SU1619008A1 - Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе - Google Patents

Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе Download PDF

Info

Publication number
SU1619008A1
SU1619008A1 SU894636434A SU4636434A SU1619008A1 SU 1619008 A1 SU1619008 A1 SU 1619008A1 SU 894636434 A SU894636434 A SU 894636434A SU 4636434 A SU4636434 A SU 4636434A SU 1619008 A1 SU1619008 A1 SU 1619008A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrically conductive
measuring
thickness
eddy current
product
Prior art date
Application number
SU894636434A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Готтович Беликов
Леонид Константинович Тимаков
Original Assignee
Московский энергетический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский энергетический институт filed Critical Московский энергетический институт
Priority to SU894636434A priority Critical patent/SU1619008A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1619008A1 publication Critical patent/SU1619008A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл  вихретокового контрол  толщины диэлектрических покрытий, рассто ни  до электропровод щих изделий, амплитуды вибраций и диаметра цилиндрических электропровод щих изделий. Цель изобретени  - повышение точности и надежности измерений толщины диэлектрических покрытий - достигаетс  тем, что частоту тока возбуждени  вихретокового преобразовател  (ВТП) выбирают в соответствии с соотношением 10 R Уо Ц г мин Стмин Н мин 5 20 , где R V R 1 R 2 ,Ri.R2 - эквивалентные радиусы измерительной и возбуждающей обмоток ВТП; амин гмин минимальные удельна  электрическа  проводимость и абсолютна  магнитна  проницаемость основы издели ; Нмин (hi + h2)/R, hi,2 - минимальные рассто ни  от обмоток ВТП до поверхности электропровод щей основы издели . 2 ил.

Description

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано дл  вихретокового контрол  толщины диэлектрических покрытий, рассто ни  до электропровод щих изделий, амплитуды вибрации и диаметра цилиндрических электропровод щих изделий.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности и надежности измерений за счет уменьшени  методической погрешности измерений.
На фиг. 1 представлено взаимное расположение вихретокового преобразовател  накладного типа и объекта контрол  в виде плоского издели ; на фиг. 2 - зависимость максимальной методической погрешности 6 измерений толщины диэлектрического покрыти  от произведени  ft VH в диапазонах вариации, обобщенной параметрами ft от 0,625 до 360, толщины покрыти  Н от 0,4 до 35, магнитной проницаемости
ОСНОВЫ ,
Вихретоковый преобразователь 1 (ВТП) размещен на поверхности контролируемого издели  2. Измерительна  обмотка 3 ВТП и возбуждающа  обмотка 4 ВТП подключены соответственно к блоку 5 измерени  и генератору 6.
Способ осуществл етс  следующим образом .
Радиусы Ri, R2 измерительной и возбуждающей обмоток и конструктивный зазор ho ВТП выбирают, например, из услови  обеспечени  необходимой локальности контрол . Затем ВТП устанавливают на изделие 2 с минимальными значени ми толщины t диэлектрического покрыти  (например t 0), удельной электрической проводимости стмин и магнитной проницаемости гмин (например,/ur 1) основы издели . После этого по известным конструктивным параметрам R, hi, h2 и h0 (R R 2 ; hi, h2 - рассто ни  от измерительной и возбуждающей обмоток до основы издели  2; ho - конструктивный зазор) определ ют минимальное рассто ние Нмин (hi + ha)/R до поверхности электропровод щей основы издели , затем из отношени 
10 : R Vet) /Лгмин Омин Нмин 20 определ ют частоту о) тока возбуждени  ВТП и задают найденное значение частоты с помощью генератора 6. Выходное напр жение с измерительной обмотки 3 ВТП подают на вход блока 5, в котором осуществл ют выделение составл ющих вносимого в ВТП сигнала и их обработку по известному алгоритму функционировани  толщиномера диэлектрических покрытий.
Из полученной в результате исследований зависимости д (/ VFT) видно, что она имеет излом в области 5 (фиг. 2). Отклонение от этого значени  /3 VH влево приводит к резкому возрастанию методической погрешности измерений толщины диэлектрических покрытий, а вправо - к относительно медленному ее снижению.
Таким образом выбор частоты тока возбуждени  ВТП из услови  /3 VrT 10 приводит к резкому увеличению методической погрешности измерений. С другой стороны, увеличение /3 VH от 10 до 30 приводит к уменьшению абсолютного значени  методической погрешности измерений всего на 0,2 %, но требует существенного ( в 10 раз) увеличени  частоты тока возбуждени  ВТП.
0
5
0
5
Последнее (при выбранных фиксированных геометрических параметрах ВТП) существенно усложн ет реализацию устройства, особенно толщиномеров тонких диэлектрических покрытий, работающих на частотах пор дка дес тков мегагерц. Отсюда вытекает другое ограничение на/3 VJT;
р- .

