JPH0436607B2 - - Google Patents
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- JPH0436607B2 JPH0436607B2 JP61278258A JP27825886A JPH0436607B2 JP H0436607 B2 JPH0436607 B2 JP H0436607B2 JP 61278258 A JP61278258 A JP 61278258A JP 27825886 A JP27825886 A JP 27825886A JP H0436607 B2 JPH0436607 B2 JP H0436607B2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003360 curve fit method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、Ａ／Ｄ変換器試験装置に関するもの
であり、詳しくは、カーブフイツト法により試験
を行う装置の改良に関するものである。
であり、詳しくは、カーブフイツト法により試験
を行う装置の改良に関するものである。
（従来の技術）
Ａ／Ｄ変換器の試験方法の一つに、カーブフイ
ツト法がある。
ツト法がある。
第３図は、このような試験方法で用いられる装
置の一例を示すブロツク図である。
置の一例を示すブロツク図である。
第３図において、１は高純度正弦波信号発生器
であり、 ｆ(t)＝Acosωsｔ＋Bsinωsｔ ……(1) で表される角周波数がωsの正弦波信号を出力す
る。この出力信号は測定対象Ａ／Ｄ変換器（以下
DUTという）２に加えられている。３はDUT２
の変換データを格納するメモリであり、予め設定
されたサンプル数のデータを格納するためのエリ
アが確保されている。４は角周波数がωcのクロ
ツクを発生するクロツク発生器であり、DUT２
にサンプリングクロツクとして加えられるととも
に、メモリ３にストローブクロツクとして加えら
れている。なお、このクロツク発生器４と高純度
正弦波信号発生器１は、同期した出力信号が得ら
れるように基準発振器を共有している。５はデー
タ処理部であり、メモリ３に格納された変換デー
タに対して離散的フーリエ変換（discreat
fourier transform；以下DFTという）処理を施
し、DUT２に加えられる入力信号に相当する理
想正弦波信号の位相データと振幅データを求める
ものである。
であり、 ｆ(t)＝Acosωsｔ＋Bsinωsｔ ……(1) で表される角周波数がωsの正弦波信号を出力す
る。この出力信号は測定対象Ａ／Ｄ変換器（以下
DUTという）２に加えられている。３はDUT２
の変換データを格納するメモリであり、予め設定
されたサンプル数のデータを格納するためのエリ
アが確保されている。４は角周波数がωcのクロ
ツクを発生するクロツク発生器であり、DUT２
にサンプリングクロツクとして加えられるととも
に、メモリ３にストローブクロツクとして加えら
れている。なお、このクロツク発生器４と高純度
正弦波信号発生器１は、同期した出力信号が得ら
れるように基準発振器を共有している。５はデー
タ処理部であり、メモリ３に格納された変換デー
タに対して離散的フーリエ変換（discreat
fourier transform；以下DFTという）処理を施
し、DUT２に加えられる入力信号に相当する理
想正弦波信号の位相データと振幅データを求める
ものである。
このような構成において、DUT２でサンプリ
ングされ変換されたデータをメモリ３のエリア一
杯に格納する。そして、これら格納された変換デ
ータに対してデータ処理部５でDFT処理を施し、
DUT２に加えられる入力信号に相当する理想正
弦波信号の位相データと振幅データを求める。な
お、理想正弦波信号の周波数は、高純度正弦波信
号発生器１とクロツク発生器４が同期して駆動さ
れていることから、理論値と一致することにな
る。
ングされ変換されたデータをメモリ３のエリア一
杯に格納する。そして、これら格納された変換デ
ータに対してデータ処理部５でDFT処理を施し、
DUT２に加えられる入力信号に相当する理想正
弦波信号の位相データと振幅データを求める。な
お、理想正弦波信号の周波数は、高純度正弦波信
号発生器１とクロツク発生器４が同期して駆動さ
れていることから、理論値と一致することにな
る。
これにより、これら理想正弦波信号データと変
換データとの誤差を求めることができ、DUT２
の各種特性を評価することができる。
換データとの誤差を求めることができ、DUT２
の各種特性を評価することができる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、このような従来の構成によれば、高純
度正弦波信号発生器１とクロツク発生器４は基準
発振器を共有していることから、各発生器の出力
信号の周波数設定のための回路構成が複雑にな
り、自由度が制限されることになる。
度正弦波信号発生器１とクロツク発生器４は基準
発振器を共有していることから、各発生器の出力
信号の周波数設定のための回路構成が複雑にな
り、自由度が制限されることになる。
このような回路構成や周波数設定に伴う欠点は
高純度正弦波信号発生器１とクロツク発生器４を
それぞれ独立した専用回路として構成することに
より解決できる。その結果、２つの発生器は非同
期で駆動されることになる。
高純度正弦波信号発生器１とクロツク発生器４を
それぞれ独立した専用回路として構成することに
より解決できる。その結果、２つの発生器は非同
期で駆動されることになる。
ところが、高純度正弦波信号発生器１とクロツ
ク発生器４を非同期で駆動すると、入力信号の周
波数と理想正弦波信号の周波数との間に誤差を生
じる可能性は極めて大きい。そして、この誤差は
サンプル点数倍に拡大されて、 2π・ｎ・ｋ・δ／Ｎ（rad） ……(2) ただし、 ｎ＝サンプルした番号、０≦ｎ≦Ｎ−１ ｋ＝サンプル波数 δ＝周波数誤差 Ｎ＝サンプル点数 で表されるサンプル位相の誤差になる。
ク発生器４を非同期で駆動すると、入力信号の周
波数と理想正弦波信号の周波数との間に誤差を生
じる可能性は極めて大きい。そして、この誤差は
サンプル点数倍に拡大されて、 2π・ｎ・ｋ・δ／Ｎ（rad） ……(2) ただし、 ｎ＝サンプルした番号、０≦ｎ≦Ｎ−１ ｋ＝サンプル波数 δ＝周波数誤差 Ｎ＝サンプル点数 で表されるサンプル位相の誤差になる。
なお、この場合のＡの推定値は
Ａ＝２／ＮN-1
Σn=0
focosωsｔ
となり、Ｂの推定値は
Ｂ＝２／ＮN-1
Σn=0
fosinωsｔ
となる。
本発明は、このような点に着目したものであつ
て、その目的は、測定対象Ａ／Ｄ変換器に加えら
れる正弦波信号とクロツクが非同期の場合の入力
信号の周波数と理想正弦波信号の周波数との間の
誤差を小さくでき、高精度の試験が行えるＡ／Ｄ
変換器試験装置を提供することにある。
て、その目的は、測定対象Ａ／Ｄ変換器に加えら
れる正弦波信号とクロツクが非同期の場合の入力
信号の周波数と理想正弦波信号の周波数との間の
誤差を小さくでき、高精度の試験が行えるＡ／Ｄ
変換器試験装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
このような問題点を解決した本発明は、
高純度正弦波信号発生器から測定対象Ａ／Ｄ変
換器に正弦波信号を加え、測定対象Ａ／Ｄ変換器
から出力される変換データをメモリに格納し、メ
モリに格納された変換データを離散的フーリエ変
換することにより入力信号に相当する理想正弦波
信号の位相と振幅を求め、これら理想正弦波信号
データと変換データとの誤差を求めるＡ／Ｄ変換
器試験装置において、 測定対象Ａ／Ｄ変換器に加えられる入力信号の
周波数およびクロツクの周波数を測定する手段を
設け、 これら測定周波数に基づいて理想正弦波信号の
周波数を演算することを特徴とする。
換器に正弦波信号を加え、測定対象Ａ／Ｄ変換器
から出力される変換データをメモリに格納し、メ
モリに格納された変換データを離散的フーリエ変
換することにより入力信号に相当する理想正弦波
信号の位相と振幅を求め、これら理想正弦波信号
データと変換データとの誤差を求めるＡ／Ｄ変換
器試験装置において、 測定対象Ａ／Ｄ変換器に加えられる入力信号の
周波数およびクロツクの周波数を測定する手段を
設け、 これら測定周波数に基づいて理想正弦波信号の
周波数を演算することを特徴とする。
（実施例）
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図で
あり、第３図と同一部分には同一符号を付けてい
る。第１図において、高純度正弦波信号発生器１
のクロツク発生器４は非同期で駆動されている。
６はDUT２に加えられる入力信号の周波数ωsお
よびクロツクの周波数ωc（ωc＝2π／τ）を測定す
るためのカウンタであり、各周波数の測定値はデ
ータ処理部５に加えられている。
あり、第３図と同一部分には同一符号を付けてい
る。第１図において、高純度正弦波信号発生器１
のクロツク発生器４は非同期で駆動されている。
６はDUT２に加えられる入力信号の周波数ωsお
よびクロツクの周波数ωc（ωc＝2π／τ）を測定す
るためのカウンタであり、各周波数の測定値はデ
ータ処理部５に加えられている。
このように構成された装置の動作について説明
する。
する。
前述の(1)式で表される入力信号ｆ（ｔ）は、
ｆ（ｔ）＝Acosωsｔ＋Bsinωsｔ＋Ｄ ……(3)
と表すことができる。そして、サンプル点数をＮ
とすると、サンプルデータfn（ｎ＝０〜Ｎ−１）
は、 fn≡ｆ（nτ） ……(4) になる。
とすると、サンプルデータfn（ｎ＝０〜Ｎ−１）
は、 fn≡ｆ（nτ） ……(4) になる。
ここで、従来のカーブフイツトの問題は、(3)式
のＡ、Ｂ、Ｄを未知数としてfnのデータからＡ、
Ｂ、Ｄの値を推定することに帰着する。
のＡ、Ｂ、Ｄを未知数としてfnのデータからＡ、
Ｂ、Ｄの値を推定することに帰着する。
そこで、Ａ、Ｂ、Ｄの推定値をそれぞれ、
Ｂ、とすると、推定値、、は、以下によ
り演算できる。
Ｂ、とすると、推定値、、は、以下によ
り演算できる。
〓
｜
｜
｜
〓
＝１／Ｋ〔Hij〕Ap
Bp
Dp
……(5)
ただし、Ap＝２／ＮN-1
Σn=0
focos nr
Bp＝２／ＮN-1
Σn=0
fosin nr
Dp＝１／ＮN-1
Σn=0
fo
γ＝ωs／ωc
とする。なお、これらの演算に用いる周波数とし
ては、カウンタ６に測定値を用いる。
ては、カウンタ６に測定値を用いる。
