JPH0235949B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0235949B2 JPH0235949B2 JP55182693A JP18269380A JPH0235949B2 JP H0235949 B2 JPH0235949 B2 JP H0235949B2 JP 55182693 A JP55182693 A JP 55182693A JP 18269380 A JP18269380 A JP 18269380A JP H0235949 B2 JPH0235949 B2 JP H0235949B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eay
- eax
- voltage ratio
- signal
- eby
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 42
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- FPIPGXGPPPQFEQ-OVSJKPMPSA-N all-trans-retinol Chemical compound OC\C=C(/C)\C=C\C=C(/C)\C=C\C1=C(C)CCCC1(C)C FPIPGXGPPPQFEQ-OVSJKPMPSA-N 0.000 claims 2
- 239000011717 all-trans-retinol Substances 0.000 claims 1
- 235000019169 all-trans-retinol Nutrition 0.000 claims 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000006386 memory function Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/10—Measuring sum, difference or ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は同一周波数の２個の交流信号のベクト
ル電圧比、位相差等を測定する装置に関する。
ル電圧比、位相差等を測定する装置に関する。
ベクトル電圧比測定装置は供試素子のインダク
タンス、キヤパシタンス等の値を求めるために使
用され、例えば特開昭53年第30375号や特開昭55
年101868号に述べられている。これらの装置は２
個の交流信号を、基準ベクトルとなる他の交流信
号（0゜成分と90゜成分）を用いてそれぞれアナロ
グ的に同期整流し、そしてその複数個の出力信号
値をデユアルスロープ積分型アナログ・デジタル
変換器を用いて求め、その後これらの値をデジタ
ル演算処理をしてベクトル電圧比を求めるもので
ある。
タンス、キヤパシタンス等の値を求めるために使
用され、例えば特開昭53年第30375号や特開昭55
年101868号に述べられている。これらの装置は２
個の交流信号を、基準ベクトルとなる他の交流信
号（0゜成分と90゜成分）を用いてそれぞれアナロ
グ的に同期整流し、そしてその複数個の出力信号
値をデユアルスロープ積分型アナログ・デジタル
変換器を用いて求め、その後これらの値をデジタ
ル演算処理をしてベクトル電圧比を求めるもので
ある。
このように従来装置はアナログ技術を主に使用
しており、近時の多量のデジタル量を高速処理し
うるデジタル技術をそれほど利用してはいない。
しており、近時の多量のデジタル量を高速処理し
うるデジタル技術をそれほど利用してはいない。
したがつて本発明の主たる目的はデジタル技術
を駆使したベクトル電圧比測定装置を提供するこ
とである。
を駆使したベクトル電圧比測定装置を提供するこ
とである。
本発明の他の目的は同期整流および積分処理を
デジタル処理で行うベクトル電圧比測定装置を提
供することである。
デジタル処理で行うベクトル電圧比測定装置を提
供することである。
本発明のさらに他の目的は入力信号に含まれる
高調波成分の影響を受けないベクトル電圧比測定
装置を提供することである。
高調波成分の影響を受けないベクトル電圧比測定
装置を提供することである。
本発明によれば、ベクトル電圧比が求められる
２個の交流信号はそれぞれその一周期をＮ等分す
る時間々隔でサンプルホールドされ、そしてその
ホールド値はそれぞれアナログ・デジタル変換さ
れる。デジタル変換された信号は所定量とデジタ
