SU564585A1 - Вихретоковый способ контрол качества покрытий - Google Patents

Вихретоковый способ контрол качества покрытий

Info

Publication number
SU564585A1
SU564585A1 SU7402004546A SU2004546A SU564585A1 SU 564585 A1 SU564585 A1 SU 564585A1 SU 7402004546 A SU7402004546 A SU 7402004546A SU 2004546 A SU2004546 A SU 2004546A SU 564585 A1 SU564585 A1 SU 564585A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
coating
converter
thickness
electrical conductivity
vortical
Prior art date
Application number
SU7402004546A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Готтович Беликов
Юрий Яковлевич Останин
Original Assignee
Belikov Evgenij G
Ostanin Yurij Ya
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Belikov Evgenij G, Ostanin Yurij Ya filed Critical Belikov Evgenij G
Priority to SU7402004546A priority Critical patent/SU564585A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU564585A1 publication Critical patent/SU564585A1/ru

Links

Description

Изобретение огносигс  к контрольно-измерительной технике. Известны способы внхрвтокового контрол  качества покрытий, при которых режим контрол  устанавливают либо при отсутствии в компенсационной зоне эталонного издели , либо путем раэмеще (и  в компенсационной зоне эталона на материала основы LlJ,L2J Известен также вихретоковый способ контрол  качествапокрытий, заключающийс  в том, что в измерительной и компенсационной зонах вихретокового преобразовател  располагают идентичные эталонные издели , напр жени  минимизации выходного напр жени  Преобразовател .устанавливают режим контрол , затем размещают в измерительно зоне преобразовател  контрол руемое изделие и по выходному сигналу преобразовател  суд т о качестве покрыти  Зд. Однако при контроле качества покрыгий известные способы обладают cymectBeHftfcfM недостатком: на результаты кЬитрол  сказываютс  малейшие изменени  удельной электрической проводимости основного материала . Цель изобретени  - повысить точность надежность контрол  качества покрытий. Указанна  йедь достигаетс  тем, что л  установки режима контрол  нсаользуют эталонное изделие, выполненное из материала покрыти  с толщиной, превышающей глубину проникновени  плоской электромаг)нитной волны в материал покрыти , а радиусы катушек преобразовател  выбирают на соотношени  р4«/и„( где Т - радиус катушки преовразовагел ; л) - кругова  частота питающего напр жени ; - абсолютна  магнитна  проницаемость материала покрыти ; ( 5 - .удёдьн(м1 электрическа  проводимость магервалл покрытий. На фиг. 1 иаображеиа структурна  схема устройства дл  установки режима конграт  предлагаемь М способом; на фнг. 2 -устройство , реализующее предлагаемый способ; на фиг. 3 - зависимости выходной величины преобразовател  (фазы) от взменений
контролируемого параметра (толщины покрыти ) и от изменени  электромагнитных свойств (удельной электрической проводимости ) основного материала; на фиг. 4 зависимости погрешности (приращени  фазы) от диаметра преобразовател .
Перед контролем изгогавливают эталонные издели  1 и 2 из одной и той же заготовки (например из алюмини  ), производ  обработку рабочей поверхности эталонных изделий по классу, соответствующему классу чистоты поверхности контролируемого издели .
Измерительные обмотки катушек 3 и 4 вихретокового преобразовател  5 соедин ют последовйтельно встречно, а возбуждающие последовагельно согласно. Питание преобразовател  5 ocyщectвл юг при помощи генератора 6. Предварительно подбором витков катушек 4 и 3 минимизируют выходное напр жение преобразовател  5 в воздухе. Региеграцию вы- ходного напр жени  осуществл ют измеритель устройством 7.
Способ заключаетс  в следующем.
В измерительной зоне 8 и компенсаци- онной зоне О преобразовател  располагают эталонные издели  1 и 2 и вновь миними зируют выходное напр жение. Последнее обеспечивают выравниванием зазоров между наружнь ми поверхност ми эталонных изде ЛИЙ 1 и 2 и поверхност ми катушек 3 и 4. обращен ь.ми к эталонным издели м.
При контроле (фиг. 2) в измерительной зоне 8 нреобразовател  5 на том же рассто нии от рабочей поверхности кагушки 3, что и эталонное изделие 1, располагают контролируемое изделие 1О, имеющее покрытие 11, нанесенное на основу 12. При этом эталонные издели  1 и 2 выполн ют из ма териала покрыти  с толщиной, во много раз превышающей глубину проникновени  плоской электромагнитной волны в материал покрыти , а радиусы катушек преобразовател  выбирают из соотношени 
T Va37J757
где радиус катушки нреобразовател };
ti) - кругова  частота питающего напр - жени ;.
jlj - абсолютна  магнитна  проницаемость материала покрыти ;
( удельна  электрическа  проводимост материала покрыти .
При контроле толщины алюминиевых покрытий в диапазоне от О до 500 мкм на основани хиз сплавов алюмини  удельна  электрическа  проводимость может колебатьс  в пределах от 12 МСм/м до 26 См/м.(Причем удельна  электрическа  проводимость алюминиевого покрыти  11 (ма-
гериал марки ) равна 36 МСм/м и остаетс  посто нной в продессе контрол , а внешн   поверхность контролируемого покрыти  и рабочие поверхности эталонов 1 и 2 достаточно ровные и чистые (класс чистоты выше V 5),
Посто нство материала покрыти  11 и высока  чистота обработки поверхности контролируемого издели  10 позвол ет при измерении толщины покрыти  исключить из рассмотрени  погрешности, св занные с изменени ми удельной электрической проводимостью покрыти  и рассто ни  от поверхности контролируемого издели  до поверхности нреобразовател .
Исход  из условий задачи и вьгшеприве денного неравенства и принима  частоту питающего преобразовател  напр жени  I. 20 кГц, радиусы преобразовател  5 выбирают равными 4, 4-4 мм, а толщину t эталонов 1 и 2 во много раз больше глубины проникновени  плоской электромагнит ной волны в материал покрыти , т.е. 10 м
При этом погрешность измерений толщины контролируемого покрыти  при установке режима контрол  по схеме (фиг. 2 ), использующей предлагаемый способ, практически отсутствует во всем заданном диапазоне изменений-удельной электрической проводимости основного материала и толщик покрыти .
На фиг. 4 показано, что погрешность, св занна  с нелинейностью фазовых зависимостей снижаетс  по мере увеличени  радиуса преобразовател  5, что позвол ет существенно увеличить надежность контрол  толщины.
1ри контроле качества покрытий установкой режима контрол  преобразовател  5 искусственно ориентируют на максимум чувствигельности к толщине покрыти , использу  дл  этого эталоны 1 и 2 из материала покрыти  с толщиной много большей глубины проникновени  плоской электромаг нитной волны в материал покрыти . Haciv ройка преобразовател  5, т.е. установка режима контрол , на максимум чувствительности к параметрам контролируемого покрыти  соответственно снижает чувствительность преобразовател  5 к изменению параметров других слоев, в частности к удельной электрической проводимости основ толщина которой на заданной рабочей частоте считаетс  равнойбесконечности (много больше глубины проникновени  плоской электромагнитной волны в материал основы
Предлагаемый способ контрол  качества покрытий может быть использован дл  любых типов преобразователей (накладных, экранных или проходных), реализующих вихретоковый способ неразрушающего конгрол  а также дл  изделий различных конструктийных форм.

