JP2982419B2 - 設計支援装置 - Google Patents
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- JP2982419B2 JP2982419B2 JP3230162A JP23016291A JP2982419B2 JP 2982419 B2 JP2982419 B2 JP 2982419B2 JP 3230162 A JP3230162 A JP 3230162A JP 23016291 A JP23016291 A JP 23016291A JP 2982419 B2 JP2982419 B2 JP 2982419B2
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- JP
- Japan
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- frequency
- defining
- electronic circuit
- test waveform
- analysis
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子回路の機能の正否
を判定するための設計支援装置に関し、特に電子回路の
位相特性を容易にしかも正確に測定する設計支援装置に
関する。
を判定するための設計支援装置に関し、特に電子回路の
位相特性を容易にしかも正確に測定する設計支援装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】近年、高機能な映像音響機器のデジタル
化にともない、厳密な周波数特性が電子回路に要求され
ており、その一つとして、入出力信号の振幅のゲインの
特性のみでなく、位相特性も厳密な特性を持つことが要
求される場合が多い。そのような回路の設計検証は従
来、種々の周波数の正弦波を電子回路に入力し、その出
力の正弦波の位相を求め、入力信号の位相と出力信号の
位相とから位相差を算出する作業を行い、観測してい
た。
化にともない、厳密な周波数特性が電子回路に要求され
ており、その一つとして、入出力信号の振幅のゲインの
特性のみでなく、位相特性も厳密な特性を持つことが要
求される場合が多い。そのような回路の設計検証は従
来、種々の周波数の正弦波を電子回路に入力し、その出
力の正弦波の位相を求め、入力信号の位相と出力信号の
位相とから位相差を算出する作業を行い、観測してい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような、正弦波の入力に対する出力の観測の繰り返しで
は、十分な分解能で分析を行うためには、多大の手間が
かかるという課題点を有していた。また、上記のような
方法では、微少振幅の入力の場合は出力波形に多量の量
子化演算ノイズが含まれるので、出力波形は多くの周波
数を含むことになり、出力波形の入力周波数のみの位相
値を定量的にとらえる事が困難であるという課題を有し
ていた。
ような、正弦波の入力に対する出力の観測の繰り返しで
は、十分な分解能で分析を行うためには、多大の手間が
かかるという課題点を有していた。また、上記のような
方法では、微少振幅の入力の場合は出力波形に多量の量
子化演算ノイズが含まれるので、出力波形は多くの周波
数を含むことになり、出力波形の入力周波数のみの位相
値を定量的にとらえる事が困難であるという課題を有し
ていた。
【0004】本発明は、上記課題に鑑み、電子回路の周
波数応答において、入力信号に対する電子回路の位相特
性を容易にしかも正確に測定する設計支援装置を提供す
るものである。
波数応答において、入力信号に対する電子回路の位相特
性を容易にしかも正確に測定する設計支援装置を提供す
るものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の設計支援装置は、電子回路に入力するテスト
波形の振幅を規定する振幅規定装置と、上記電子回路に
入力するテスト波形の周波数を規定し、規定が完了する
と規定完了信号を発する周波数規定装置と、上記規定完
了信号を検出した場合、上記振幅規定装置によって規定
された振幅と、上記周波数規定装置によって規定された
周波数をもつテスト波形を発生し、該テスト波形の位相
値を逐次出力し、さらに該テスト波形を上記電子回路に
入力する、周波数発振装置と、上記周波数発振装置から
入力されたテスト波形に対して、上記電子回路が所望の
出力波形を発するまでの時間の遅れを表す遅延量を規定
する、遅延量規定装置と、上記周波数規定装置が発する
規定完了信号を検出した場合、上記遅延量規定装置で規
定された遅延量分の時刻経過後に分析開始信号を発す
る、分析開始信号発生装置と、上記分析開始信号を検出
した場合、上記周波数発振装置によって入力されたテス
ト波形に対する上記電子回路の出力波形を周波数成分ご
とに分解する周波数分析を開始する周波数分析装置と、
上記周波数分析終了後に、上記周波数分析装置によって
分解された周波数成分の中から上記周波数規定装置によ
って現在規定されている周波数の周波数成分を抽出し、
該抽出された成分の位相値と、上記周波数発振装置から
発せられているテスト波形の、上記分析開始信号の発せ
られた時刻における位相値との位相差を算出する位相差
算出装置と、上記周波数規定装置によって現在規定され
ている周波数と上記位相差算出装置によって算出された
位相差の値を表示するための処理を行い、その後、上記
周波数規定装置に対し新たな周波数を規定する事を促す
ために分析終了信号を発する位相特性表示装置とを備
え、上記周波数規定装置の内部に、上記電子回路に入力
するテスト波形の下限周波数を規定する下限周波数規定
装置と、上記電子回路に入力するテスト波形の上限周波
数を規定する上限周波数規定装置と、上記下限周波数規
定装置によって規定された下限周波数と、上記上限周波
数規定装置によって規定された上限周波数との間を等分
割するような周波数幅を規定する周波数分解能規定装置
とを備えたものである。
に本発明の設計支援装置は、電子回路に入力するテスト
波形の振幅を規定する振幅規定装置と、上記電子回路に
入力するテスト波形の周波数を規定し、規定が完了する
と規定完了信号を発する周波数規定装置と、上記規定完
了信号を検出した場合、上記振幅規定装置によって規定
された振幅と、上記周波数規定装置によって規定された
周波数をもつテスト波形を発生し、該テスト波形の位相
