JP2013053861A - 周波数解析装置 - Google Patents
周波数解析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013053861A JP2013053861A JP2011190429A JP2011190429A JP2013053861A JP 2013053861 A JP2013053861 A JP 2013053861A JP 2011190429 A JP2011190429 A JP 2011190429A JP 2011190429 A JP2011190429 A JP 2011190429A JP 2013053861 A JP2013053861 A JP 2013053861A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- sampling
- unit
- discrete fourier
- correction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】入力信号を所定周波数と同期する間隔で所定周期分、サンプリングするサンプリング部と、入力信号の周波数を決定する周波数決定部と、周波数決定部で決定された周波数に基づいてサンプリング部により得られたサンプリングデータのサンプル数を補正するサンプル数補正部と、サンプル数が補正されたサンプリングデータと周波数決定部で決定された周波数に基づいて、台形近似補正を行って離散フーリエ変換を行う離散フーリエ変換演算部と、を有する周波数解析装置である。
【選択図】図2
Description
しかしながら、測定対象信号の周波数がfsyncとは異なり、f’である場合、サンプリング周波数fsは固定されているため、非同期サンプリングとなる。
算出した位相差をそれぞれ2π/fsyncで割ることで周波数を算出する。複数の位相差データがある場合には、それぞれの位相差データから算出した周波数の平均値を決定周波数として算出してもよい。
110 サンプリング部
120 周波数決定部
130 サンプル数補正部
140 フーリエ変換演算部
Claims (7)
- 入力信号を所定周波数と同期する間隔で所定周期分、サンプリングするサンプリング部と、
入力信号の周波数を決定する周波数決定部と、
前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて前記サンプリング部により得られたサンプリングデータのサンプル数を補正するサンプル数補正部と、
サンプル数が補正されたサンプリングデータと前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて、台形近似補正を行って離散フーリエ変換演算を行う離散フーリエ変換演算部と、
を有する周波数解析装置。 - 前記サンプル数補正部は、決定周波数が所定周波数より高い場合は、決定周波数における所定周期分または所定周期分以下のサンプル数となるように、サンプリングデータからサンプルを削除し、決定周波数が所定周波数より低い場合には、決定周波数における所定周期分以下のサンプル数となるようにサンプルを削除する、
請求項1記載の周波数解析装置。 - 前記離散フーリエ変換演算部は、
所定周波数と、前記所定周波数によるサンプリング区間、前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて、補正後のサンプリング区間を算出するサンプリング区間補正部と、
補正後のサンプリング区間に基づいて離散フーリエ変換の回転子を補正する回転子補正部と、
サンプリング区間と補正後のサンプリング区間との間で生じるサンプリング区間合計の差異分について台形近似補正を行うエンド補正部と、
前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて振幅を補正する振幅補正部と、
を有することを特徴とする請求項1記載の周波数解析装置。 - 前記周波数決定部は、
前記入力信号の周波数を測定して周波数を決定することを特徴とする請求項1記載の周波数解析装置。 - 前記周波数決定部は、
前記サンプリング部がサンプリングしたサンプリングデータに基づいて離散フーリエ変換を行って位相を算出して周波数を計算して、入力信号の周波数として決定することを特徴とする請求項1記載の周波数解析装置。 - 前記周波数決定部は、
前記サンプリング部がサンプリングしたサンプリングデータに基づいて離散フーリエ変換を行って位相を算出し、周波数を計算する第一周波数演算部と、
前記第一周波数演算部で得られた第一周波数に基づいて、前記サンプリング部がサンプリングしたサンプリングデータのサンプル数を補正し、前記第一周波数、補正サンプル数及び前記サンプリングデータに基づいて、台形近似補正を行って離散フーリエ変換を演算し、周波数を算出する第二周波数演算部と、
を有する請求項1記載の周波数解析装置。 - 前記第二周波数演算部は、
前記第一周波数演算部で算出された周波数に基づいて前記サンプリング部により得られたサンプリングデータのサンプル数を補正するサンプル数補正部と、
前記第一周波数、補正サンプル数及び前記サンプリングデータに基づいて、台形近似補正を行って離散フーリエ変換を演算し、位相を算出する離散フーリエ演算部と、
前記離散フーリエ演算部で算出された位相より算出される、各周期の位相差に基づいて周波数を算出する周波数計算部と、
を有する請求項6記載の周波数解析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011190429A JP5777102B2 (ja) | 2011-09-01 | 2011-09-01 | 周波数解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011190429A JP5777102B2 (ja) | 2011-09-01 | 2011-09-01 | 周波数解析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013053861A true JP2013053861A (ja) | 2013-03-21 |
JP5777102B2 JP5777102B2 (ja) | 2015-09-09 |
Family
ID=48130992
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011190429A Active JP5777102B2 (ja) | 2011-09-01 | 2011-09-01 | 周波数解析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5777102B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160132583A (ko) * | 2015-05-11 | 2016-11-21 | 전자부품연구원 | 가변 샘플링 포인트 이산 푸리에 변환 기반의 위상 추정 장치 |
CN106405235A (zh) * | 2016-10-17 | 2017-02-15 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 一种频谱分析仪及其数据处理方法 |
JPWO2015063943A1 (ja) * | 2013-11-01 | 2017-03-09 | インフォメティス株式会社 | 信号処理システム、信号処理方法および信号処理プログラム |
EP3199956A1 (en) * | 2016-01-28 | 2017-08-02 | General Electric Technology GmbH | Apparatus for determination of the frequency of an electrical signal and associated method |
CN113076879A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-06 | 合肥工业大学 | 一种基于随机子空间的非同步采样结构模态参数识别方法 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01151400A (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スピーカの高調波歪測定方法 |
JPH0416771A (ja) * | 1990-05-11 | 1992-01-21 | Hioki Ee Corp | メモリレコーダによる高調波測定方法 |
JPH06197327A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Canon Inc | 画像符号化装置 |
JPH11311605A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Shimadzu Corp | 高周波グロー放電発光分光分析における光干渉補正方法 |
JP2000055949A (ja) * | 1998-08-10 | 2000-02-25 | Hitachi Building Systems Co Ltd | 周波数分析方法及び周波数分析装置 |
US20040122608A1 (en) * | 2001-12-31 | 2004-06-24 | Levin Harold J. | DFT leakage removal for non-coherently sampled signals |
JP2005017170A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路の検査方法 |
JP2008254729A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-23 | Ford Global Technologies Llc | 自動車のステアリング装置における周期的外乱の検出方法、及びその周期的外乱の補償方法 |
JP2010288254A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-12-24 | Toshiba Design & Manufacturing Service Corp | 画像補間装置および画像補間プログラム |
JP2011047839A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Hitachi Ltd | ベクトル計測装置,ベクトル計測システム及びベクトル計測方法 |
-
2011
- 2011-09-01 JP JP2011190429A patent/JP5777102B2/ja active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01151400A (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スピーカの高調波歪測定方法 |
JPH0416771A (ja) * | 1990-05-11 | 1992-01-21 | Hioki Ee Corp | メモリレコーダによる高調波測定方法 |
JPH06197327A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Canon Inc | 画像符号化装置 |
JPH11311605A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Shimadzu Corp | 高周波グロー放電発光分光分析における光干渉補正方法 |
JP2000055949A (ja) * | 1998-08-10 | 2000-02-25 | Hitachi Building Systems Co Ltd | 周波数分析方法及び周波数分析装置 |
US20040122608A1 (en) * | 2001-12-31 | 2004-06-24 | Levin Harold J. | DFT leakage removal for non-coherently sampled signals |
JP2005017170A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路の検査方法 |
JP2008254729A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-23 | Ford Global Technologies Llc | 自動車のステアリング装置における周期的外乱の検出方法、及びその周期的外乱の補償方法 |
JP2010288254A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-12-24 | Toshiba Design & Manufacturing Service Corp | 画像補間装置および画像補間プログラム |
JP2011047839A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Hitachi Ltd | ベクトル計測装置,ベクトル計測システム及びベクトル計測方法 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2015063943A1 (ja) * | 2013-11-01 | 2017-03-09 | インフォメティス株式会社 | 信号処理システム、信号処理方法および信号処理プログラム |
US10317438B2 (en) | 2013-11-01 | 2019-06-11 | Informetis Corporation | Signal processing system signal processing method and signal processing program for estimating operation conditions from pieces of current and voltage information of an electric device |
KR20160132583A (ko) * | 2015-05-11 | 2016-11-21 | 전자부품연구원 | 가변 샘플링 포인트 이산 푸리에 변환 기반의 위상 추정 장치 |
KR101714480B1 (ko) * | 2015-05-11 | 2017-03-09 | 전자부품연구원 | 가변 샘플링 포인트 이산 푸리에 변환 기반의 위상 추정 장치 |
EP3199956A1 (en) * | 2016-01-28 | 2017-08-02 | General Electric Technology GmbH | Apparatus for determination of the frequency of an electrical signal and associated method |
US10527659B2 (en) | 2016-01-28 | 2020-01-07 | General Electric Technology Gmbh | Apparatus for determination of the frequency of an electrical signal and associated methods |
CN106405235A (zh) * | 2016-10-17 | 2017-02-15 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 一种频谱分析仪及其数据处理方法 |
CN106405235B (zh) * | 2016-10-17 | 2019-09-10 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 一种频谱分析仪及其数据处理方法 |
CN113076879A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-06 | 合肥工业大学 | 一种基于随机子空间的非同步采样结构模态参数识别方法 |
CN113076879B (zh) * | 2021-04-06 | 2022-08-30 | 合肥工业大学 | 一种基于随机子空间的非同步采样结构模态参数识别方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5777102B2 (ja) | 2015-09-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5777102B2 (ja) | 周波数解析装置 | |
US8290032B2 (en) | Distortion identification apparatus, test system, recording medium and distortion identification method | |
US7161515B2 (en) | Calibration system and method for a linearity corrector using filter products | |
US7541958B2 (en) | Error reduction for parallel, time-interleaved analog-to-digital converter | |
JP3745962B2 (ja) | インターリーブad変換方式波形ディジタイザ装置、及び試験装置 | |
JP2014103671A (ja) | Rf信号源の校正方法及び振幅平坦及び位相リニアリティ校正器 | |
CN109581018B (zh) | 宽带取样示波器时基误差同步补偿方法及装置 | |
US7538708B2 (en) | Efficient, selective error reduction for parallel, time-interleaved analog-to-digital converter | |
US8358682B2 (en) | Signal processing apparatus, test system, distortion detecting apparatus, signal compensation apparatus, analytic signal generating apparatus, recording medium and analytic signal generating method | |
CN109374966A (zh) | 一种电网频率估计方法 | |
CN107766293B (zh) | 部分采样数据规则性缺失时的信号频谱分析方法及系统 | |
US10474775B2 (en) | Method and system for modeling an electronic device under test (DUT) using a kernel method | |
US6525523B1 (en) | Jitter measurement apparatus and its method | |
KR101423653B1 (ko) | 측정 장치 및 측정 방법 | |
JP6090000B2 (ja) | 周波数解析装置 | |
Serov et al. | Reseach of influency of mains frequency deviation on voltage spectrum measurement error by DFT method | |
JP5852935B2 (ja) | 伝達関数推定装置、伝達関数推定方法、および、伝達関数推定プログラム | |
JP2011080986A (ja) | フェーザ計測装置 | |
US20040161028A1 (en) | Method and apparatus for use in DSP-based testing | |
JP5376395B2 (ja) | 波形測定装置 | |
JP5524277B2 (ja) | 信号処理装置および信号処理方法 | |
US8046396B2 (en) | Residual Fourier-padding interpolation for instrumentation and measurement | |
US6873923B1 (en) | Systems and methods for performing analysis of a multi-tone signal | |
KR101916820B1 (ko) | 주파수 측정장치 및 그 방법 | |
CN110068728B (zh) | 确定脉冲调制信号相位谱的方法、装置及计算机设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140312 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141113 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141125 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150109 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150630 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150701 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5777102 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |