JPH0573922A - サンプルドサーボ方式の光デイスク - Google Patents
サンプルドサーボ方式の光デイスクInfo
- Publication number
- JPH0573922A JPH0573922A JP23514691A JP23514691A JPH0573922A JP H0573922 A JPH0573922 A JP H0573922A JP 23514691 A JP23514691 A JP 23514691A JP 23514691 A JP23514691 A JP 23514691A JP H0573922 A JPH0573922 A JP H0573922A
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- pits
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 デ―タ読取装置を簡単な構成のものとする。
【構成】 サ―ボパタ―ンがＤＣフリ―符号となってい
る。 【効果】 デ―タ読取装置の基準レベルがサ―ボ部及び
デ―タ部共にほぼ一定となるので、ＤＣフリ―符号の性
質を利用した回路構成にすることができ、また基準レベ
ル変動を抑制するためのクランプ回路等の回路が不必要
となりデ―タ読取装置の構成を簡単な構成のものとする
ことができる。
る。 【効果】 デ―タ読取装置の基準レベルがサ―ボ部及び
デ―タ部共にほぼ一定となるので、ＤＣフリ―符号の性
質を利用した回路構成にすることができ、また基準レベ
ル変動を抑制するためのクランプ回路等の回路が不必要
となりデ―タ読取装置の構成を簡単な構成のものとする
ことができる。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は、サンプルドサ―ボ方式の光ディ
スクに関する。
スクに関する。
【０００２】
【背景技術】光ディスクのデ―タ記録方式としてサンプ
ルドサ―ボ方式がある。サンプルドサ―ボ方式において
は、１セグメント（１８バイト）のうち先頭の２バイト
がサ―ボ部でプリフォ―マットされ、残りの１６バイト
がデ―タを書き込むためのデ―タ部である。サ―ボ部は
４／１５変調方式の場合には図５に示すように２バイト
間に３つのピットａないしｃが形成されている。前の２
つのピットａ，ｂはトラックピッチの１／４だけウォブ
リングされトラッキングエラ―の検出のために用いら
れ、３番面のピットｃはクロックピットであり、記録及
び再生時のクロック生成に用いられる。一方、デ―タ部
にはピットの長さでデ―タを表わすランレングスリミテ
ッドコ―ドを用いて記録される場合がある。ランレング
スリミテッドコ―ドではデ―タの１の区間と０の区間と
の時間率を等しくしたＤＣフリ―とすると、デ―タ読取
装置の０，１の判別の閾値としての基準レベルのふらつ
きによるデ―タの読み取りエラ―を防止することができ
る。しかしながら、デ―タ部がＤＣフリ―であっても上
記の如くサ―ボ部はＤＣフリ―ではないので基準レベル
の変動が起き、それを抑制するためにデ―タ読取装置に
クランプ回路等の回路が必要となり構成を複雑にしてし
まっていた。
ルドサ―ボ方式がある。サンプルドサ―ボ方式において
は、１セグメント（１８バイト）のうち先頭の２バイト
がサ―ボ部でプリフォ―マットされ、残りの１６バイト
がデ―タを書き込むためのデ―タ部である。サ―ボ部は
４／１５変調方式の場合には図５に示すように２バイト
間に３つのピットａないしｃが形成されている。前の２
つのピットａ，ｂはトラックピッチの１／４だけウォブ
リングされトラッキングエラ―の検出のために用いら
れ、３番面のピットｃはクロックピットであり、記録及
び再生時のクロック生成に用いられる。一方、デ―タ部
にはピットの長さでデ―タを表わすランレングスリミテ
ッドコ―ドを用いて記録される場合がある。ランレング
スリミテッドコ―ドではデ―タの１の区間と０の区間と
の時間率を等しくしたＤＣフリ―とすると、デ―タ読取
装置の０，１の判別の閾値としての基準レベルのふらつ
きによるデ―タの読み取りエラ―を防止することができ
る。しかしながら、デ―タ部がＤＣフリ―であっても上
記の如くサ―ボ部はＤＣフリ―ではないので基準レベル
の変動が起き、それを抑制するためにデ―タ読取装置に
クランプ回路等の回路が必要となり構成を複雑にしてし
まっていた。
【０００３】
【発明の目的】本発明の目的は、デ―タ読取装置を簡単
な構成のものとすることができるサンプルドサ―ボ方式
の光ディスクを提供することである。
な構成のものとすることができるサンプルドサ―ボ方式
の光ディスクを提供することである。
【０００４】
【発明の構成】本発明のサンプルドサ―ボ方式の光ディ
スクは、サ―ボパタ―ンがＤＣフリ―符号となっている
ことを特徴としている。
スクは、サ―ボパタ―ンがＤＣフリ―符号となっている
ことを特徴としている。
【０００５】
【発明の作用】本発明のサンプルドサ―ボ方式の光ディ
スクにおいては、サ―ボパタ―ンがＤＣフリ―符号とな
っているので、サ―ボ部及びデ―タ部共にＤＣフリ―に
することができる。
スクにおいては、サ―ボパタ―ンがＤＣフリ―符号とな
っているので、サ―ボ部及びデ―タ部共にＤＣフリ―に
することができる。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ詳
細に説明する。図１(a) は本発明の光ディスクのサ―ボ
部のピットパタ―ン例を示している。サ―ボ部は４８ビ
ット分の区間を有し、１ビット当り０．４μｍである。
そのサ―ボ部には６つのピットＡないしＦが形成されて
いる。ピットＡは第７及び第８ビット目にトラックセン
タから所定の距離だけウォブリングされて形成されてい
る。ピットＢは第１３及び第１４ビット目のトラックセ
ンタに形成されクロックピットをなしている。ピットＣ
は第１９及び第２０ビット目にトラックセンタから所定
の距離だけピットＡとは反対側にウォブリングされて形
成されている。ピットＡ及びＣは記録及び再生時にトラ
ッキングエラ―を検出するためのピットである。ピット
Ｄ，Ｅ，Ｆは直流制御ピットであり、ピットＤは第２７
〜第３２ビット目のトラックセンタに形成され、ピット
Ｅは第３５〜第４２ビット目のトラックセンタに形成さ
れ、ピットＦは第４５〜第４８ビット目のトラックセン
タに形成されている。このように６つのピットＡないし
Ｆによりサ―ボ部はピットの存在は２４ビット分であ
り、ピットの非存在は２４ビット分であるので、サ―ボ
パタ―ンはＤＣフリ―となっている。よって、図１(b)
に示すようにＤＳＶ（Digital Sum Value ）は０とな
る。
細に説明する。図１(a) は本発明の光ディスクのサ―ボ
部のピットパタ―ン例を示している。サ―ボ部は４８ビ
ット分の区間を有し、１ビット当り０．４μｍである。
そのサ―ボ部には６つのピットＡないしＦが形成されて
いる。ピットＡは第７及び第８ビット目にトラックセン
タから所定の距離だけウォブリングされて形成されてい
る。ピットＢは第１３及び第１４ビット目のトラックセ
ンタに形成されクロックピットをなしている。ピットＣ
は第１９及び第２０ビット目にトラックセンタから所定
の距離だけピットＡとは反対側にウォブリングされて形
成されている。ピットＡ及びＣは記録及び再生時にトラ
ッキングエラ―を検出するためのピットである。ピット
Ｄ，Ｅ，Ｆは直流制御ピットであり、ピットＤは第２７
〜第３２ビット目のトラックセンタに形成され、ピット
Ｅは第３５〜第４２ビット目のトラックセンタに形成さ
れ、ピットＦは第４５〜第４８ビット目のトラックセン
タに形成されている。このように６つのピットＡないし
Ｆによりサ―ボ部はピットの存在は２４ビット分であ
り、ピットの非存在は２４ビット分であるので、サ―ボ
パタ―ンはＤＣフリ―となっている。よって、図１(b)
に示すようにＤＳＶ（Digital Sum Value ）は０とな
る。
【０００７】本発明による光ディスクに用いられる読取
装置の光学系においては、図２に示すにようにレ―ザ源
１から発せられたレ―ザ光はレンズ２及びビ―ムスプリ
ッタ３を通過した後、対物レンズ４によって光ディスク
５上に集光され、光スポットを形成する。その光ディス
ク５からの反射光は対物レンズ４によって平行光に戻さ
れ、そしてビ―ムスプリッタ３によって反射され、更に
レンズ７を介して光検出器８上に集光される。光検出器
８はフォトダイオ―ドからなり、受光量に応じた検出電
流が流れる。
装置の光学系においては、図２に示すにようにレ―ザ源
１から発せられたレ―ザ光はレンズ２及びビ―ムスプリ
ッタ３を通過した後、対物レンズ４によって光ディスク
５上に集光され、光スポットを形成する。その光ディス
ク５からの反射光は対物レンズ４によって平行光に戻さ
れ、そしてビ―ムスプリッタ３によって反射され、更に
レンズ７を介して光検出器８上に集光される。光検出器
８はフォトダイオ―ドからなり、受光量に応じた検出電
流が流れる。
【０００８】一方、かかる読取装置の検出系において
は、図３に示すように光検出器８の出力にはＩ−Ｖ変換
器９が接続されている。Ｉ−Ｖ変換器９は光検出器８の
検出電流を電圧に変換する。Ｉ−Ｖ変換器９の出力には
コンデンサ１０ａ及び抵抗１０ｂによる微分回路からな
る高域通過フィルタ１０が接続され、高域通過フィルタ
１０出力にはコンパレ―タ１１が接続されている。コン
パレ―タ１１の出力が読取りデ―タ出力である。この出
力には２つのインバ―タ１２及び１３が直列に接続され
ている。インバ―タ１２及び１３の各出力には更に積分
回路１４及び１５が接続されている。積分回路１４は抵
抗１４ａ及びコンデンサ１４ｂからなり、積分回路１５
は抵抗１５ａ及びコンデンサ１５ｂからなる。積分回路
１４及び１５の出力電圧は差動増幅器１６に供給され
る。差動増幅器１６は演算増幅器１６ａ及び抵抗１６ｂ
ないし１６ｄからなる。この差動増幅器１６の出力電圧
が基準レベルとしてコンパレ―タ１１に供給されるよう
になっている。
は、図３に示すように光検出器８の出力にはＩ−Ｖ変換
器９が接続されている。Ｉ−Ｖ変換器９は光検出器８の
検出電流を電圧に変換する。Ｉ−Ｖ変換器９の出力には
コンデンサ１０ａ及び抵抗１０ｂによる微分回路からな
る高域通過フィルタ１０が接続され、高域通過フィルタ
１０出力にはコンパレ―タ１１が接続されている。コン
パレ―タ１１の出力が読取りデ―タ出力である。この出
力には２つのインバ―タ１２及び１３が直列に接続され
ている。インバ―タ１２及び１３の各出力には更に積分
回路１４及び１５が接続されている。積分回路１４は抵
抗１４ａ及びコンデンサ１４ｂからなり、積分回路１５
は抵抗１５ａ及びコンデンサ１５ｂからなる。積分回路
１４及び１５の出力電圧は差動増幅器１６に供給され
る。差動増幅器１６は演算増幅器１６ａ及び抵抗１６ｂ
ないし１６ｄからなる。この差動増幅器１６の出力電圧
が基準レベルとしてコンパレ―タ１１に供給されるよう
になっている。
【０００９】図１(a) に示した本発明の光ディスクのサ
―ボ部のピットパタ―ンに対し、Ｉ−Ｖ変換器９から出
力されるＲＦ信号は図１(c) に示すように変化する。こ
のＲＦ信号はコンパレ―タ１１において基準レベルと比
較されて２値化され、これにより０，１のデ―タが読み
出される。一方、このコンパレ―タ１１の２値化信号は
インバ―タ１２によって反転された後、積分回路１４に
よって平均化される。また、インバ―タ１２の反転信号
は更にインバ―タ１３によって反転された後、積分回路
１５によって平均化される。この検出系の回路は、積分
回路１４及び１５の出力電圧の差分を差動増幅器１６に
よって基準レベルとして帰還することにより、デ―タ出
力の高レベルと低レベルとの時間率が同一になるように
基準レベルを制御する。入力信号がＤＣフリ―符号であ
れば、出力の高レベルと低レベルとの時間率は一致する
はずである。従って、正しい基準レベルで図１(d) に示
すようにＲＦ信号を２値化することができる。
―ボ部のピットパタ―ンに対し、Ｉ−Ｖ変換器９から出
力されるＲＦ信号は図１(c) に示すように変化する。こ
のＲＦ信号はコンパレ―タ１１において基準レベルと比
較されて２値化され、これにより０，１のデ―タが読み
出される。一方、このコンパレ―タ１１の２値化信号は
インバ―タ１２によって反転された後、積分回路１４に
よって平均化される。また、インバ―タ１２の反転信号
は更にインバ―タ１３によって反転された後、積分回路
１５によって平均化される。この検出系の回路は、積分
回路１４及び１５の出力電圧の差分を差動増幅器１６に
よって基準レベルとして帰還することにより、デ―タ出
力の高レベルと低レベルとの時間率が同一になるように
基準レベルを制御する。入力信号がＤＣフリ―符号であ
れば、出力の高レベルと低レベルとの時間率は一致する
はずである。従って、正しい基準レベルで図１(d) に示
すようにＲＦ信号を２値化することができる。
【００１０】なお、ピットＡ及びＣはウォブルピットで
あるので、トラックセンタのトレ―スのため他のピット
よりＲＦ信号レベルの変化が小さくなる。よって、２値
化信号のパルス幅が狭くなるので、その分を直流制御ピ
ットのうちの例えば、ピットＥを図１(a) の破線の如く
広げて調整するようにしても良い。図４は図１(a) に示
したパタ―ンより倍密度のサ―ボ部のピットパタ―ン例
を示している。このサ―ボ部は２４ビット分の区間を有
し、１ビット当り０．２μｍである。トラックピッチは
０．４μｍであり、読取りビ―ムのスポット径は０．６
μｍである。このピットパタ―ンにおいてもサ―ボ部毎
に６つのピットＡないしＦ（図においてはトラックＴ１
(11)のみ符号を記している）が形成されている。ピット
Ａは第４ビット目にトラックセンタから０．２μｍだけ
外周方向にウォブリングされて形成されている。ピット
Ｂは第７ビット目のトラックセンタに形成されクロック
ピットをなしている。ピットＣは第１０ビット目にトラ
ックセンタから０．２μｍだけ内周方向にウォブリング
されて形成されている。各トラックのピットＡ，Ｃは隣
接トラックのピットＡ，Ｃとして兼用される。ピット
Ｄ，Ｅ，Ｆは直流制御ピットであり、トラック番号毎に
ピット長が定められている。すなわち、ピットＤ，Ｅ，
Ｆには３種類のピット長Ｌ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 （ただし、Ｌ
1 ＞Ｌ2 ＞Ｌ3 ）のいずれかが定められる。ピット長Ｌ
1 は４ビット分あり、ピット長Ｌ2 は３ビット分あり、
ピット長Ｌ3 は２ビット分ある。ピットＤ及びＥは奇数
トラックと偶数トラックとでピット長が異なり、また１
６トラック毎にピットＦのピット長が変化する。図４に
示したパタ―ンにおいては、内周側の１６トラックＴ１
の奇数トラック（例えば、図４におけるＴ１(11)，Ｔ１
(13)，Ｔ１(15)）ではピットＤはピット長Ｌ2 、ピット
Ｅはピット長Ｌとなり1 、偶数トラック（例えば、図４
におけるＴ１(12)，Ｔ１(14)，Ｔ１(16)）では逆になり
ピットＤはピット長Ｌ1 、ピットＥはピット長Ｌ2 とな
り、ピットＦはピット長Ｌ3 のままである。次の１６ト
ラックＴ２ではピットＦはピット長Ｌ2 に変化し、奇数
トラックではピットＤ及びＥは共にピット長Ｌ2 とな
り、偶数トラックではピットＤはピット長Ｌ1 、ピット
Ｅはピット長Ｌ3となる。これを１６トラック毎に繰り
返すことが行なわれる。
あるので、トラックセンタのトレ―スのため他のピット
よりＲＦ信号レベルの変化が小さくなる。よって、２値
化信号のパルス幅が狭くなるので、その分を直流制御ピ
ットのうちの例えば、ピットＥを図１(a) の破線の如く
広げて調整するようにしても良い。図４は図１(a) に示
したパタ―ンより倍密度のサ―ボ部のピットパタ―ン例
を示している。このサ―ボ部は２４ビット分の区間を有
し、１ビット当り０．２μｍである。トラックピッチは
０．４μｍであり、読取りビ―ムのスポット径は０．６
μｍである。このピットパタ―ンにおいてもサ―ボ部毎
に６つのピットＡないしＦ（図においてはトラックＴ１
(11)のみ符号を記している）が形成されている。ピット
Ａは第４ビット目にトラックセンタから０．２μｍだけ
外周方向にウォブリングされて形成されている。ピット
Ｂは第７ビット目のトラックセンタに形成されクロック
ピットをなしている。ピットＣは第１０ビット目にトラ
ックセンタから０．２μｍだけ内周方向にウォブリング
されて形成されている。各トラックのピットＡ，Ｃは隣
接トラックのピットＡ，Ｃとして兼用される。ピット
Ｄ，Ｅ，Ｆは直流制御ピットであり、トラック番号毎に
ピット長が定められている。すなわち、ピットＤ，Ｅ，
Ｆには３種類のピット長Ｌ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 （ただし、Ｌ
1 ＞Ｌ2 ＞Ｌ3 ）のいずれかが定められる。ピット長Ｌ
1 は４ビット分あり、ピット長Ｌ2 は３ビット分あり、
ピット長Ｌ3 は２ビット分ある。ピットＤ及びＥは奇数
トラックと偶数トラックとでピット長が異なり、また１
６トラック毎にピットＦのピット長が変化する。図４に
示したパタ―ンにおいては、内周側の１６トラックＴ１
の奇数トラック（例えば、図４におけるＴ１(11)，Ｔ１
(13)，Ｔ１(15)）ではピットＤはピット長Ｌ2 、ピット
Ｅはピット長Ｌとなり1 、偶数トラック（例えば、図４
におけるＴ１(12)，Ｔ１(14)，Ｔ１(16)）では逆になり
ピットＤはピット長Ｌ1 、ピットＥはピット長Ｌ2 とな
り、ピットＦはピット長Ｌ3 のままである。次の１６ト
ラックＴ２ではピットＦはピット長Ｌ2 に変化し、奇数
トラックではピットＤ及びＥは共にピット長Ｌ2 とな
り、偶数トラックではピットＤはピット長Ｌ1 、ピット
Ｅはピット長Ｌ3となる。これを１６トラック毎に繰り
返すことが行なわれる。
【００１１】このようにピットＤ，Ｅ，Ｆを形成するこ
とにより、図４の如くクロックピットＢを基準にした地
点ｔ1 ，ｔ2 のＲＦ信号レベルの差を検出すれば現トラ
ックが奇数及び偶数トラックのいずれであるかを識別す
ることができ、また２トラック単位のカウントをするこ
とができる。また、クロックピットＢを基準にした地点
ｔ3 ，ｔ4 のＲＦ信号レベルの差を検出すれば１６トラ
ック単位のカウントをすることができる。
とにより、図４の如くクロックピットＢを基準にした地
点ｔ1 ，ｔ2 のＲＦ信号レベルの差を検出すれば現トラ
ックが奇数及び偶数トラックのいずれであるかを識別す
ることができ、また２トラック単位のカウントをするこ
とができる。また、クロックピットＢを基準にした地点
ｔ3 ，ｔ4 のＲＦ信号レベルの差を検出すれば１６トラ
ック単位のカウントをすることができる。
【００１２】
【発明の効果】本発明のサンプルドサ―ボ方式の光ディ
スクにおいては、サ―ボパタ―ンがＤＣフリ―符号とな
っているので、サ―ボ部及びデ―タ部共にＤＣフリ―に
することができる。よって、デ―タ読取装置の基準レベ
ルがサ―ボ部及びデ―タ部共にほぼ一定となるので、Ｄ
Ｃフリ―符号の性質を利用した回路構成にすることがで
き、また基準レベル変動を抑制するためのクランプ回路
等の回路が不必要となりデ―タ読取装置の構成を簡単な
構成のものとすることができる。
スクにおいては、サ―ボパタ―ンがＤＣフリ―符号とな
っているので、サ―ボ部及びデ―タ部共にＤＣフリ―に
することができる。よって、デ―タ読取装置の基準レベ
ルがサ―ボ部及びデ―タ部共にほぼ一定となるので、Ｄ
Ｃフリ―符号の性質を利用した回路構成にすることがで
き、また基準レベル変動を抑制するためのクランプ回路
等の回路が不必要となりデ―タ読取装置の構成を簡単な
構成のものとすることができる。
【図１】本発明による光ディスクのピットパタ―ン、そ
のＤＳＶ及びピットパタ―ンによって得られる信号波形
を示す図である。
のＤＳＶ及びピットパタ―ンによって得られる信号波形
を示す図である。
【図２】読取装置の光学系を示す図である。
【図３】読取装置の検出系を示す図である。
【図４】本発明の他の実施例としてのピットパタ―ンを
示す図である。
示す図である。
【図５】サンプルドサ―ボ方式のサ―ボ部のピットパタ
―ンを示す図である。
―ンを示す図である。
１ レ―ザ源 ３ ビ―ムスプリッタ ５ 光ディスク ８ 光検出器 １０ 高域通過フィルタ １１ コンパレ―タ １４，１５ 積分回路 １６ 差動増幅器
Claims (2)
- 【請求項１】 サンプルドサ―ボ方式のサ―ボパタ―ン
を有する光ディスクであって、前記サ―ボパタ―ンがＤ
Ｃフリ―符号となっていることを特徴とする光ディス
ク。 - 【請求項２】 前記サ―ボパタ―ンは、トラッキングエ
ラ―検出のために互いに反対方向にウォブリングされた
２つのウォブルピットと、記録及び再生の際のクロック
パルス発生のための基準としての１つのクロックピット
と、ＤＣフリ―を得るための３つの直流制御ピットとか
らなることを特徴とする請求項１記載の光ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23514691A JPH0573922A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | サンプルドサーボ方式の光デイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23514691A JPH0573922A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | サンプルドサーボ方式の光デイスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0573922A true JPH0573922A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=16981739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23514691A Pending JPH0573922A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | サンプルドサーボ方式の光デイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0573922A (ja) |
-
1991
- 1991-09-13 JP JP23514691A patent/JPH0573922A/ja active Pending
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