ル的に掛算され、そして累積処理が行なわれる。
そして４個の累積値を用いて演算処理を行うこと
により前記２個の交流信号のベクトル電圧比等が
求められる。以下図面を用いて本発明を詳述す
る。
２個の交流信号はそれぞれその一周期をＮ等分す
る時間々隔でサンプルホールドされ、そしてその
ホールド値はそれぞれアナログ・デジタル変換さ
れる。デジタル変換された信号は所定量とデジタ
ル的に掛算され、そして累積処理が行なわれる。
そして４個の累積値を用いて演算処理を行うこと
により前記２個の交流信号のベクトル電圧比等が
求められる。以下図面を用いて本発明を詳述す
る。
第１図は本発明による装置によりベクトル電圧
比を求めようとする２個の交流信号（同一周波
数）Ea、Ebのベクトル図である。αはある基準
ベクトル（基準ベクトルの例示については第４図
に関連して後述する）とEaとの位相差、βは該
基準ベクトルとEbとの位相差である。求めよう
とするベクトル電圧比は（Eb／Ea・cos（β−α）
および（Eb／Ea）・sin（β−α）である。Eax、
Ebxは基準ベクトルと同相なEa、Ebの成分を、
Eay、Ebyは基準ベクトルと直角な成分と同相な
Ea、Ebの成分をそれぞれ表わしている。このと
き前述ベクトル電圧比は次式で表わされる。
比を求めようとする２個の交流信号（同一周波
数）Ea、Ebのベクトル図である。αはある基準
ベクトル（基準ベクトルの例示については第４図
に関連して後述する）とEaとの位相差、βは該
基準ベクトルとEbとの位相差である。求めよう
とするベクトル電圧比は（Eb／Ea・cos（β−α）
および（Eb／Ea）・sin（β−α）である。Eax、
Ebxは基準ベクトルと同相なEa、Ebの成分を、
Eay、Ebyは基準ベクトルと直角な成分と同相な
Ea、Ebの成分をそれぞれ表わしている。このと
き前述ベクトル電圧比は次式で表わされる。
Eb／Eacos（β−α）＝Eax・Ebx＋Eay・Eby／Eax2＋Eay
2(1) Eb／Easin（β−α）＝Eax・Eby−Eby・Eay／Eax2＋Eay
2(2) 上述の式については前述特開昭53年第3075号に
も述べられている。
2(1) Eb／Easin（β−α）＝Eax・Eby−Eby・Eay／Eax2＋Eay
2(2) 上述の式については前述特開昭53年第3075号に
も述べられている。
第２図は本発明によるベクトル電圧比測定装置
のブロツク図である。図において、サンプルホー
ルド回路３はスイツチ１を介して交流信号Eaま
たはEbを受信すると共に、サンプルバス２に応
答して信号Ea、Ebをサンプルし、そしてホール
ドする。サンプルホールド回路３の各出力ホール
ド値はアナログデジタル変換器５に印加され、デ
ジタル値に変換される。そして変換器５の出力信
号は演算処理装置７に印加される。演算処理装置
７は受信した複数個のデジタル信号にそれぞれ所
定量を掛算処理すると共に累積処理を行い、さら
に前述した式(1)、(2)の計算処理を行いベクトル電
圧比を求める。求められた値は表示器９で表示さ
れると共に、他の利用回路に与えられる。
のブロツク図である。図において、サンプルホー
ルド回路３はスイツチ１を介して交流信号Eaま
たはEbを受信すると共に、サンプルバス２に応
答して信号Ea、Ebをサンプルし、そしてホール
ドする。サンプルホールド回路３の各出力ホール
ド値はアナログデジタル変換器５に印加され、デ
ジタル値に変換される。そして変換器５の出力信
号は演算処理装置７に印加される。演算処理装置
７は受信した複数個のデジタル信号にそれぞれ所
定量を掛算処理すると共に累積処理を行い、さら
に前述した式(1)、(2)の計算処理を行いベクトル電
圧比を求める。求められた値は表示器９で表示さ
れると共に、他の利用回路に与えられる。
次に前述装置の動作を詳述する。まずスイツチ
１は接点ａに接続された信号Eaがサンプルホー
ルド回路３に印加される。サンプルパルス２は信
号Eaの一周期をＮ等分（Ｎ３）する時間々隔
でサンプルホールド回路３に印加される。したが
つてサンプルホールド回路３は信号Eaの一周期
をＮ等分する時間々隔で信号Eaをサンプルし、
そしてその値をホールドする。この値をEai（ｉ
＝１、２、３、…Ｎ）とする。第３Ａ図はＮ＝８
とした場合のEaiを示したものである。なお、信
号Eaとサンプル信号との位相関係は任意でよく、
Ｎ等分する時間々隔でサンプルされればよい。ま
たＮ等分のサンプルリングは信号Eaの１サイク
ルで行う必要はなく数サイクルでEai〜EaNを求
めるようにしてもよい。即ち信号Eaの周波数が