値を逐次出力し、さらに該テスト波形を上記電子回路に
入力する、周波数発振装置と、上記周波数発振装置から
入力されたテスト波形に対して、上記電子回路が所望の
出力波形を発するまでの時間の遅れを表す遅延量を規定
する、遅延量規定装置と、上記周波数規定装置が発する
規定完了信号を検出した場合、上記遅延量規定装置で規
定された遅延量分の時刻経過後に分析開始信号を発す
る、分析開始信号発生装置と、上記分析開始信号を検出
した場合、上記周波数発振装置によって入力されたテス
ト波形に対する上記電子回路の出力波形を周波数成分ご
とに分解する周波数分析を開始する周波数分析装置と、
上記周波数分析終了後に、上記周波数分析装置によって
分解された周波数成分の中から上記周波数規定装置によ
って現在規定されている周波数の周波数成分を抽出し、
該抽出された成分の位相値と、上記周波数発振装置から
発せられているテスト波形の、上記分析開始信号の発せ
られた時刻における位相値との位相差を算出する位相差
算出装置と、上記周波数規定装置によって現在規定され
ている周波数と上記位相差算出装置によって算出された
位相差の値を表示するための処理を行い、その後、上記
周波数規定装置に対し新たな周波数を規定する事を促す
ために分析終了信号を発する位相特性表示装置とを備
え、上記周波数規定装置の内部に、上記電子回路に入力
するテスト波形の下限周波数を規定する下限周波数規定
装置と、上記電子回路に入力するテスト波形の上限周波
数を規定する上限周波数規定装置と、上記下限周波数規
定装置によって規定された下限周波数と、上記上限周波
数規定装置によって規定された上限周波数との間を等分
割するような周波数幅を規定する周波数分解能規定装置
とを備えたものである。
【0006】
【作用】本発明は上記した構成によって、まず、電子回
路に入力するテスト波形の振幅を上記振幅規定装置によ
って規定し、電子回路に入力するテスト波形の下限周波
数を上記下限周波数規定装置によって規定し、電子回路
に入力するテスト波形の上限周波数を上記上限周波数規
定装置によって規定し、上記規定された下限周波数と、
上限周波数との間を等分割するような周波数幅を上記周
波数分解能規定装置によって規定する。上記周波数規定
装置では、まず最初は、上記下限周波数規定装置によっ
て規定された周波数を設定し、規定完了信号を発する。
周波数発振装置では、上記周波数規定装置から規定完了
信号を受け取ると、上記、周波数規定装置によって規定
された周波数と、上記振幅規定装置によって規定された
振幅値をもったテスト波形を生成し、該テスト波形の位
相値を逐次出力し、さらに該テスト波形を上記電子回路
に入力する。一方、上記周波数発振装置から入力された
テスト波形に対して、上記電子回路が所望の出力波形を
発するまでの時間の遅れを表す遅延量を、遅延量規定装
置で規定し、該規定された遅延量を分析開始信号発生装
置に送る。この遅延量は厳密な遅延量である必要はな
く、対象となる電子回路の出力信号が安定するまでの過
渡的な状態の時間の長さのおおよその値を規定すればよ
い。上記分析開始信号発生装置では、上記周波数規定装
置が発する規定完了信号を検出した場合、上記遅延量規
定装置で規定された遅延量分の時刻経過後に分析開始信
号を発する。上記周波数分析装置では、上記分析開始信
号発生装置から分析開始信号を受け取ると、電子回路か
らの出力波形を、周波数成分ごとに分解する周波数分析
を開始する。該周波数分析が終了すると、位相差算出装
置では、上記周波数分析装置によって分解された周波数
成分の中から上記周波数規定装置によって現在規定され
ている周波数に対する周波数成分を抽出し、該抽出され
た成分の位相値と、上記周波数発振装置から発せられて
いるテスト波形の、上記分析開始信号の発せられた時刻
における位相値との位相差を算出する。算出された位相
差は、上記位相特性表示装置に伝達され、上記位相特性
表示装置では、上記周波数規定装置によって、現在規定
されている周波数と上記位相差算出装置によって算出さ
れた位相差の値を表示するための処理を行い、その後、
上記周波数規定装置に対し新たな周波数を規定する事を
促すために分析終了信号を発する。
路に入力するテスト波形の振幅を上記振幅規定装置によ
って規定し、電子回路に入力するテスト波形の下限周波
数を上記下限周波数規定装置によって規定し、電子回路
に入力するテスト波形の上限周波数を上記上限周波数規
定装置によって規定し、上記規定された下限周波数と、
上限周波数との間を等分割するような周波数幅を上記周
波数分解能規定装置によって規定する。上記周波数規定
装置では、まず最初は、上記下限周波数規定装置によっ
て規定された周波数を設定し、規定完了信号を発する。
周波数発振装置では、上記周波数規定装置から規定完了
信号を受け取ると、上記、周波数規定装置によって規定
された周波数と、上記振幅規定装置によって規定された
振幅値をもったテスト波形を生成し、該テスト波形の位
相値を逐次出力し、さらに該テスト波形を上記電子回路
に入力する。一方、上記周波数発振装置から入力された
テスト波形に対して、上記電子回路が所望の出力波形を
発するまでの時間の遅れを表す遅延量を、遅延量規定装
置で規定し、該規定された遅延量を分析開始信号発生装
置に送る。この遅延量は厳密な遅延量である必要はな
く、対象となる電子回路の出力信号が安定するまでの過
渡的な状態の時間の長さのおおよその値を規定すればよ
い。上記分析開始信号発生装置では、上記周波数規定装
置が発する規定完了信号を検出した場合、上記遅延量規
定装置で規定された遅延量分の時刻経過後に分析開始信
号を発する。上記周波数分析装置では、上記分析開始信
号発生装置から分析開始信号を受け取ると、電子回路か
らの出力波形を、周波数成分ごとに分解する周波数分析
を開始する。該周波数分析が終了すると、位相差算出装
置では、上記周波数分析装置によって分解された周波数
成分の中から上記周波数規定装置によって現在規定され
ている周波数に対する周波数成分を抽出し、該抽出され
た成分の位相値と、上記周波数発振装置から発せられて
いるテスト波形の、上記分析開始信号の発せられた時刻
における位相値との位相差を算出する。算出された位相
差は、上記位相特性表示装置に伝達され、上記位相特性
表示装置では、上記周波数規定装置によって、現在規定
されている周波数と上記位相差算出装置によって算出さ
れた位相差の値を表示するための処理を行い、その後、
上記周波数規定装置に対し新たな周波数を規定する事を
促すために分析終了信号を発する。
