SU1543339A1 - Вихретоковый способ измерени толщины покрыти - Google Patents

Вихретоковый способ измерени толщины покрыти Download PDF

Info

Publication number
SU1543339A1
SU1543339A1 SU884425171A SU4425171A SU1543339A1 SU 1543339 A1 SU1543339 A1 SU 1543339A1 SU 884425171 A SU884425171 A SU 884425171A SU 4425171 A SU4425171 A SU 4425171A SU 1543339 A1 SU1543339 A1 SU 1543339A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
converter
thickness
screen
electromagnetic
coatings
Prior art date
Application number
SU884425171A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Готтович Беликов
Леонид Константинович Тимаков
Original Assignee
Московский Энгергетический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Энгергетический Институт filed Critical Московский Энгергетический Институт
Priority to SU884425171A priority Critical patent/SU1543339A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1543339A1 publication Critical patent/SU1543339A1/ru

Links

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и касаетс  измерени  толщины немагнитных металлических покрытий на металлах. Цель изобретени  - расширение области использовани  за счет увеличени  номенклатуры измер емых покрытий и повышение точности измерений - достигаетс  тем, что компенсацию выходного сигнала преобразовател  осуществл ют при наличии между преобразователем и эталонным изделием электромагнитного экрана, толщину T которого выбирают из условий 0,6≥T/δ≥0,2, где δ-глубина проникновени  электромагнитного пол  в материал покрыти , затем измер ют фазу сигнала, вносимого в преобразователь контролируемым изделием при наличии между ними электромагнитного экрана, и определ ют толщину покрыти  по измеренной величине фазы. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может най- ти применение в различных отрасл х народного хоз йства дл  неразрушающего контрол  толщины плакирующих, гальванических и др. немагнитных металлических покрытий на любых (ферро- и/или неферромагнитных) металлах, а также на ферритах, магнитодиэлектри- ках и диэлектриках с плоской или цилиндрической поверхностью.
Цель изобретени  - расширение области использовани  за счет увеличени  номенклатуры измер емых покрытий и повышение точности измерений.
На чертеже представлена структурна  схема устройства дл  осуществлени  предлагаемого способа.
Устройство содержит последовательно включенные генератор 1 переменного тока, измерительный преобразователь 2 с электромагнитным экраном 3- переключатель k, блок 5 компенсации и фа- зометрический блок 6, вторые входы которых соединены с выходом генератора 1. Блок 5 компенсации содержит п компенсирующих узлов - по одному на каждый материал контролируемого покрыти . Выход фазометрического блока  вл етс  выходом устройства в целом.
СП
4
00 СО 00
со
Способ основан на том, что компенсаци  выходного сигнала преобразовател  при наличии экрана между преобразователем и эталонным изделием (из материала .покрыти  толщиной много большей глубины проникновени  в него электромагнитного пол ) обеспечивает гомотетичность годографов сигнала , вносимого контролируемым изделием в преобразователь с экраном, с центром в точке компенсации. При этом одновременно обеспечиваютс  услови  повышени  линейности фазовых характеристик преобразовател  с экраном от из- менений толщины покрыти  и независимость результатов измерений от вариаций электромагнитных параметров основы изделий. Поскольку гомотетичност годографов сохран етс  при смене мате риалов покрыти  и экрана, по вл етс  возможность выбора материала экрана и каких-либо практических соображений, например, исход  из обеспечени  прочности рабочей поверхности преобразо- вател  к истиранию. При этом оптимальными услови ми выбора толщины t и электромагнитных параметров экрана  вл ютс  услови  0 ,6it/5 0 .2, гдеS - глубина проникновени  электромагнит- ного пол  в материал экрана. Нарушение услови  справа сопровождаетс  повышением погрешности измерений от единиц до дес тков микрометров, а слева - существенным (до дес ти и более раз) понижением амплитуды выходного сигнала преобразовател  при незначительном (дес тые доли процента) снижении погрешности измерений. Так, например , если с целью обеспечени  меха- нической прочности преобразовател  выбран экран из бронзы, а контроль осуществл етс  на частоте 100 кГц (,5 мм), толщину экрана выбирают равной ,1-0,3 мм.
Таким образом, путем выбора параметров экрана из указанных условий и последующей его фиксации в зоне контрол  (обычно с целью упрощени  конт- рол  экран жестко скрепл ют с рабочей поверхностью преобразовател ) удаетс  существенно упростить процесс контрол  толщины покрытий из различных материалов за счет сокращени  до одного количества экранов, используе-j мых при контроле.
Способ осуществл етс  следующим образом
5
Q ,
5
Вихретоковый преобразователь 2 возбуждают с помощью генератора 1 (фиг.1) Перед измерени ми осуществл ют компенсацию выходного сигнала преобразовател  2. Дл  этого между преобразователем 2 и эталонным изделием (изготовленным из материала покрыти  толщиной много большей глубины проникновени  в него электромагнитного пол ) размещают экран с параметрами, выбранными из условий 0,,2 и с помощью одно4- го из компенсирующих узлов блока 5 компенсации минимизируют выходной сигнал преобразовател  2. Выбор компенсирующего узла, соответсвующего контролируемому материалу покрыти , осуществл ют с помощью переключател , включенного между преобразователем 2 и блоком 5 компенсации.
Компенсаци , выполненна  таким образом , обеспечивает гомотетичность годографов выходного сигнала преобразовател  с центром в, точке компенсации .
В процессе измерений толщины контролируемого покрыти  в зоне контрол  размещают испытуемое изделие при наличии между преобразователем 2 и испытуемым изделием экрана, используемого при компенсации. С помощью фазометри- ческого блока 6 регистрируют фазу вносимого в преобразователь 2 сигнала и по ее величине определ ют толщину контролируемого покрыти .
Способ может быть использован при котроле изделий с помощью накладных, экранных и др. вихретоковых преобразователей , а также при контроле изделий радиоволновым, ультразвуковым и др. методами

Claims (2)

1. Вихретоковый способ измерени  толщины покрыти  с отстройкой от вариаций электромагнитных параметров основы издели , заключающийс  в том, что компенсируют выходной сигнал преобразовател  при наличии в зоне контрол  эталонного издели  из материала покрыти  толщиной, много большей глубины проникновени  -в него электромагнитного пол , измер ют фазу сигнала, вносимого в преобразователь контролируемым изделием при наличии между ними электромагнитного экрана, и определ ют толщину покрыти  по измеренной величине фазы, о тл и ч а ю щ .и и с   тем, что, с целью расширени  области использовани  за счет увеличени  номенклатуры измер емых покрытий, при компенсации выходного сигнала преобразовател  между преобразователем и эталонным изделием размещают электромагнитный экран, используемый при измерении.
2. Способ по п.1, отличай- щ и и с   тем, что, с целью повышени  точности измерени , используют электромагнитный экран с толщиной t, выбранной из услови  0 , ,2 , где 0 - глубина проникновени  электромагнитного пол  в материал покрыти .
кччхчхччм
t
/
-э -э
SU884425171A 1988-05-16 1988-05-16 Вихретоковый способ измерени толщины покрыти SU1543339A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884425171A SU1543339A1 (ru) 1988-05-16 1988-05-16 Вихретоковый способ измерени толщины покрыти

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884425171A SU1543339A1 (ru) 1988-05-16 1988-05-16 Вихретоковый способ измерени толщины покрыти

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1543339A1 true SU1543339A1 (ru) 1990-02-15

Family

ID=21374904

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884425171A SU1543339A1 (ru) 1988-05-16 1988-05-16 Вихретоковый способ измерени толщины покрыти

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1543339A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР V , кл. г, 01 N 27/86, 1977. Беликов Е.Г., Останин Ю.Я. Применение электромагнитных экранов при измерении параметров многослойных изделий. Доклады 1-й Всесоюзной межвузовской конференции по электромагнитным методам контрол , ч.II. М.: МЭИ, 1972, с. 55-63. ( ВИХРЕТОКОВЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4647856A (en) Method and apparatus for determining mechanical properties of articles by pulse magnetic methods
SU1543339A1 (ru) Вихретоковый способ измерени толщины покрыти
US4641093A (en) Method and device for magnetic testing of moving elongated ferromagnetic test piece for mechanical properties by utilizing the magnitude of remanent magnetic flux and a pulsed magnetic field
US3904956A (en) Alternating force magnetometer
SU1562680A1 (ru) Вихретоковый способ определени толщины покрытий
SU1758413A1 (ru) Способ контрол толщины металлических поверхностных слоев
SU1035662A1 (ru) Способ определени резонансной частоты магнитоуправл емого контакта
SU991280A1 (ru) Способ магнитошумовой структуроскопии
SU1749822A1 (ru) Способ контрол прочностных характеристик ферромагнитных материалов и устройство дл его осуществлени
SU1032404A2 (ru) Способ неразрушающего контрол магнитных материалов
SU1236359A1 (ru) Способ электромагнитного контрол изделий и преобразователь дл его осуществлени
SU578610A1 (ru) Способ многопараметрового контрол методом вихревых токов
SU913230A1 (ru) Способ неразрушающего контроля степени поверхностно-пластической деформации ферромагнитных материалов 1
SU563612A1 (ru) Электромагнитный способ контрол качества ферромагнитных материалов под защитным неферромагнитным слоем
SU1095059A1 (ru) Способ неразрушающего контрол электропровод щих изделий и устройство дл его осуществлени
CA1230379A (en) Measuring the thickness of a non-metallic coating on an arcuate metal surface
SU1280524A1 (ru) Электромагнитно-акустический способ контрол ферромагнитных изделий
SU1481671A1 (ru) Электромагнитно-акустический способ контрол качества и твердости издели
SU1229688A1 (ru) Способ контрол качества металлических изделий
SU953545A1 (ru) Способ контрол немагнитных электропроводных образцов
SU1610424A1 (ru) Устройство дл электромагнитного контрол механических свойств изделий из ферромагнитных материалов
SU1670573A1 (ru) Способ вихретокового контрол изделий
SU1670575A1 (ru) Матричный электромагнитный преобразователь дл контрол физико-механических параметров ферромагнитных материалов
SU1300296A1 (ru) Способ измерени среднего размера зерна сыпучих материалов
SU1397827A2 (ru) Ультразвуковое устройство дл контрол изделий