また、Ｋ、Hijはγ、Ｎの関数であり、これら
の間には次の関係が成立する。
の間には次の関係が成立する。
Ｋ＝１−G2 2−2G1 2＋2G1 2G2 ……(7)
ただし、G1＝１／Ｎ・sinπNγ／sinπγ ……(8)
G2＝１／Ｎ・sin2πNγ／sin2πγ ……(9)
α＝2π（Ｎ−１）γ ……(10)
なお、周波数比γは、あるＮについてＫがＯに
なる値が存在することになり、その周波数比γで
はカーブフイツトは不可能である。
なる値が存在することになり、その周波数比γで
はカーブフイツトは不可能である。
第２図はこのような一連の演算処理の流れを示
すフローチヤートであり、(a)は周波数校正の流れ
を示し、(b)は校正結果に基づいて行なう測定の流
れを示している。
すフローチヤートであり、(a)は周波数校正の流れ
を示し、(b)は校正結果に基づいて行なう測定の流
れを示している。
周波数校正にあたつては、まず入力信号の周波
数fsおよびクロツクの周波数fcをカウンタ６で測
定する（ステツプ）。次に、周波数の測定結果
から得られる周波数比fs／fcに基づいて各サンプ
リング点に対応したsinテーブル｛Sn｝およびcos
テーブル｛Cn｝を作成する（ステツプ）。その
後、(6)式に従つて、［Hij］を演算するとともに、
(7)式に従つてＫを演算する（ステツプ）。
数fsおよびクロツクの周波数fcをカウンタ６で測
定する（ステツプ）。次に、周波数の測定結果
から得られる周波数比fs／fcに基づいて各サンプ
リング点に対応したsinテーブル｛Sn｝およびcos
テーブル｛Cn｝を作成する（ステツプ）。その
後、(6)式に従つて、［Hij］を演算するとともに、
(7)式に従つてＫを演算する（ステツプ）。
測定にあたつては、メモリ３を起動してサンプ
ルデータfnを測定する（ステツプ）。次に、fn、
Cn、Sn、ＫおよびHijに基づいてＡ、Ｂ、Ｄを演
算する（ステツプ）。その後、Ａ、Ｂ、Ｄに基
づいてカーブフイツトのエラー分Enを、 En＝fn−（ACn＋BSn＋Ｄ） ……（11） で演算する（ステツプ）。
ルデータfnを測定する（ステツプ）。次に、fn、
Cn、Sn、ＫおよびHijに基づいてＡ、Ｂ、Ｄを演
算する（ステツプ）。その後、Ａ、Ｂ、Ｄに基
づいてカーブフイツトのエラー分Enを、 En＝fn−（ACn＋BSn＋Ｄ） ……（11） で演算する（ステツプ）。
このようにしてエラー分Enを演算した後、必
要に応じて統計処理（ステツプ）や、SN比の
演算などを行う（ステツプ）。
要に応じて統計処理（ステツプ）や、SN比の
演算などを行う（ステツプ）。
このように構成することにより、高純度正弦波
信号発生器とクロツク発生器を非同期で駆動させ
ていることから、各発生器の回路構成は簡単にな
り、それぞれの出力周波数の設定についての自由
度は高くなる。
信号発生器とクロツク発生器を非同期で駆動させ
ていることから、各発生器の回路構成は簡単にな
り、それぞれの出力周波数の設定についての自由
度は高くなる。
また、各発生器の出力周波数の測定結果に基づ
いて理想正弦波信号の周波数を演算していること
から、精度の高い測定が行える。
いて理想正弦波信号の周波数を演算していること
から、精度の高い測定が行える。
さらに、このような手順によれば、メモリ３に
格納されたデータのsin成分、cos成分だけではな
く、直流成分についても補正処理を行うことがで
きる。
格納されたデータのsin成分、cos成分だけではな
く、直流成分についても補正処理を行うことがで
きる。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、測定対
象Ａ／Ｄ変換器に加えられる正弦波信号とクロツ
クが非同期の場合の入力信号の周波数と理想正弦
波信号の周期数との間の誤差を小さくでき、高精
度の試験が行えるＡ／Ｄ変換器試験装置が実現で
き、実用上の効果は大きい。
象Ａ／Ｄ変換器に加えられる正弦波信号とクロツ
クが非同期の場合の入力信号の周波数と理想正弦
波信号の周期数との間の誤差を小さくでき、高精
度の試験が行えるＡ／Ｄ変換器試験装置が実現で
き、実用上の効果は大きい。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図の装置の信号処理の流れを示すフ
ローチヤート、第３図は従来の装置の一例を示す
ブロツク図である。 １……高純度正弦波信号発生器、２……測定対
象Ａ／Ｄ変換器（DUT）、３……メモリ、４……
クロツク発生器、５……データ処理部、６……カ
ウンタ。
第２図は第１図の装置の信号処理の流れを示すフ
ローチヤート、第３図は従来の装置の一例を示す
ブロツク図である。 １……高純度正弦波信号発生器、２……測定対
象Ａ／Ｄ変換器（DUT）、３……メモリ、４……
クロツク発生器、５……データ処理部、６……カ
ウンタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 高純度正弦波信号発生器から測定対象Ａ／Ｄ
変換器に正弦波信号を加え、測定対象Ａ／Ｄ変換
器から出力される変換データをメモリに格納し、
メモリに格納された変換データを離散的フーリエ
変換することにより入力信号に相当する理想正弦
波信号の位相と振幅を求め、これら理想正弦波信