【0007】上記周波数規定装置では、分析終了信号を
検出した場合、現在設定されている周波数に上記周波数
分解能規定装置によって規定された周波数幅を加算した
周波数を新たに設定し、規定完了信号を発し、上に示し
た処理を繰り返す。上記周波数規定装置では、分析終了
信号を検出し、現在設定されている周波数に上記周波数
分解能規定装置によって規定された周波数幅を加算した
周波数が、上記上限周波数規定装置によって規定された
値を越えた場合、全ての装置の動作を終了する。
検出した場合、現在設定されている周波数に上記周波数
分解能規定装置によって規定された周波数幅を加算した
周波数を新たに設定し、規定完了信号を発し、上に示し
た処理を繰り返す。上記周波数規定装置では、分析終了
信号を検出し、現在設定されている周波数に上記周波数
分解能規定装置によって規定された周波数幅を加算した
周波数が、上記上限周波数規定装置によって規定された
値を越えた場合、全ての装置の動作を終了する。
【0008】以上の処理を行うことによって、電子回路
の位相特性を容易にしかも正確に測定する事が可能とな
る。
の位相特性を容易にしかも正確に測定する事が可能とな
る。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例の設計支援装置につ
いて、図面を参照しながら説明する。
いて、図面を参照しながら説明する。
【0010】(図1)は、本発明の第1の実施例におけ
る設計支援装置の構成図である。(図1)において、10
は、電子回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振
幅規定装置、11は、電子回路に入力するテスト波形の周
波数を規定し、規定が完了すると規定完了信号を発する
周波数規定装置、12は、規定完了信号を検出した場合、
上記振幅規定装置10によって規定された振幅と、上記周
波数規定装置11によって規定された周波数をもつテスト
波形を発生し、該テスト波形の位相値を逐次出力し、さ
らに該テスト波形を上記電子回路に入力する、周波数発
振装置、13は、対象となる電子回路、14は、上記周波数
発振装置12から入力されたテスト波形に対して、上記電
子回路13が所望の出力波形を出力するまでの時間の遅れ
を表す遅延量を規定する、遅延量規定装置、15は、上記
周波数規定装置11が発する規定完了信号を検出した場
合、上記遅延量規定装置14で規定された遅延量分の時刻
経過後に分析開始信号を発する、分析開始信号発生装
置、16は、上記分析開始信号を検出した場合、上記周波
数発振装置12によって入力されたテスト波形に対する上
記電子回路13の出力波形を周波数成分ごとに分解する周
波数分析を開始する周波数分析装置、17は、上記周波数
分析終了後に、上記周波数分析装置16によって分解され
た周波数成分の中から上記周波数規定装置11によって現
在規定されている周波数の周波数成分を抽出し、該抽出
された成分の位相値と、上記周波数発振装置12から発せ
られているテスト波形の、上記分析開始信号の発せられ
た時刻における位相値との位相差を算出する位相差算出
装置、18は、周波数規定装置11によって現在規定されて
いる周波数と上記位相差算出装置17によって算出された
位相差の値を表示するための処理を行い、その後上記周
波数規定装置11に対し新たな周波数を規定する事を促す
ために分析終了信号を発する、位相特性表示装置、19
は、電子回路13に入力するテスト波形の下限周波数を規
定する下限周波数規定装置、20は、電子回路13に入力す
るテスト波形の上限周波数を規定する上限周波数規定装
置、21は、上記下限周波数規定装置19によって規定され
た下限周波数と、上記上限周波数規定装置20によって規
定された上限周波数との間を等分割するような周波数幅
を規定する周波数分解能規定装置である。
る設計支援装置の構成図である。(図1)において、10
は、電子回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振
幅規定装置、11は、電子回路に入力するテスト波形の周
波数を規定し、規定が完了すると規定完了信号を発する
周波数規定装置、12は、規定完了信号を検出した場合、
上記振幅規定装置10によって規定された振幅と、上記周
波数規定装置11によって規定された周波数をもつテスト
波形を発生し、該テスト波形の位相値を逐次出力し、さ
らに該テスト波形を上記電子回路に入力する、周波数発
振装置、13は、対象となる電子回路、14は、上記周波数
発振装置12から入力されたテスト波形に対して、上記電
子回路13が所望の出力波形を出力するまでの時間の遅れ
を表す遅延量を規定する、遅延量規定装置、15は、上記
周波数規定装置11が発する規定完了信号を検出した場
合、上記遅延量規定装置14で規定された遅延量分の時刻
経過後に分析開始信号を発する、分析開始信号発生装
置、16は、上記分析開始信号を検出した場合、上記周波
数発振装置12によって入力されたテスト波形に対する上
記電子回路13の出力波形を周波数成分ごとに分解する周
波数分析を開始する周波数分析装置、17は、上記周波数
分析終了後に、上記周波数分析装置16によって分解され
た周波数成分の中から上記周波数規定装置11によって現
在規定されている周波数の周波数成分を抽出し、該抽出
された成分の位相値と、上記周波数発振装置12から発せ
られているテスト波形の、上記分析開始信号の発せられ
た時刻における位相値との位相差を算出する位相差算出
装置、18は、周波数規定装置11によって現在規定されて
いる周波数と上記位相差算出装置17によって算出された
位相差の値を表示するための処理を行い、その後上記周
波数規定装置11に対し新たな周波数を規定する事を促す
ために分析終了信号を発する、位相特性表示装置、19
は、電子回路13に入力するテスト波形の下限周波数を規
定する下限周波数規定装置、20は、電子回路13に入力す
るテスト波形の上限周波数を規定する上限周波数規定装
置、21は、上記下限周波数規定装置19によって規定され
た下限周波数と、上記上限周波数規定装置20によって規
定された上限周波数との間を等分割するような周波数幅
を規定する周波数分解能規定装置である。
【0011】以上のように構成された設計支援装置につ
いて、以下、(図1)、(図2)、(図3)、(図
4)、(図5)、及び(図6)を用いて第1の実施例の
動作を説明する。
いて、以下、(図1)、(図2)、(図3)、(図
