JPH0572168A - 電解質分析装置 - Google Patents
電解質分析装置Info
- Publication number
- JPH0572168A JPH0572168A JP3263207A JP26320791A JPH0572168A JP H0572168 A JPH0572168 A JP H0572168A JP 3263207 A JP3263207 A JP 3263207A JP 26320791 A JP26320791 A JP 26320791A JP H0572168 A JPH0572168 A JP H0572168A
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- JP
- Japan
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- calibration
- sample
- liquid
- diluted
- solution
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 校正を簡略化する。
【構成】 測定部２に検体や校正液を希釈して供給し、
また希釈液自体も供給できるように、サンプリングノズ
ル６から分注ポット４に検体又は校正液が供給され、分
注ポットで希釈された検体や校正液又は希釈液自体が測
定部２へ供給される。校正の際には濃度が既知の校正液
をオートサンプラのサンプルカップ１２からサンプリン
グノズル６で分注ポット４に分注し、希釈液で希釈して
測定部２へ導き、校正液の電位と希釈液の電位との電位
差を求め、検量線を校正する。
また希釈液自体も供給できるように、サンプリングノズ
ル６から分注ポット４に検体又は校正液が供給され、分
注ポットで希釈された検体や校正液又は希釈液自体が測
定部２へ供給される。校正の際には濃度が既知の校正液
をオートサンプラのサンプルカップ１２からサンプリン
グノズル６で分注ポット４に分注し、希釈液で希釈して
測定部２へ導き、校正液の電位と希釈液の電位との電位
差を求め、検量線を校正する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はイオン選択電極と比較電
極を備えた測定部に検体を希釈液で希釈して供給する希
釈部を備えて検体の電解質成分を測定する電解質分析装
置に関するものである。このような電解質分析装置は血
液や尿などの体液中の電解質（Ｎａ，Ｋ，Ｃｌなど）を
測定する臨床用分析装置として利用されている。
極を備えた測定部に検体を希釈液で希釈して供給する希
釈部を備えて検体の電解質成分を測定する電解質分析装
置に関するものである。このような電解質分析装置は血
液や尿などの体液中の電解質（Ｎａ，Ｋ，Ｃｌなど）を
測定する臨床用分析装置として利用されている。
【０００２】
【従来の技術】イオン選択電極は、通常、オフセット電
圧とスパン（検量線の傾き、ネルンストの傾きとも呼
ぶ）がドリフトするため、定期的に校正を行なうことが
不可欠である。通常、スパンを決めるためには濃度の異
なる二種類の校正液を用い、２点間で校正することが必
要である。したがって校正液としては濃度の異なる二種
類の校正液が用意されている。
圧とスパン（検量線の傾き、ネルンストの傾きとも呼
ぶ）がドリフトするため、定期的に校正を行なうことが
不可欠である。通常、スパンを決めるためには濃度の異
なる二種類の校正液を用い、２点間で校正することが必
要である。したがって校正液としては濃度の異なる二種
類の校正液が用意されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】校正液を供給するには
使用者が校正を行ないたいときに校正液をサンプルカッ
プに入れてオートサンプラ上に置くか、又は装置内に二
種類の校正液を自動的に供給する機構を設けるかのいず
れかである。使用者がその都度操作する方法では、操作
が煩雑であり、自動供給機構では二種類の校正液を扱う
ために機構が複雑になるという欠点がある。また、二種
類の校正液を測定しなければならないため、時間がかか
るという問題もある。本発明は校正を簡略化した電解質
分析装置を提供することを目的とするものである。
使用者が校正を行ないたいときに校正液をサンプルカッ
プに入れてオートサンプラ上に置くか、又は装置内に二
種類の校正液を自動的に供給する機構を設けるかのいず
れかである。使用者がその都度操作する方法では、操作
が煩雑であり、自動供給機構では二種類の校正液を扱う
ために機構が複雑になるという欠点がある。また、二種
類の校正液を測定しなければならないため、時間がかか
るという問題もある。本発明は校正を簡略化した電解質
分析装置を提供することを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明では、希釈液には
被測定電解質を一定濃度で含有させ、校正液として一種
類のみの校正液を供給する校正液自動供給機構を設け、
その校正液の測定値と希釈液自体の測定値とから検量線
の傾きを校正する。
被測定電解質を一定濃度で含有させ、校正液として一種
類のみの校正液を供給する校正液自動供給機構を設け、
その校正液の測定値と希釈液自体の測定値とから検量線
の傾きを校正する。
【０００５】
【作用】検体の測定の際には希釈液で希釈した検体と希
釈液自体とを測定することにより、オフセットのドリフ
トをキャンセルする。校正の際には希釈液で希釈した校
正液と希釈液自身とを測定することにより、スパンの補
正を行なう。希釈液自体の測定は検体の測定ごとに行な
われていることでもあり、校正のために希釈液自体を測
定するとしてもそのために校正時間が延びるということ
はない。校正液は一種類ですむことから、校正時間が短
かくなる。
釈液自体とを測定することにより、オフセットのドリフ
トをキャンセルする。校正の際には希釈液で希釈した校
正液と希釈液自身とを測定することにより、スパンの補
正を行なう。希釈液自体の測定は検体の測定ごとに行な
われていることでもあり、校正のために希釈液自体を測
定するとしてもそのために校正時間が延びるということ
はない。校正液は一種類ですむことから、校正時間が短
かくなる。
【０００６】
【実施例】図１は一実施例を概略的に表わしたものであ
る。測定部２にはイオン選択電極としてＮａ測定電極２
ａ、Ｋ測定電極２ｂ、Ｃｌ測定電極２ｃ及び比較電極２
ｄが設けられており、検体、校正液及び希釈液はこれら
の電極に沿って流された後に排出される。測定部２に検
体や校正液を希釈して供給し、また希釈液自体も供給で
きるように、分注ポット４が設けられており、分注ポッ
ト４にはサンプリングノズル６から検体又は校正液が供
給され、希釈液も供給されて、分注ポットで希釈された
検体や校正液又は希釈液自体が測定部２へ供給される。
１５はドレイン１４につながる排液瓶である。
る。測定部２にはイオン選択電極としてＮａ測定電極２
ａ、Ｋ測定電極２ｂ、Ｃｌ測定電極２ｃ及び比較電極２
ｄが設けられており、検体、校正液及び希釈液はこれら
の電極に沿って流された後に排出される。測定部２に検
体や校正液を希釈して供給し、また希釈液自体も供給で
きるように、分注ポット４が設けられており、分注ポッ
ト４にはサンプリングノズル６から検体又は校正液が供
給され、希釈液も供給されて、分注ポットで希釈された
検体や校正液又は希釈液自体が測定部２へ供給される。
１５はドレイン１４につながる排液瓶である。
【０００７】分注ポット４に検体、校正液又は希釈液を
分注するために、サンプリングノズル６にはシリンジポ
ンプ８ａが接続されており、サンプリングノズル６は分
注ポット４の位置、オートサンプラ１０のサンプルカッ
プ１２の位置、及びドレイン１４の位置の間を移動する
ことができるように支持されている。サンプリングノズ
ル６とシリンジポンプ８ａの間の流路には希釈液１６が
供給されるように切換え弁１８を介して希釈液流路が接
続されている。分注ポット４にはまた、希釈液を供給す
るシリンジポンプ８ｂが接続されており、分注ポット４
とシリンジポンプ８ｂの間の流路には切換え弁２０を介
して希釈液流路が接続されている。シリンジポンプ８ａ
と８ｂはモータ２２を備えた駆動機構によって同時に駆
動される。
分注するために、サンプリングノズル６にはシリンジポ
ンプ８ａが接続されており、サンプリングノズル６は分
注ポット４の位置、オートサンプラ１０のサンプルカッ
プ１２の位置、及びドレイン１４の位置の間を移動する
ことができるように支持されている。サンプリングノズ
ル６とシリンジポンプ８ａの間の流路には希釈液１６が
供給されるように切換え弁１８を介して希釈液流路が接
続されている。分注ポット４にはまた、希釈液を供給す
るシリンジポンプ８ｂが接続されており、分注ポット４
とシリンジポンプ８ｂの間の流路には切換え弁２０を介
して希釈液流路が接続されている。シリンジポンプ８ａ
と８ｂはモータ２２を備えた駆動機構によって同時に駆
動される。
【０００８】次に、図１の実施例の動作について説明す
る。検体測定時はノズル６によりサンプルカップ１２か
ら検体を吸引し、シリンジポンプ８ａにより分注ポット
４へ希釈液とともに押し出し、分注ポットでシリンジポ
ンプ８ｂから供給された希釈液で希釈して測定部２へ送
る。希釈倍率はシリンジポンプ８ａと８ｂの容積比によ
り決まる。希釈された検体が測定部２までくると、その
時点の電位を測定する。そのままシリンジポンプ８ａ，
８ｂを押し出していくと、やがて測定部２へ流れてくる
のは希釈液のみとなり、そのときの電位も測定する。希
釈液は流路及び測定部２の洗浄も兼ねることになる。
る。検体測定時はノズル６によりサンプルカップ１２か
ら検体を吸引し、シリンジポンプ８ａにより分注ポット
４へ希釈液とともに押し出し、分注ポットでシリンジポ
ンプ８ｂから供給された希釈液で希釈して測定部２へ送
る。希釈倍率はシリンジポンプ８ａと８ｂの容積比によ
り決まる。希釈された検体が測定部２までくると、その
時点の電位を測定する。そのままシリンジポンプ８ａ，
８ｂを押し出していくと、やがて測定部２へ流れてくる
のは希釈液のみとなり、そのときの電位も測定する。希
釈液は流路及び測定部２の洗浄も兼ねることになる。
【０００９】測定部２の検出信号を記録紙に記録させる
と、例えば図２に示されるようなピークが得られる。そ
の２つのレベルの電位差をΔＥｘとすると、検体の濃度
Ｃｘは次の（１）式により表わされる。
と、例えば図２に示されるようなピークが得られる。そ
の２つのレベルの電位差をΔＥｘとすると、検体の濃度
Ｃｘは次の（１）式により表わされる。
【数１】 ここで、Ｃｄは希釈液の濃度、Ｄは希釈率、Ｎはネルン
スト係数である。
スト係数である。
【００１０】校正の際には濃度が既知の校正液をオート
サンプラのサンプルカップ１２からサンプリングノズル
６で分注ポット４に分注し、希釈液で希釈して測定部２
へ導き、検体と同様に測定を行ない、校正液のピーク電
位と希釈液自体の電位を検出し、電位差ΔＥを求める。
校正液の濃度Ｃは次の（２）式により表わされる。
サンプラのサンプルカップ１２からサンプリングノズル
６で分注ポット４に分注し、希釈液で希釈して測定部２
へ導き、検体と同様に測定を行ない、校正液のピーク電
位と希釈液自体の電位を検出し、電位差ΔＥを求める。
校正液の濃度Ｃは次の（２）式により表わされる。
【数２】 （２）式からスパン（ネルンスト係数）Ｎは次の（３）
式により与えられて、校正が行なわれる。 Ｎ＝ΔＥ／log[{(Ｃ／Ｃｄ)＋(Ｄ−１）}／Ｄ] （３）
式により与えられて、校正が行なわれる。 Ｎ＝ΔＥ／log[{(Ｃ／Ｃｄ)＋(Ｄ−１）}／Ｄ] （３）
【００１１】この方式では希釈液の濃度Ｃｄ及び希釈率
Ｄの変動に対しては補償できないが、例えば校正液の濃
度がＮａで１４０（ｍｍｏｌ／ｌ）、Ｋで４．０（ｍｍ
ｏｌ／ｌ）、Ｃｌで１００（ｍｍｏｌ／ｌ）とし、希釈
液の濃度Ｃｄを校正液の濃度の１／２０とし、希釈率Ｄ
＝２１．７とした条件で、希釈液の濃度Ｃｄが±２％変
動した場合を考えてみると、測定値の変動はＮａで±
０．２％以下（Ｎａが１００〜１８０の範囲）、Ｋで±
０．５％以下（Ｋが２〜８の範囲）、Ｃｌで±０．３％
以下（Ｃｌが６０〜１４０の範囲）となって測定誤差範
囲内である。希釈率Ｄが変動した場合についてもほぼ同
様の結果となる。すなわち、希釈率の誤差や希釈液濃度
の誤差は、希釈液自身で希釈することによりある程度キ
ャンセルされるという利点がある。図１の実施例の流路
は一例であり、測定部に検体や校正液を希釈して供給す
る希釈部の流路は図１に限定されるものではない。
Ｄの変動に対しては補償できないが、例えば校正液の濃
度がＮａで１４０（ｍｍｏｌ／ｌ）、Ｋで４．０（ｍｍ
ｏｌ／ｌ）、Ｃｌで１００（ｍｍｏｌ／ｌ）とし、希釈
液の濃度Ｃｄを校正液の濃度の１／２０とし、希釈率Ｄ
＝２１．７とした条件で、希釈液の濃度Ｃｄが±２％変
動した場合を考えてみると、測定値の変動はＮａで±
０．２％以下（Ｎａが１００〜１８０の範囲）、Ｋで±
０．５％以下（Ｋが２〜８の範囲）、Ｃｌで±０．３％
以下（Ｃｌが６０〜１４０の範囲）となって測定誤差範
囲内である。希釈率Ｄが変動した場合についてもほぼ同
様の結果となる。すなわち、希釈率の誤差や希釈液濃度
の誤差は、希釈液自身で希釈することによりある程度キ
ャンセルされるという利点がある。図１の実施例の流路
は一例であり、測定部に検体や校正液を希釈して供給す
る希釈部の流路は図１に限定されるものではない。
【００１２】
【発明の効果】本発明の電解質分析装置では、希釈液に
被測定電解質を一定濃度で含有させ、校正液として一種
類のみの校正液を用い、その校正液の測定値と希釈液自
体の測定値とから検量線の傾きを校正するようにしたの
で、手動で校正液を供給するのに比べると操作が簡単で
あり、また校正液が一種類ですむので、二種類の校正液
を自動供給するのに比べて自動供給機構の構造が簡単に
なる。校正液を一種類にしたとしても、希釈液自体に被
測定電解質を含有しているので、二種類の校正液を用い
た場合と精度は変わらない。
被測定電解質を一定濃度で含有させ、校正液として一種
類のみの校正液を用い、その校正液の測定値と希釈液自
体の測定値とから検量線の傾きを校正するようにしたの
で、手動で校正液を供給するのに比べると操作が簡単で
あり、また校正液が一種類ですむので、二種類の校正液
を自動供給するのに比べて自動供給機構の構造が簡単に
なる。校正液を一種類にしたとしても、希釈液自体に被
測定電解質を含有しているので、二種類の校正液を用い
た場合と精度は変わらない。
【図１】一実施例を示す概略構成図である。
【図２】一実施例による測定結果のプリント例を示す波
形図である。
形図である。
２ 測定部 ２ａ Ｎａ測定電極 ２ｂ Ｋ測定電極 ２ｃ Ｃｌ測定電極 ２ｄ 比較電極 ４ 分注ポット ６ サンプリングノズル ８ａ，８ｂ シリンジポンプ １０ オートサンプラ １２ サンプルカップ
Claims (1)
- 【請求項１】 イオン選択電極と比較電極を備えた測定
部に検体を希釈液で希釈して供給する希釈部を備えて検
体の電解質成分を測定する電解質分析装置において、希
釈液には被測定電解質を一定濃度で含有させ、校正液と
して一種類のみの校正液を供給する校正液自動供給機構
を設け、その校正液の測定値と希釈液自体の測定値とか
ら検量線の傾きを校正することを特徴とする電解質分析
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3263207A JPH0572168A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 電解質分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3263207A JPH0572168A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 電解質分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572168A true JPH0572168A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=17386273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3263207A Pending JPH0572168A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 電解質分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572168A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62178115A (ja) * | 1986-01-30 | 1987-08-05 | 株式会社東芝 | 過電流継電器 |
| JP2010133742A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | A & T Corp | 電解質分析方法および電解質分析装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03287063A (ja) * | 1990-04-04 | 1991-12-17 | Joko:Kk | イオン濃度測定方法 |
-
1991
- 1991-09-13 JP JP3263207A patent/JPH0572168A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03287063A (ja) * | 1990-04-04 | 1991-12-17 | Joko:Kk | イオン濃度測定方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62178115A (ja) * | 1986-01-30 | 1987-08-05 | 株式会社東芝 | 過電流継電器 |
| JP2010133742A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | A & T Corp | 電解質分析方法および電解質分析装置 |
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