JPH0584845B2 - - Google Patents
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- JPH0584845B2 JPH0584845B2 JP4476687A JP4476687A JPH0584845B2 JP H0584845 B2 JPH0584845 B2 JP H0584845B2 JP 4476687 A JP4476687 A JP 4476687A JP 4476687 A JP4476687 A JP 4476687A JP H0584845 B2 JPH0584845 B2 JP H0584845B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 97
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 230000005428 wave function Effects 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば、フオーカスサーボ機構に使
用されるレンズアクチユエータなどの特性を検出
する測定装置において、順次測定を行ないなが
ら、短時間で特性曲線上のピーク位置を検出する
ピーク位置検出方法に関するものである。
用されるレンズアクチユエータなどの特性を検出
する測定装置において、順次測定を行ないなが
ら、短時間で特性曲線上のピーク位置を検出する
ピーク位置検出方法に関するものである。
一般に、未知の特性曲線上において、そのピー
ク位置を検出するためには、全測定範囲に渡つて
測定を行うとともに、この測定データを高次の多
項式で回帰近似し、ピーク位置を求める方法が確
実であるが、測定精度を上げるためには、測定間
隔を狭くして、多数の測定データを取らなければ
ならず、多くの測定時間を要してしまう。
ク位置を検出するためには、全測定範囲に渡つて
測定を行うとともに、この測定データを高次の多
項式で回帰近似し、ピーク位置を求める方法が確
実であるが、測定精度を上げるためには、測定間
隔を狭くして、多数の測定データを取らなければ
ならず、多くの測定時間を要してしまう。
そこで、測定を行なう回数を少なくし、ピーク
位置を検出するまでの時間を短かくする方法とし
て、収束型と呼ばれる方法が実用化されている。
これは、任意の測定点を選択し、前の測定点から
この測定点までの傾きを求めるとともに、この傾
きが零となるように測定点の位置を順次変更して
行くものである。
位置を検出するまでの時間を短かくする方法とし
て、収束型と呼ばれる方法が実用化されている。
これは、任意の測定点を選択し、前の測定点から
この測定点までの傾きを求めるとともに、この傾
きが零となるように測定点の位置を順次変更して
行くものである。
しかしながら、このようなピーク位置検出方法
では、対象となる特性曲線の性質がよくわかつて
いないと、測定点の収束に時間がかかつたり、発
振してしまうことがある。
では、対象となる特性曲線の性質がよくわかつて
いないと、測定点の収束に時間がかかつたり、発
振してしまうことがある。
本発明は、上記のような従来方法の欠点をなく
し、対象となる特性曲線の性質がわかつていない
場合にも、短時間でしかも安定に検出を行なうこ
とのできるピーク位置検出方法を提供することを
目的としたものである。
し、対象となる特性曲線の性質がわかつていない
場合にも、短時間でしかも安定に検出を行なうこ
とのできるピーク位置検出方法を提供することを
目的としたものである。
本発明のピーク位置検出方法は、設定された基
準点を基にして複数箇所の測定点を選択し測定デ
ータを取る測定過程と、この測定過程により得ら
れた測定データを回帰近似して近似曲線上のピー
ク位置を求める近似過程と、この近似過程により
得られたピーク位置を新たな基準点として前記測
定過程に移行する設定過程とを具備し、基準点を
順次変更しながら測定および回帰近似を繰り返す
とともに、ピーク位置の偏差または測定回数を終
了条件とするようにしたものである。
準点を基にして複数箇所の測定点を選択し測定デ
ータを取る測定過程と、この測定過程により得ら
れた測定データを回帰近似して近似曲線上のピー
ク位置を求める近似過程と、この近似過程により
得られたピーク位置を新たな基準点として前記測
定過程に移行する設定過程とを具備し、基準点を
順次変更しながら測定および回帰近似を繰り返す
とともに、ピーク位置の偏差または測定回数を終
了条件とするようにしたものである。
このように、複数箇所の測定点を選択し、その
測定データを回帰近似してピーク位置を算出する
とともに、得られたピーク位置を基にして測定点