4)、(図5)、及び(図6)を用いて第1の実施例の
動作を説明する。
【0012】まず、(図2)は振幅規定装置10において
振幅が規定されている様子を示している。これは任意に
規定できるものとする。(図3)は、周波数規定装置11
の内部の、下限周波数規定装置19、上限周波数規定装置
20、周波数分解能規定装置21において、下限周波数、上
限周波数、周波数分解能が規定されている様子を示して
いる。これらは任意に規定できるものとする。(図4)
は遅延量規定装置14において、上記電子回路が入力され
たテスト波形に対して所望の出力波形を出力するまでの
時間の遅れを表す遅延量が規定されている様子を示して
いる。これは任意に規定できるものであり、上記電子回
路の厳密な遅延量を規定する必要はない。
振幅が規定されている様子を示している。これは任意に
規定できるものとする。(図3)は、周波数規定装置11
の内部の、下限周波数規定装置19、上限周波数規定装置
20、周波数分解能規定装置21において、下限周波数、上
限周波数、周波数分解能が規定されている様子を示して
いる。これらは任意に規定できるものとする。(図4)
は遅延量規定装置14において、上記電子回路が入力され
たテスト波形に対して所望の出力波形を出力するまでの
時間の遅れを表す遅延量が規定されている様子を示して
いる。これは任意に規定できるものであり、上記電子回
路の厳密な遅延量を規定する必要はない。
【0013】(図5)は、本発明の第1の実施例の設計
支援装置における各部分装置間の信号とデータの流れ
と、周波数発振装置、周波数分析装置、位相差算出装置
の内部処理の概略を示している。(図5)において、50
は、電子回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振
幅規定装置であって、(図2)のように規定された値A
Mを出力している。51は、電子回路に入力するテスト波
形の周波数を規定し、規定が完了すると規定完了信号を
発する周波数規定装置であって、現時刻では値Fが、周
波数として規定され出力されている。52は、規定完了信
号を検出した場合、上記振幅規定装置50によって規定さ
れた振幅AMと、上記周波数規定装置51によって規定さ
れた周波数Fをもつテスト波形を発生し、該テスト波形
の位相値を逐次出力し、さらに該テスト波形を上記電子
回路に入力する周波数発振装置であって、内部の処理は
図に示した式によって定義されており、テスト波形とし
て正弦波x(t)を出力している。53は、対象となる電
子回路でありテスト波形x(t)を入力し、波形y
(t)を出力している。54は、上記周波数発振装置から
入力されたテスト波形に対して、上記電子回路が所望の
出力波形を出力するまでの時間の遅れを表す遅延量を規
定する、遅延量規定装置であり、(図4)のように規定
された値DELを出力している。55は、上記周波数規定
装置が発する規定完了信号を検出した場合、上記遅延量
規定装置で規定された遅延量分の時刻経過後に分析開始
信号を発する、分析開始信号発生装置であり、本実施例
では、規定完了信号を検出した後、上記遅延量規定装置
で(図4)のように規定された値10時刻経過後に分析
開始信号を発する。56は上記分析開始信号を検出した場
合、出力波形y(t)を周波数成分ごとに分解する周波
数分析を開始する周波数分析装置、であって、内部の処
理はフーリエ変換によって定義されており、各周波数f
の振幅に対する実軸成分r(f)、虚軸成分i(f)を
出力している。57は、上記周波数分析終了後に、上記周
波数分析装置によって分解された周波数成分の中から上
記周波数規定装置51によって現在規定されている周波数
Fの周波数成分を抽出し、該抽出された成分の位相値
と、上記周波数発振装置52から発せられているテスト波
形の、上記分析開始信号の発せられた時刻における位相
値との位相差phaseを算出する位相差算出装置であ
って、電子回路からの出力波形y(t)の上記周波数規
定装置51によって現在規定されている周波数Fの周波
数成分の位相値は、上記周波数分析装置56で求められ
た、周波数Fにおける実軸成分r(F)、虚軸成分i
(F)の逆正接(tan-1)によって求め、分析開始信
号の発せられた時刻における入力テスト波形の位相値
は、分析開始信号の発せられた時刻に上記周波数発振装
置52から取り込んでおいた値である。58は、周波数規定
装置51によって現在規定されている周波数Fと上記位相
差算出装置57によって算出された位相差の値phase
を表示するための処理を行い、上記周波数規定装置51に
対し新たな周波数を規定する事を促すために分析終了信
号を発する位相特性表示装置である。
支援装置における各部分装置間の信号とデータの流れ
と、周波数発振装置、周波数分析装置、位相差算出装置
の内部処理の概略を示している。(図5)において、50
は、電子回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振
幅規定装置であって、(図2)のように規定された値A
Mを出力している。51は、電子回路に入力するテスト波
形の周波数を規定し、規定が完了すると規定完了信号を
発する周波数規定装置であって、現時刻では値Fが、周
波数として規定され出力されている。52は、規定完了信
号を検出した場合、上記振幅規定装置50によって規定さ
れた振幅AMと、上記周波数規定装置51によって規定さ
れた周波数Fをもつテスト波形を発生し、該テスト波形
の位相値を逐次出力し、さらに該テスト波形を上記電子
回路に入力する周波数発振装置であって、内部の処理は
図に示した式によって定義されており、テスト波形とし
て正弦波x(t)を出力している。53は、対象となる電
子回路でありテスト波形x(t)を入力し、波形y
(t)を出力している。54は、上記周波数発振装置から
入力されたテスト波形に対して、上記電子回路が所望の
出力波形を出力するまでの時間の遅れを表す遅延量を規
定する、遅延量規定装置であり、(図4)のように規定
された値DELを出力している。55は、上記周波数規定
装置が発する規定完了信号を検出した場合、上記遅延量
規定装置で規定された遅延量分の時刻経過後に分析開始
信号を発する、分析開始信号発生装置であり、本実施例
では、規定完了信号を検出した後、上記遅延量規定装置
で(図4)のように規定された値10時刻経過後に分析
開始信号を発する。56は上記分析開始信号を検出した場
合、出力波形y(t)を周波数成分ごとに分解する周波
数分析を開始する周波数分析装置、であって、内部の処
理はフーリエ変換によって定義されており、各周波数f
の振幅に対する実軸成分r(f)、虚軸成分i(f)を
出力している。57は、上記周波数分析終了後に、上記周
波数分析装置によって分解された周波数成分の中から上
記周波数規定装置51によって現在規定されている周波数
Fの周波数成分を抽出し、該抽出された成分の位相値
と、上記周波数発振装置52から発せられているテスト波
形の、上記分析開始信号の発せられた時刻における位相
値との位相差phaseを算出する位相差算出装置であ
って、電子回路からの出力波形y(t)の上記周波数規
定装置51によって現在規定されている周波数Fの周波
数成分の位相値は、上記周波数分析装置56で求められ
た、周波数Fにおける実軸成分r(F)、虚軸成分i
(F)の逆正接(tan-1)によって求め、分析開始信
号の発せられた時刻における入力テスト波形の位相値
は、分析開始信号の発せられた時刻に上記周波数発振装
置52から取り込んでおいた値である。58は、周波数規定
装置51によって現在規定されている周波数Fと上記位相
差算出装置57によって算出された位相差の値phase
を表示するための処理を行い、上記周波数規定装置51に
対し新たな周波数を規定する事を促すために分析終了信
号を発する位相特性表示装置である。
【0014】(図6)は、周波数規定装置11の内部の処
理の流れを示した図である。以下、第1の実施例におけ
るデータの流れを説明する。まず、(図2)に示すよう
に振幅規定装置10によって、電子回路に入力する波形の
振幅を規定し、(図3)に示すように下限周波数規定装
置19によって、電子回路に入力する波形の周波数の下限
を規定し、上限周波数規定装置20によって、電子回路に
入力する波形の周波数の上限を規定し、周波数分解能規
定装置21によって、上記下限周波数規定装置19によって
規定された下限周波数と、上記上限周波数規定装置20に
よって規定された上限周波数との間を等分割するような
周波数幅を規定する。
理の流れを示した図である。以下、第1の実施例におけ
るデータの流れを説明する。まず、(図2)に示すよう
に振幅規定装置10によって、電子回路に入力する波形の
振幅を規定し、(図3)に示すように下限周波数規定装
置19によって、電子回路に入力する波形の周波数の下限
を規定し、上限周波数規定装置20によって、電子回路に
入力する波形の周波数の上限を規定し、周波数分解能規
定装置21によって、上記下限周波数規定装置19によって
規定された下限周波数と、上記上限周波数規定装置20に
よって規定された上限周波数との間を等分割するような
周波数幅を規定する。
【0015】周波数規定装置11では、(図6)に示すよ
うに最初は、上記下限周波数規定装置19によって規定さ
れた下限周波数を、電子回路に入力する周波数として規
定し、規定完了信号を出す。以降は、分析終了信号を受
信する度に、現在規定している周波数に、周波数分解能
規定装置21によって規定された周波数幅を加えた値を、
新たに電子回路に入力する周波数として規定し、規定完
了信号を出す。
うに最初は、上記下限周波数規定装置19によって規定さ
れた下限周波数を、電子回路に入力する周波数として規
定し、規定完了信号を出す。以降は、分析終了信号を受
信する度に、現在規定している周波数に、周波数分解能
規定装置21によって規定された周波数幅を加えた値を、
新たに電子回路に入力する周波数として規定し、規定完
了信号を出す。
【0016】周波数発振装置52は規定完了信号を検出し
た場合、上記振幅規定装置50によって規定された振幅A
Mと、上記周波数規定装置51によって規定された周波数
Fをもつテスト波形を(図5)の52内に示した式、x
(t)=AMsin(2πFt)、に従って発生し、上
記電子回路に入力する。つまり、最初は、(図2)に示
したように、振幅128、(図3)に示したように下限
周波数0.01の正弦波を発生する。またそのときに、
該波形の現在の位相値つまりこの場合、2πFt(tは
時刻を表わす)を逐次出力している。
た場合、上記振幅規定装置50によって規定された振幅A
Mと、上記周波数規定装置51によって規定された周波数
Fをもつテスト波形を(図5)の52内に示した式、x
(t)=AMsin(2πFt)、に従って発生し、上
記電子回路に入力する。つまり、最初は、(図2)に示
したように、振幅128、(図3)に示したように下限
周波数0.01の正弦波を発生する。またそのときに、
該波形の現在の位相値つまりこの場合、2πFt(tは
時刻を表わす)を逐次出力している。
【0017】一方、分析開始信号発生装置55では、規定
完了信号を検出してから、遅延量規定装置54で規定され
た値DEL時刻経過した後に分析開始信号を発する。こ
の場合、(図4)に示したように遅延値DELの値は1
0に規定されているので、規定完了信号を検出してから
時刻10経過後に分析開始信号を発する。
完了信号を検出してから、遅延量規定装置54で規定され
た値DEL時刻経過した後に分析開始信号を発する。こ
の場合、(図4)に示したように遅延値DELの値は1
0に規定されているので、規定完了信号を検出してから
時刻10経過後に分析開始信号を発する。
【0018】周波数分析装置56では、分析開始信号を検
出した場合、上記のように発生したテスト波形に対す
る、電子回路53の出力波形y(t)を周波数成分ごとに
分解する周波数分析を開始する。この実施例では、内部
の処理はフーリエ変換によって定義されており、出力波
形y(t)の各周波数fの振幅に対する実軸成分r
(f)、虚軸成分i(f)の値を出力している。つま
り、周波数分析装置56では分析開始信号を検出した場
合、上記電子回路53からの出力波形の取り込みを開始
し、N時刻分の出力波形を取り込んだ後、フーリエ変換
を行い各周波数fの振幅に対する実軸成分r(f)、虚
軸成分i(f)を出力する。ここで、Nは固定の値であ
ってもよいし、種々に設定可能であってもよい。
出した場合、上記のように発生したテスト波形に対す
る、電子回路53の出力波形y(t)を周波数成分ごとに
分解する周波数分析を開始する。この実施例では、内部
の処理はフーリエ変換によって定義されており、出力波
形y(t)の各周波数fの振幅に対する実軸成分r
(f)、虚軸成分i(f)の値を出力している。つま
り、周波数分析装置56では分析開始信号を検出した場
合、上記電子回路53からの出力波形の取り込みを開始
し、N時刻分の出力波形を取り込んだ後、フーリエ変換
を行い各周波数fの振幅に対する実軸成分r(f)、虚
軸成分i(f)を出力する。ここで、Nは固定の値であ
ってもよいし、種々に設定可能であってもよい。
【0019】位相差算出装置57では、分析開始信号を検
出した時刻に、上記周波数発振装置52から、テスト波形
のその時刻における位相値を取り込み、さらに周波数分
析終了後に、上記周波数分析装置おいて、分解された上
記電子回路53の上記テスト波形に対する出力波形の周波
数成分の中から、上記周波数規定装置51によって現在規
定されている周波数Fの周波数成分を抽出し、該抽出さ
れた成分の位相値を求める。本実施例では、出力波形の
周波数Fにおける位相値は、周波数Fにおける実軸成分
r(F)、虚軸成分i(F)の逆正接(tanー1)によ
って求めているのでまず最初は、周波数0.01の成分
の位相値を求める。このように求められたテスト波形の
位相値と、出力波形の現在規定されている周波数成分の
位相値から入出力の位相差を算出する。
出した時刻に、上記周波数発振装置52から、テスト波形
のその時刻における位相値を取り込み、さらに周波数分
析終了後に、上記周波数分析装置おいて、分解された上
記電子回路53の上記テスト波形に対する出力波形の周波
数成分の中から、上記周波数規定装置51によって現在規
定されている周波数Fの周波数成分を抽出し、該抽出さ
れた成分の位相値を求める。本実施例では、出力波形の
周波数Fにおける位相値は、周波数Fにおける実軸成分
r(F)、虚軸成分i(F)の逆正接(tanー1)によ
って求めているのでまず最初は、周波数0.01の成分
の位相値を求める。このように求められたテスト波形の
位相値と、出力波形の現在規定されている周波数成分の
位相値から入出力の位相差を算出する。
【0020】そのようにして求められた位相差は、位相
特性表示装置58に送られ、位相特性表示装置58では、現
在規定されている周波数と該位相差の値を表示するため
の処理を行い、その後上記周波数規定装置51に対し新た
な周波数を規定する事を促すために分析終了信号を発す
る。
特性表示装置58に送られ、位相特性表示装置58では、現
在規定されている周波数と該位相差の値を表示するため
の処理を行い、その後上記周波数規定装置51に対し新た
な周波数を規定する事を促すために分析終了信号を発す
る。
【0021】上記分析終了信号を受信した周波数規定装
置51では、(図6)に示すように、現在の周波数の値F
=0.01に周波数分解能規定装置によって規定された
周波数幅DF=0.01を加え、周波数Fを0.02に
新たに規定し、規定完了信号を発信し、上記の処理を繰
り返す。
置51では、(図6)に示すように、現在の周波数の値F
=0.01に周波数分解能規定装置によって規定された
周波数幅DF=0.01を加え、周波数Fを0.02に
新たに規定し、規定完了信号を発信し、上記の処理を繰
り返す。
【0022】最後に、(図6)に示すように、周波数規
定装置51によって規定されている周波数Fが1.28で
ある時に分析終了信号を受信した場合、周波数1.28
に周波数幅DF=0.01を加えると、上限周波数規定
装置によって規定された上限周波数の値HF=1.28
を越えるので、全ての処理を終了する。
定装置51によって規定されている周波数Fが1.28で
ある時に分析終了信号を受信した場合、周波数1.28
に周波数幅DF=0.01を加えると、上限周波数規定
装置によって規定された上限周波数の値HF=1.28
を越えるので、全ての処理を終了する。
【0023】以上のように本実施例によれば、対象とな
る電子回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振幅
規定装置10と、上記電子回路に入力するテスト波形の周
波数を規定し、規定が完了すると規定完了信号を発する
周波数規定装置11と、上記規定完了信号を検出した場
合、上記振幅規定装置によって規定された振幅と、上記
周波数規定装置によって規定された周波数をもつテスト
波形を発生し、該テスト波形の位相値を逐次出力し、さ
らに該テスト波形を上記電子回路に入力する、周波数発
振装置12と、上記周波数発振装置から入力されたテスト
波形に対して、上記電子回路が所望の出力波形を発する
までの時間の遅れを表す遅延量を規定する、遅延量規定
装置14と、上記周波数規定装置が発する規定完了信号を
検出した場合、上記遅延量規定装置で規定された遅延量
分の時刻経過後に分析開始信号を発する、分析開始信号
発生装置15と、上記分析開始信号を検出した場合、上記
周波数発振装置によって入力されたテスト波形に対する
上記電子回路の出力波形を周波数成分ごとに分解する周
波数分析を開始する周波数分析装置16と、上記周波数分
析終了後に、上記周波数分析装置によって分解された周
波数成分の中から上記周波数規定装置によって現在規定
されている周波数の周波数成分を抽出し、該抽出された
成分の位相値と、上記周波数発振装置から発せられてい
るテスト波形の、上記分析開始信号の発せられた時刻に
おける位相値との位相差を算出する位相差算出装置17
と、上記周波数規定装置によって現在規定されている周
波数と上記位相差算出装置によって算出された位相差の
値を表示するための処理を行い、その後、上記周波数規
定装置に対し新たな周波数を規定する事を促すために分
析終了信号を発する位相特性表示装置18とを備え、上記
周波数規定装置の内部に、上記電子回路に入力するテス
ト波形の下限周波数を規定する下限周波数規定装置19
と、上記電子回路に入力するテスト波形の上限周波数を
規定する上限周波数規定装置20と、上記下限周波数規定
装置によって規定された下限周波数と、上記上限周波数
規定装置によって規定された上限周波数との間を等分割
するような周波数幅を規定する周波数分解能規定装置21
とを備え、上記周波数規定装置11においてまず最初は、
周波数を下限周波数に規定し、その後は、前記位相特性
表示装置16からの分析終了信号を受信するごとに、新た
に周波数を、現在規定されている周波数に上記周波数分
解能規定装置19によって規定された周波数幅を加えた値
に規定し、規定した値が上限周波数を越えた場合には、
処理を終了することによって、電子回路の位相特性を容
易にしかも正確に測定する事が可能となる。
る電子回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振幅
規定装置10と、上記電子回路に入力するテスト波形の周
波数を規定し、規定が完了すると規定完了信号を発する
周波数規定装置11と、上記規定完了信号を検出した場
合、上記振幅規定装置によって規定された振幅と、上記
周波数規定装置によって規定された周波数をもつテスト
波形を発生し、該テスト波形の位相値を逐次出力し、さ
らに該テスト波形を上記電子回路に入力する、周波数発
振装置12と、上記周波数発振装置から入力されたテスト
波形に対して、上記電子回路が所望の出力波形を発する
までの時間の遅れを表す遅延量を規定する、遅延量規定
装置14と、上記周波数規定装置が発する規定完了信号を
検出した場合、上記遅延量規定装置で規定された遅延量
分の時刻経過後に分析開始信号を発する、分析開始信号
発生装置15と、上記分析開始信号を検出した場合、上記
周波数発振装置によって入力されたテスト波形に対する
上記電子回路の出力波形を周波数成分ごとに分解する周
波数分析を開始する周波数分析装置16と、上記周波数分
析終了後に、上記周波数分析装置によって分解された周
波数成分の中から上記周波数規定装置によって現在規定
されている周波数の周波数成分を抽出し、該抽出された
成分の位相値と、上記周波数発振装置から発せられてい
るテスト波形の、上記分析開始信号の発せられた時刻に
おける位相値との位相差を算出する位相差算出装置17
と、上記周波数規定装置によって現在規定されている周
波数と上記位相差算出装置によって算出された位相差の
値を表示するための処理を行い、その後、上記周波数規
定装置に対し新たな周波数を規定する事を促すために分
析終了信号を発する位相特性表示装置18とを備え、上記
周波数規定装置の内部に、上記電子回路に入力するテス
ト波形の下限周波数を規定する下限周波数規定装置19
と、上記電子回路に入力するテスト波形の上限周波数を
規定する上限周波数規定装置20と、上記下限周波数規定
装置によって規定された下限周波数と、上記上限周波数
規定装置によって規定された上限周波数との間を等分割
するような周波数幅を規定する周波数分解能規定装置21
とを備え、上記周波数規定装置11においてまず最初は、
周波数を下限周波数に規定し、その後は、前記位相特性
表示装置16からの分析終了信号を受信するごとに、新た
に周波数を、現在規定されている周波数に上記周波数分
解能規定装置19によって規定された周波数幅を加えた値
に規定し、規定した値が上限周波数を越えた場合には、
処理を終了することによって、電子回路の位相特性を容
易にしかも正確に測定する事が可能となる。
【0024】
【発明の効果】以上のように本発明は、対象となる電子
回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振幅規定装
置と、上記電子回路に入力するテスト波形の周波数を規
定し、規定が完了すると規定完了信号を発する周波数規
定装置と、上記規定完了信号を検出した場合、上記振幅
規定装置によって規定された振幅と、上記周波数規定装
置によって規定された周波数をもつテスト波形を発生
し、該テスト波形の位相値を逐次出力し、さらに該テス
ト波形を上記電子回路に入力する、周波数発振装置と、
上記周波数発振装置から入力されたテスト波形に対し
て、上記電子回路が所望の出力波形を発するまでの時間
の遅れを表す遅延量を規定する、遅延量規定装置と、上
記周波数規定装置が発する規定完了信号を検出した場
合、上記遅延量規定装置で規定された遅延量分の時刻経
過後に分析開始信号を発する、分析開始信号発生装置
と、上記分析開始信号を検出した場合、上記周波数発振
装置によって入力されたテスト波形に対する上記電子回
路の出力波形を周波数成分ごとに分解する周波数分析を
開始する周波数分析装置と、上記周波数分析終了後に、
上記周波数分析装置によって分解された周波数成分の中
から上記周波数規定装置によって現在規定されている周
波数の周波数成分を抽出し、該抽出された成分の位相値
と、上記周波数発振装置から発せられているテスト波形
の、上記分析開始信号の発せられた時刻における位相値
との位相差を算出する位相差算出装置と、上記周波数規
定装置によって現在規定されている周波数と上記位相差
算出装置によって算出された位相差の値を表示するため
の処理を行い、その後、上記周波数規定装置に対し新た
な周波数を規定する事を促すために分析終了信号を発す
る位相特性表示装置とを備え、上記周波数規定装置の内
部に、上記電子回路に入力するテスト波形の下限周波数
を規定する下限周波数規定装置と、上記電子回路に入力
するテスト波形の上限周波数を規定する上限周波数規定
装置と、上記下限周波数規定装置によって規定された下
限周波数と、上記上限周波数規定装置によって規定され
た上限周波数との間を等分割するような周波数幅を規定
する周波数分解能規定装置とを備えることによって、電
子回路の位相特性を容易にしかも正確に測定する事が可
能となる。
回路に入力するテスト波形の振幅を規定する振幅規定装
置と、上記電子回路に入力するテスト波形の周波数を規
定し、規定が完了すると規定完了信号を発する周波数規
定装置と、上記規定完了信号を検出した場合、上記振幅
規定装置によって規定された振幅と、上記周波数規定装
置によって規定された周波数をもつテスト波形を発生
し、該テスト波形の位相値を逐次出力し、さらに該テス
ト波形を上記電子回路に入力する、周波数発振装置と、
上記周波数発振装置から入力されたテスト波形に対し
て、上記電子回路が所望の出力波形を発するまでの時間
の遅れを表す遅延量を規定する、遅延量規定装置と、上
記周波数規定装置が発する規定完了信号を検出した場
合、上記遅延量規定装置で規定された遅延量分の時刻経
過後に分析開始信号を発する、分析開始信号発生装置
と、上記分析開始信号を検出した場合、上記周波数発振
装置によって入力されたテスト波形に対する上記電子回
路の出力波形を周波数成分ごとに分解する周波数分析を
開始する周波数分析装置と、上記周波数分析終了後に、
上記周波数分析装置によって分解された周波数成分の中
から上記周波数規定装置によって現在規定されている周
波数の周波数成分を抽出し、該抽出された成分の位相値
と、上記周波数発振装置から発せられているテスト波形
の、上記分析開始信号の発せられた時刻における位相値
との位相差を算出する位相差算出装置と、上記周波数規
定装置によって現在規定されている周波数と上記位相差
算出装置によって算出された位相差の値を表示するため
の処理を行い、その後、上記周波数規定装置に対し新た
な周波数を規定する事を促すために分析終了信号を発す
る位相特性表示装置とを備え、上記周波数規定装置の内
部に、上記電子回路に入力するテスト波形の下限周波数
を規定する下限周波数規定装置と、上記電子回路に入力
するテスト波形の上限周波数を規定する上限周波数規定
装置と、上記下限周波数規定装置によって規定された下
限周波数と、上記上限周波数規定装置によって規定され
た上限周波数との間を等分割するような周波数幅を規定
する周波数分解能規定装置とを備えることによって、電
子回路の位相特性を容易にしかも正確に測定する事が可
能となる。
【図1】本発明の第1の一実施例における設計支援装置
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図2】振幅規定装置において振幅が規定されている様
子を示した説明図
子を示した説明図
【図3】下限周波数規定装置、上限周波数規定装置、周
波数分解能規定装置において、下限周波数、上限周波
数、周波数分解能が規定されている様子を示した説明図
波数分解能規定装置において、下限周波数、上限周波
数、周波数分解能が規定されている様子を示した説明図
【図4】遅延量規定装置において遅延量が規定されてい
る様子を示した説明図
る様子を示した説明図
【図5】本発明の第1の実施例の設計支援装置における
各部分装置間の信号とデータの流れと、周波数発振装
置、周波数分析装置、位相差算出装置の内部処理の概略
を示したブロック図
各部分装置間の信号とデータの流れと、周波数発振装
置、周波数分析装置、位相差算出装置の内部処理の概略
を示したブロック図
【図6】周波数規定装置の内部の処理の流れを示したフ
ロー図
ロー図
10,50 振幅規定装置 11,51 周波数規定装置 12,52 周波数発信装置 13,53 電子回路 14,54 遅延量規定装置 15,55 分析開始信号発生装置 16,56 周波数分析装置 17,57 位相差算出装置 18,58 位相特性表示装置 19 下限周波数規定装置 20 上限周波数規定装置 21 周波数分解能規定装置
Claims (2)
- 【請求項1】 設計された電子回路の性能の良否を判断
するための設計支援装置であって、上記電子回路に入力
するテスト波形の振幅を規定する振幅規定装置と、上記
電子回路に入力するテスト波形の周波数を規定し、規定
が完了すると規定完了信号を発する周波数規定装置と、
上記規定完了信号を検出した場合、上記振幅規定装置に
よって規定された振幅と、上記周波数規定装置によって
規定された周波数をもつテスト波形を発生し、該テスト
波形の位相値を逐次出力し、さらに該テスト波形を上記
電子回路に入力する、周波数発振装置と、上記周波数発
振装置から入力されたテスト波形に対して、上記電子回
路が所望の出力波形を出力するまでの時間の遅れを表す
遅延量を規定する、遅延量規定装置と、上記周波数規定
装置が発する規定完了信号を検出した場合、上記遅延量
規定装置で規定された遅延量分の時刻経過後に分析開始
信号を発する、分析開始信号発生装置と、上記分析開始
信号を検出した場合、上記周波数発振装置によって入力
されたテスト波形に対する上記電子回路の出力波形を周
波数成分ごとに分解する周波数分析を開始する周波数分
析装置と、上記周波数分析終了後に、上記周波数分析装
置によって分解された周波数成分の中から上記周波数規
定装置によって現在規定されている周波数の周波数成分
を抽出し、該抽出された成分の位相値と、上記周波数発
振装置から発せられているテスト波形の、上記分析開始
信号の発せられた時刻における位相値との位相差を算出
する位相差算出装置と、上記周波数規定装置によって現
在規定されている周波数と上記位相差算出装置によって
算出された位相差の値を表示するための処理を行い、そ
の後、上記周波数規定装置に対し新たな周波数を規定す
る事を促すために分析終了信号を発する位相特性表示装
置と、を備えた設計支援装置。 - 【請求項2】 周波数規定装置は、電子回路に入力する
テスト波形の下限周波数を規定する下限周波数規定装置
と、上記電子回路に入力するテスト波形の上限周波数を
規定する上限周波数規定装置と、上記下限周波数規定装
置によって規定された下限周波数と、上記上限周波数規
定装置によって規定された上限周波数との間を等分割す
るような周波数幅を規定する周波数分解能規定装置とを
有し、まず最初は、周波数を下限周波数に規定し、その
後は、前記位相特性表示装置からの分析終了信号を受信
するごとに、新たに周波数を、現在規定されている周波
数に上記周波数分解能規定装置によって規定された周波
数幅を加えた値に規定し、規定した値が上限周波数を越
えた場合は、処理を終了することを特徴とした、請求項
1記載の設計支援装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3230162A JP2982419B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 設計支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3230162A JP2982419B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 設計支援装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0572274A JPH0572274A (ja) | 1993-03-23 |
JP2982419B2 true JP2982419B2 (ja) | 1999-11-22 |
Family
ID=16903574
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3230162A Expired - Fee Related JP2982419B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 設計支援装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2982419B2 (ja) |
-
1991
- 1991-09-10 JP JP3230162A patent/JP2982419B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0572274A (ja) | 1993-03-23 |
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