JPH0416771A - メモリレコーダによる高調波測定方法 - Google Patents
メモリレコーダによる高調波測定方法Info
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- JPH0416771A JPH0416771A JP12181790A JP12181790A JPH0416771A JP H0416771 A JPH0416771 A JP H0416771A JP 12181790 A JP12181790 A JP 12181790A JP 12181790 A JP12181790 A JP 12181790A JP H0416771 A JPH0416771 A JP H0416771A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、メモリレコーダによる高調波測定方法に係
り、さらに詳しくは、−周期に合致していない波形の実
測データを一周期に合致させる補間処理を行なうことで
、周波数を正しく測定することができるほか、リケージ
誤差をなくすることもできるメモリレコーダによる高調
波測定方法に関する。
り、さらに詳しくは、−周期に合致していない波形の実
測データを一周期に合致させる補間処理を行なうことで
、周波数を正しく測定することができるほか、リケージ
誤差をなくすることもできるメモリレコーダによる高調
波測定方法に関する。
［従来の技術］
高調波測定は、第５図に示されているような一周期の波
形ｌをフーリエ変換により第６図に示すような周波数成
分を求めることにより行なわれる。そして、この場合の
フーリエ変換は、ＦＦＴアルゴリズムを用いると高速で
演算処理できることが知られている。但し、ＦＦＴアル
ゴリズムで効率よく演算することができる波形のサンブ
リングポイントの数（第５区における「Ｎ」）は、富に
２の累乗個に限られることになる。
形ｌをフーリエ変換により第６図に示すような周波数成
分を求めることにより行なわれる。そして、この場合の
フーリエ変換は、ＦＦＴアルゴリズムを用いると高速で
演算処理できることが知られている。但し、ＦＦＴアル
ゴリズムで効率よく演算することができる波形のサンブ
リングポイントの数（第５区における「Ｎ」）は、富に
２の累乗個に限られることになる。
したがって、測定する波形１の周期がちょうど２の累乗
個に相当するサンプリングポイント数（例えば、２’＝
１２８．２’ ＝２５６．２”＝５１２． ・・・の
ポイントについてのデータ）であれば問題はない。
個に相当するサンプリングポイント数（例えば、２’＝
１２８．２’ ＝２５６．２”＝５１２． ・・・の
ポイントについてのデータ）であれば問題はない。
しかし、既存のメモリレコーダにおけるようにサンプリ
ング速度が固定されている場合には、サンプリングされ
た波形１の実測データを２の累乗個に一致させることが
ほとんどの場合困難となり、例えば第７図に示すように
２の累乗個≠Ｎ′となってしまう不都合があった。
ング速度が固定されている場合には、サンプリングされ
た波形１の実測データを２の累乗個に一致させることが
ほとんどの場合困難となり、例えば第７図に示すように
２の累乗個≠Ｎ′となってしまう不都合があった。
一方、従来からある高調波測定器は、入力信号周波数を
２の累乗個を含む任意数に分周したクロックを得ること
ができ、したがって、サンプリング速度を決定するクロ
ック周波数の変更が可能となっているので、ちょうど−
周期に２の累乗個のデータのサンプリングとなるように
調整することができた。
２の累乗個を含む任意数に分周したクロックを得ること
ができ、したがって、サンプリング速度を決定するクロ
ック周波数の変更が可能となっているので、ちょうど−
周期に２の累乗個のデータのサンプリングとなるように
調整することができた。
［発明が解決しようとする課題］
ところで、上記高調波測定器によれば、サンプリング速
度を決定するクロック周波数の変更が可能となっている
ので、−周期を２の累乗個のサンプリングポイント数と
一致させることができ、ＦＦＴ演算に馴染む。
度を決定するクロック周波数の変更が可能となっている
ので、−周期を２の累乗個のサンプリングポイント数と
一致させることができ、ＦＦＴ演算に馴染む。
しかし、上記高調波測定器とは異なり、メモリレコーダ
の場合には、クロック周波数が固定されているので、波
形に応じてサンプリング速度を可変とすることができな
い。
の場合には、クロック周波数が固定されているので、波
形に応じてサンプリング速度を可変とすることができな
い。
このため、ＦＦＴ演算は、当該波形１の一周期に一致さ
せた演算ではなく、例えば第７図に示すように一周期か
らずれたサンプリングポイント数（Ｎ′）の波形１をＮ
′で除して得られるΔＴ′が１のサンプリングポイント
と次のサンプリングポイントとの間隔となってしまう。
せた演算ではなく、例えば第７図に示すように一周期か
らずれたサンプリングポイント数（Ｎ′）の波形１をＮ
′で除して得られるΔＴ′が１のサンプリングポイント
と次のサンプリングポイントとの間隔となってしまう。
その結果、第８図に示すように周波数分解能が十となっ
て実際の基本波周波数〒と異なってしまう結果、正しい
周波数の測定ができな（なってしまう不都合があった。
て実際の基本波周波数〒と異なってしまう結果、正しい
周波数の測定ができな（なってしまう不都合があった。
また、ＦＦＴ演算は、Ｎポイントの波形が繰り返し続い
ていることを前提にして演算処理が行なわれるので、第
７図のようにＮポイントが一周期からずれていると、繰
返し波形が不連続となってしまい、正しい演算ができず
、第８図に示されているようなりケージと称される誤差
２が生じてしまう不都合があった。
ていることを前提にして演算処理が行なわれるので、第
７図のようにＮポイントが一周期からずれていると、繰
返し波形が不連続となってしまい、正しい演算ができず
、第８図に示されているようなりケージと称される誤差
２が生じてしまう不都合があった。
［課題を解決するための手段］
この発明は、従来装置に見られた上記課題に鑑みてなさ
れたものであり、その構成上の特徴は、機器本体との間
で格納データの送受が可能に形成された外部記憶媒体を
備えてなるメモリレコーダであって、前記機器本体の側
に取り込まれた波形については、前記外部記憶媒体に格
納されているプログラムに従い、まず、その周期を求め
、しかる後、前記波形との関係でサンプリングされた複
数個の実測データからその関数を求めるとともに、想定
される一周期分の全補間データ個数で前記周期を除する
ことによりポイント間隔を定め、このポイント間隔によ
り規定される各サンプリングポイントに対応する補間デ
ータは、該当するサンプリングポイントの順位と前記周
波数分解能との積算値を前記関数に代入することで一周
期に合致するように順次作成した後、各補間データをそ
れぞれＦＦＴ演算し、次数別に高調波を得てこれを出力
可能とすることにある。
れたものであり、その構成上の特徴は、機器本体との間
で格納データの送受が可能に形成された外部記憶媒体を
備えてなるメモリレコーダであって、前記機器本体の側
に取り込まれた波形については、前記外部記憶媒体に格
納されているプログラムに従い、まず、その周期を求め
、しかる後、前記波形との関係でサンプリングされた複
数個の実測データからその関数を求めるとともに、想定
される一周期分の全補間データ個数で前記周期を除する
ことによりポイント間隔を定め、このポイント間隔によ
り規定される各サンプリングポイントに対応する補間デ
ータは、該当するサンプリングポイントの順位と前記周
波数分解能との積算値を前記関数に代入することで一周
期に合致するように順次作成した後、各補間データをそ
れぞれＦＦＴ演算し、次数別に高調波を得てこれを出力
可能とすることにある。
［イ乍 用］
このため、従来タイプのメモリレコーダによっても、周
波数分解能を実際の基本波周波数に一致させることがで
きるので、正しい周波数の測定ができ、さらには、２の
累乗個のサンプリングポイントに対応して一周期ちょう
どの補間データを連続させてＦＦＴ演算することができ
、リケージ誤差をな（することができる。
波数分解能を実際の基本波周波数に一致させることがで
きるので、正しい周波数の測定ができ、さらには、２の
累乗個のサンプリングポイントに対応して一周期ちょう
どの補間データを連続させてＦＦＴ演算することができ
、リケージ誤差をな（することができる。
［実施例］
以下、図面を参酌してこの発明の詳細な説明する。
第４図は、この発明の実施に供されるメモリレコーダの
概略構成を示すブロック図であり、機器本体１１は、ア
ナログユニット１５とロジックユニッ）１５とからなる
入カニニット１７を備え、入力デ−夕は、操作部１９の
操作によりＲＯＭ２５に記憶されているプログラムによ
り作動するＣＰＵ１２を介して演算制御され、プリンタ
やＬＣＤデイスプレィなどからなる出力部１８への測定
結果の出力表示が可能となっている。また、機器本体１
１には、ＲＡＭやＩＣカードなどの外部記憶媒体２０の
装着が可能となっており、この外部記憶媒体２０に格納
されているデータの機器本体１１側へのロードを可能に
して形成されている。
概略構成を示すブロック図であり、機器本体１１は、ア
ナログユニット１５とロジックユニッ）１５とからなる
入カニニット１７を備え、入力デ−夕は、操作部１９の
操作によりＲＯＭ２５に記憶されているプログラムによ
り作動するＣＰＵ１２を介して演算制御され、プリンタ
やＬＣＤデイスプレィなどからなる出力部１８への測定
結果の出力表示が可能となっている。また、機器本体１
１には、ＲＡＭやＩＣカードなどの外部記憶媒体２０の
装着が可能となっており、この外部記憶媒体２０に格納
されているデータの機器本体１１側へのロードを可能に
して形成されている。
なお、同図中、符号１３はクロックを、１４は分周回路
を、２１はインターフェースを、２２はメモリコントロ
ーラを、２３は内蔵されているＲＡＭを、２４はトリガ
部をそれぞれ示す。
を、２１はインターフェースを、２２はメモリコントロ
ーラを、２３は内蔵されているＲＡＭを、２４はトリガ
部をそれぞれ示す。
第１図は、例えば第４図に示されるようなメモリレコー
ダを介して実施されるこの発明の一実施例としての処理
手順を示すツーチャートである。
ダを介して実施されるこの発明の一実施例としての処理
手順を示すツーチャートである。
同図によれば、ＲＯＭ２５に格納されている既存のソフ
トを用い、前記入カニニット１７を介して機器本体１１
に例えば第３図に各ポイント毎にχ、′χ２．・・・、
χ８′として示されている波形１の実測データが取り込
まれる。
トを用い、前記入カニニット１７を介して機器本体１１
に例えば第３図に各ポイント毎にχ、′χ２．・・・、
χ８′として示されている波形１の実測データが取り込
まれる。
このようにして波形１１の実測データが取り込まれた後
は、予め前記外部記憶媒体２０から機器本体１１の側に
ロードされている高調波測定のためのプログラムの実行
処理が行なわれる。
は、予め前記外部記憶媒体２０から機器本体１１の側に
ロードされている高調波測定のためのプログラムの実行
処理が行なわれる。
すなわち、外部記憶媒体２０から機器本体１１の側への
高調波測定のためのプログラムのロード処理を終えた後
は、まず、サンプリングポイント数Ｎ個に対応する補間
データを作成するための「−周期Ｎ個のサンプリングデ
ータ作成」のための処理が行なわれる。
高調波測定のためのプログラムのロード処理を終えた後
は、まず、サンプリングポイント数Ｎ個に対応する補間
データを作成するための「−周期Ｎ個のサンプリングデ
ータ作成」のための処理が行なわれる。
第２図は、この場合における「−周期Ｎ個のサンプリン
グデータ作成」のための処理手順の詳細を例示するもの
であり、まず、機器本体１１に一旦取り込まれた波形１
の実測データ（χ、−χ、−・・・χ、′）については
、その周期Ｔを求める処理がトリガ部２４を介してトリ
ガをかけるなどして行なわれる。
グデータ作成」のための処理手順の詳細を例示するもの
であり、まず、機器本体１１に一旦取り込まれた波形１
の実測データ（χ、−χ、−・・・χ、′）については
、その周期Ｔを求める処理がトリガ部２４を介してトリ
ガをかけるなどして行なわれる。
か（して、取り込まれている当該波形１の周期Ｔが求め
られた後は、サンプリングポイント数がＮ′個である実
測データ（χ３．χ２１・・・、χ、′）に基づき、例
えば線形補間法やスプライン補間法などの所定の補間法
を用いることで、関数ｆ （ｔ）を求める処理が行なわ
る。
られた後は、サンプリングポイント数がＮ′個である実
測データ（χ３．χ２１・・・、χ、′）に基づき、例
えば線形補間法やスプライン補間法などの所定の補間法
を用いることで、関数ｆ （ｔ）を求める処理が行なわ
る。
次いで、想定される一周期分の新たな全サンプリングポ
イント数Ｎで波形ｌの前記周期Ｔを除し、新たなサンプ
リングポイントのポイント間隔△Ｔを得るための処理が
行なわれる。
イント数Ｎで波形ｌの前記周期Ｔを除し、新たなサンプ
リングポイントのポイント間隔△Ｔを得るための処理が
行なわれる。
このようにして新たなサンプリングポイントのポイント
間隔ΔＴを得た後は、全てのサンプリングポイントにつ
き、対応する補間データを得るため、順次、第３図に１
，２．・・・、Ｎとして示される各該当ポイントの順位
（ｉ）と前記ポイント間隔ΔＴとの積算値を前記関数ｆ
（ｔ）に代入することで、補間データ（χ１．χ２．
・・・、χＮ）が−周期に合致させて順次作成される。
間隔ΔＴを得た後は、全てのサンプリングポイントにつ
き、対応する補間データを得るため、順次、第３図に１
，２．・・・、Ｎとして示される各該当ポイントの順位
（ｉ）と前記ポイント間隔ΔＴとの積算値を前記関数ｆ
（ｔ）に代入することで、補間データ（χ１．χ２．
・・・、χＮ）が−周期に合致させて順次作成される。
このようにして、−周期に合致させて新たに作成された
補間データχ８が得られるまで、同様の処理が繰り返し
行なわれ、第３図に太線で示されているＮ個からなる新
たな補間データ（χ１゜χ２．・・・、χＮ）を得るこ
とができる。
補間データχ８が得られるまで、同様の処理が繰り返し
行なわれ、第３図に太線で示されているＮ個からなる新
たな補間データ（χ１゜χ２．・・・、χＮ）を得るこ
とができる。
このようにして行なわれる一周期Ｎポイントに対応する
新たなサンプリングデータである補間データの作成処理
を終えた後は、Ｎポイントの補間データ（χ１．χ２．
・・・χＮ）についてのＦＦＴ演算処理が行なわれる。
新たなサンプリングデータである補間データの作成処理
を終えた後は、Ｎポイントの補間データ（χ１．χ２．
・・・χＮ）についてのＦＦＴ演算処理が行なわれる。
このよりなＦＦＴ演算処理により次数別の高調波を得、
その結果は、出力部１８であるデイスプレィに表示した
り、プリンタで印字したりして所要の出力処理が行なわ
れ、高調波の測定処理を終了する。
その結果は、出力部１８であるデイスプレィに表示した
り、プリンタで印字したりして所要の出力処理が行なわ
れ、高調波の測定処理を終了する。
この発明は、上述したようにして構成されているので、
取り込まれた波形の実測データ（Ｘｌ’。
取り込まれた波形の実測データ（Ｘｌ’。
χ２二・・・χ８′）が仮に一周期のサンプリングポイ
ント数（第３図におけるＮ）に合致せず、これを越えた
サンプリングポイント数（第３図におけるＮ′）となる
ことがあっても、これをＮ個の補間データ（χ１．χ２
．・・・χＮ）に変換することができる。
ント数（第３図におけるＮ）に合致せず、これを越えた
サンプリングポイント数（第３図におけるＮ′）となる
ことがあっても、これをＮ個の補間データ（χ１．χ２
．・・・χＮ）に変換することができる。
このため、既存タイプのメモリレコーダによっても、機
器本体１１に取り込まれた波形１の周波数分解能を実際
の基本波周波数に一致させることができるので、正しい
周波数の測定ができ、さらには、２の累乗個のサンプリ
ングポイントに対応して一周期ちょうどの補間データな
ＦＦＴ演算することができ、したがって、第８図にみら
れるようなりケージ誤差２をなくすることができる。
器本体１１に取り込まれた波形１の周波数分解能を実際
の基本波周波数に一致させることができるので、正しい
周波数の測定ができ、さらには、２の累乗個のサンプリ
ングポイントに対応して一周期ちょうどの補間データな
ＦＦＴ演算することができ、したがって、第８図にみら
れるようなりケージ誤差２をなくすることができる。
［発明の効果］
以上述べたようにこの発明によれば、従来タイプのメモ
リレコーダによっても、周波数分解能を実際の基本波周
波数に一致させることができるので、正しい周波数の測
定ができ、さらには、２の累乗個のサンプリングポイン
トに対応して一周期ちょうどの補間データを連続させて
ＦＦＴ演算することができ、リケージ誤差をなくするこ
とができる。
リレコーダによっても、周波数分解能を実際の基本波周
波数に一致させることができるので、正しい周波数の測
定ができ、さらには、２の累乗個のサンプリングポイン
トに対応して一周期ちょうどの補間データを連続させて
ＦＦＴ演算することができ、リケージ誤差をなくするこ
とができる。
第１図は、この発明の一実施例としての処理手順を示す
フローチャート、第２図は、外部記憶媒体を介して供給
される一周期に対応させた補間データを得るための処理
手順の一例を示すフローチャート、第３図は、実測デー
タとこの発明により得られる補間データとの間の対応関
係を示す説明図、第４図は、この発明の実施に供される
機器本体の概要を示すブロック図、第５図と第６図とは
、従来から行なわれている高調波測定手順を示す説明図
であり、このうち、第５図は、一周期分の時間波形を、
第６図は、フーリエ変換により求めた周波数成分をそれ
ぞれ示し、第７図は、従来のメモリレコーダにより取り
込まれる波形を例示する説明図、第８図は、その結果、
発生するりケージ誤差の状況を示す説明図である。 １１・・・機器本体、 １７・・・入カニニット、１
８・・・出力部、 ２０・・・外部記憶媒体第１図 第２図 第 図 第 図 第 図 各次高調波 第 図 第 図 第 図
フローチャート、第２図は、外部記憶媒体を介して供給
される一周期に対応させた補間データを得るための処理
手順の一例を示すフローチャート、第３図は、実測デー
タとこの発明により得られる補間データとの間の対応関
係を示す説明図、第４図は、この発明の実施に供される
機器本体の概要を示すブロック図、第５図と第６図とは
、従来から行なわれている高調波測定手順を示す説明図
であり、このうち、第５図は、一周期分の時間波形を、
第６図は、フーリエ変換により求めた周波数成分をそれ
ぞれ示し、第７図は、従来のメモリレコーダにより取り
込まれる波形を例示する説明図、第８図は、その結果、
発生するりケージ誤差の状況を示す説明図である。 １１・・・機器本体、 １７・・・入カニニット、１
８・・・出力部、 ２０・・・外部記憶媒体第１図 第２図 第 図 第 図 第 図 各次高調波 第 図 第 図 第 図
Claims (1)
- （１）機器本体との間で格納データの送受が可能に形成
された外部記憶媒体を備えてなるメモリレコーダにおい
て、 前記機器本体の側に取り込まれた波形については、前記
外部記憶媒体に格納されているプログラムに従い、まず
、その周期を求め、しかる後、前記波形との関係でサン
プリングされた複数個の実測データからその関数を求め
るとともに、想定される一周期分の全補間データ個数で
前記周期を除することによりポイント間隔を定め、この
ポイント間隔により規定される各サンプリングポイント
に対応する補間データは、該当するサンプリングポイン
トの順位と前記周波数分解能との積算値を前記関数に代
入することで一周期に合致するように順次作成した後、
各補間データをそれぞれＦＦＴ演算し、次数別に高調波
を得てこれを出力可能とすることを特徴とするメモリレ
コーダによる高調波測定方 法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12181790A JPH0416771A (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | メモリレコーダによる高調波測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12181790A JPH0416771A (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | メモリレコーダによる高調波測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0416771A true JPH0416771A (ja) | 1992-01-21 |
Family
ID=14820668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12181790A Pending JPH0416771A (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | メモリレコーダによる高調波測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0416771A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0682273A (ja) * | 1992-04-09 | 1994-03-22 | Hioki Ee Corp | Ｆｆｔ解析データの補間方法 |
| JP2010063169A (ja) * | 2005-06-13 | 2010-03-18 | Sony Corp | 画像処理装置および撮像装置 |
| JP2012112761A (ja) * | 2010-11-24 | 2012-06-14 | Yokogawa Electric Corp | 高調波成分測定装置 |
| JP2013053861A (ja) * | 2011-09-01 | 2013-03-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 周波数解析装置 |
| JPWO2015063943A1 (ja) * | 2013-11-01 | 2017-03-09 | インフォメティス株式会社 | 信号処理システム、信号処理方法および信号処理プログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63101767A (ja) * | 1986-10-20 | 1988-05-06 | Toshiba Corp | 波形解析方法 |
-
1990
- 1990-05-11 JP JP12181790A patent/JPH0416771A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63101767A (ja) * | 1986-10-20 | 1988-05-06 | Toshiba Corp | 波形解析方法 |
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| US10317438B2 (en) | 2013-11-01 | 2019-06-11 | Informetis Corporation | Signal processing system signal processing method and signal processing program for estimating operation conditions from pieces of current and voltage information of an electric device |
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