高い場合には周波数変換を行うことができ広帯域
の測定も可能となる。また信号Eaの一サイクル
分だけでなく複数サイクルのEaiを求めれば高精
度になることは勿論である。したがつてハードウ
エアの変更なしで、測定サイクル数が小であれば
高速低精度測定が、測定サイクル数が大であれば
低速高精度の測定が行えることになる。またサン
プルの順序は信号Eaを再生する順序でなくても
よく、すべてのEaiが求められればよい。
１は接点ａに接続された信号Eaがサンプルホー
ルド回路３に印加される。サンプルパルス２は信
号Eaの一周期をＮ等分（Ｎ３）する時間々隔
でサンプルホールド回路３に印加される。したが
つてサンプルホールド回路３は信号Eaの一周期
をＮ等分する時間々隔で信号Eaをサンプルし、
そしてその値をホールドする。この値をEai（ｉ
＝１、２、３、…Ｎ）とする。第３Ａ図はＮ＝８
とした場合のEaiを示したものである。なお、信
号Eaとサンプル信号との位相関係は任意でよく、
Ｎ等分する時間々隔でサンプルされればよい。ま
たＮ等分のサンプルリングは信号Eaの１サイク
ルで行う必要はなく数サイクルでEai〜EaNを求
めるようにしてもよい。即ち信号Eaの周波数が
高い場合には周波数変換を行うことができ広帯域
の測定も可能となる。また信号Eaの一サイクル
分だけでなく複数サイクルのEaiを求めれば高精
度になることは勿論である。したがつてハードウ
エアの変更なしで、測定サイクル数が小であれば
高速低精度測定が、測定サイクル数が大であれば
低速高精度の測定が行えることになる。またサン
プルの順序は信号Eaを再生する順序でなくても
よく、すべてのEaiが求められればよい。
次にこれらサンプルし、ホールドされたアナロ
グ信号はアナログデジタル変換器５によりデジタ
ル値に変換される。このデジタル値の大きさも
Eaiで表わすこととする。アナログデジタル変換
器５としては高速型の変換器が用いられる。この
ように本発明による装置では早い段階でデジタル
信号に変換され、めんどうなアナログ処理部分を
少なくしている。
グ信号はアナログデジタル変換器５によりデジタ
ル値に変換される。このデジタル値の大きさも
Eaiで表わすこととする。アナログデジタル変換
器５としては高速型の変換器が用いられる。この
ように本発明による装置では早い段階でデジタル
信号に変換され、めんどうなアナログ処理部分を
少なくしている。
アナログデジタル変換器５の出力信号は記憶作
用も有する演算処理装置７に印加され、該演算処
理装置７は次のように動作する。まず第１の演算
処理として次式（第１理論式）に表わされる演算
動作を実行する。
用も有する演算処理装置７に印加され、該演算処
理装置７は次のように動作する。まず第１の演算
処理として次式（第１理論式）に表わされる演算
動作を実行する。
Eax＝N
〓i=1
Eai・Asin（2π／Ｎｉ＋θ） (3)
Eay＝N
〓i=1
Eai・Acos（2π／Ｎｉ＋θ） (4)
ここでEax、Eayは(1)、(2)式で示したものと同
一であり、Ａは任意の定数、θは零を含む任意の
定数である。Eax、Eayの値は比例して変わる
が、例えばＮの値がN1からN2に変化したとき、
Eax、Eay、Ebx、Ebyの変化率（係数）は等し
い。したがつてベクトル電圧比を求める式(1)、(2)
の演算でこの係数は約分され、Ｎの影響は除去さ
れる。
一であり、Ａは任意の定数、θは零を含む任意の
定数である。Eax、Eayの値は比例して変わる
が、例えばＮの値がN1からN2に変化したとき、
Eax、Eay、Ebx、Ebyの変化率（係数）は等し
い。したがつてベクトル電圧比を求める式(1)、(2)
の演算でこの係数は約分され、Ｎの影響は除去さ
れる。
第３Ｂ図は(3)式におけるAsin（2π／Ｎｉ＋θ）の
大きさをＮ＝８、θ＝−22.5゜としてプロツトし
たものである。第３Ａ図および第３Ｂ図より明ら
かなように、(3)式の右辺は信号Eaを同期整流し、
基準ベクトルと同相成分を求めることを示してい
る。例示の場合α＝22.5゜であり、基準ベクトル
信号は第３Ａ図の信号Eaよりも22.5゜進んだ信号
として第３Ａ図にプロツトできる。例えばｉ＝１
においては、 Asin（2π／Ｎｉ＋θ）＝Asin（45゜−22.5゜） の値がEaiに掛算される。同様に(4)式の右辺は信
号Eaを同期整流し、基準ベクトルと直角な成分
と同相な成分を求めることができることを示して
いる。即ち、本発明によれば従来装置で行われて
いたアナログ型の同期整流をするのではなく、サ
ンプリングと演算（sin値、cos値の掛算）で、且
つ少ないサンプル値（Ｎの値）で高速に同期整流
を行つている。即ち、前述各成分の大きさ
（Eax、Eay）の導出をすべて演算処理装置７中
で一度にデジタル的に行つている。
たものである。第３Ａ図および第３Ｂ図より明ら
かなように、(3)式の右辺は信号Eaを同期整流し、
基準ベクトルと同相成分を求めることを示してい
る。例示の場合α＝22.5゜であり、基準ベクトル
信号は第３Ａ図の信号Eaよりも22.5゜進んだ信号
として第３Ａ図にプロツトできる。例えばｉ＝１
においては、 Asin（2π／Ｎｉ＋θ）＝Asin（45゜−22.5゜） の値がEaiに掛算される。同様に(4)式の右辺は信
号Eaを同期整流し、基準ベクトルと直角な成分
と同相な成分を求めることができることを示して
いる。即ち、本発明によれば従来装置で行われて
いたアナログ型の同期整流をするのではなく、サ
ンプリングと演算（sin値、cos値の掛算）で、且
つ少ないサンプル値（Ｎの値）で高速に同期整流
を行つている。即ち、前述各成分の大きさ
（Eax、Eay）の導出をすべて演算処理装置７中
で一度にデジタル的に行つている。
上述と同様な動作はスイツチ１を接点ｂに接続
し、信号Ebに対しても行われ、Ebiが求められ、
そしてEbx、Ebyが求められる。なお、Eai、Ebi
をまず求めてそれらを演算処理装置７に記憶し、
その後Eax、Eay、Ebx、Eby、を求めてもよい
ことは勿論である。またサンプルホールド回路と
アナログデジタル変換器とをそれぞれ２個設け、
信号Ea、Ebを各別に処理してもよいし、サンプ
ルホールド回路またはアナログデジタル変換器の
みを２個使用するようにしてもよい。
し、信号Ebに対しても行われ、Ebiが求められ、
そしてEbx、Ebyが求められる。なお、Eai、Ebi
をまず求めてそれらを演算処理装置７に記憶し、
その後Eax、Eay、Ebx、Eby、を求めてもよい
ことは勿論である。またサンプルホールド回路と
アナログデジタル変換器とをそれぞれ２個設け、
信号Ea、Ebを各別に処理してもよいし、サンプ
ルホールド回路またはアナログデジタル変換器の
みを２個使用するようにしてもよい。
Eax、Eay、Ebx、Ebyを求めた後、演算処理
装置７は第２の演算処理として前記(1)、(2)式（第
２理論式）によりベクトル電圧比を計算する。な
お(3)、(4)式等によりまずcos、sinの掛算、Σの処
理をし、次に(1)、(2)式によつてベクトル電圧比を
求める代わりに、予じめ(3)、(4)式等を(1)、(2)式に
代入することにより求められる式によりベクトル
電圧比を直接求めてもよい。例えば、Ｎ＝４（θ
＝０）の場合には次式により直接求めてもよい。
装置７は第２の演算処理として前記(1)、(2)式（第
２理論式）によりベクトル電圧比を計算する。な
お(3)、(4)式等によりまずcos、sinの掛算、Σの処
理をし、次に(1)、(2)式によつてベクトル電圧比を
求める代わりに、予じめ(3)、(4)式等を(1)、(2)式に
代入することにより求められる式によりベクトル
電圧比を直接求めてもよい。例えば、Ｎ＝４（θ
＝０）の場合には次式により直接求めてもよい。
Eb／Eacos（β−α）＝（Ea1−Ea3）（Eb1−Eb3）
＋（Ea2−Ea4）（Eb2−Eb4）／（Ea1−Ea3）2＋（Ea2−
Ea4）2(5) ここで上述の(3)、(4)、(5)式で示した計算による
同期整流を行うことにより、交流信号Ea、Ebに
含まれる高調波成分の影響を除去することができ
る。即ち（kN±１）（ｋ＝１、２、３、…）次高
調波成分のみが影響し、他の高調波成分の影響は
除去しうる。
＋（Ea2−Ea4）（Eb2−Eb4）／（Ea1−Ea3）2＋（Ea2−
Ea4）2(5) ここで上述の(3)、(4)、(5)式で示した計算による
同期整流を行うことにより、交流信号Ea、Ebに
含まれる高調波成分の影響を除去することができ
る。即ち（kN±１）（ｋ＝１、２、３、…）次高
調波成分のみが影響し、他の高調波成分の影響は
除去しうる。
なお連続波を用いて同期整流する場合の高調波
の影響については特開昭50年133423号に述べられ
ている。
の影響については特開昭50年133423号に述べられ
ている。
また奇数次高調波成分の除去の必要がなく、か
つＮ＝４の整流倍の場合には、前述(3)、(4)式にお
けるsin、cosの掛算の代わりに次の処理を行つて
もよい。
つＮ＝４の整流倍の場合には、前述(3)、(4)式にお
けるsin、cosの掛算の代わりに次の処理を行つて
もよい。
Asin（2π／Ｎｉ＋θ）の値を１ｉＮ／２のとき
１ に、Ｎ／２＜ｉのときに−１にする。
１ に、Ｎ／２＜ｉのときに−１にする。
Acos（2π／Ｎｉ＋θ）の値をＮ／４＜ｉ３／4N
のとき１に、１ｉＮ／４および３／N4＜ｉ
Ｎのとき−１にする。この処理は矩形波信号を
用いて同期整流することと等価である。
Ｎのとき−１にする。この処理は矩形波信号を
用いて同期整流することと等価である。
上述の動作により求められたベクトル電圧比は
表示器９に与えられて表示されると共に、他の利
用回路により利用される。なお求められたベクト
ル電圧比より振幅比Eb／Ea、位相角（β−α）、
Ebの大きさ（もしEaが即知らなば）等も測定で
きることを勿論である。即ち、本発明にいうベク
トル電圧比の概念にはこれらの値も含まれるとす
る。
表示器９に与えられて表示されると共に、他の利
用回路により利用される。なお求められたベクト
ル電圧比より振幅比Eb／Ea、位相角（β−α）、
Ebの大きさ（もしEaが即知らなば）等も測定で
きることを勿論である。即ち、本発明にいうベク
トル電圧比の概念にはこれらの値も含まれるとす
る。
第４図は第２図に示した本発明によるベクトル
電圧比測定装置に印加される入力信号の導出回路
の一例を示したものであり、本発明の応用例を示
したものである。インダクタ、コンデンサ等の供
試素子１９（インピーダンス値Zx＝Ｒ＋Jx）は
測定端子１５，１７間に接続される。信号源１１
（振幅値Vi）は基準抵抗器１３（抵抗値Ro）及び
供試素子１９を介して演算増幅器２１の一方の入
力端子に接続される。２３は帰還抵抗器（抵抗値
RR）である。Ro≫Zxとすると、Eb＝（Vi／
Ro）・Zx、Ea＝（Vi／Ro）・RRとなる。したがつ
てこれらEa、Ebを本装置に印加してベクトル電
圧比を求めれば、Ｒ、Ｘを求めることができ、供
試素子のリアクタンス値、インダクタンス値、容
量値等を求めることができる。なお、この場合第
１図に示した基準ベクトルは、例えば信号源１１
の出力信号のベクトルと考えてよい。
電圧比測定装置に印加される入力信号の導出回路
の一例を示したものであり、本発明の応用例を示
したものである。インダクタ、コンデンサ等の供
試素子１９（インピーダンス値Zx＝Ｒ＋Jx）は
測定端子１５，１７間に接続される。信号源１１
（振幅値Vi）は基準抵抗器１３（抵抗値Ro）及び
供試素子１９を介して演算増幅器２１の一方の入
力端子に接続される。２３は帰還抵抗器（抵抗値
RR）である。Ro≫Zxとすると、Eb＝（Vi／
Ro）・Zx、Ea＝（Vi／Ro）・RRとなる。したがつ
てこれらEa、Ebを本装置に印加してベクトル電
圧比を求めれば、Ｒ、Ｘを求めることができ、供
試素子のリアクタンス値、インダクタンス値、容
量値等を求めることができる。なお、この場合第
１図に示した基準ベクトルは、例えば信号源１１
の出力信号のベクトルと考えてよい。
以上の説明より明らかなように、本発明は従来
のアナログ方式とは異なり、その大部分がデジタ
ル回路で構成され、サンプリングは入力交流信号
の一周期をＮ等分する時間々隔ではあるが該信号
の位相には無関係なタイミングで行われ、同期整
流もサンプル値に演算処理（sin値、cos値の掛
算）をすることにより少ないサンプル数でデジタ
ル的に行われ、またデジタル同期整流するための
信号（sin値、cos値）はＮに関係する対応関係を
有するから高調波成分を除去することができ、よ
つて信号をデジタル的に高速処理しうると共に、
正確にベクトル電圧比等を測定することができ
る。
のアナログ方式とは異なり、その大部分がデジタ
ル回路で構成され、サンプリングは入力交流信号
の一周期をＮ等分する時間々隔ではあるが該信号
の位相には無関係なタイミングで行われ、同期整
流もサンプル値に演算処理（sin値、cos値の掛
算）をすることにより少ないサンプル数でデジタ
ル的に行われ、またデジタル同期整流するための
信号（sin値、cos値）はＮに関係する対応関係を
有するから高調波成分を除去することができ、よ
つて信号をデジタル的に高速処理しうると共に、
正確にベクトル電圧比等を測定することができ
る。
第１図は本発明による装置によりベクトル電圧
比を求めようとする２個の交流信号のベクトル
図、第２図は本発明によるベクトル電圧比測定装
置のブロツク図、第３Ａ図は第２図に示したサン
プルホールド回路の動作を示した波形図、第３Ｂ
図は第２図に示した演算処理装置中で使用される
所定値の大きさを示した図、第４図は第２図に示
したベクトル電圧比測定装置に印加される入力信
号の導出回路の一例を示した回路図である。
比を求めようとする２個の交流信号のベクトル
図、第２図は本発明によるベクトル電圧比測定装
置のブロツク図、第３Ａ図は第２図に示したサン
プルホールド回路の動作を示した波形図、第３Ｂ
図は第２図に示した演算処理装置中で使用される
所定値の大きさを示した図、第４図は第２図に示
したベクトル電圧比測定装置に印加される入力信
号の導出回路の一例を示した回路図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ２個の交流信号Ea、Ebをサンプルホールド
する回路と、前記回路の出力信号をデジタル値に
変換するアナログ・デジタル変換器と、前記変換
器の出力信号を受信し、所定の理論式に従つて前
記２個の交流信号のベクトル電圧比を計算する演
算処理装置と、前記演算処理装置の出力を指示す
る手段とより成るベクトル電圧比測定装置におい
て、前記サンプルホールドする回路は前記交流信
号の一周期をＮ等分（Ｎ３）する時間々隔で前
記交流信号をサンプルホールドし、前記アナロ
グ・デジタル変換器はサンプルホールド値をそれ
ぞれ対応するデジタル値Eai、Ebi（ｉ＝１、２、
３、−−Ｎ）に変換し、前記演算処理装置は下記
の第１理論式により基準ベクトルに対する前記交
流信号Ea、Ebの各同相成分と直角成分Eax、
Ebx、Eay、Ebyを求める第１デジタル演算処理
を行い、下記の第２理論式によりベクトル電圧比
を求める第２デジタル演算処理を行うことを特徴
とするベクトル電圧比測定装置。 第１理論式 Eax＝N 〓i=1 Eai・Asin（2π／Ｎｉ＋θ） Eay＝N 〓i=1 Eai・Acos（2π／Ｎｉ＋θ） Ebx＝N 〓i=1 Ebi・Asin（2π／Ｎｉ＋θ） Eby＝N 〓i=1 Ebi・Acon（2π／Ｎｉ＋θ） 第２理論式 Eax・Ebx＋Eay・Eby／Eax2＋Eay2およびまたは Eax・Eby−Eay・Eby／Eax2＋Eay2
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18269380A JPS57106870A (en) | 1980-12-23 | 1980-12-23 | Vector voltage ratio measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18269380A JPS57106870A (en) | 1980-12-23 | 1980-12-23 | Vector voltage ratio measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57106870A JPS57106870A (en) | 1982-07-02 |
| JPH0235949B2 true JPH0235949B2 (ja) | 1990-08-14 |
Family
ID=16122776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18269380A Granted JPS57106870A (en) | 1980-12-23 | 1980-12-23 | Vector voltage ratio measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57106870A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008177991A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Sansha Electric Mfg Co Ltd | 位相差検出回路、ｐｌｌ回路、位相差検出方法及び位相差検出プログラム |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4150049B2 (ja) | 2006-08-03 | 2008-09-17 | 株式会社東芝 | 集積回路、その自己診断方法、およびその集積回路を具備する光ディスク装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5330375A (en) * | 1976-09-02 | 1978-03-22 | Genrad Inc | Method of automatically measuring impedance or other parameters due to microprocessor calculation technique |
| JPS5465070A (en) * | 1977-11-01 | 1979-05-25 | Teac Corp | Digital level indicator |
-
1980
- 1980-12-23 JP JP18269380A patent/JPS57106870A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5330375A (en) * | 1976-09-02 | 1978-03-22 | Genrad Inc | Method of automatically measuring impedance or other parameters due to microprocessor calculation technique |
| JPS5465070A (en) * | 1977-11-01 | 1979-05-25 | Teac Corp | Digital level indicator |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008177991A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Sansha Electric Mfg Co Ltd | 位相差検出回路、ｐｌｌ回路、位相差検出方法及び位相差検出プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57106870A (en) | 1982-07-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0321963B1 (en) | Impedance measuring apparatus | |
| JPH02222843A (ja) | 交流電力測定方法及び装置 | |
| JPH06273458A (ja) | 電力測定装置および方法 | |
| US20020033694A1 (en) | Method to determine fundamental and harmonic oscillations of a measured electrical quantity | |
| US4180859A (en) | System for measuring the speed of rotation of a synchro by means of a sampling technique | |
| JPH0235949B2 (ja) | ||
| JP3289961B2 (ja) | 回路素子の定数測定装置 | |
| JP4225651B2 (ja) | 回路素子測定器の位相誤差補正方法 | |
| JP2587970B2 (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| JPH0275966A (ja) | 電子式電力量計 | |
| JPH029360B2 (ja) | ||
| JPH0436607B2 (ja) | ||
| JP2589817Y2 (ja) | Ｌｃｒテスタ | |
| JPS5938731Y2 (ja) | 位相検波器 | |
| JP3182777B2 (ja) | 電力量測定方法 | |
| EP0465476A1 (en) | A sampling circuit | |
| JP3612354B2 (ja) | ディジタル形保護継電器における位相角差、周波数差及び周波数演算方法 | |
| JPH0230787Y2 (ja) | ||
| SU1054794A1 (ru) | Преобразователь параметров трехэлементных нерезонансных двухполюсников | |
| RU2046360C1 (ru) | Устройство для измерения сдвига фаз двух сигналов | |
| JP2938472B2 (ja) | 回転角検出装置 | |
| JPH0121361Y2 (ja) | ||
| JPH05119078A (ja) | ベクトル電圧比測定方法 | |
| JPH06281678A (ja) | サンプリング式測定装置 | |
| JPH01298916A (ja) | ディジタル形周波数継電器 |