を順次変更し、測定および回帰近似を繰り返すよ
うにすると、ノイズの影響を受けることなく、ピ
ーク位置の算出を安定に行なうことができるとと
もに、測定点を順次収束させることができ、対象
となる特性曲線の性質がわかつていない場合に
も、短時間でしかも安定に検出を行なうことので
きるピーク位置検出方法を実現することができ
る。
測定データを回帰近似してピーク位置を算出する
とともに、得られたピーク位置を基にして測定点
を順次変更し、測定および回帰近似を繰り返すよ
うにすると、ノイズの影響を受けることなく、ピ
ーク位置の算出を安定に行なうことができるとと
もに、測定点を順次収束させることができ、対象
となる特性曲線の性質がわかつていない場合に
も、短時間でしかも安定に検出を行なうことので
きるピーク位置検出方法を実現することができ
る。
以下、図面を用いて本発明のピーク位置検出方
法を説明する。
法を説明する。
第1図は本発明のピーク位置検出方法の一実施
例を示すフローチヤートである。図において、1
はカウンタiおよび基準点Xo,Yoの値を初期化
する初期化ブロツク、2は基準点Xo,Yoを基に
して複数箇所の測定点を選択し、測定データXi,
Yiを取る測定ブロツク、3は複数の測定データ
Xi,Yiを回帰近似して特性曲線を求めるととも
に、この近似曲線上のピーク位置Xp,Ypを求め
る近似ブロツク、4は基準点Xo,Yoとピーク位
置Xp,Ypとを比較し、その偏差が一定値Kx,
Ky以内に入つているが否かを判別する収束判別
ブロツク、5はカウンタiを進めるとともに、基
準点Xo,Yoの値を近似ブロツク3で求めたピー
ク位置Xp,Ypの値に変更する設定ブロツク、6
はカウンタiの値が制限値imaxに達したか否か
を判別する非収束判別ブロツク、7は測定された
ピーク位置Xp,Ypを出力する出力ブロツク、8
はアラームを発生するアラームブロツクである。
例を示すフローチヤートである。図において、1
はカウンタiおよび基準点Xo,Yoの値を初期化
する初期化ブロツク、2は基準点Xo,Yoを基に
して複数箇所の測定点を選択し、測定データXi,
Yiを取る測定ブロツク、3は複数の測定データ
Xi,Yiを回帰近似して特性曲線を求めるととも
に、この近似曲線上のピーク位置Xp,Ypを求め
る近似ブロツク、4は基準点Xo,Yoとピーク位
置Xp,Ypとを比較し、その偏差が一定値Kx,
Ky以内に入つているが否かを判別する収束判別
ブロツク、5はカウンタiを進めるとともに、基
準点Xo,Yoの値を近似ブロツク3で求めたピー
ク位置Xp,Ypの値に変更する設定ブロツク、6
はカウンタiの値が制限値imaxに達したか否か
を判別する非収束判別ブロツク、7は測定された
ピーク位置Xp,Ypを出力する出力ブロツク、8
はアラームを発生するアラームブロツクである。
上記のように構成されたピーク位置検出方法に
おいては、基準点Xo,Yoを基にして複数箇所の
測定点を選択し、その測定データXi,Yiを回帰
近似してピーク位置Xp,Ypを算出するととも
に、得られたピーク位置Xp,Ypを基にして測定
点を順次変更し、測定および回帰近似を繰り返
す。また、得られたピーク位置Xp,Ypの偏差が
一定値Kx,Ky以内に入ることを収束条件とし
て、測定を終了させている。さらに、一定回数以
上測定を繰り返しても収束しない時には、アラー
ムを発生し、測定を終了させる。
おいては、基準点Xo,Yoを基にして複数箇所の
測定点を選択し、その測定データXi,Yiを回帰
近似してピーク位置Xp,Ypを算出するととも
に、得られたピーク位置Xp,Ypを基にして測定
点を順次変更し、測定および回帰近似を繰り返
す。また、得られたピーク位置Xp,Ypの偏差が
一定値Kx,Ky以内に入ることを収束条件とし
て、測定を終了させている。さらに、一定回数以
上測定を繰り返しても収束しない時には、アラー
ムを発生し、測定を終了させる。
第2図は具体的な測定例を示す図である。図は
レンズアクチユエータなどの入出力特性であり、
例えば、X軸はレンズの変位量、Y軸はフオーカ
ス状態に応じたフオトダイオードの出力電圧であ
る。前記したように、1回目の測定の開始時に
は、初期化ブロツク1により基準点Xo,Yoが設
定される。基準点Xo,Yoの位置は任意である
が、ここでは、測定範囲のほぼ中央(Xo=Ks,
Yo=O)に選ばれている。そこで、測定ブロツ
ク2においては、この基準点Xo,Yoを基にし
て、例えば、等間隔に4つの測定点M11〜M14が
選択され、測定が行なわれる。L1はこれらの測
定点M11〜M14に対応した測定データXi,Yiを回
帰近似した近似曲線であり、近似ブロツク3によ
り求められるものである。また、この近似曲線
L1からはピーク位置Xp,Ypが求められる。な
