JPH01124775A - 伝達関数測定方法と装置 - Google Patents
伝達関数測定方法と装置Info
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- JPH01124775A JPH01124775A JP28396387A JP28396387A JPH01124775A JP H01124775 A JPH01124775 A JP H01124775A JP 28396387 A JP28396387 A JP 28396387A JP 28396387 A JP28396387 A JP 28396387A JP H01124775 A JPH01124775 A JP H01124775A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 55
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- 230000006870 function Effects 0.000 description 104
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- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は伝達関数測定方法と装置に関する。具体的には
、高速フーリエ変換を用いた短時間で測定可能な高速の
伝達関数測定方法と装置に関する。
、高速フーリエ変換を用いた短時間で測定可能な高速の
伝達関数測定方法と装置に関する。
[従来の技術]
従来の測定装置の構成を第4図に示し説明する。
11は、被測定回路12に印加すべき信号たとえばスイ
ープ可能な正弦波を発生するための測定信号発生器であ
る。
ープ可能な正弦波を発生するための測定信号発生器であ
る。
13は2チヤネルの高速フーリエ変換器を含む伝達関数
測定部であり、第1のチャネルには、被測定回路12の
入力信号が、第2のチャネルには被測定回路12の出力
信号が印加されて、それぞれ高速フーリエ変換がなされ
て、伝達関数が求められる。
測定部であり、第1のチャネルには、被測定回路12の
入力信号が、第2のチャネルには被測定回路12の出力
信号が印加されて、それぞれ高速フーリエ変換がなされ
て、伝達関数が求められる。
この伝達関数は第1記憶部14に記憶され、それが、表
示部19に表示される。
示部19に表示される。
ここで制御部24Δは、各構成要素の動作を制御するた
めのものであり、測定すべき周波数範囲および分解能を
指示し、測定信号発生器11t’は、たとえば指示され
た周波数範囲内で指示された分解能に対応する多くの点
の周波数を順次出力する。
めのものであり、測定すべき周波数範囲および分解能を
指示し、測定信号発生器11t’は、たとえば指示され
た周波数範囲内で指示された分解能に対応する多くの点
の周波数を順次出力する。
これに対応して、伝達関数を測定し、順次第1記憶部1
4に記憶し、表示部19に表示している。
4に記憶し、表示部19に表示している。
[発明が解決しようとする問題点]
高精度に伝達関数を求めようとすると、分解能をあげる
ために、多くの点の周波数において、それぞれ測定をし
なければならず、1連の伝達関数を求めるのに長い時間
を必要とするという問題点がめった。
ために、多くの点の周波数において、それぞれ測定をし
なければならず、1連の伝達関数を求めるのに長い時間
を必要とするという問題点がめった。
[問題点を解決するための手段]
被測定回路に印加するために指示された周波数の信号を
発生する測定信号発生器と、 被測定回路の入力信号と出力信号とから入力信号の周波
数の各点における伝達関数を測定するための伝達関数測
定部と、 伝達関数測定部で測定した各点における伝達関数を記憶
する第1記憶部と、 第1記憶部からの各点の伝達関数と、前回推定して1q
だ各点の伝達関数とを受けて、被測定回路の伝達関数を
推定して推定した各点の伝達関数を出力する伝達関数推
定部と、 伝達関数推定部で推定した今回の各点の伝達関数と、前
回の伝達関数のうちのいずれかを、それぞれ記憶するた
めの第2記憶部と、第3記憶部と、第2記憶部と第3記