Claims (3)

1.Никитин А. И., Дорофеев А. Л., Засютинский И. Н. Усовершенствованный портативный транзисторный толшимер дл  контрол  изделий из материалов с высокой удельной электрической проводимостью. Тезисы докладов ff Всесоюзной межвузовской конференции по электромагнитным методам контрол  качества материалов и изделий.
Ч. 1, Рига, 1975, с. 208.
2.Валитов А. М., Шилов Г. И. Приборы и методыконтрол  толщины покрытий. Справочное пособие, Машиностроение,
Л., 1970, с. 6О.
3.Авторское свидетельство СССР № 313071, кл. ( 01 В 7/06, 1968.
Фаг. 1
f 20кГц S 8,88 ни
df,ys.flfii м
SU7402004546A 1974-03-14 1974-03-14 Вихретоковый способ контрол качества покрытий SU564585A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7402004546A SU564585A1 (ru) 1974-03-14 1974-03-14 Вихретоковый способ контрол качества покрытий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7402004546A SU564585A1 (ru) 1974-03-14 1974-03-14 Вихретоковый способ контрол качества покрытий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU564585A1 true SU564585A1 (ru) 1977-07-05

Family

ID=20578378

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7402004546A SU564585A1 (ru) 1974-03-14 1974-03-14 Вихретоковый способ контрол качества покрытий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU564585A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5017869A (en) * 1989-12-14 1991-05-21 General Electric Company Swept frequency eddy current system for measuring coating thickness

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5017869A (en) * 1989-12-14 1991-05-21 General Electric Company Swept frequency eddy current system for measuring coating thickness

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU1797698C (ru) Магнитострикционный датчик крут щего момента и способ его изготовлени
Waller et al. Corona poling of PZT ceramics and flexible piezoelectric composites
SU564585A1 (ru) Вихретоковый способ контрол качества покрытий
JPH0252821B2 (ru)
US4882525A (en) Method for controlling the working frequency of an electro-acoustic vibrating device
SU1663526A1 (ru) Способ двухпараметрового контрол качества изделий
SU1739214A2 (ru) Способ бесконтактного измерени температуры электропровод щих цилиндрических изделий
SU1283642A1 (ru) Электромагнитный структуроскоп
SU563612A1 (ru) Электромагнитный способ контрол качества ферромагнитных материалов под защитным неферромагнитным слоем
KR100349178B1 (ko) 리드 프레임 소재의 잔류응력 측정장치
SU1543339A1 (ru) Вихретоковый способ измерени толщины покрыти
SU564514A2 (ru) Способ измерени толщины изол ционных покрытий
SU1095059A1 (ru) Способ неразрушающего контрол электропровод щих изделий и устройство дл его осуществлени
SU1619008A1 (ru) Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе
SU1083140A1 (ru) Способ бесконтактного измерени электропроводности цилиндрических провод щих немагнитных образцов
SU1679354A2 (ru) Способ контрол физико-механических параметров изделий из ферромагнитных материалов
SU953545A1 (ru) Способ контрол немагнитных электропроводных образцов
SU868561A1 (ru) Способ дефектоскопии ферромагнитных изделий
SU1033855A1 (ru) Способ контрол диаметра цилиндрических изделий и устройство дл его осуществлени
SU1523983A2 (ru) Намагничивающее устройство к дефектоскопу
SU1759481A1 (ru) Способ подстройки частоты источника питани магнитострикционного электроакустического преобразовател
SU1250931A1 (ru) Способ раздельного измерени магнитной проницаемости и удельной электрической проводимости и устройство дл его осуществлени
SU1345108A1 (ru) Устройство дл неразрушающего контрол электропровод щих изделий
SU1310619A1 (ru) Способ измерени толщины поверхностно обработанных слоев ферромагнитных электропровод щих изделий
RU1809294C (ru) Способ контрол поперечной разнотолщинности металлической трубы