お、この近似曲線L1において、計算に使用した
測定データがノイズの影響を受けていたり、測定
対象の特性自身が複雑な非直線性を持つていたり
した場合には、真の特性とは一致せず、ピーク位
置の特定を誤つてしまうことがある。このため、
このピーク位置Xp,Ypを即座に測定出力とする
ことはできない。
レンズアクチユエータなどの入出力特性であり、
例えば、X軸はレンズの変位量、Y軸はフオーカ
ス状態に応じたフオトダイオードの出力電圧であ
る。前記したように、1回目の測定の開始時に
は、初期化ブロツク1により基準点Xo,Yoが設
定される。基準点Xo,Yoの位置は任意である
が、ここでは、測定範囲のほぼ中央(Xo=Ks,
Yo=O)に選ばれている。そこで、測定ブロツ
ク2においては、この基準点Xo,Yoを基にし
て、例えば、等間隔に4つの測定点M11〜M14が
選択され、測定が行なわれる。L1はこれらの測
定点M11〜M14に対応した測定データXi,Yiを回
帰近似した近似曲線であり、近似ブロツク3によ
り求められるものである。また、この近似曲線
L1からはピーク位置Xp,Ypが求められる。な
お、この近似曲線L1において、計算に使用した
測定データがノイズの影響を受けていたり、測定
対象の特性自身が複雑な非直線性を持つていたり
した場合には、真の特性とは一致せず、ピーク位
置の特定を誤つてしまうことがある。このため、
このピーク位置Xp,Ypを即座に測定出力とする
ことはできない。
ここで、収束判別ブロツク4においては、ピー
ク位置Xp,Ypを基準点Xo,Yoと比較し、その
偏差が一定値Kx,Ky以内となつているか否かを
判別する。なお、1回目の測定においては、基準
点Xo,YoはKs,Oに設定されているので、こ
の条件を満すことはない。したがつて、動作は次
の設定ブロツク5へと移行する。
ク位置Xp,Ypを基準点Xo,Yoと比較し、その
偏差が一定値Kx,Ky以内となつているか否かを
判別する。なお、1回目の測定においては、基準
点Xo,YoはKs,Oに設定されているので、こ
の条件を満すことはない。したがつて、動作は次
の設定ブロツク5へと移行する。
設定ブロツク5においては、カウンタiが1つ
進められ、i=2となるとともに、ピーク位置
Xp,Ypの値が新たな基準点Xo,Yoの値として
設定される。次に、非収束判別ブロツク6におい
ては、カウンタiの値が制限値imaxと比較され
るが、通常、このような測定系では3〜5回の測
定動作で出力値が収束するので、制限値imaxは
6程度に選ばれている。したがつて、動作は2回
目の測定へと移行する。
進められ、i=2となるとともに、ピーク位置
Xp,Ypの値が新たな基準点Xo,Yoの値として
設定される。次に、非収束判別ブロツク6におい
ては、カウンタiの値が制限値imaxと比較され
るが、通常、このような測定系では3〜5回の測
定動作で出力値が収束するので、制限値imaxは
6程度に選ばれている。したがつて、動作は2回
目の測定へと移行する。
2回目の測定においては、基準点Xo,Yoは前
回に求めらたピーク位置Xp,Ypとなつているの
で、測定点M21〜M24は、第3図に示される如
く、この点を基にして選択される。第3図は2回
目の測定により得られる測定データXi,Yiの一
例を示したものである。この測定データXi,Yi
からは前回と同様、近似曲線L2およびピーク位
置Xp,Ypが求められる。ここで、前回に求めた
ピーク位置(基準点Xo,Yo)と今回のピーク位
置Xp,Ypとの偏差が一定値Kx,Ky以内となつ
た場合には、出力値が収束したと判断され、収束
判別ブロツク4から出力ブロツク7へと動作が移
行する。出力ブロツク7では、この時のピーク位
置Xp,Ypが測定結果として出力され、測定が終
了する。また、偏差が一定値Kx,Ky以内に入ら
ない場合には、前記と同様に、基準点Xo,Yoの
値を変更して、再度測定動作が実行される。した
がつて、測定動作を何回か繰り返すうちには、偏
差が小さくなり、出力値が収束する。
回に求めらたピーク位置Xp,Ypとなつているの
で、測定点M21〜M24は、第3図に示される如
く、この点を基にして選択される。第3図は2回
目の測定により得られる測定データXi,Yiの一
例を示したものである。この測定データXi,Yi
からは前回と同様、近似曲線L2およびピーク位
置Xp,Ypが求められる。ここで、前回に求めた
ピーク位置(基準点Xo,Yo)と今回のピーク位
置Xp,Ypとの偏差が一定値Kx,Ky以内となつ
た場合には、出力値が収束したと判断され、収束
判別ブロツク4から出力ブロツク7へと動作が移
行する。出力ブロツク7では、この時のピーク位
置Xp,Ypが測定結果として出力され、測定が終
了する。また、偏差が一定値Kx,Ky以内に入ら
