JPH0290082A - 物体への距離“ｈ”を検出する測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は物体の方向に周波数変調周期を呈する波を送信
する送信回路と、物体によって反射された波を受ける受
信回路と、送信された波及び受信された波間のビート周
波数の波を形成する混合回路と、表示器に距離“ｈ”の
情報を供給するビート周波数の波サンプルを処理する処
理素子とを具える物体への距離“ｈ”を検出する測定装
置に関するものである。

かかる測定装置は物体を大地として高度を測定する無線
ナビゲーションの分野に広く用いられている。その他の
用途としては、例えば、高炉における溶湯金属のレベル
の測定に用いることができる。

又、この種の測定装置は米国特許筒４．５６８．９３８
号明細占に記載されている。

ビート周波数の波サンプルを直接フーリエ変換するこの
測定装置は僅かな距離の測定には好適ではない。実際上
、周波数変調の各周期でビート信号の位相がジャンプし
てフーリエ変換により評価したスペクトルが劣化するの
を防止するためには、単一変調周期内に得られたビート
信号のサンプルのみを考慮する必要がある。僅かな距離
を測定するだめには周波数変調の急峻な傾斜を用いるこ
とを余儀なくされている。急峻な傾斜の変化を長く継続
し得ないため、少数のサンプルのみを処理することにな
る。この場合にはフーリエ変換は不充分である。

本発明の目的は距離“ｈ”の値が小さい場合に特に適用
し得る上述した種類の物体への距離“ｈ”を検出する測
定装置を提供せんとするにある。

本発明は物体の方向に周波数変調周期を呈する波を送信
する送信回路と、物体によって反射された波を受ける受
信回路と、送信された波及び受信された波間のビート周
波数の波を形成する混合回路と、表示器に距離“ｈ”の
情報を供給するビート周波数の波サンプルを処理する処
理素子とを具える物体への距離“ｈ”を検出する測定装
置において、前記処理素子は、可調整係数“ａｌ”にお
ける現在のサンプルの値を同一の変調周期に得られた“
ｐ”個の前のサンプルを基にして予測する手段と、予測
サンプル及び現在のサンプル間の誤り信号を決める誤り
検出手段と、誤り信号を最小にするように前記可調整係
数に影響を及ぼす調整手段と、前記可調整係数“ａ、”
を基にして前記ビート周波数の波サンプルのスペクトル
ラインを決めルスヘクトル密度計算手段と、前記スペク
トルラインを基にして前記表示器に供給すべき距離情報
を決める手段とを具えることを特徴とする。

図面につき本発明を説明する。

第１図に示すように本発明物体への距離“ｈ”を検出す
る測定装置ｌは大地２から高度“ｈ”の箇所に位置させ
る。この測定装置１は、極めて高い周波数の発振器５に
より形成される送信回路を具え、この発振器５には信号
発生器７によって発生された鋸歯波状信号を受信する周
波数コントローラを設ける。発振器５によって処理され
た波は送信アンテナＩＯを経て大地２に送信する。

受信回路は、まず第１に、大地２により反射された波を
受信する受信アンテナ２０及び２つの入力端子を有する
混合回路２２を具え、この混合回路の一方の入力端子を
受信アンテナ２０のフレアに接続し、他方の入力端子を
混合回路２２に対し送信された波の僅かな部分をサンプ
リングするカップラ２５を経て発振器５の出力側に接続
する。混合回路２２の出力側のビート周波数の波は１組
のサンプラブロッカ及びアナログ−デジタル変換器によ
ってデジタルサンプルに変換する。この１組を３０で示
す。この１組のサンプラーブロッカ及びアナログ−デジ
タル変換器によってプロセッサ素子３５を作動させ、こ
れによって表示器４０で用い得る情報を供給する。従っ
てその値“ｈ”をユーザに見え得るようにする。

本発明によれば、最も近くの反射を測定する装置はプロ
セッサ素子３５を具え、このプロセッサ素ｊ′−は次の
各手段を′具える。

・ｐ個の“ａＩ′可調整係数を有し、瞬時ｎ−ＴＳ（ｎ
は’Ｉ数、Ｔｓはサンプリング周期）のビート周波数の
波のサンプルｘ（ｎ）の予測であるサンプルｙ（ｎ）を
供給する予測手段、このサンプルｙ（ｎ）は同一の鋸歯
波状信号により得られたビート周波数の波の“ｐ”個の
前のサンプル、即ち、ｘ（ｎ−１）、ｘ　（ｎ　−２）
、−ｘ　（ｎ−ｐ）によって処理してこのサンプルを次
式で表わし得るようにする。；を測定する手段； ・予測サンプル及び現在のサンプル間に生じる誤り信号
ｅ（ｎ）を測定する誤り一測定手段、即ち、次式で示す
； ｅ（ｎ）＝＝ｘ（ｎ）−ｙ（ｎ）　　　（２）・誤り信
号を最小にするように係数“ａｌ”に影響を与える調整
手段、従って、例えば傾斜アルゴＪズムを用いると共に
係数を次式に従−）で反復調整する； ；１１ｎ″’＝＝ａ、−μｅ（ｎ）ｘ（ｎ−１）　　（
３）ここにｉ　＝　１−ｐ、μは傾斜ステップを示し、
従って、残留誤り信号の集束速度及び変化を測定する定
数である；一般にその値はＯ〈μくＩにあり、Ｄはこれ
を用いる瞬時を示す； ・電力〜密度スペクトル５（ｆ）を計算して次式に従い
計算して、係数８１を基にして形成したビート周波数の
波のサンプルのスペクトルライン（ｆ）ここにＪ”ｖ’
−１，ｆ＝ｍｆ、／Ｎ＝ｌＩｌ／Ｎ−Ｔｓ。

ｍはｌ／Ｎ−Ｔｓとは相違するＮ個のスペクトルライン
の数を表わす整数； ・スペクトル密度ライン（例えば最強の振幅を有するラ
インとすることができる）に基づいて表示器に供給すべ
き距離情報を測定する手段。

処理素子３５からの上述した手段はマイクロプロセッサ
装置５０を基にして形成する。従って、前記１組のサン
プラーブロッカ及びアナログ−デジタル変換器（３０）
によって供給されたデータをレジスタ５３により搬送し
、その３−状態出力端子をマイクロプロセッサ５０の共
通データラインｎＵｓＤに接続する。

１組のサンプラーブロッカ及びアナログ−デジタル変換
器（３０）によって処理されたデータはＡＮＤゲート６
０の出力側に現れるクロック周期でレジスタ５３に徐々
に記憶されるようになる。このゲルトロ０の２つの入力
端子のうちの一方に、クロック信号源６２からｌ／Ｔｓ
に等しいサンプル周波数１．を測定する信号を供給する
。又、他方の入力端子には、前記発生器７から取出され
、鋸歯状波を発生する期間Ｔ（第２図参照）には亘って
前記ゲート６０を導通ずる信号ＴＩＳを供給する。更に
、ゲート６０からの信号を、マイクロプロセッサ５０の
入力端子ＩＮＴに供給して割込みプログラムを開始して
、前記レジスタ５３を経て搬送されたサンプルをマイク
ロプロセッサ装置５０の内部メモリに記憶せしめるよう
にする。これによりマイクロプロセッサ５０はそのアド
レス符号ＢＵＳ＾の共通ラインに接続された復号器７０
を経てＬｌｌ信号を発生してレジスタ５３の出力側を導
通状態にし得るようにする。この復号器７０によってレ
ジスタ７５のＯＵＴ信号を発生し、このレジスタの入力
端子をＢＵＳＤラインに接続１５、出力端子を表示器４
０に接続する。マイクロプロセッサ装置５０によって前
記復号器７０を経てＴＳＷ信号を発生し、これによりフ
リップフロップ８０（３−状態）の出力側を導通状態と
する。このフリップフロップ８０はその入力端子に前記
発生器７からのＴＨ３信号を供給する。

これがため、このフリップフロップの出力信号ＳＷは鋸
歯波状信号の各始端でその状態を変化する。

本発明測定装置の作動を詳細に説明する前に、次の考察
を行う。

今、係数“ａ、”を適宜調整して誤り信号ｅ（ｎ）が最
小−エネルギーホワイト雑音を呈するものとする。又、
従って、Ｅ（Ｚ）をこの誤り信号ｅ（ｎ）のＺ変換とす
ると、次式で示す関係を得ることができる。

Ｅ（Ｚ）＊Ｅ（Ｚ−１）＝Ｋ”　　　　　（５）ここに
＊はフンボリューション（重畳積分）を示す。今、式（
２）のＺ変換を行うと、次式が得られるようになる。

Ｅ（Ｚ）＝Ｘ（Ｚ）−Ｈ（Ｚ）−Ｘ（Ｚ）　　　（６）
ここにＨ（Ｚ）は予測子の変換関数である。

Ｈ（Ｚ）＝−ａ、Ｚ−’−−−−−−ａ、Ｚ−ｐ　　（
５’）又、Ｘ（Ｚ）はサンプルｘ（ｎ）のＺ変換である
。

Ａ（Ｚ）が次式で示される関数であるものとすると、Ａ
（Ｚ）＝Ｅ（Ｚ）／Ｘ（Ｚ）　　　　（７）これに式（
６）及び（６′）を代入すると、次式が得られるように
なる。

式（７）を書換えると次式を得る。

Ｘ（Ｚ）＝Ｅ（Ｚ）／Ａ（Ｚ）　　　（９）この式と式
（５）とから、ＺをｅＪ＊ｔｒで置換して、スペクトル
密度５（ｆ）を求めると、次式を得ることができる。

５（ｆ）＝ｌＸ（ｆ）’Ｉ−に’／Ａ（ｆ）”　　　（
ｔｏ）関数５（ｆ）を係数ａｉの関数として容易に計算
する方法を後に示す表に記載する。

以下に本発明測定装置の作動を詳細に説明する。

第２図において、箇所ａに発振器５の出力信号の周波数
変化を示し、箇所すに混合回路２２の出力側のビート周
波数の波の振幅を示し、これらの箇所ａ及びｂの信号は
時間ｔの関数として示す。時間周期Ｔ（例えば６４μｓ
）中、発振器５からの波の周波数はｆ　、　＝　４．８
００Ｇ　Ｈｚから（、＝　４．８２５Ｇ　）ｌｚとなる
。

これと同様の変化は、時間周期ＴＲ（例えば１５０μｓ
）後に再び現れる。これらの信号変化を実線で示す。

周期でだけ推移した受信信号の周波数の変化は破線で示
す。この周期τは、次式で示すように距離“ｈ”に相当
する。

τ−２ｈ／ｃ　　　　　　　　　　　（１１）ここにＣ
は光速であり、混合回路２２の出力側の周波数「ｂと同
様に、次式による遅延τに接続されるようになる。

ｒｂｉ　ｒ　＝　（ｒ　、　−ｆ　、）／　Ｔ　　　　
　（１２）従って、距離“ｈ”は次式から得ることがで
きる。

ｈ　＝　（１／２）・ｆ　ｂ（ｒ”ｉ　　ｆ　−）　ｃ
　　　（１３）式（１３）のパラメータの全部が、定数
であるため、プロセッサ素子３５は距離“ｈ”を測定す
る値“ｒｂ”を決める必要がある。鋸歯波状信号の不連
続性のため、ビート周波数の波の位相コヒーレンスは確
実にはならない。これがため、第２図の箇所すでは、第
２鋸歯波状信号によって生じるビート周波数の波の位相
Φ８は、実際上、第１鋸南波状信号の終端におけるビー
ト周波数の波の位相Φ、に対し不連続性となる。この不
利な影響を防止するために、プロセッサ素子３５によっ
て上述した所に従ってプログラムを不連続とならないよ
うにする。従って、このプログラムを２部分に、即ち、
第１に、そのフローチャートが第３．４及び５図に示さ
れる処理プログラム、及び、第２に、そのフローチャー
トが第６図に示される割込みプログラムに分割する。

第３図のフローチャートは処理プログラムの初期化位相
に関するものである。このフローチャートのブロックＫ
。はマスクされた割込みを示す。即ち、プロセッサ装置
５０の入力端子ＩＮＴに供給される信号によるもこの初
期化位相を妨害せず、ブロックに、で予測子の初期値を
与え、メモリＡ（ｉ）の内容が式（８）の係数ａ、と同
一であることが容易に確認でき、従って、初期係数の全
部は、値“１″を有する係数ａ　（０）に含まれる係数
へ〇を除き、値“Ｏ”となる。ブロックに、はプログラ
ムに更に発生すると共にここでは詳細に説明する必要の
ない種々の変数の初期化を示す。この初期化位相は、割
込みマスキングの取消しを示し、即ち、入力端子ＩＮＴ
に供給される信号によりフローチャートが、第６図に示
される割込みプログラムを初期化するブロックに３で終
了する。

処理プログラムの位相を説明する前に、割込みプログラ
ムの作動を詳細に説明する。

割込みプログラムのこの部分は有効な信号が入力端子Ｉ
ＮＴに現れる際に開始されることをブロックＫｌｏに示
す。ブロックＫ　Ｉ　＋はトリが回路８０の内容のテス
トを示す。これらの内容は、ＴＳＩＩ信号の作動させな
がら、例えば初期化位相の経路において前に記録した信
号の値と比較する。このテストに対し値Ｓ買及びメモリ
ＣＷＳの内容間で排他的−ＯＲ演算を行う。この際の値
１は変化があったか否かを示す。変化があった場合には
ブロックＫＩ２に進む。このブロックＫ１１では新たな
値ＳＷを記憶し、ブロックＫ１１で割り込み計数器ＩＴ
Ｐを零値に設定し、次いで、ブロックＫＩ４で割込みプ
ログラムを終了する。

ブロックに、のテストが負（ノー）の場合には、即ち、
割込みが同一の鋸歯波状信号に正しく発生している場合
には、計数ｘ＋ｒｐ（ブロックに、、）によって割込み
を計数して、レジスタ５３のサンプルは、そのアドレス
がこの計数器ＩＴＰ　（ブロックに、ｌｌ）の関数とな
るテーブルＸ（！ＴＰ）に配列されるようになる。ブロ
ックに１□に示すテストによって、計数器が値ＩＭＡＸ
、例えば、６４に到達した瞬時にこの配列処理を停止す
る。これがため、割込みがマスクされ（ブロックに、、
）、処理プログラム（ブロックに、７）が復活する。

第４図に示す処理プログラムのフェーズは係数Ａ（１）
の決定に関連する。このフェーズが開始される前に、特
に計数器ＩＴＰの内容が予測子の順序Ｐに関連して検証
される場合にはテーブルＸ（＋　）のサンプルが充分で
あるか否かテストする。この際計数位置に到達しない場
合にはテストを繰返す。

計数位置に到達した場合には誤り信号を計算する処理を
開始する（式（２）及び（１）参照）。この誤り信号は
メモリＥＲＲに蓄積され、このメモリは使用する処理装
置の計数器とするのが有利である。この際、アーギュメ
ントＸ：Ｐ−用−４−Ｊを監視する必要があり、■を増
大すると常時後のサンプルを取消すようになり、Ｊによ
って最新のサンプルを最新の式に適用せしめるようにす
る。ブロック）（１１及びＫｔ３によって誤りのこの計
算をＰ個の順次のサンプルに対し停止する必要がある時
点を決めるようにする。

ブロックに、４では（係数Ａ（Ｔ）を修正するための訂
正項を計算する）訂正定数を、誤り信号の関数として計
算する。これら係数Ａ（１）の各々をアドレスするため
に用いるインデックスＩを初期化する（ブロックに２．
）。この訂正はブロックＫ　ｔｏに示す。ブロックに、
７Ｋ及びＫｔ、によって係ＨＡ（１）全部に対する訂正
処理を制御する。次いで、ブロックＬｓでインデックス
Ｊを１だけ増大する。その後ｘ（Ｉ）ノＩＭＡｘ値ノテ
ーブルがブロックに＋ｔ（第６図）に示されるテストと
一致して正しく処理されているかどうかをブロックＫ　
３０で検証する。正しく処理されている場合にはテーブ
ルＸ（Ｔ）のアーギュメン）Ｐ＋Ｊが記憶された値と一
致するかどうかをテストする（ブロックに、υ。一致し
ていない場合にはブロックに３．のテストをそれ自体ル
ーブバ、りして割込みプログラムを経て一致が生じるよ
うにする。これがため、ブロックに１．は誤り信号“ｅ
ｎ”を新たに計算するようになる。ブロックＫ　３０の
テストが正（イエス）の場合には、ブロックＫ　ｆｆ５
に進み、ここで割込みのマスキングを示す。この割込み
のマスキングはもはや処理プログラムの経路では妨害さ
れなくなる。

ブロックに、。で示す作動は解析速度に関連する変数Ｆ
Ｒが存在することを示す。ブロックに５１では式Ａ１１
（付表参照）の値“２πｆ”に等しくする必要がある値
ｐＨ＋を決める。ここで示された値ＦＲＢはｆｅ／Ｎに
等しくする必要があり、変数ＰＲはｍに等しくする必要
があり、次いで、基準テーブルにより影響される余弦を
計算しくブロックＫ　５２）、即ち、ｃｏｓＰＩＩｌに
対する種々の値があらかじめ決められ、かつ、計算され
た値円１１によって前記テーブルに従う余弦値のアドレ
スを発生させるようにする。次いで、この値を２倍して
（ブロックに、３）計算の処理で発生する定数ＫＰを構
成し得るようにする。

ブロックに５４では、ブロックに５．で示され、式Ａ＋
３が適用される計算を行う前に、インデックス１を零に
設定する。ブロックＫ　５６及びＫＳ？で示される演算
によって係数へ（１）の全部に対し式Ａ１３の計算を行
う。ブロックに、８は式ΔＩ４の計算を説明する。

ブロックＫ　ｓｉの値Ｓは式Ａ１５の値Ｘ（ｆ）に近付
ける必要がある。この値Ｓは、そのランクが値ＦＲによ
与えられるスペクトルラインの振幅を示す。メモリＳＭ
を用いてランクが値（ＰＲ，・・・ＦＭ）の間にある周
波数ラインの振幅の最大値を記憶し、メモリ１’ＲＭを
用いてこの最大値で与えられるランク値を記憶する（ブ
ロックＫ。。及びに８１参照）。この値がＦＲ＞　ＦＭ
の場合には、ブロックＫ　ａｔで示されるテストによっ
てブロックに、。に戻るループの処理を停止し、値ＦＭ
をレジスタ７５を経て表示器４０に供給する。これがた
め、ＯＵＴ信号は作動しくブロックＫ　８３）、これに
より、本発明の第１の変形例に従ってブロックに１に戻
り（矢印ＶＡＲＩ）、予測係数に対しゲｔ１又は０を常
時考慮して、種々のサンプルの他の処理作動を再び開始
する。他の変形例によればブロックＫ。

に戻り（矢印ＶＡＲ２）、特に、 値によって初期化する。

予測係数を前に決めた Ｘ（ｆ）の計算； ここにＺ＝ｃ””、　　ｆ　＝ｍ　ｆ、／ＮＡ（ｚ）＝
ｚ−’（（（−（ａｏｚ　Ｉａ　、）Ｚ＋ａ　、）ｚ＋
−・・＋　ａ　ｐ−＋）Ｚ　＋　ａ　ｐｌ　　　　　　
　（Ａ　２）ｒ、−＝ｒ、−、Ｚ十ａ、　　　　　（Ａ
３）ｒ　ＯｏａＯ 式（Ａ３）は次式のように書換えることができる。

ｒ　１＝　ｒ　ｒ−Ｈｅ　””＋　ａ　Ｉ（Ａ　４　）
又は ｒ　ｒ＝　ｒ　ｒ−Ｈｅ　”’＋ａ＋−＋　　　　（Ａ
５）或は ｒ、−’ｅ−””＝ｒ、−、＋ａ＋−、ｅ−””　　　
（八６）式（Ａ４）及び（Ａ６）の差を次式で示すよう
に得た。

ｒ　ｌｒ　１−Ｈｅ　−””＝　ａ　、ａ　ｒ−（ｅ−
’″”＋ｒ、。

。　・−ｒ、、　　　　　　　　（Ａ７）上式から次式
を得る。

ｒ　＋−ａ　Ｉａ　＋−＋ｅ　−””＋　２ｃ０８（２
ｆｆ　ｆ）ｒ　ｌ−１ｒ１１　　　　　　　　（Ａ８） ｒ　ｉ−Ｖ　ｒ　　ｅ　””’Ｖ　＋−＋　　　　（Ａ
　９　）とすると、 Ｖｌ　　ｅ””’ＶＩ−１＝ａｔ　　ａｔ−１６−””
＋２ｃｏｓ（２π’）　　（Ｖ　ｌ−１−６−Ｊｔｔ（
ｖＩ−１）（ｖｉ−ｙ−ｅ〜Ｊｉｌｔ■、−、）■、　
　、−Ｊｔｔｒｖ、−Ｉａ　ｌ＋　２ｃｏｓ（２πｆ　
）（Ｖ　Ｉ−Ｉ　　Ｖ　ｌ−ｆｆ１＋ｅ””（ａ　＋−
＋＋２ｃｏｓ（２πｆ　）ｖ　、−。

ｖ　ｌ−３）　　　　　　　　　　　（Ａ　ｔｏ）箸化
を行った所次式を得た。

ｖｉ＝ａｔ＋２ｃｏｓ（２７ｒ　ｆ）Ｖｚ−＋　　Ｖ　
＋−ｔ　　　（Ａｌ１）’　ｐ”　Ｖ　ｐ−ｅＪ″ｚｒ
ｖ、− Δ（Ｚ）ｌ　＝　ｌ　ｒｐｌ 従って次式を得る。

Ａ（Ｚ）ｌ”＝（ｖｐ　　ｃｏｓ（２πｆ　）　ｖ　Ｐ
−１）’＋（ｓｉｎ２πｆ　ｖ　、−＋）’ Ａ　（Ｚ）ｌ”＝　ｖ　’、＋　ｖ　ｔ、−、−２ｃｏ
ｓ（２π（）ｖ　。

ｖ　ｐ−＋　　　　　　　　　　　（Ａ　Ｉ２）アルゴ
リズムはランクｍの各ラインｆに対して２段で処理する
ことができる。

第１段：初期条件として次式を得た。

ｖ−＝Ｏ ｖ、、＝０ 第２段：ｐ係数の全部に対し、次式を得た。

ｉ−０，・・・ｐ、とすると、 ｖ　ｒ＝　ａ　ｌ＋　２ｃｏｓ（２πｍ）ｖ　ｐ　　ｖ
　ｐ−＋　　　（Ａｌ１）Δ（ｆ　）ｌ”　ｖ　’ｐ＋
　ｖ　”ｐ−＋−２ｃｏｓ（２πｆ　）ｖ　ｐｖ　ｐ−
＋　　　　（Ａ　１４） 第２段二 ランクｍの各ラインｆに対し、 Ｘ（ｆ）ビー１／１Δ（ｆ）１″ 次式の演算を行う。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明は物体への距離“ｈ“を検出する測定装
置の１例を示す構成配置図、 第２図は送信された波の周波数変化及びビート周波数の
波の形成状態を示す波形図、 第３．４及び５図は、夫々本発明により用いられる処理
プログラムのフローチャートを示す説明図、第６図は本
発明により用いられる割込みプログラムのフローチャー
トを示す説明図である。 レジスタ、６０　・・・ クロック発生器 復号器、　７５　・・・ フリノブフロノブ ＡＮＤゲート レジスタ １　・・・　物体への距離“ｈ“を検出する測定装置２
　・・・　大地、　５　・・・　発振器７　・・・　ク
ロック発生器 ＩＯ・・・　送信アンテナ ２０　・・・　受信アンテナ ２２　・・・　混合回路、　２５　・・・　カブラ３０
　・・・　サンプラーブロック兼アナログ−デジタル変
換器

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、物体の方向に周波数変調周期を呈する波を送信する
   送信回路と、物体によって反射された波を受ける受信回
   路と、送信された波及び受信された波間のビート周波数
   の波を形成する混合回路と、表示器に距離“ｈ”の情報
   を供給するビート周波数の波サンプルを処理する処理素
   子とを具える物体への距離“ｈ”を検出する測定装置に
   おいて、前記処理素子は、可調整係数“ａ＿１”におけ
   る現在のサンプルの値を同一の変調周期に得られた“ｐ
   ”個の前のサンプルを基にして予測する手段と、予測サ
   ンプル及び現在のサンプル間の誤り信号を決める誤り検
   出手段と、誤り信号を最小にするように前記可調整係数
   に影響を及ぼす調整手段と、前記可調整係数“ａ＿１”
   を基にして前記ビート周波数の波サンプルのスペクトル
   ラインを決めるスペクトル密度計算手段と、前記スペク
   トルラインを基にして前記表示器に供給すべき距離情報
   を決める手段とを具えることを特徴とする物体への距離
   “ｈ”を検出する測定装置。 ２、前記可調整係数“ａ＿１”の初期値を含み、これを
   基にして前記調整手段を作動し得る記憶手段を具え、前
   記変調周期の全部に対しこれら初期値を同一としたこと
   を特徴とする請求項１に記載の物体への距離“ｈ”を検
   出する測定装置。 ３、前記可調整係数“ａ＿１”の初期値を含み、これを
   基にして前記調整手段を作動し得る記憶手段を具え、前
   記初期値を前の変調周期の終わりに得られた可調整係数
   ａ＿１の値としたことを特徴とする請求項１に記載の物
   体への距離“ｈ”を検出する測定装置。