JPH0578795B2 - - Google Patents

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JPH0578795B2
JPH0578795B2 JP60211892A JP21189285A JPH0578795B2 JP H0578795 B2 JPH0578795 B2 JP H0578795B2 JP 60211892 A JP60211892 A JP 60211892A JP 21189285 A JP21189285 A JP 21189285A JP H0578795 B2 JPH0578795 B2 JP H0578795B2
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JP
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signal
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fractional
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integrator
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Hideto Iwaoka
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 イ 「発明の目的」 〔産業上の利用分野〕 本発明は、時間幅計測装置に関するものであ
る。更に詳述すると、基準クロツク信号の周期以
下の所謂端数時間をも正確に測定することができ
る時間幅計測装置に関するものである。
〔従来の技術〕
信号の周波数や周期等の測定をする装置とし
て、ユニバーサル・カウンタが広く使用されてい
る。また、このようなカウンタに限らず、例えば
LSIテスタ等の装置には、測定対象である信号の
或る時点から或る時点までの時間幅を測定する装
置が使われている。
電気通信分野の発展に伴い、近年、取扱われる
信号の周波数が高くなり、また、信号の時間幅を
高精度(高分解能)で計測することが要求される
ようになつてきた。
一般に、時間幅を高精度で測定するには、次の
ような原理が採用されている。被測定時間幅Tx
で開放となるようなゲートに、周期T0のクロツ
ク信号を通し、そのクロツクの通過個数Nをカウ
ントする。そして、NT0を時間幅とするもので
ある。この方法は、クロツクの周波数を上げるほ
ど分解能が向上するが、実際には回路素子の速度
に限界がある。即ち、この手段は、クロツクの周
期以上の分解能で測定することはできない。
上記の方法では、厳密に言うと、Tx=NT0
はならず、TxT0である。これは、通常、Tx
T0で割切れず、小さい端数の時間が存在するか
らである。これを第4図に示す。第4図におい
て、ΔT1はTxの立上がりエツジから、その直後
に発生するクロツクまでの端数の時間であり、
ΔT2はTxの立下りエツジから、その直後に発生
するクロツクまでの端数の時間である。そして、
ΔT1とΔT2の両者の立下りの期間だけゲートを開
放[第4図のホ参照]して、通過するクロツクの
数をカウントする。その期間におけるクロツクの
数をNとすると[第4図のヘ]時間幅Txは(1)式
で表わされる。
Tx=NT0+ΔT1−ΔT2 (1) 従つて、端数の時間ΔT1とΔT2を測定すれば、
クロツクの周期Tp以上の分解能で時間幅Txの測
定が可能となることが(1)式から分る。
そこで、従来技術として端数時間ΔTを測定す
ることができる、言替えると、クロツクの周期
T0以上の分解能で時間幅を測定することができ
る下記の手段が知られている。
〈〉 タイムバーニア(time vernier)方式 ノギスの原理を時間軸について応用したもの
で、第5図を用いて説明する。この方法は、周期
T0の主クロツクのほかに、端数時間ΔTの開始時
点で発生する周期T0′(T0′>T0)のバーニア・
クロツクが必要である。両クロツクの位相が一致
する時点までのクロツク数Nを計数すると、 ΔT=N(T0′−T0) としてΔTが求まる。分解能は両クロツクの周期
差(T0′−T0)で与えられる。
〈〉 タイム・エキスパンジヨン(time
expansion)方式 第6図を用いて説明する。この方式は積分器を
使用し、コンデンサに蓄えられる電荷もしくは電
圧を仲介として端数時間を拡大し、それをクロツ
クで測る方式である。第6図は電荷を仲介とした
場合を示す図である。ΔT間の電流I1で積分コン
デンサを充電した後、電流I2で放電したとする
と、 ΔTE=I1/I2・ΔT となり、拡大比率は、I1/I2で与えられる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、以上のような手段は次の問題点を有し
ている。
〈〉 タイムバーニア方式は、第5図のように
主クロツクとバーニアクロツクとが一致するま
で時間がかかり、高速の繰返し測定やリアルタ
イムの測定ができないという問題がある。
〈〉 タイム・エキスパンジヨン方式は、第6
図の如く、端数時間ΔTの測定のため、新たに
ΔTE時間を余分に要するので、タイムバーニア
方式と同様、高速の繰返し測定やリアルタイム
の測定ができないとう問題がある。
本発明の目的は、高速の繰返し測定、リアルタ
イムの測定、高分解能の測定ができる時間幅測定
装置を提供することである。
ロ 「発明の構成」 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、上記問題点を解決するために、被測
定時間幅に対応した信号とクロツク信号とを導入
し、所謂端数時間に相当すパルス信号と、ゲーテ
イングクロツク信号とを出力する制御回路と、 このゲーテイングクロツク信号を計数するカウ
ンタとからなり、 カウンタの出力と前記端数時間とから被測定時
間幅を計測する装置において、 第1の端数時間に相当する期間に第1の一定値
信号を積分し、この積分値を初期値として第2の
端数時間に相当する期間に前記一定値信号と極性
のみ異なる第2の一定値信号を積分することによ
り第1と第2の端数時間の差に対応した信号
(V2)を得るとともに、既知の期間(T0)に前記
第1又は第2の一定値信号を積分することで信号
(V0)を得る積分器と、 この積分器の出力信号(V0,V2)をデジタル
値に変換するAD変換器と、 2つの信号(V0,V2)に対応した前記デジタ
ル値を導入し、この2つのデジタル値の比と、前
記既知の期間(T0)に対応する値とから第1と
第2の端数時間の差(ΔT1−ΔT2)を算出する手
段と、 を備えるようにしたものである。
〔実施例〕 以下、図面を用いて本発明を詳しく説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示した図であ
る。同図において、1は入力アンプであり、端子
p1から時間幅を計測する対象の信号を導入し、時
間幅を計測し易いように導入した信号を波形整形
し、次段へ出力する。
3は制御回路であり、入力アンプ1の出力信号
と後述するクロツク信号とを導入し、所謂端数時
間に相当した信号(s1,s2)と、ゲーテイングク
ロツク信号s4とを出力することができるものであ
る。このような機能を有する制御回路は、公知の
ものが使用される。
5はカウンタであり、導入した信号が或るレベ
ルをよぎる回路を計数する。ここでは、制御回路
から導入したゲーテイングクロツク信号s4を計数
する。
7はクロツク発生器であり、周期TOの時間基
準となるクロツク信号を発生する。例えば10MHz
である。
以上までの構成は公知であるが、本発明におい
ては、以下に説明する積分器を用い、2つの端数
時間の減算(ΔT1−ΔT2)を積分器で行なわせる
ようにしている。即ち、前記(1)式において、右辺
のNT0の値はカウンタ5の出力から算出するこ
とができ、(ΔT1−ΔT2)の値は、この積分器で
演算するようにしたものである。
Uは増幅器、Cはコンデンサ、Rは抵抗であ
り、これらで積分器を構成する。増幅器Uの入出
力間に接続された積分コンデンサCの両端には、
このコンデンサCに蓄積された電荷を放電させる
ためのスイツチsw2が設けられている。増幅器
Uの入力は抵抗Rを介して、スイツチsw1に接
続される。このスイツチsw1は3つの接点a,
b,cを持ち、接点aには定電圧Eが、Cには定
電圧Eと異なる極性の定電圧(−E)が加えられ
ており、bには何も電圧が加えられていない。そ
して、スイツチsw1において、制御回路3から信
号s1が出力された場合は接点aへ可動片が接続
し、信号s2が出力された場合は接点cへ接続し、
信号s1とs2が出力されない時は接点bへ接続する
ようになつている。また、スイツチsw2は、制
御回路3から信号s3が出力された時に、その接点
を閉じるように動作する。
増幅器Uの出力はサンプルホールド回路9に導
入され、ここで一旦記憶された後、AD変換器1
1でデジタル信号に変換される。
なお、AD変換器11に例えば並列型AD変換
器のように高速のものを使用した場合は、サンプ
ルホールド回路9は不要としても良い。
カウンタ5の出力信号s6とAD変換器11の出
力信号s7は、例えばマイクロコンピユータ(図示
せず)にて演算を施され(1)式で示すTxが計算さ
れる。
第2図は、第1図の各信号のタイムチヤートで
ある。第1図の装置の動作を第2図を参照しなが
ら説明する。
入力端子p1に加えられた、時間幅を測定する対
象の信号は、入力アンプ1にて、例えば第2図の
イに示すような方形波に波形整形され、信号s5
なる。この方形波信号s5のパルス幅Txが被測定
の時間幅である。信号s5とクロツク発生器7から
出力されたクロツク信号[第2図のロ]とは、制
御回路3に導入される。
制御回路3は、導入した被測定時間幅信号s5
と、クロツク信号とから、4つの信号s1,s2,s3
s4を発生させる。
信号s1は端数時間ΔT1に相当するパルス幅を有
するものであり、第2図のハに示す。この信号s1
は被測定時間幅信号s5の立上がりエツジと、この
立上がりエツジの次に生じたクロツク信号の立上
がりエツジの期間に生ずる。
信号s2は端数時間ΔT2に相当するパルス幅を有
するものであり、第2図のハに示す。この信号s2
は被測定時間幅信号s5の立下りエツジと、この立
下りエツジの次に生じクロツク信号の立上がりエ
ツジの期間に生ずる。
信号s4は次のようにして取出される。制御回路
3の内部には、第2図ハに示す端数時間の信号s1
とs2の立下りエツジに同期して、開閉が制御され
るゲート(図示せず)が備えられている。このゲ
ートの開閉動作を第2図のニに示す。そして、こ
のゲートにクロツク信号を加えると、ゲーテイン
グクロツク信号s4は、第2図のホとなる。
以上に説明した制御回路3は、従来の装置にお
いても用いられ、公知のものである。
カウンタ5では、前記ゲーテイングクロツク信
号s4を計数する。クロツク信号の周期をTpとする
と、カウンタ5の計数値Nとこの周期T0とを掛
算すれば、(1)式で示すNT0の値が得られる。
一方、積分器の方では、次のように動作してい
る。第1の端数時間ΔT1に相当するパルス幅の信
号s1が制御回路3から出力されると、この信号
sw1によりスイツチsw1は、接点aに接続され
る。従つて、積分器はΔT1の期間、定電圧Eを積
分し、その出力は(2)式に示す電圧V1となる。
V1=1/C∫〓T1 0{E−e0/R−iB}dt (2) 但し、e0は積分器のオフセツト電圧であり、iB
はバイアス電流である。
そして、信号s1のパルスが立下るとスイツチ
sw1の接点は、bとなるので積分器には、入力
が加わらなくなり、ΔT1の期間積分した値をホー
ルドする。
次に制御回路3から第2の端数時間ΔT2に相当
するパルス幅の信号s2が出力されると、スイツチ
sw1の接点は、cとなる。今度は、積分器にE
とは逆の極性の定電圧(−E)が加えられるの
で、ホールドされていた電圧V1を起点として、
前とは逆の傾きでその積分出力が変化する。そし
て、定電圧(−E)を端数時間ΔT2の期間、積分
するとスイツチsw2は接点がbとなり、その値
V2をホールドする。以上の積分器の出力電圧の
変化を第2図のヘに示す。
V2=1/C∫〓T1-T2 0{E−e0/R−iB}dt (3) この値V2は、(ΔT1−ΔT2)に比例しているも
のである。そして、この電圧V2はサンプルホー
ルド回路9を介してAD変換器11に導入され、
ここでデジタルの信号s7に変換されて、マイクロ
コンピユータ(図示せず)に転送される。コンピ
ユータでは、カウンタ5から導入した信号s6
(NT0)と、信号s7(ΔT1−ΔT2)とから前記した
(1)式により、時間幅Txを算出する。
サンプルホールドされた後は、制御回路3から
クリア信号s3が出力され、スイツチsw2が閉じて
積分コンデンサCにチヤージしていた電荷は放電
され、次の測定に備える。
なお、(3)式においては、その演算式中に、E,
R,e0,iB,Cが入るのでこれらの値の変動が、
時間幅の測定精度に影響する。従つて、この影響
を排除するため、次の手段をとることが好まし
い。それは、予め、クロツク信号の一周期T0
期間、定電圧Eを積分しておき[(4)式で表わされ
る電圧V0]、これのデジタル値を例えば、マイク
ロコンピユータ側へ格納しておく。
V0=1/C∫T0 0{E−e0/R−iB}dt (4) そして、V2/V0をコンピユータで計算すれば、 V2/V0=ΔT1−ΔT2/T0であるから、ΔT1−ΔT2= T0・V2/V0となり、E,R,e0,iB,Cの影響を排 除することができる。なお、期間T0において、
積分する定電圧は(−E)でも良い。
第3図は本発明の別の実施例であり、この装置
は、第1図装置における積分器のドリフトを補償
する機能を備えたものである。第3図の装置が第
1図装置と異なる点は、増幅器Uの出力と、サン
プルホールド回路9の出力との差電圧を取り、こ
れが零となるようにスイツチsw1の接点bへ帰
還を加える差動増幅器Mを設けた点である。
この他の構成は、第1図の装置と同様である。
第3図の装置では、サンプルホールド回路9とし
て低いドループ特性(低ドリフト)のものを用い
るとする。このサンプルホールド回路9の出力と
積分器の値を比較し、接点bを介して積分器に帰
還しているので、積分器のドリフトは、除去され
る。
なお、第1図及び第3図では、積分器において
定電圧(E,−E)を積分すると説明したが、定
電流(I,−I)を積分しても同様な動作である。
即ち、積分器では、互いに極性の異なる一定レベ
ルの信号を積分するように構成すれば良い。
ハ 「本発明の効果」 以上述べたように、本発明によれば次の効果が
得られる。
従来の装置、例えばタイムバーニア方式は主
クロツクとバーニアクロツクとが一致するまで
の時間を必要とする。また、タイム・エキスパ
ンジヨン方式は、ΔTE時間を必ず必要とする。
一方、本発明に係る装置においては、積分器
を用いて、2つの端数時間の差(ΔT1−ΔT2
に相当する電圧値を出力するようにしている。
そして、この電圧をAD変換して、その後、マ
イクロコンピユータ等で演算するものである
が、AD変換器は、現在、並列型AD変換器等、
非常に高速のものがあり、このようなことから
本発明は動作原理的に従来手段より高速化でき
るものである。
従つて、高速でかつリアルタイムで時間幅の計
測を行なうことができる。
積分器のE,R,e0,iB,Cに起因する誤差
を含まない測定ができる。
第1図、第3図に示す如く、比較的簡単な構
成で、クロツクの周期以下の端数時間を測定す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る時間幅計測装置の構成例
を示す図、第2図は第1図装置のタイムチヤー
ト、第3図は本発明の別の構成例を示す図、第4
図は一般的な時間幅の計測原理を示す図、第5図
はタイムバーニア方式の動作を説明するための
図、第6図はタイム・エキスパンジヨン方式の動
作を説明するための図である。 1……入力アンプ、3……制御回路、5……カ
ウンタ、7……クロツク発生器、U……増幅器、
M……差動増幅器、sw1,sw2……スイツチ、
C……積分コンデンサ、R……抵抗。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定時間幅に対応した信号とクロツク信号
    とを導入し、所謂端数時間に相当するパルス信号
    と、ゲーテイングクロツク信号とを出力する制御
    回路と、 このゲーテイングクロツク信号を計数するカウ
    ンタとからなり、 カウンタの出力と前記端数時間とから被測定時
    間幅を計測する装置において、 第1の端数時間に相当する期間に第1の一定値
    信号を積分し、この積分値を初期値として第2の
    端数時間に相当する期間に前記一定値信号と極性
    のみ異なる第2の一定値信号を積分することによ
    り第1と第2の端数時間の差に対応した信号
    (V2)を得るとともに、既知の期間(T0)に前記
    第1又は第2の一定値信号を積分することで信号
    (V0)を得る積分器と、 この積分器の出力信号(V0,V2)をデジタル
    値に変換するAD変換器と、 2つの信号(V0,V2)に対応した前記デジタ
    ル値を導入し、この2つのデジタル値の比と、前
    記既知の期間(T0)に対応する値とから第1と
    第2の端数時間の差(ΔT1−ΔT2)を算出する手
    段と、 を備えたことを特徴とする時間幅計測装置。
JP21189285A 1985-09-25 1985-09-25 時間幅計測装置 Granted JPS6271888A (ja)

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JPS6271888A JPS6271888A (ja) 1987-04-02
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JPS50126157A (ja) * 1974-03-22 1975-10-03
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