SU1663526A1 - Способ двухпараметрового контрол качества изделий - Google Patents
Способ двухпараметрового контрол качества изделий Download PDFInfo
- Publication number
- SU1663526A1 SU1663526A1 SU894722957A SU4722957A SU1663526A1 SU 1663526 A1 SU1663526 A1 SU 1663526A1 SU 894722957 A SU894722957 A SU 894722957A SU 4722957 A SU4722957 A SU 4722957A SU 1663526 A1 SU1663526 A1 SU 1663526A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- parameter
- converter
- output signal
- family
- signal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может использоватьс дл неразрушающего двухпараметрового контрол вихретоковым, ультразвуковым, радиоволновым и другими многопараметровыми методами. Цель изобретени - расширение области использовани способа за счет расширени пределов отстройки от вариаций подавл емого параметра издели . Цель изобретени достигаетс за счет того, что перед компенсацией выходного сигнала преобразовател определ ют сигнал, дл которого в подобранном дл семейства характеристик эмпирическом уравнении параметр семейства характеристик равен нулю, и компенсируют выходной сигнал преобразовател с помощью этого сигнала, а величину контролируемого параметра определ ют по величине параметра семейства, полученной из уравнени после подстановки в него измеренных составл ющих выходного сигнала преобразовател . 2 ил.
Description
pa Р| издели , При этом независимо от конкретной задачи контрол конкретного вида уравнени F (xi, yi, V) 0 и формы линий семейства, если известны составл ющие xi и yi выходного сигнала преобразовател , измеренные из точки 0, дл которой в исходном уравнении F(x1, y1, V)0 параметр , значение контролируемого параметра (V) издели можно определить однозначно из решени уравнени F (х, у, V) 0 относительно параметра V f(Pk).
Рассмотрим реализацию способа на примере решени задачи вихретокового контрол толщины Pk(H) диэлектрического сло , нанесенного на любые ферро- и неферромагнитные плоские электропровод щие основы или ферриты с электромагнитными параметрами Рп( /3). Выходные характеристики преобразовател при вариаци х подавл емого параметра /3 издели дл различных фиксированных значений контролируемого параметра Н приведены на фиг.2.
Способ реализуетс следующим образом (см. фиг.1).
С помощью контрольных образцов производ т измерени составл ющих xi и yi выходного сигнала преобразовател 2 от изменений / var издели при различных фиксированных значени х Н ct. Стро т по результатам измерений семейство выходных характеристик преобразовател 2. После этого, использу , например, метод выравнивани , подбирают эмпирическое уравнение вида F(xi, yi,V) 0, описывающее подход щим образом построенное семей- ство выходных характеристик преобразовател 2. В качестве такого уравнени дл данного примера может быть, в частности, использовано уравнение улитки Паскал , которое в декартовой системе координат xi, yi имеет вид F(xi.. yi,V) (xi-xo)2 + (yi-yo)2 + 1,5(xi-xo)-V 0. Здесь хо, уо координаты т.О, a v - параметр семейства выходных характеристик (см.фиг.2) преобразовател 2, вл ющийс функцией параметра Н издели . Перед компенсацией выходного сигнала преобразовател 2, питаемого переменным током генератора 1, в подобранном эмпирическом уравнении принимают параметр V 0. При этом равенство уравнени нулю обеспечено при значени х xi хо, У1 уо. Полученный при этом сигнал OOi и будет тем сигналом, с помощью которого компенсируют выходной сигнал преобразовател 2 компенсатором 3. После выполнени компенсации измерение сигнала преобразовател 2 осуществл ют из точки 0. При этом эмпирическое уравнение
имеет вид F (XL yi, v) F (x, y, V) X2 + У2 + 1,5x - V 0, которое записывают в пам ть решающего устройства 5. Затем преобразователь 2 размещают в зоне контрол и с
помощью блока 4, второй вход которого соединен с выходом генератора 1, измер ют составл ющие х и у выходного сигнала преобразовател 2, а величину контролируемого параметра Н определ ют по величине
0 параметра v семейства, полученного в устройстве 5 путем решени уравнени Х2 + уа + 1,5 х - V 0 относительно параметра V после подстановки в него измеренных составл ющих х и у выходного сигнала преоб5 разовател 2. С этой целью выходы блока 4 подключены к соответствующим входам решающего устройства 5, При этом на выходе устройства 5 действует сигнал V, пропорциональный величине Н издели .
0 В качестве составл ющих выходного сигнала преобразовател при реализации способа могут использоватьс амплитуда и фаза сигнала. При этом измен етс лишь форма записи эмпирического уравнени .
5 Так, дл рассматриваемого примера подобранное эмпирическое уравнение имеет вид А+ 1,5 Acos .
Дл сравнени на фиг.2 отмечен участок NK характеристик, где эффективно действу0 ет широко используемый в отечественных и зарубежных серийных толщиномерах диэлектрического сло способ проекции, Видно , что диапазоны отстройки от вариаций подавл емого параметра /3 издели по это5 му способу весьма невелики и ограничиваютс лишь немагнитными издели ми с высокими значени ми удельной электропроводимости основы издели .
Таким образом, способ позвол ет суще0 ственно расширить области использовани способа за счет расширени пределов отстройки от вариаций подавл емого параметра издели . Кроме того, предлагаемый способ может быть использован также дл
5 одновременного определени величины подавл емого параметра издели с отстройкой от вариаций контролируемого параметра.
Claims (1)
- Формула изобретени0 Способ двухпараметрового контрол качества изделий, заключающийс в том, что производ т измерени составл ющих хч и yi выходного сигнала преобразовател в зависимости от изменени подавл емого5 параметра издели при различных фиксированных значени х контролируемого параметра и стро т по результатам измерений семейство выходных характеристик преобразовател , компенсируют выходной сигнал преобразовател , затем размещаютпреобразователь в зоне контрол , измер ют составл ющие х и у выходного сигнала преобразовател и определ ют по результатам их обработки величину контролируемого параметра издели , отличающий- с тем, что, с целью расширени области использовани способа за счет расширени пределов отстройки от вариаций подавл емого параметра издели , перед компенсацией выходного сигнала преобразовател определ ют сигнал, дл которого в подо0бранном дл семейства выходных характеристик эмпирическом уравнении F (xi.yi.V) 0 параметр v семейства равен нулю, и компенсируют выходной сигнал преобразова-. тел с помощью этого сигнала, а величину контролируемого параметра определ ют по величине параметра V семейства, полученной из уравнени F (x.y.V) 0 после подстановки в него измеренных составл ющих х и у выходного сигнала преобразовател .Фиг. 1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894722957A SU1663526A1 (ru) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | Способ двухпараметрового контрол качества изделий |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894722957A SU1663526A1 (ru) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | Способ двухпараметрового контрол качества изделий |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1663526A1 true SU1663526A1 (ru) | 1991-07-15 |
Family
ID=21462824
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894722957A SU1663526A1 (ru) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | Способ двухпараметрового контрол качества изделий |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1663526A1 (ru) |
-
1989
- 1989-07-24 SU SU894722957A patent/SU1663526A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0708912B1 (en) | Methods and apparatus for determining a displacement of an object | |
Crescini et al. | Application of an FFT-based algorithm to signal processing of LVDT position sensors | |
SU1663526A1 (ru) | Способ двухпараметрового контрол качества изделий | |
RU2577037C1 (ru) | Способ вихретокового контроля толщины композитных материалов на неметаллических подложках и устройство для его осуществления | |
SU1619007A1 (ru) | Устройство дл двухпараметрового неразрушающего контрол изделий | |
SU845077A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол элЕКТРОпРОВОдНыХ издЕлий | |
RU2195636C2 (ru) | Способ определения механических напряжений и устройство для его осуществления | |
SU1446548A1 (ru) | Способ вихретокового контрол неферромагнитных изделий | |
Younes | Development of LVDT signal conditioner using waveguide acoustic resonance tube | |
SU1101725A1 (ru) | Устройство дл контрол движущихс ферромагнитных изделий | |
SU564585A1 (ru) | Вихретоковый способ контрол качества покрытий | |
SU607136A1 (ru) | Вихретоковое устройство дл измерени параметров электропроводных изделий | |
SU828062A1 (ru) | Способ электромагнитного контрол и уСТРОйСТВО дл ЕгО ОСущЕСТВлЕНи | |
SU901938A1 (ru) | Способ измерени толщины тонких провод щих покрытий | |
SU563612A1 (ru) | Электромагнитный способ контрол качества ферромагнитных материалов под защитным неферромагнитным слоем | |
RU2656115C1 (ru) | Способ вихретокового контроля толщины стенки металлических немагнитных труб | |
SU1693528A1 (ru) | Способ определени координат месторасположени линейных электропровод щих изделий | |
SU511545A1 (ru) | Вихретоковый способ контрол площади сечени и удельного сопротивлени электропроводных тел | |
SU731369A1 (ru) | Способ двухпараметрового контрол сферических изделий | |
SU1250931A1 (ru) | Способ раздельного измерени магнитной проницаемости и удельной электрической проводимости и устройство дл его осуществлени | |
SU549766A1 (ru) | Устройство дл обнаружени металлических предметов | |
SU868554A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол и устройство дл его осуществлени | |
SU1693364A1 (ru) | Способ измерени внутреннего диаметра полых электропровод щих изделий | |
SU905620A1 (ru) | Толщиномер диэлектрических покрытий | |
SU363046A1 (ru) | Всесоюзная |