ない場合には、前記と同様に、基準点Xo,Yoの
値を変更して、再度測定動作が実行される。した
がつて、測定動作を何回か繰り返すうちには、偏
差が小さくなり、出力値が収束する。
しかしながら、特性曲線の状態によつては、測
定動作を繰り返しても出力値が収束しない場合が
ある。特性がフラツトで、ピークがない場合など
がそれであるが、このような場合には、カウンタ
iが6となつた時点でアラームを発生し、測定を
中止させる。
定動作を繰り返しても出力値が収束しない場合が
ある。特性がフラツトで、ピークがない場合など
がそれであるが、このような場合には、カウンタ
iが6となつた時点でアラームを発生し、測定を
中止させる。
このように、測定点を順次変更して出力値を収
束させて行くと、対象となる特性がわかつていな
い場合にも、短い時間で測定を終了させることが
できる。また、測定データを回帰近似してピーク
位置を求めているので、ノイズの影響を受けにく
く、安定な測定を行なうことができる。
束させて行くと、対象となる特性がわかつていな
い場合にも、短い時間で測定を終了させることが
できる。また、測定データを回帰近似してピーク
位置を求めているので、ノイズの影響を受けにく
く、安定な測定を行なうことができる。
なお、上記の説明においては、ピーク位置Xp,
Ypの偏差が一定値以内に収束することを測定の
終了条件とした場合を例示したが、測定の終了条
件はこれに限られるものではない。例えば、数回
の測定を行なえば、出力値はほぼ収束するので、
測定を決められた回数だけ行なつた後、無条件に
終了させるように構成することも可能である。ま
た、回帰近似における近似式はn次多項式に限ら
ず、対数関数、正弦波関数、スプライン関数など
であつてもよい。さらに、上記の説明において
は、カウンタiが一定値以上となることにより特
性の異常を検出しているが、特性の異常は近似式
中の係数の状態からも検出することができる。例
えば、フラツトな特性であれば、n次多項式にお
ける2次以上の項の係数が小さくなる。
Ypの偏差が一定値以内に収束することを測定の
終了条件とした場合を例示したが、測定の終了条
件はこれに限られるものではない。例えば、数回
の測定を行なえば、出力値はほぼ収束するので、
測定を決められた回数だけ行なつた後、無条件に
終了させるように構成することも可能である。ま
た、回帰近似における近似式はn次多項式に限ら
ず、対数関数、正弦波関数、スプライン関数など
であつてもよい。さらに、上記の説明において
は、カウンタiが一定値以上となることにより特
性の異常を検出しているが、特性の異常は近似式
中の係数の状態からも検出することができる。例
えば、フラツトな特性であれば、n次多項式にお
ける2次以上の項の係数が小さくなる。
第4図は本発明のピーク位置検出方法の他の実
施例を示す説明図である。図は測定点の選び方の
一例を示したものである。前記した第2図および
第3図の例では、基準点Xo,Yoを基にして、常
に一定間隔で測定点を選択していたが、ここで
は、測定回数が進むにつれて、測定点の間隔を狭
くするようにしている。すなわち、1回目の測定
においては、測定点M11〜M14を全測定範囲にわ
たつて広い間隔で選択し、2回目の測定において
は、予めピーク位置がわかつているので、このピ
ーク位置Xp,Ypを基にして、狭い間隔で測定点
M21〜M24を選択する。このようにすると、順次
測定範囲を絞り込むことができ、精度良く近似曲
線を得ることができる。また、測定点の間隔は等
間隔に限らず、等比間隔あるいは等差間隔のよう
なものであつてもよい。
施例を示す説明図である。図は測定点の選び方の
一例を示したものである。前記した第2図および
第3図の例では、基準点Xo,Yoを基にして、常
に一定間隔で測定点を選択していたが、ここで
は、測定回数が進むにつれて、測定点の間隔を狭
くするようにしている。すなわち、1回目の測定
においては、測定点M11〜M14を全測定範囲にわ
たつて広い間隔で選択し、2回目の測定において
は、予めピーク位置がわかつているので、このピ
ーク位置Xp,Ypを基にして、狭い間隔で測定点
M21〜M24を選択する。このようにすると、順次
測定範囲を絞り込むことができ、精度良く近似曲
線を得ることができる。また、測定点の間隔は等
間隔に限らず、等比間隔あるいは等差間隔のよう
なものであつてもよい。
以上説明したように、本発明のピーク位置検出
方法では、設定された基準点を基にして複数箇所
の測定点を選択し測定データを取る測定過程と、
この測定過程により得られた測定データを回帰近
似して近似曲線上のピーク位置を求める近似過程
と、この近似過程により得られたピーク位置を新
たな基準点として前記測定過程に移行する設定過
程とを具備し、基準点を順次変更しながら測定お
