JP4150049B2

JP4150049B2 - 集積回路、その自己診断方法、およびその集積回路を具備する光ディスク装置

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Publication number: JP4150049B2
Application number: JP2006212114A
Authority: JP
Inventors: 秀之山川; 之康立澤; 崇之森; 隆裕南郷
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Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2006-08-03
Filing date: 2006-08-03
Publication date: 2008-09-17
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Description

本発明は、集積回路、その自己診断方法、およびその集積回路を具備する光ディスク装置に係り、特に、ＡＤ変換器を内蔵する集積回路、その自己診断方法、およびその集積回路を具備する光ディスク装置に関する。

近時、ＨＤＤＶＤ等の高密度記録型の光ディスクの出現によって、光ディスクの再生信号は著しく高周波化されてきている。このため、再生信号をサンプリングしデジタル化するＡＤ変換器の変換速度も高速化されてきている。

一方、再生信号の品質を高く維持するためには、単に変換速度だけではなく、直線性や低雑音、低歪みといったＡＤ変換器の変換性能も極めて重要である。

このため、ＡＤ変換器の性能評価や品質保証は、光ディスク装置全体の性能評価や品質保証を左右する極めて重要な要素となってきている。

従来から、ＡＤ変換器の性能評価については種々の方式や評価装置が提案されている。例えば、特許文献１には、ＡＤ変換器に正弦波を入力し、ＡＤ変換器から出力されるデジタルデータを一旦波形メモリに記憶させ、この波形メモリからデジタルデータを読み出して、ＦＦＴやウェーブレット変換等の周波数変換信号処理を行うことによってＡＤ変換器の性能を評価する評価装置に関する技術が開示されている。
特開平１１−９８０１６号公報

ところで、ＡＤ変換器を評価する場合には、単にＡＤ変換器を単体で評価するだけでは不十分であり、ＡＤ変換器を装置に組み込んだ状態で周辺回路の動作環境の中での性能評価も重要となる。即ち、装置に組み込んだ状態でＡＤ変換器を自己診断し性能評価する機能が求められることになる。

他方、光ディスク装置等の小型化、低コスト化等の要請から、ＡＤ変換器と他の多数のデジタル回路とを１つの高集積度集積回路に組み込む形態も出現してきている。このような形態では、純粋なＡＤ変換器の出力を高速で外部に取り出すこと自体技術的難易度が高い。

このような場合、ＡＤ変換器の出力を高集積度集積回路の外部に取り出すことなく、高集積度集積回路の内部に自己診断回路を具備させる形態が有効である。しかしながら、特許文献１が開示するような波形メモリや周波数変換信号処理等の大規模な回路を、集積回路の内部に自己診断回路として具備させる形態は、集積回路の利用効率やコストの観点から合理的な解決方法とは言いがたい。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、ＡＤ変換器を内蔵する集積回路において、必要十分な性能評価を可能としつつも比較的簡素な構成で自己診断ができる集積回路、その自己診断方法、およびその集積回路を具備する光ディスク装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するため、本発明に係る集積回路は、ＡＤ変換器と、前記ＡＤ変換器を自己診断する自己診断回路と、を備え、前記自己診断回路は、外部から入力される外部正弦波信号を前記ＡＤ変換器にてＡＤ変換するためのクロックを生成するクロック生成部と、内部正弦波信号をデジタル量として生成する正弦波生成部と、ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との差分信号を求める減算部と、前記内部正弦波信号の位相が前記外部正弦波信号の位相と同相となるように、前記差分信号を入力とするフェーズロックループによって前記内部正弦波信号の位相を制御するＰＬＬ部と、前記差分信号を自乗平均して前記ＡＤ変換器の診断信号を生成する自乗平均部と、を備えたことを特徴とする。

また、上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクを回転駆動するディスクモータと、前記光ディスクの記録面に記録されたデータを読み取るピックアップと、前記ピックアップで読み取られた再生信号をＡＤ変換するＡＤ変換器を内蔵する集積回路と、を具備し、前記集積回路は、前記ＡＤ変換器と、前記ＡＤ変換器を自己診断する自己診断回路と、を備え、前記自己診断回路は、外部から入力される外部正弦波信号を前記ＡＤ変換器にてＡＤ変換するためのクロックを生成するクロック生成部と、内部正弦波信号をデジタル量として生成する正弦波生成部と、ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との差分信号を求める減算部と、前記内部正弦波信号の位相を、前記差分信号を入力とするフェーズロックループによって制御するＰＬＬ部と、前記差分信号を自乗平均して前記ＡＤ変換器の診断信号を生成する自乗平均部と、を備えたことを特徴とする。

また、上記課題を解決するため、本発明に係る集積回路の自己診断方法は、ＡＤ変換器を内蔵する集積回路の自己診断方法において、外部から入力される外部正弦波信号を前記ＡＤ変換器にてＡＤ変換するためのクロックを生成し、前記クロックを用いて前記外部正弦波信号をＡＤ変換し、内部正弦波信号をデジタル量として生成し、ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との差分信号を求め、前記内部正弦波信号の位相が前記外部正弦波信号の位相と同相となるように、前記差分信号を入力とするフェーズロックループによって前記内部正弦波信号の位相を制御し、前記差分信号を自乗平均して前記ＡＤ変換器の診断信号を生成する、ステップを備えたことを特徴とする。

本発明に係る集積回路、その自己診断方法、およびその集積回路を具備する光ディスク装置によれば、ＡＤ変換器を内蔵する集積回路において、必要十分な性能評価を可能としつつも比較的簡素な構成で自己診断ができる。

本発明に係る集積回路、その自己診断方法、およびその集積回路を具備する光ディスク装置の実施形態について、添付図面を参照して説明する。

（１）集積回路
図１は、第１の実施形態に係る集積回路１の構成例を示す図である。

集積回路１は、ＡＤ変換器２と自己診断回路３とを備えて構成されている。ＡＤ変換器２は、例えばＤＶＤのアナログ再生信号をデジタル信号にＡＤ変換するＡＤ変換器２であり、その変換速度は、例えば約数１００ＭＨｚ以上にも及ぶものである。

自己診断回路３は、ＡＤ変換器２の製造不良や性能劣化等を検査、診断するための回路である。

なお、集積回路１は、図１に示した範囲では、ＡＤ変換器２とその診断回路と備えた構成となっているが、勿論これ以外のデジタル回路、例えばデジタル化された光ディスク再生信号の復調処理回路等を備える構成としても良い。

自己診断回路３は、クロック生成部４、減算部５、正弦波生成部６、ＰＬＬ部７、自乗平均部８、振幅検出部９、オフセット検出部１０、及び切換部１１を備えている。

クロック生成部４は、集積回路１の検査、診断時に外部から入力する正弦波信号（外部正弦波信号Ｖext）をＡＤ変換器２でサンプリングするためのクロックを生成するものである。クロック周波数はプロセッサ（図示せず）等から適宜設定される。

正弦波生成部６は、ＡＤ変換された外部正弦波信号Ｖextと比較判定するための正弦波信号（内部正弦波信号Ｖint）をデジタル量として生成するものである。内部正弦波信号Ｖintは、ＰＬＬ部７から出力される制御位相量θに基づいて生成される。

減算部５では、外部正弦波信号Ｖextと内部正弦波信号Ｖintとを時間軸上で減算し差分信号ΔＶを生成する。

ＰＬＬ部７では、内部正弦波信号Ｖintの位相が外部正弦波信号Ｖextの位相と同相になるように、差分信号ΔＶを入力とするフェーズロックループによって内部正弦波信号Ｖintの位相を制御している。

自乗平均部８では、差分信号ΔＶを自乗平均する処理を行っている。自乗平均された差分信号ΔＶは、診断信号として自己診断回路３の外部に出力される。

振幅検出部９は、外部正弦波信号Ｖextの振幅値（例えばピーク・ツー・ピーク値）を検出し、切換部１１を介して集積回路１の外部に出力する。この振幅値は、外部正弦波信号Ｖextの発振源である外部正弦波発生器１００の振幅調整に用いられる。

オフセット検出部１０は、外部正弦波信号Ｖextのオフセット値を検出し、切換部１１を介して集積回路１の外部に出力する。オフセット値は、ＡＤ変換器２の入力端を例えば短絡等させて入力端電圧をゼロとし、その時のＡＤ変換器２の出力を平均処理等することによって検出する。

切換部１１は、検出されたオフセット値と振幅とを切換えて集積回路１の外部に出力するためのスイッチである。

上記のように構成された集積回路１の動作について説明する。

一般に、ＡＤ変換器の性能評価としては静的性能評価法と動的性能評価法とがある。静的性能評価法は、直流電圧をＡＤ変換器に印加する評価法である。一方、動的性能評価法は、ＡＤ変換器に周期信号、例えば正弦波信号を印加して評価する評価法である。このうち、動的性能評価法としは、ＦＦＴ法やカーブフィット法が知られている（例えば、特許文献１等参照）。

ＦＦＴ法は、ＡＤ変換器に外部から正弦波信号を入力し、ＡＤ変換された正弦波信号に対してＦＦＴを行い、ＦＦＴ結果からＡＤ変換器の性能を評価する方法である。基本周波数成分（Ｓ）とそれ以外の周波数成分（Ｎ）との比（Ｓ／Ｎ（dB））からＡＤ変換器の有効ビット数を求める方法である。

カーブフィット法は、ＦＦＴ法と同様にＡＤ変換器に外部から正弦波信号を入力するが、ＡＤ変換された正弦波信号と理想正弦波との自乗誤差が最小となるように理想正弦波のパラメータを決定する方法である。決定されたパラメータによって理想正弦波の波形は確定し、この理想正弦波とＡＤ変換された正弦波信号との自乗誤差から有効ビット数を推定する方法である。このとき得られる自乗誤差は、ＦＦＴ法における（Ｎ）に対応する量であり、ＡＤ変換された正弦波信号の振幅はＦＦＴ法における（Ｓ）に対応する量と考えることができる。ＦＦＴ法が周波数軸上で（Ｎ）を求めているのに対して、カーブフィット法では時間軸上で（Ｎ）を求めているということもできる。

本実施形態における自己診断回路３は、上記のカーブフィット法の考え方に近い評価方法をリアルタイムで実現するものである。

即ち、カーブフィット法における「理想正弦波」を、自己診断回路３の正弦波生成部６にて実時間で生成し、さらに生成した「理想正弦波」とＡＤ変換された外部正弦波信号Ｖextとの自乗誤差を減算部５と自乗平均部８とで実時間で生成する形態である。

理想正弦波を決定するパラメータは、オフセット、振幅、及び位相（位相は周波数の概念を含むものとする）の３つであるが、本実施形態では、このうち位相については、ＰＬＬ部７によるフェーズロックループによって内部正弦波信号Ｖintの位相を外部正弦波信号Ｖextに一致させるように動作させる形態としている。

一方、オフセットと振幅については入力側、即ち、外部正弦波発生器１００の方を調整して内部正弦波信号Ｖintのオフセットと振幅に一致させるように設定する形態としている。内部正弦波信号Ｖintはデジタル量として生成する信号であり、そのオフセットと振幅は予め正確に知ることができ既知の量である。

そこで、外部正弦波信号Ｖextのオフセット量と振幅とを自己診断回路３の振幅検出部９とオフセット検出部１０とで検出し、検出したオフセット量と振幅とが既知である内部正弦波信号Ｖintのオフセット量と振幅と同じ値となるように、外部正弦波発生器１００を調整する手法としている。

オフセット量と振幅は時間的にはほとんど変動しないため、マニュアルによる調整も十分可能であるが、外部正弦波発生器１００を自動調整する機能を付加する形態としても良い。

次に、ＰＬＬ部７による位相制御について説明する。

図２は、本実施形態に係るＰＬＬ部７の構成例を示す図である。ＰＬＬ部７は、位相比較部７１、ループフィルタ部７２、積分部７３、および遅延部７４を備えて構成されている。

本実施形態に係る位相比較部７１では、外部正弦波信号Ｖextと内部正弦波信号Ｖintとの差分信号ΔＶを入力し、この差分信号ΔＶと積分部７３の出力である制御位相量θとから、外部正弦波信号Ｖextと内部正弦波信号Ｖintとの位相誤差Δφを求める形態としている。

図３は、位相誤差Δφの導出方法の概念を説明する図である。図３では、外部正弦波信号Ｖextを破線で示し、内部正弦波信号Ｖintを実線で示している。

図３（ａ）は、外部正弦波信号Ｖextに対して内部正弦波信号Ｖintの位相が進んでいる場合の両者の波形を模式的に示している。図３（ａ）の横軸は、内部正弦波信号Ｖintの位相（制御位相量θ）を表している。外部正弦波信号Ｖextと内部正弦波信号Ｖintとの差分信号ΔＶが、減算部５の出力であり、またＰＬＬ部７の位相比較部７１の入力でもある。

図３（ａ）から判るように、正弦波生成部６の入力である制御位相量θが0≦θ＜πの範囲では差分信号ΔＶが負の値となり、制御位相量θが π≦θ＜２π の範囲では差分信号ΔＶは正の値となる。

一方、図３（ｂ）は、外部正弦波信号Ｖextに対して内部正弦波信号Ｖintの位相が遅れている場合である。図３（ｂ）から判るように、正弦波生成部６の入力である制御位相量θが0≦θ＜πの範囲では逆に差分信号ΔＶが正の値となり、制御位相量θが π≦θ＜２π の範囲では差分信号ΔＶは負の値となる。

この特徴を利用して、本実施形態に係る位相比較部７１では、位相誤差Δφを次の（式１）のように差分信号ΔＶと制御位相量θとに基づいて算出している。
［数１］
Δφ＝ｓｉｇｎ（θ）*ΔＶ
ｓｉｇｎ（θ）= -1 when 0≦θ＜π
ｓｉｇｎ（θ）= +1 when π≦θ＜２π （式１）
(式１)に基づいて算出された位相誤差Δφは、ループフィルタ部７２でフィルタリングされ、さらに積分部７３で積分され制御位相量θが生成される。この制御位相量θに基づいて正弦波生成部６にて内部正弦波信号Ｖintが生成される。

フェーズロックループでは、位相誤差Δφがゼロとなるように動作するため、ロックした状態では内部正弦波信号Ｖintの位相と外部正弦波信号Ｖextの位相は一致する(同相となる)。

正弦波生成部６で生成する内部正弦波信号Ｖintは、外部正弦波信号Ｖextと比較する上で基準となる正弦波信号であり、高い純度を必要とするが、公知の比較的簡素なデジタル回路構成技術の範囲で十分精度の高い正弦波を生成することが可能である。

なお、ＰＬＬ部７の遅延部７４は、正弦波生成部６と減算部５の処理遅延を補償する遅延量を設定するためのものである。

このようにして、外部正弦波信号Ｖextの位相と同相の内部正弦波信号Ｖintが生成される。また、前述したように、外部正弦波信号Ｖextのオフセット量と振幅は内部正弦波信号Ｖintと一致するように外部正弦波発生器１００にて調整されている。

従って、減算部５の入力点における外部正弦波信号Ｖextと内部正弦波信号Ｖintとの関係は、従来から行われているカーブフィット法における入力正弦波と理想正弦波との関係と同じ関係となり、自乗平均部８から出力される差分信号ΔＶの自乗平均値は、ＡＤ変換器２の精度を表す有効ビット数を推定可能な指標となる。

自乗平均部８から出力される自乗平均値が所定の閾値を超えた場合には、ＡＤ変換器２に何らかの製造不良があると判断される。

なお、図１や図２に示した自己診断回路３の構成は一見複雑そうに見えるものの、大容量の波形メモリ等は不要であり、基本的には比較的単純なデジタルロジック回路で構成できるものである。このため、今日の高集積度集積回路の全体規模からするとその規模比率は決して大きなものではない。

また、自己診断回路３から出力される診断信号は、生のサンプリング信号のように高速な信号ではなく、自乗平均値の形態に加工されており、ほぼ定数とみなせる程度の低速な信号である。このため自己診断回路３から外部へ出力するインタフェースも極めてシンプルな形態で実現できる。また、良否判定についても、自己診断回路３の中で既に基本的な処理は完結しており、自己診断回路３の外部では出力された自乗平均値に対して単純な閾値判定を行うことによって良否が判定できる。なお、この良否判定機能を自己診断回路３の内部に具備させる形態としてもよい。

このように、本実施形態に係る集積回路１によれば、ＡＤ変換器を内蔵する集積回路１において、必要十分な性能評価を可能としつつも比較的簡素な構成で検査、或いは自己診断ができる。

（２）検査手順
第１の実施形態に係る集積回路１の検査手順について説明する。

集積回路１の検査の第１のステップとして、外部正弦波発生器１００で発生させる正弦波の周波数・振幅・オフセット量の調整を行う。このうち、周波数については、予め定めた測定対象周波数に概略設定しておけばよい。

オフセット量の調整については、外部正弦波発生器１００の出力振幅をゼロに設定(又は、ＡＤ変換器２の入力端子を短絡)し、また、クロック生成部４から予め定めた周波数のクロックが生成されるように設定した状態で、切換部１１をオフセット検出部１０側に切換える。この後、オフセット検出部１０の出力が、既知の内部正弦波信号Ｖintのオフセット量（例えばゼロ）となるように外部正弦波発生器１００の出力ＤＣレベル(またはＡＤ変換器２の入力ＤＣレベル)を調整する。

次に、切換部１１を振幅検出部９側に切換え、正弦波発生器11から適当な振幅の正弦波を発生させる。この後、振幅検出部９で検出する振幅値が、既知の内部正弦波信号Ｖintの振幅値と一致するように外部正弦波発生器１００が発生する正弦波の振幅を調整する。

次に、第２のステップとして、外部正弦波発生器１００で生成する正弦波の周波数と、クロック生成部４が生成するクロックの周波数を、検査を行うそれぞれの周波数に設定する。この状態で一定の時間が経過するとＰＬＬ部７がロックし、２乗平均値を得ることができる。

なお、複数の周波数に対して検査を行う場合は、第２のステップを複数回繰返せばよい。このようにして、集積回路１に内蔵されるＡＤ変換器２の検査を行うことができる。

（３）第２の実施形態
図４は、第２の実施形態に係る集積回路１ａの構成例を示す図である。第１の実施形態に係る集積回路１(図１参照)との相違点は、クロック生成部４の出力にクロック切換部１２を設け、外部クロック発生器１０１で生成する外部クロックと、クロック生成部４で生成する内部クロックとを選択してＡＤ変換器２に供給する構成としている点である。

このような構成とすることで、クロック切換部１２をクロック生成部４側に設定したときの自乗平均部８の出力値が検査基準より劣る場合に、クロック切換部１２を外部クロック発生器１０１側に切換えることによって自乗平均部８の出力値が検査基準以内となる場合は、クロック生成部４に不良原因が存在し、クロック切換部１２を外部クロック発生器１０１側に切換えても自乗平均部８の出力値が検査基準より劣る場合は、ＡＤ変換器２に不良原因が存在することが判る。

このように、第２の実施形態に係る集積回路１ａでは、ＡＤ変換器２とクロック生成部４の何れに不良原因があるかを特定することが可能であり、集積回路１の製造不良率を低減することが容易になる。

（４）光ディスク装置
図５は、集積回路１を具備する光ディスク装置２０の構成例を示す図である。光ディスク装置２０は、光ディスク２００を回転駆動するディスクモータ２１、光ディスク２００の記録面のデータを読み取りアナログの再生信号を出力するピックアップ２２、再生信号を適宜の振幅に増幅するＲＦアンプ２３、ホストコンピュータ２０１から出力される記録用データを光ディスク２００に記録可能なデータに変換する記録部２４、再生信号を復調しホストコンピュータ２０１に出力可能なデータに変換する再生部２５、ホストコンピュータ２０１とのデータの授受を行うインタフェース部２７、装置全体の制御を行う制御部２６等を備えて構成されている。

再生部２５は、再生信号をＡＤ変換するＡＤ変換器２と自己診断回路３とを具備する集積回路１を備えている。

本実施形態に係る光ディスク装置２０では、ＡＤ変換器２を内蔵する集積回路１が容易に検査可能な形態となっているため、光ディスク装置２０全体としても製造不良を低減することが容易となる。

なお、本発明は上記の実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。

本発明の第１の実施形態に係る集積回路の構成例を示す図。ＰＬＬ部の構成例を示す図。位相検波部の動作概念を説明する図。本発明の第２の実施形態に係る集積回路の構成例を示す図。本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成例を示す図。

符号の説明

１、１ａ集積回路
２ＡＤ変換器
３自己診断回路
４クロック生成部
５減算部
６正弦波生成部
７ＰＬＬ部
８自乗平均部
９振幅検出部
１０オフセット検出部
１１切換部
１２クロック切換部
７１位相比較部
７２ループフィルタ部
７３積分部
７４遅延部

Claims

ＡＤ変換器と、
前記ＡＤ変換器を自己診断する自己診断回路と、
を備え、
前記自己診断回路は、
外部から入力される外部正弦波信号を前記ＡＤ変換器にてＡＤ変換するためのクロックを生成するクロック生成部と、
内部正弦波信号をデジタル量として生成する正弦波生成部と、
ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との差分信号を求める減算部と、
前記内部正弦波信号の位相が前記外部正弦波信号の位相と同相となるように、前記差分信号を入力とするフェーズロックループによって前記内部正弦波信号の位相を制御するＰＬＬ部と、
前記差分信号を自乗平均して前記ＡＤ変換器の診断信号を生成する自乗平均部と、
を備えたことを特徴とする集積回路。
前記自己診断回路は、
前記外部正弦波信号のオフセット量を調整するために、ＡＤ変換された前記外部正弦波信号のオフセット量を検出するオフセット検出部と、
前記外部正弦波信号の振幅を調整するために、ＡＤ変換された前記外部正弦波信号の振幅を検出する振幅検出部と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項１に記載の集積回路。
前記オフセット検出部にて検出された前記オフセット量と、前記振幅検出部にて検出された前記振幅とを切換えて外部に出力する切換部、
をさらに備えたことを特徴とする請求項２に記載の集積回路。
前記ＰＬＬ部は、
ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との位相誤差を求める位相比較部と、
前記位相誤差をフィルタリングするループフィルタ部と、
フィルタリングされた前記位相誤差を積分部と、
を備えて構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の集積回路。
前記クロック生成部で生成される前記クロックと、外部から入力される外部クロックとを切換えて前記ＡＤ変換器に供給するクロック切換部、
をさらに備えたことを特徴とする請求項１に記載の集積回路。
光ディスクを回転駆動するディスクモータと、
前記光ディスクの記録面に記録されたデータを読み取るピックアップと、
前記ピックアップで読み取られた再生信号をＡＤ変換するＡＤ変換器を内蔵する集積回路と、を具備し、
前記集積回路は、
前記ＡＤ変換器と、
前記ＡＤ変換器を自己診断する自己診断回路と、
を備え、
前記自己診断回路は、
外部から入力される外部正弦波信号を前記ＡＤ変換器にてＡＤ変換するためのクロックを生成するクロック生成部と、
内部正弦波信号をデジタル量として生成する正弦波生成部と、
ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との差分信号を求める減算部と、
前記内部正弦波信号の位相を、前記差分信号を入力とするフェーズロックループによって制御するＰＬＬ部と、
前記差分信号を自乗平均して前記ＡＤ変換器の診断信号を生成する自乗平均部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
ＡＤ変換器を内蔵する集積回路の自己診断方法において、
外部から入力される外部正弦波信号を前記ＡＤ変換器にてＡＤ変換するためのクロックを生成し、
前記クロックを用いて前記外部正弦波信号をＡＤ変換し、
内部正弦波信号をデジタル量として生成し、
ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との差分信号を求め、
前記内部正弦波信号の位相が前記外部正弦波信号の位相と同相となるように、前記差分信号を入力とするフェーズロックループによって前記内部正弦波信号の位相を制御し、
前記差分信号を自乗平均して前記ＡＤ変換器の診断信号を生成する、
ステップを備えたことを特徴とする集積回路の自己診断方法。
ＡＤ変換された前記外部正弦波信号のオフセット量を検出し、
検出された前記オフセット量がゼロとなるように前記外部正弦波信号のオフセット量を外部で調整し、
ＡＤ変換された前記外部正弦波信号の振幅を検出し、
検出された前記振幅が所定値となるように前期外部正弦波信号の振幅を外部で調整する、
ステップをさらに備えたことを特徴とする請求項７に記載の集積回路の自己診断方法。
検出された前記オフセット量と、検出された前記振幅とを切換えて外部に出力する、
ステップをさらに備えたことを特徴とする請求項７に記載の集積回路の自己診断方法。
ＡＤ変換された前記外部正弦波信号と前記内部正弦波信号との位相誤差を求め、
前記位相誤差をフィルタリングし、
フィルタリングされた前記位相誤差を積分する、
ステップをさらに備えたことを特徴とする請求項７に記載の集積回路の自己診断方法。
前記クロック生成部で生成される前記クロックと、外部から入力される外部クロックとを切換えて前記ＡＤ変換器に供給する、
ステップをさらに備えたことを特徴とする請求項７に記載の集積回路の自己診断方法。