憶部のいずれかに記憶された前回の各点の伝達関数は伝
達関数推定部に送出し、今回推定した各点の伝達関数は
表示用出力として送出するための選択スイッチと、 第2および第3記憶部に記憶した前回の各点の伝達関数
と今回の各点の伝達関数との差である減算結果を求める
ための減算部と、 減算結果において所定の許容値を超過する点を検出する
ための許容値超過点検出部と、s′[8値を超過した各
点の付近の周波数の再測定をすべき測定点を記憶し、測
定信号発生器に再測定すべき点の周波数を指示するため
の再測定点記憶部と、 選択スイッチからの表示用出力を受けて表示するための
表示部とを設けた。
発生する測定信号発生器と、 被測定回路の入力信号と出力信号とから入力信号の周波
数の各点における伝達関数を測定するための伝達関数測
定部と、 伝達関数測定部で測定した各点における伝達関数を記憶
する第1記憶部と、 第1記憶部からの各点の伝達関数と、前回推定して1q
だ各点の伝達関数とを受けて、被測定回路の伝達関数を
推定して推定した各点の伝達関数を出力する伝達関数推
定部と、 伝達関数推定部で推定した今回の各点の伝達関数と、前
回の伝達関数のうちのいずれかを、それぞれ記憶するた
めの第2記憶部と、第3記憶部と、第2記憶部と第3記
憶部のいずれかに記憶された前回の各点の伝達関数は伝
達関数推定部に送出し、今回推定した各点の伝達関数は
表示用出力として送出するための選択スイッチと、 第2および第3記憶部に記憶した前回の各点の伝達関数
と今回の各点の伝達関数との差である減算結果を求める
ための減算部と、 減算結果において所定の許容値を超過する点を検出する
ための許容値超過点検出部と、s′[8値を超過した各
点の付近の周波数の再測定をすべき測定点を記憶し、測
定信号発生器に再測定すべき点の周波数を指示するため
の再測定点記憶部と、 選択スイッチからの表示用出力を受けて表示するための
表示部とを設けた。
[作用]
最初に粗く設定された各点の周波数を測定信号発生器で
発生して、伝達関数が伝達関数発生部で、測定され、こ
れを第1記憶部で記憶し、伝達関数推定部では、そのま
ま第2記憶部に格納する。つぎに前回の各点の中間点の
周波数を同様に発生して、伝達関数を求めてこれを第3
記憶部に記憶し、この出力と第2記憶部の出力との差を
減算部で得て、許容値を超過している点を許容値超過点
検出部で検出し、超過点付近の周波数を再測定のために
再測定点記憶部で記憶し、これを測定信号発生器に印加
し、再測定点伝達関数を測定し、第1記憶部に記憶し、
伝達関数推定部に印加し、第2記憶部の出力を選択スイ
ッチを介して取り出して伝達関数推定部に印加し、再測
定点伝達関数で補間して、より詳細な伝達関数を推定し
、これを第3記憶部に格納し、第3記憶部に格納された
今回推定して得た伝達関数と、第2記憶部に格納された
前回の伝達関数との差を減算部C得て、その減算結果に
おG′Jる許容値超過点を許容値超過点検出部で検出し
、その超過点付近の再測定点の周波数を再測定点記憶部
に記憶し、それを計重定信号発生器に指示して、指示さ
れた点の周波数を発生することをくり返す。これによっ
て、推定された伝達関数が許容値を超過する部分につい
てのみ、ざらに詳細に伝達関数を求める作業をくり返す
ことになるから、極めて短時間に高精度の伝達関数を得
ることができる。
発生して、伝達関数が伝達関数発生部で、測定され、こ
れを第1記憶部で記憶し、伝達関数推定部では、そのま
ま第2記憶部に格納する。つぎに前回の各点の中間点の
周波数を同様に発生して、伝達関数を求めてこれを第3
記憶部に記憶し、この出力と第2記憶部の出力との差を
減算部で得て、許容値を超過している点を許容値超過点
検出部で検出し、超過点付近の周波数を再測定のために
再測定点記憶部で記憶し、これを測定信号発生器に印加
し、再測定点伝達関数を測定し、第1記憶部に記憶し、
伝達関数推定部に印加し、第2記憶部の出力を選択スイ
ッチを介して取り出して伝達関数推定部に印加し、再測
定点伝達関数で補間して、より詳細な伝達関数を推定し
、これを第3記憶部に格納し、第3記憶部に格納された
今回推定して得た伝達関数と、第2記憶部に格納された
前回の伝達関数との差を減算部C得て、その減算結果に