よび回帰近似を繰り返すとともに、ピーク位置の
偏差または測定回数を終了条件とするようにして
いるので、ノイズの影響を受けることなく、ピー
ク位置の算出を安定に行なうことができるととも
に、測定点を順次収束させることができ、対象と
なる特性曲線の性質がわかつていない場合にも、
短時間でしかも安定に検出を行なうことのできる
ピーク位置検出方法を実現することができる。
方法では、設定された基準点を基にして複数箇所
の測定点を選択し測定データを取る測定過程と、
この測定過程により得られた測定データを回帰近
似して近似曲線上のピーク位置を求める近似過程
と、この近似過程により得られたピーク位置を新
たな基準点として前記測定過程に移行する設定過
程とを具備し、基準点を順次変更しながら測定お
よび回帰近似を繰り返すとともに、ピーク位置の
偏差または測定回数を終了条件とするようにして
いるので、ノイズの影響を受けることなく、ピー
ク位置の算出を安定に行なうことができるととも
に、測定点を順次収束させることができ、対象と
なる特性曲線の性質がわかつていない場合にも、
短時間でしかも安定に検出を行なうことのできる
ピーク位置検出方法を実現することができる。
第1図は本発明のピーク位置検出方法の一実施
例を示すフローチヤート、第2図〜第4図は本発
明のピーク位置検出方法における測定状態の一例
を示す説明図である。 1……初期化ブロツク、2……測定ブロツク、
3……近似ブロツク、4……収束判別ブロツク、
5……設定ブロツク、6……非収束判別ブロツ
ク、7……出力ブロツク、8……アラームブロツ
ク。
例を示すフローチヤート、第2図〜第4図は本発
明のピーク位置検出方法における測定状態の一例
を示す説明図である。 1……初期化ブロツク、2……測定ブロツク、
3……近似ブロツク、4……収束判別ブロツク、
5……設定ブロツク、6……非収束判別ブロツ
ク、7……出力ブロツク、8……アラームブロツ
ク。
Claims (1)
- 1 設定された基準点を基にして複数箇所の測定
点を選択し測定データを取る測定過程と、この測
定過程により得られた測定データを回帰近似して
近似曲線上のピーク位置を求める近似過程と、こ
の近似過程により得られたピーク位置を新たな基
準点として前記測定過程に移行する設定過程とを
具備し、基準点を順次変更しながら測定および回
帰近似を繰り返すとともに、ピーク位置の偏差ま
たは測定回数を終了条件とすることを特徴とする
ピーク位置検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4476687A JPS63210712A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | ピ−ク位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4476687A JPS63210712A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | ピ−ク位置検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63210712A JPS63210712A (ja) | 1988-09-01 |
JPH0584845B2 true JPH0584845B2 (ja) | 1993-12-03 |
Family
ID=12700540
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4476687A Granted JPS63210712A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | ピ−ク位置検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63210712A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010286307A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Nec Engineering Ltd | 画像撮像装置 |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP4476687A patent/JPS63210712A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63210712A (ja) | 1988-09-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |