】巻枠に巻回するフィラメントの異なるアタック
角度の概略図。
角度の概略図。
【図２】フィラメントの巻回するアタック角度を決定す
る装置および巻回欠点を検出し補正する装置の機能的ブ
ロック概略図。
る装置および巻回欠点を検出し補正する装置の機能的ブ
ロック概略図。
10…半導体レーザ、12…レーザビーム、18…光学系、26
…光感知素子、28…検出回路。
…光感知素子、28…検出回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０２Ｂ 6/00 ３３６ 9017−2Ｋ (72)発明者 ブライアン・エフ・バーリン アメリカ合衆国、アリゾナ州 85741、タ クソン、ダブリユ・シナモン・ドライブ 3341 (72)発明者 ジヨン・テイー・ケンナ アメリカ合衆国、カリフオルニア州 91360、サウザンド・オークス、チヤツト ハム・コート 1042
Claims (5)
- 【請求項１】 巻枠上に巻回されるフィラメントのアタ
ック角度の測定方法において、 巻枠に接近するフィラメントが位置される領域を横切っ
てレーザビームで周期的に掃引し、 フィラメントによるレーザビームの遮断を検出し、それ
に応答する信号を生成し、 予め定められたフィラメントのアタック角度に対応する
基準信号を設定し、 予め定められたアタック角度の信号と生成された信号と
を比較し、前記比較された信号間の差を示すエラー信号
を生成するステップを含むことを特徴とするフィラメン
トのアタック角度測定方法。 - 【請求項２】 エラー信号をゼロにするような方向およ
び大きさにフィラメントのアタック角度を変化するため
に巻枠を移動するステップをさらに含む請求項１記載の
方法。 - 【請求項３】 巻枠上に巻回されるフィラメントのアタ
ック角度の測定装置において、 巻枠上に巻回するときにフィラメントが通過する一定の
予め定められた範囲を横切ってレーザビームを掃引する
手段を備え、フィラメントは前記範囲のエッジからの一
定距離に位置され、 さらに、フィラメントによるレーザビームの遮断に応じ
て、所望のフィラメントのアタック角度を示す予め定め
られた第２の信号と比較するためのフィラメントのアタ
ック角度を示す第１の信号を生成する手段と、 第１および第２の信号をゼロにするような方向に巻枠の
縦軸と平行に巻枠をシフトする駆動手段とを具備してい
ることを特徴とするフィラメントのアタック角度測定装
置。 - 【請求項４】 フィラメントによって巻回された回転
し、軸方向に移行する巻枠層の巻回エラーを補正する方
法において、 レーザビームによって巻枠上を巻回する最後の巻回され
たフィラメント巻回を含む領域を走査し、 最後の巻回されたフィラメントによるレーザビームの遮
断を連続的に検出し、それに応答する連続的な信号を生
成し、 許容可能に巻回されたフィラメント巻回に応答する信号
を蓄積し、 連続的に生成された信号と蓄積された信号とを比較して
エラー差信号を生成し、 エラー信号の存在に応答して巻枠の回転を逆転し、 エラー信号の遮断に応答して巻枠の回転を再開するステ
ップを含むことを特徴とする巻枠エラー補正方法。 - 【請求項５】 逆転するステップでは、巻枠の回転およ
び軸方向の移行を停止し、エラー信号が消滅するまで回
転および軸方向の移行方向を逆転する請求項４記載の方
法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US669251 | 1991-03-14 | ||
| US07/669,251 US5110065A (en) | 1991-03-14 | 1991-03-14 | Bobbin winding control |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0592867A true JPH0592867A (ja) | 1993-04-16 |
| JPH0790976B2 JPH0790976B2 (ja) | 1995-10-04 |
Family
ID=24685669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4051912A Expired - Lifetime JPH0790976B2 (ja) | 1991-03-14 | 1992-03-10 | 巻枠巻回制御方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5110065A (ja) |
| EP (1) | EP0503790A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0790976B2 (ja) |
| AU (1) | AU635170B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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