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Вихретоковый способ измерени  толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе, заключающийс  в том, что преобразователь размещают в зоне контрол , возбуждают его переменным током, изме- р ют и обрабатывают составл ющие вносимого напр жени  преобразовател  и по результатам их обработки определ ют толщину покрыти , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности и надежности измерени , частоту о тока возбуждени  вихретокового преобразовател  задают в соответствии с соотношением
    10 R Vw уИгмин 7мин Нмин 20
    где R VRi Ra ;
    Ri,2 - эквивалентные радиусы измерительной и F .-эзбуждающей обмоток преобразовател ;
    Омини/ гМИн минимальные удельна  электрическа  проводимость и абсолютна  магнитна  проницаемость основы издели ;
    НМин (hi + h2)/R.
    hi.2 - минимальные рассто ни  от обмоток преобразовател  до поверхности электропровод щей основы издели .
    6
    /у гг
    Фиг.2
    30
SU894636434A 1989-01-12 1989-01-12 Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе SU1619008A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894636434A SU1619008A1 (ru) 1989-01-12 1989-01-12 Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894636434A SU1619008A1 (ru) 1989-01-12 1989-01-12 Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1619008A1 true SU1619008A1 (ru) 1991-01-07

Family

ID=21422334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894636434A SU1619008A1 (ru) 1989-01-12 1989-01-12 Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1619008A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Герасимов В.Г., Клюев В.В., Шатерни- ков В.Е. Методы и приборы электромагнитного контрол промышленных изделий, - М.: Энергоатомиздат, 1983. Авторское свидетельство СССР № 905620, кл. G 01 В 7/06. 1980. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3474853D1 (en) Apparatus and process for the dynamic contactless measuring of small distances
SU1619008A1 (ru) Вихретоковый способ измерени толщины диэлектрических покрытий на электропровод щей основе
US6552667B1 (en) Non-contact measuring method and apparatus for producing a signal representative of a distance between facing surfaces
SU515932A1 (ru) Способ измерени толщины изол ционных покрытий
RU2031403C1 (ru) Вихретоковый преобразователь для неразрушающего контроля параметров материалов
SU578558A1 (ru) Способ контрол толщины диэлектрических покрытий
SU1585740A1 (ru) Вихретоковый преобразователь
SU1211648A1 (ru) Способ измерени параметров неферромагнитного электропровод щего сло
SU1153231A1 (ru) Способ градуировки индуктивного преобразовател перемещений
SU766047A1 (ru) Способ измерени электронной температуры плазмы
SU1499214A2 (ru) Вихретоковый способ контрол параметров немагнитного электропровод щего сло и зазора
SU1216716A1 (ru) Электромагнитный способ измерени удельной электрической проводимости неферромагнитных провод щих изделий
SU1413515A1 (ru) Вихретоковый преобразователь
SU1370542A1 (ru) Накладной вихретоковый преобразователь
SU1056027A1 (ru) Способ определени дефектов в материале
SU1548746A1 (ru) Вихретоковое устройство дл неразрушающего контрол
SU1043550A1 (ru) Способ электромагнитного контрол
SU1078311A1 (ru) Устройство дл неразрушающего контрол
SU1368925A1 (ru) Способ определени эксцентриситета токопровод щей жилы провода относительно наружной поверхности его изол ции
SU578610A1 (ru) Способ многопараметрового контрол методом вихревых токов
SU879278A1 (ru) Устройство дл измерени толщины диэлектрических материалов
SU1670371A1 (ru) Вихретоковый способ двухпараметрового контрол качества изделий с электропровод щим покрытием и устройство дл его осуществлени
SU1002821A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени рассто ний
SU968730A2 (ru) Способ измерени физико-механических параметров неферромагнитных изделий
RU2025725C1 (ru) Способ вихретокового контроля линейно протяженных изделий и вихретоковый преобразователь для его осуществления