おG′Jる許容値超過点を許容値超過点検出部で検出し
、その超過点付近の再測定点の周波数を再測定点記憶部
に記憶し、それを計重定信号発生器に指示して、指示さ
れた点の周波数を発生することをくり返す。これによっ
て、推定された伝達関数が許容値を超過する部分につい
てのみ、ざらに詳細に伝達関数を求める作業をくり返す
ことになるから、極めて短時間に高精度の伝達関数を得
ることができる。
[実施例]
第1図に本発明の一実施例を示し説明する。
11は被測定回路12に指示された各点の周波数を順次
印加するための信号を発生する測定信号発生器、 13は被測定回路12の入力信号と出力信号とから入力
信号の各点の周波数にJ3ける伝達関数を測定するため
の伝達関数測定部、 14は伝達関数測定部13で測定した各点の周波数にお
ける伝達関数を記憶する第1記憶部である。
印加するための信号を発生する測定信号発生器、 13は被測定回路12の入力信号と出力信号とから入力
信号の各点の周波数にJ3ける伝達関数を測定するため
の伝達関数測定部、 14は伝達関数測定部13で測定した各点の周波数にお
ける伝達関数を記憶する第1記憶部である。
15は伝達関数を推定する伝達関数推定部でおり、前回
推定して得た各点の伝達関数と、今回測定して第1記憶
部14に格納した今回の各点の伝達関数とを受けて、被
測定回路の伝達関数を推定して、今回の推定した各点の
伝達関数を出力する。
推定して得た各点の伝達関数と、今回測定して第1記憶
部14に格納した今回の各点の伝達関数とを受けて、被
測定回路の伝達関数を推定して、今回の推定した各点の
伝達関数を出力する。
すでに両回の推定した各点の伝達関数が第2記憶部17
に格納されている場合には、今回の推定した各点の伝達
関数は第3記憶部1Bに格納され、前回の推定した各点
の伝達関数が第3記憶部18に格納されている場合には
、今回の推定した各点の伝達関数は第2記憶部17に格
納される。
に格納されている場合には、今回の推定した各点の伝達
関数は第3記憶部1Bに格納され、前回の推定した各点
の伝達関数が第3記憶部18に格納されている場合には
、今回の推定した各点の伝達関数は第2記憶部17に格
納される。
今回の推定した各点の伝達関数を求める場合には、前回
の推定した各点の伝達関数を格納している第2または第
3記憶部17.18のいずれかの出力を選択スイッチ2
0で選択して伝達関数推定部15に印加している。また
、今回の推定した各点の伝達関数は、選択スイッチ20
を介して表示部19に印加され表示される。
の推定した各点の伝達関数を格納している第2または第
3記憶部17.18のいずれかの出力を選択スイッチ2
0で選択して伝達関数推定部15に印加している。また
、今回の推定した各点の伝達関数は、選択スイッチ20
を介して表示部19に印加され表示される。
第2および第3記憶部17.18に格納されて前回およ
び今回の推定した各点の伝達関数は、減算部21におい
て差を埠出し、減算結果を得ている。この減算結果は、
許容値超過点検出部22において、設定された許容値と
比較され、許容値を超過する測定点が検出されて、これ
が再測定点記憶部23に印加される。
び今回の推定した各点の伝達関数は、減算部21におい
て差を埠出し、減算結果を得ている。この減算結果は、
許容値超過点検出部22において、設定された許容値と
比較され、許容値を超過する測定点が検出されて、これ
が再測定点記憶部23に印加される。
再測定点記憶部23では、許容値を超過した測定点の前
接の周波数を再測定のための測定点として記憶し、この
測定点を測定信号発生器11に指示し、測定信号発生器
11では、この指示にもとづいて次回の伝達関数測定サ
イクルに入る。以上の測定サイクルがくり返される。制
御部24Bは各構成要素の動作を制御している。
接の周波数を再測定のための測定点として記憶し、この
測定点を測定信号発生器11に指示し、測定信号発生器
11では、この指示にもとづいて次回の伝達関数測定サ
イクルに入る。以上の測定サイクルがくり返される。制
御部24Bは各構成要素の動作を制御している。
第1図に示した構成の動作順序を第2図の波形図により
説明する。ここで(a)〜(d)は第2または第3記憶
部17.18の記憶内容を表わしており、(e)〜(c
p>は減算部21の出力波形と許容値超過点検出部22
の動作を示している。
説明する。ここで(a)〜(d)は第2または第3記憶
部17.18の記憶内容を表わしており、(e)〜(c
p>は減算部21の出力波形と許容値超過点検出部22
の動作を示している。
(a)は第1回目の伝達関数測定において、あらくn点
の周波数における伝達関数を求め、これを第2記憶部1
7に格納している様子を示している。(b)は第2回目
の伝達関数測定にCF3いて、(a)で示したn点の中
間のn−1点の周波数において伝達関数を測定し、測定
結果と第2記憶部17に格納しである第1回目の各点の
伝達関数とから推定して得た各点の伝達関数を示してお
り、これを第3記憶部18に記憶している。(a)に示
す第1回目の各点の伝達関数と(b)に示す第2回目の
各点の伝達関数とは、減算部21で差をとり、その減算
結果が(e)に示されている。
の周波数における伝達関数を求め、これを第2記憶部1
7に格納している様子を示している。(b)は第2回目
の伝達関数測定にCF3いて、(a)で示したn点の中
間のn−1点の周波数において伝達関数を測定し、測定
結果と第2記憶部17に格納しである第1回目の各点の
伝達関数とから推定して得た各点の伝達関数を示してお
り、これを第3記憶部18に記憶している。(a)に示
す第1回目の各点の伝達関数と(b)に示す第2回目の
各点の伝達関数とは、減算部21で差をとり、その減算
結果が(e)に示されている。
第2図(e)においてAは、許容値超過点検出部22に
設定された許容値を示しており、その許容値Aの範囲か
ら逸脱したmで示した範囲が、再測定の対象となる範囲
である。このmで示した範囲において再測定すべき点は
、たとえば、前回の各測定点の中間点あるいは3等分し
た各点、あるいは4等分した各点などの再測定をする各
点の周波数を再測定点記憶部23に制御部24の指示に
従って格納する。
設定された許容値を示しており、その許容値Aの範囲か
ら逸脱したmで示した範囲が、再測定の対象となる範囲
である。このmで示した範囲において再測定すべき点は
、たとえば、前回の各測定点の中間点あるいは3等分し
た各点、あるいは4等分した各点などの再測定をする各
点の周波数を再測定点記憶部23に制御部24の指示に
従って格納する。
再測定点記憶部23の指示に従って、第3回目の伝達関
数の測定が行われる。この第3回目(今回)の測定は、
(e)に示したmの期聞中のみを測定して得た各伝達関
数と、第3記憶部18に格納されている(b)に示した
第2回目(前回)の推定して得た各伝達関数とが、減算
部21で減算されて(f)に承り減算結果を得る。(e
)に示した場合と同様にして、許容値Aの範囲を逸脱し
たmで示した範囲を再測定することになる。
数の測定が行われる。この第3回目(今回)の測定は、
(e)に示したmの期聞中のみを測定して得た各伝達関
数と、第3記憶部18に格納されている(b)に示した
第2回目(前回)の推定して得た各伝達関数とが、減算
部21で減算されて(f)に承り減算結果を得る。(e
)に示した場合と同様にして、許容値Aの範囲を逸脱し
たmで示した範囲を再測定することになる。
以下同様の伝達関数測定ナイクルがくり返されて、第N
回目において、(d)に示す推定した伝達関数を得て、
これを前回(第N−1回目)に求めた伝達関数との差を
減算部21″C締出してl)に示す減算結果を1qる。
回目において、(d)に示す推定した伝達関数を得て、
これを前回(第N−1回目)に求めた伝達関数との差を
減算部21″C締出してl)に示す減算結果を1qる。
第2図(CI>においては、減算結果は許容値Aの範囲
内にすべての測定点が入っているために、(d)に示し
た第N回目の各点の伝達関数が、第2または、第3記憶
部17.18から選択スイッチ20を介して表示部19
に表示されることになる。
内にすべての測定点が入っているために、(d)に示し
た第N回目の各点の伝達関数が、第2または、第3記憶
部17.18から選択スイッチ20を介して表示部19
に表示されることになる。
以上の動作において、許容値Aの値は、測定の回数が進
むにつれて小ざな値に設定してもよい。
むにつれて小ざな値に設定してもよい。
以上に説明した動作の流れを第3A図、第3B図および
第3C図を用いて説明する。
第3C図を用いて説明する。
最初に、制御部24Bからの指示により、設定されたn
点の周波数を測定信号発生器11で発生し、被測定回路
12に印加し、その入出力信号を伝達関数測定部13で
受【ノて、「)点の伝達関数を測定する(S101.第
3A図)。このn点の伝達関数は第1記憶部14に格納
される(S102>第1記憶部14に格納されたデータ
は、伝達関数推定部15において、曲線補間をして、そ
の結果を第2記憶部17に格納する(S103)。再測
定点記憶部23には、ステップ3101で測定したn点
の各周波数の、たとえば中間点の各周波数を格納しく5
104>、この中間点の各周波数を測定信号発生器11
に指示して発生せしめて、ステップ3101の動作と同
様にして、中間点の各周波数の伝達関数を伝達関数測定
部13で測定する(3105)。ここで得られた中間点
の各伝達関数は、第1記憶部14に格納される(810
6)。
点の周波数を測定信号発生器11で発生し、被測定回路
12に印加し、その入出力信号を伝達関数測定部13で
受【ノて、「)点の伝達関数を測定する(S101.第
3A図)。このn点の伝達関数は第1記憶部14に格納
される(S102>第1記憶部14に格納されたデータ
は、伝達関数推定部15において、曲線補間をして、そ
の結果を第2記憶部17に格納する(S103)。再測
定点記憶部23には、ステップ3101で測定したn点
の各周波数の、たとえば中間点の各周波数を格納しく5
104>、この中間点の各周波数を測定信号発生器11
に指示して発生せしめて、ステップ3101の動作と同
様にして、中間点の各周波数の伝達関数を伝達関数測定
部13で測定する(3105)。ここで得られた中間点
の各伝達関数は、第1記憶部14に格納される(810
6)。
各点の伝達関数を補間して推定した伝達関数として前回
記憶したものが、第2記憶部17に格納されているのか
、第3記憶部18に記憶されているのかを調べ(310
7、第3B図)、第2記憶部17に記憶されているなら
ば、選択スイッチ2Oにより第2記憶部17のデータを
選択し、このデータと第1記憶部14のデータとを伝達
関数推定部15に印加して、前回のデータを今回のデー
タで曲線補間することにJ:つて伝達関数を推定し、結
果を第3記憶部18に格納する(3108)。
記憶したものが、第2記憶部17に格納されているのか
、第3記憶部18に記憶されているのかを調べ(310
7、第3B図)、第2記憶部17に記憶されているなら
ば、選択スイッチ2Oにより第2記憶部17のデータを
選択し、このデータと第1記憶部14のデータとを伝達
関数推定部15に印加して、前回のデータを今回のデー
タで曲線補間することにJ:つて伝達関数を推定し、結
果を第3記憶部18に格納する(3108)。
ステップ3107において、第3記憶部18に記憶され
ているならば、j式択スイッチ20ににり第3記憶部1
8のデータを選択し、このデータと第1記憶部14のデ
ータとを伝達関数推定部15に印加して、前回のデータ
を今回のデータで曲線補間することによって伝達関数を
推定し、結果を第2記憶部17に格納する(S109)
。
ているならば、j式択スイッチ20ににり第3記憶部1
8のデータを選択し、このデータと第1記憶部14のデ
ータとを伝達関数推定部15に印加して、前回のデータ
を今回のデータで曲線補間することによって伝達関数を
推定し、結果を第2記憶部17に格納する(S109)
。
つぎに第2記憶部17と第3記憶部18のデータを減q
部21で減韓して、その差である減算結果を求め(31
10)、減算結果が許容値を越えている点を許容値超過
点検出部22′c求め、再測定ずべぎ点を再測定点記憶
部23に格納する(S111、第3C図)。
部21で減韓して、その差である減算結果を求め(31
10)、減算結果が許容値を越えている点を許容値超過
点検出部22′c求め、再測定ずべぎ点を再測定点記憶
部23に格納する(S111、第3C図)。
再測定すべき魚かある場合には、ステップS1O5にも
どり(3112YES)、再測定すべき点がない場合に
は、(3112No>ステップ3108,3109で1
9だ今回の補間データが第2記憶部17と第3記憶部1
