JPH0570954A - 排気ガス希釈装置 - Google Patents

排気ガス希釈装置

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Publication number
JPH0570954A
JPH0570954A JP23852391A JP23852391A JPH0570954A JP H0570954 A JPH0570954 A JP H0570954A JP 23852391 A JP23852391 A JP 23852391A JP 23852391 A JP23852391 A JP 23852391A JP H0570954 A JPH0570954 A JP H0570954A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exhaust gas
gas
concn
concentration
controller
Prior art date
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Pending
Application number
JP23852391A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinichi Uchino
伸一 内野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
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Publication of JPH0570954A publication Critical patent/JPH0570954A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4412Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】排気ガス濃度が変動した場合、即時に対応して
希釈して爆発,炎上を防止する。 【構成】排気ガス濃度コントローラーからの信号により
希釈ガスの流量を制御する。 【効果】排気ガス濃度を常に検知し、排気ガス濃度を常
に設定値通りにコントロール出来る為排気ガス濃度不適
(変動)によるトラブル(爆発,炎上等)を完全に防止
出来るという効果を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は排気ガス希釈装置にかか
り、特に半導体製造装置の排気装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は従来例の概略図である。従来、た
とえばCVD装置からの排気ガスは、ダクト6によっ
て、排気管1を通って図中矢印の方向へ排気されるが、
排気ガスが安全な濃度になる様希釈ガス流量計15で希
釈ガス流量を設定し、希釈ガス供給部7より希釈ガス導
入管2を通じて図中矢印の方向へ希釈ガスを供給するの
みであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した様に、従来
は、排気ガスの濃度を論理上希釈することが出来るのみ
で、実際の排気ガス濃度は判断がつかずそれに加えて、
排気管内の排気ガス濃度の変動時に即時に排気ガス濃度
を希望する値に変更することが出来ないという問題点が
あった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、排気装置に、
常に排気ガス濃度を検知しあらかじめ設定した設定値通
りに排気ガスの濃度をコントロールする機構を備える。
【0005】すなわち本発明の特徴は、排気ガスを流す
排気管と、排気ガス濃度を検知する排気ガス濃度検知器
と、応じてその濃度に希釈ガス(窒素ガス等)の流量を
コントロールする信号を出力する排気ガス濃度コントロ
ーラーと、排気ガス濃度コントローラーから出力された
信号を受信し、その信号の指示通り希釈ガスの流量を変
化させる希釈ガス流量コントローラーの付いた希釈ガス
導入管と、希釈ガス供給部とを備えた排気ガス希釈装置
にある。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0007】図1は本発明の第1の実施例の概略図であ
る。
【0008】半導体装置を製造するCVD装置からダク
ト6によって、排気ガスは、排気管1を通って、図中矢
印の方向へ排気されるが、その時、排気ガス濃度検知器
4にて、排気ガス濃度を測定し、排気ガス濃度を任意に
設定出来る排気ガス濃度コントローラー3にて、設定通
りの安全な排気ガス濃度かどうか判断し、希釈ガス流量
コントローラー5に対し必要な希釈ガス(例えば窒素が
2)流量になる様希釈ガス流量コントロール送信ケーブ
ル10を通じて喪心する。これを受信した希釈ガスコン
トローラー5は指示通りに希釈ガス流量を調整し、希釈
ガス導入管2を通じて希釈ガス供給部7より排気管1
へ、希釈ガスを流す(図中矢印)。これらの動作は、継
続し行われ、常に排気ガスは設定通りの濃度まで希釈さ
れ排気される。
【0009】図2は本発明の第2の実施例の概略図であ
る。第2の実施例は第1の実施例と同様に排気ガスを設
定通りの安全な濃度まで希釈して排気するが、第1の実
施例1排気ガス濃度の急激な上昇があった場合、排気ガ
ス濃度検知器4、排気ガス濃度コントローラー3の希釈
ガス流量コントロールによる排気ガス濃度希釈のみで
は、既にダクト6近傍まで到達した高濃度の排気ガスの
濃度希釈はむずかしくなる。その為、第2の実施例では
ダクト近傍まで到達した高濃度の排気ガスを希釈する目
的で、ダクト6近傍に緊急希釈ガス導入管8及び緊急希
釈ガス流量コントローラー9を備え、排気ガス濃度コン
トローラー3より必要な希釈ガスの流量の指示を緊急希
釈ガス流量コントロール送信ゲーブル11を通じて、受
信し、希釈ガスを必要な流量流し、排気ガスを希釈す
る。
【0010】この様に第2の実施例は第1の実施例に比
べ排気ガス濃度の急激な変化にも追従出来る利点を有し
ている。
【0011】
【発明の効果】以上、説明した様に、本発明は、排気ガ
スの濃度を常に検知し、排気ガス濃度変動時に即時に対
応して、設定値通りの排気ガス濃度に希釈し濃度不適に
よるトラブル(爆発,燃焼等)を完全に防止出来るとい
う効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の概略図である。
【図2】本発明の第2の実施例の概略図である。
【図3】従来技術を示す概略図である。
【符号の説明】
1 排気管 2 希釈ガス導入管 3 排気ガス濃度コントローラー 4 排気ガス濃度検知器 5 希釈ガス流量コントローラー 6 ダクト 7 希釈ガス供給部 8 緊急希釈ガス導入管 9 緊急希釈ガス流量コントロール 10 希釈ガス流量コントロール送信ケーブル 11 緊急希釈ガス流量コントロール 15 希釈ガス流量計

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 排気ガスを流す排気管と、排気ガス濃度
    を検知する排気ガス濃度検出器と、応じてその濃度に希
    釈ガスの流量をコントロールする信号を出力する排気ガ
    ス濃度コントローラーと、排気ガス濃度コントローラー
    から出力された信号を受信しその信号の指示通り希釈ガ
    スの流量を変化させる希釈ガス流量コントローラーの付
    いた希釈ガス導入管と、希釈ガス供給部とを備えたこと
    を特徴とする排気ガス希釈装置。
  2. 【請求項2】 前記希釈ガスは窒素ガスである請求項1
    に記載の排気ガス希釈装置。
JP23852391A 1991-09-19 1991-09-19 排気ガス希釈装置 Pending JPH0570954A (ja)

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JP23852391A JPH0570954A (ja) 1991-09-19 1991-09-19 排気ガス希釈装置

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JP23852391A JPH0570954A (ja) 1991-09-19 1991-09-19 排気ガス希釈装置

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JPH0570954A true JPH0570954A (ja) 1993-03-23

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JP23852391A Pending JPH0570954A (ja) 1991-09-19 1991-09-19 排気ガス希釈装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006344984A (ja) * 2006-07-06 2006-12-21 Hitachi Kokusai Electric Inc 水素アニール処理方法及びその装置
JP2011146704A (ja) * 2011-01-08 2011-07-28 Hitachi Kokusai Electric Inc 水素アニール処理方法及び水素アニール処理装置
WO2018179507A1 (ja) * 2017-03-27 2018-10-04 株式会社Kokusai Electric 半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム

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JP2011146704A (ja) * 2011-01-08 2011-07-28 Hitachi Kokusai Electric Inc 水素アニール処理方法及び水素アニール処理装置
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