JPH0580626B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0580626B2
JPH0580626B2 JP14551484A JP14551484A JPH0580626B2 JP H0580626 B2 JPH0580626 B2 JP H0580626B2 JP 14551484 A JP14551484 A JP 14551484A JP 14551484 A JP14551484 A JP 14551484A JP H0580626 B2 JPH0580626 B2 JP H0580626B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase
semiconductor switch
signal
detection circuit
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP14551484A
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English (en)
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JPS6123979A (ja
Inventor
Kenji Morisada
Hirotaka Sawamura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichikon KK
Original Assignee
Nichikon KK
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Publication date
Application filed by Nichikon KK filed Critical Nichikon KK
Priority to JP14551484A priority Critical patent/JPS6123979A/ja
Publication of JPS6123979A publication Critical patent/JPS6123979A/ja
Publication of JPH0580626B2 publication Critical patent/JPH0580626B2/ja
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 産業上の利用分野 本発明は半導体スイツチにより開閉される単相
コンデンサ負荷をΔ(デルタ)に三相接続された
半導体スイツチの故障検出回路に関するものであ
る。
(2) 従来の技術 従来の半導体スイツチの故障検出回路は、第2
図に示すように進相用コンデンサ1a,1b,1
cと直列リアクトル2a,2b,2cと半導体ス
イツチ3a,3b,3cが各々直列接続され、開
閉制御を行うものであり、以下一相のみでの構成
および動作を説明する。
投入信号回路4aの信号と、半導体スイツチ3
aの両端に接続された同期検出回路5aの信号と
を各々論理ゲート6aに入力し、その論理成立時
にゲートトリガー信号を送出し、半導体スイツチ
3aを点孤させている。そして主回路電流検出用
変流器(以下CTという)7aと信号変換回路8
aよりの出力と、上記論理ゲート6aの出力とを
各々排他的論理和ゲート(以下EX−ORゲート
という)9aに入力させ、その論理が成立時にト
リツプ信号を送出し、トリツプ回路10aに伝送
する。これを一相分として同様の故障検出回路を
他の二相にも設置されていた。
(3) 発明が解決しようとする問題点 以上のごとく従来のコンデンサ負荷の半導体ス
イツチの故障検出回路には、各相に各々CT7a,
7b,7cとその信号変換回路8a,8b,8c
を必要として高価で不経済であり、かつ回路が複
雑となつていた。
(4) 問題点を解決するための手段 本発明は従来の故障検出回路において、必要で
あつた各相CT7a,7b,7cとその信号変換
回路を省略し、経済的な故障検出回路を提供しよ
うとするものである。
本発明の要点は三相用であることより、三相の
半導体スイツチの導通状況を同期検出回路の信号
にて検出し、その論理により故障検出を行うもの
である。
すなわち、単相用コンデンサと、直列リアクト
ルと、半導体スイツチとを直列接続した単相のコ
ンデンサ開閉制御装置をΔ接続してなる三相接続
コンデンサ負荷用半導体スイツチの故障検出回路
において、上記各相の半導体スイツチの両端に接
続された該半導体スイツチ用開閉検出機能を有す
る同期検出回路よりの各相の信号を排他的論理和
ゲートに入力し、各相信号が相違時に、上記ゲー
ト出力を得て半導体スイツチの故障検出を行うこ
とを特徴とする三相接続コンデンサ負荷用半導体
スイツチの故障検出回路である。
(5) 実施例 次に本発明の一実施例を第1図により説明す
る。進相用コンデンサ1a,1b,1cと直列リ
アクトル2a,2b,2cと半導体スイツチ3
a,3b,3cが直列接続された単相回路をΔ結
線し、主回路を構成している。
半導体スイツチ3a,3b,3cの両端に両端
電圧検出用の同期検出回路5a,5b,5cが
各々接続され、その出力側は論理ゲート6a,6
b,6cと共通のEX−ORゲート9の入力側に
接続されている。その三相分の信号出力はEX−
ORゲート9に接続されている。
4a,4b,4cは外部よりの指示による投入
信号回路であり、三相同時に信号を送出する。そ
してこの信号と上記同期検出回路5a,5b,5
cの信号をANDゲート6a,6b,6cに各々
接続する。
同期検出回路5a,5b,5cの動作は、半導
体スイツチ3a,3b,3cがOFF(開)のと
き、その両端電圧は電源電圧の正弦波が印加され
る。コンデンサに残留電圧がないときは、電源電
圧のゼロ点にて半サイクルに1回ごとに瞬時のみ
同期信号High(以下Hという)を出力し、AND
論理ゲート6a,6b,6cに送出し、このとき
投入信号回路4a,4b,4cより投入信号が送
出されていれば、AND論理が成立し、過渡現象
が現れない投入位相とし、同期投入している。こ
のHの信号時間は約200μs程度であり、他はLOW
(以下Lという)で半サイクル中、Hは無視でき
る時間である。
また、半導体スイツチ3a,3b,3cがON
(閉)のとき、半導体スイツチの両端電圧は1〜
2Vとなるため、同期検出信号はHとなる。この
ようにして同期検出回路において、半導体スイツ
チの開閉動作を検出できる。半導体スイツチは三
相接続コンデンサ開閉用であるため、導通時に
は、半導体スイツチは三相とも導通させ、同期検
出信号は三相ともHとなる。またOFF時には、
同期検出信号は三相ともLとなるのが正常であ
る。
このことから同期検出信号は、三相とも同一信
号正常であり、上記同期検出信号の3個のうち、
1個でも信号状態が相違すれば故障と判定でき
る。故障と判定するためには同期検出信号の3つ
の出力をEX−ORゲート9に入力して、排他的
論理和にて出力させ、トリツプ回路10に接続す
る。
故障検出回路を構成する半導体スイツチは個別
に各相に接続するため、半導体スイツチの1個ま
たは2個に故障する可能性がある。もしコンデン
サ電流が欠相になると、三脚三相直列リアクトル
においては、リアクタンスが減少し、高調波拡大
現象などの発生により電圧波形を歪ますなどが予
想できるため、異常と判定しなければならない。
なお、半導体スイツチとしては本実施例のトラ
イアツク以外でも、逆並列サイリスタや片ダイオ
ードのサイリスタ接続などのものも同様に検出で
きる。
(6) 発明の効果 このように本発明においては、コンデンサ負荷
の半導体スイツチを制御するには、過渡現象を起
こさせないために同期検出回路が必ず附属されて
いることに着目し、従来故障検出に附属していた
CTや、その信号変換回路を省略し、その役目を
同期検出回路とすることにより、経済的でかつ簡
易な故障検出回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の三相接続コンデン
サ負荷用半導体スイツチの故障検出回路の一実施
例の説明図、第2図は従来の三相接続コンデンサ
負荷用半導体スイツチの故障検出回路説明図であ
る。 1a,1b,1c……単相用コンデンサ、2
a,2b,2c……直列リアクトル、3a,3
b,3c……半導体スイツチ、4a,4b,4c
……投入信号回路、5a,5b,5c……同期検
出回路、6a,6b,6c……論理ゲート、7
a,7b,7c……変流器(CT)、8a,8b,
8c……信号変換回路、9a,9b,9c,9…
…排他的論理和(EX−OR)ゲート、10a,
10b,10c,10……トリツプ回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 単相用コンデンサと、直列リアクトルと、半
    導体スイツチとを直列接続した単相のコンデンサ
    開閉制御装置をΔ接続してなる三相接続コンデン
    サ負荷用半導体スイツチの故障検出回路におい
    て、上記各相の半導体スイツチの両端に接続され
    た該半導体スイツチ開閉検出機能を有する同期検
    出回路よりの各相の信号を排他的論理和ゲートに
    入力し、各相信号が相違時に、上記ゲート出力を
    得て半導体スイツチの故障検出を行うことを特徴
    とする三相接続コンデンサ負荷用半導体スイツチ
    の故障検出回路。
JP14551484A 1984-07-12 1984-07-12 三相接続コンデンサ負荷用半導体スイツチの故障検出回路 Granted JPS6123979A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14551484A JPS6123979A (ja) 1984-07-12 1984-07-12 三相接続コンデンサ負荷用半導体スイツチの故障検出回路

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JP14551484A JPS6123979A (ja) 1984-07-12 1984-07-12 三相接続コンデンサ負荷用半導体スイツチの故障検出回路

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Publication Number Publication Date
JPS6123979A JPS6123979A (ja) 1986-02-01
JPH0580626B2 true JPH0580626B2 (ja) 1993-11-09

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ID=15386999

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JP14551484A Granted JPS6123979A (ja) 1984-07-12 1984-07-12 三相接続コンデンサ負荷用半導体スイツチの故障検出回路

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JP (1) JPS6123979A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150140431A (ko) * 2014-06-05 2015-12-16 탑에어주식회사 환기시스템의 전동댐퍼

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150140431A (ko) * 2014-06-05 2015-12-16 탑에어주식회사 환기시스템의 전동댐퍼

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JPS6123979A (ja) 1986-02-01

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