8のいずれに格納されているかを調べ(S113)、第
2記憶部17に記憶されている場合は、そのデータを表
示部19で表示しく5114)、第3記憶部18に記憶
されている場合はそのデータを表示部19で表示して(
S115)、被測定回路12の伝達関数の測定を終了す
る。
どり(3112YES)、再測定すべき点がない場合に
は、(3112No>ステップ3108,3109で1
9だ今回の補間データが第2記憶部17と第3記憶部1
8のいずれに格納されているかを調べ(S113)、第
2記憶部17に記憶されている場合は、そのデータを表
示部19で表示しく5114)、第3記憶部18に記憶
されている場合はそのデータを表示部19で表示して(
S115)、被測定回路12の伝達関数の測定を終了す
る。
以上の説明においては、最初にn点の伝達関数を測定し
く5101)、つぎにそのn点の中間点の伝達関数を測
定して両データから補間データを得て伝達関数を推定し
たが、これを、最初にn点の伝達関数を測定し、これを
すべてのデータが零である第3記憶部18の内容とから
補間データを得て伝達関数を推定しこれを第2記憶部1
7に格納してもよい。
く5101)、つぎにそのn点の中間点の伝達関数を測
定して両データから補間データを得て伝達関数を推定し
たが、これを、最初にn点の伝達関数を測定し、これを
すべてのデータが零である第3記憶部18の内容とから
補間データを得て伝達関数を推定しこれを第2記憶部1
7に格納してもよい。
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように、本発明によるならば、
伝達関数が急激に変化16周波数範囲については、細か
い間隔で伝達関数を求め、急激に変化しない範囲につい
ては粗い間隔で測定することになるから少ない測定点で
十分な精度を1qることがきる。そのために極めて短時
間に精度よく伝達関数を求めることが可能となった、し
たがって本発明の効果は極めい大きい。
伝達関数が急激に変化16周波数範囲については、細か
い間隔で伝達関数を求め、急激に変化しない範囲につい
ては粗い間隔で測定することになるから少ない測定点で
十分な精度を1qることがきる。そのために極めて短時
間に精度よく伝達関数を求めることが可能となった、し
たがって本発明の効果は極めい大きい。
第1図は本発明の一実施例を示す回路構成図、第2図は
第1図に示した回路構成の動作順序を示す波形図、 第3A図、第3B図および第3C図は第1図に示した装
置の動作の流れを承りフローチャート、第4図は従来例
を示す回路構成図でおる。 11・・・測定信号発生器 12・・・被測定回路1
3・・・伝達関数測定部 14・・・第1記憶部15
・・・伝達関数推定部 17・・・第2記憶部18・
・・第3記憶部 19・・・表示部20・・・選
択スイッチ 21・・・減算部22・・・許容値超
過点検出部 23・・・再測定点記憶部 24A、24B・・・制御部。
第1図に示した回路構成の動作順序を示す波形図、 第3A図、第3B図および第3C図は第1図に示した装
置の動作の流れを承りフローチャート、第4図は従来例
を示す回路構成図でおる。 11・・・測定信号発生器 12・・・被測定回路1
3・・・伝達関数測定部 14・・・第1記憶部15
・・・伝達関数推定部 17・・・第2記憶部18・
・・第3記憶部 19・・・表示部20・・・選
択スイッチ 21・・・減算部22・・・許容値超
過点検出部 23・・・再測定点記憶部 24A、24B・・・制御部。
Claims (2)
- (1)被測定回路に入力信号を印加し、前記入力信号の
周波数の各点における伝達関数を測定し、前記測定され
た各点の伝達関数で前回推定して求めた伝達関数を補間
して今回の伝達関数を推定して求め、前記前回推定して
求めた伝達関数と前記今回推定して求めた伝達関数との
差を求め、この伝達関数の差が所定の許容値から逸脱す
る範囲を求め、この範囲において、まだ伝達関数を測定
していない周波数の各点を決定して、その各点の周波数
の伝達関数を測定し、前記今回推定して求めた伝達関数
を補間して伝達関数を推定して求めることを、前記伝達
関数の差が所定の許容値から逸脱しなくなるまでくり返
すことを特徴とする伝達間数測定方法。 - (2)被測定回路に入力するための指示された周波数の
信号を発生する測定信号発生手段と、前記被測定回路の
入力信号と出力信号とから前記入力信号の周波数の各点
における伝達関数を測定するための伝達関数測定手段と
、 前記伝達関数測定手段で測定した各点における伝達関数
を記憶する第1記憶手段と、 前記測定された各点の伝達関数で前回推定して求めた伝
達関数を補間して今回の推定して求めた伝達関数を得る
ための伝達関数推定手段と、前記前回推定して求めた伝
達関数と前記今回の推定して求めた伝達関数とを記憶す
るための第2記憶手段および第3記憶手段と、 前記前回推定して求めた伝達関数を前記第1記憶手段お
よび前記第2記憶手段の出力のいずれか1つを選択して
前記伝達関数推定手段に印加するための選択手段と、 前記前回推定して求めた伝達関数と前記今回推定して求
めた伝達関数との差をとり減算結果を得るための減算手
段と、 前記減算結果において、所定の許容値を超過する点を検
出するための許容値超過検出手段と、前記許容値を超過
する点付近の周波数の再測定をすべき測定点を設定し記
憶して、前記測定信号発生手段に再測定すべき点の周波
数を指示するための再測定点記憶手段と を含むことを特徴とする伝達関数測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28396387A JPH01124775A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 伝達関数測定方法と装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28396387A JPH01124775A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 伝達関数測定方法と装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01124775A true JPH01124775A (ja) | 1989-05-17 |
Family
ID=17672493
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28396387A Pending JPH01124775A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 伝達関数測定方法と装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01124775A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001264212A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-09-26 | Advantest Corp | 波形計測装置、方法、記録媒体 |
US7369177B2 (en) | 1998-03-18 | 2008-05-06 | Olympus Corporation | Electronic image pickup apparatus having parallel circuit board arrangement |
-
1987
- 1987-11-10 JP JP28396387A patent/JPH01124775A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7369177B2 (en) | 1998-03-18 | 2008-05-06 | Olympus Corporation | Electronic image pickup apparatus having parallel circuit board arrangement |
JP2001264212A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-09-26 | Advantest Corp | 波形計測装置、方法、記録媒体 |
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