号データと変換データとの誤差を求めるＡ／Ｄ変
換器試験装置において、 測定対象Ａ／Ｄ変換器に加えられる入力信号の
周波数およびクロツクの周波数を測定する手段を
設け、 これら測定周波数に基づいて理想正弦波信号の
周波数を演算することを特徴とするＡ／Ｄ変換器
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27825886A JPS63131726A (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Ａ／ｄ変換器試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27825886A JPS63131726A (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Ａ／ｄ変換器試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63131726A JPS63131726A (ja) | 1988-06-03 |
| JPH0436607B2 true JPH0436607B2 (ja) | 1992-06-16 |
Family
ID=17594828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27825886A Granted JPS63131726A (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Ａ／ｄ変換器試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63131726A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4649251B2 (ja) * | 2005-03-23 | 2011-03-09 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
| JP5543221B2 (ja) | 2007-03-23 | 2014-07-09 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 呼吸装置フード用の空気送達装置 |
| US20100108067A1 (en) | 2007-03-23 | 2010-05-06 | Walker Garry J | Respirator flow control apparatus and method |
| JP5474803B2 (ja) | 2007-10-05 | 2014-04-16 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | レスピレーターの流量制御装置及び方法 |
| WO2009064555A1 (en) | 2007-11-12 | 2009-05-22 | 3M Innovative Properties Company | Respirator assembly with air flow direction control |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5767327A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-23 | Nissin Electric Co Ltd | Error testing device |
| JPS58174861A (ja) * | 1982-04-07 | 1983-10-13 | Sony Tektronix Corp | アナログ・デジタル変換器の特性測定装置 |
| JPS59211320A (ja) * | 1983-05-17 | 1984-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | コ−ド化装置 |
-
1986
- 1986-11-21 JP JP27825886A patent/JPS63131726A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5767327A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-23 | Nissin Electric Co Ltd | Error testing device |
| JPS58174861A (ja) * | 1982-04-07 | 1983-10-13 | Sony Tektronix Corp | アナログ・デジタル変換器の特性測定装置 |
| JPS59211320A (ja) * | 1983-05-17 | 1984-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | コ−ド化装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63131726A (ja) | 1988-06-03 |
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