JPH0564037A - 液晶装置におけるγ補正回路の自動調整方法及び自動調整装置 - Google Patents
液晶装置におけるγ補正回路の自動調整方法及び自動調整装置Info
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- JPH0564037A JPH0564037A JP3244798A JP24479891A JPH0564037A JP H0564037 A JPH0564037 A JP H0564037A JP 3244798 A JP3244798 A JP 3244798A JP 24479891 A JP24479891 A JP 24479891A JP H0564037 A JPH0564037 A JP H0564037A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 γ補正曲線データの設定を簡単に行う。
【構成】 液晶表示装置の入力電圧に対する輝度出力よ
りV−T特性を測定し、このV−T特定に基づき上記液
晶表示装置のγ補正が適正に行われるγ補正データをマ
イコンで演算し、この演算結果をγ補正データとしてγ
補正回路のメモリに記憶させるようにする。
りV−T特性を測定し、このV−T特定に基づき上記液
晶表示装置のγ補正が適正に行われるγ補正データをマ
イコンで演算し、この演算結果をγ補正データとしてγ
補正回路のメモリに記憶させるようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置におけるγ
補正回路の自動調整方法及び自動調整装置に係り、特に
3パネル方式の液晶プロジェクターにおける各液晶素子
の電圧−光透過率特性の非直線性や製造上等のバラツキ
を補正する液晶表示装置におけるγ補正回路の自動調整
方法及び自動調整装置に関するものである。
補正回路の自動調整方法及び自動調整装置に係り、特に
3パネル方式の液晶プロジェクターにおける各液晶素子
の電圧−光透過率特性の非直線性や製造上等のバラツキ
を補正する液晶表示装置におけるγ補正回路の自動調整
方法及び自動調整装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4はγ補正回路を備えた従来の液晶表
示装置のブロック図である。入力端子100より供給さ
れる映像信号はA/D変換回路101でデジタル信号に
変換された後、γ補正回路102でγ補正され、D/A
変換回路103に導かれる。D/A変換回路103では
再びアナログ信号に変換された後、増幅回路104に導
かれ振幅調整回路105で振幅調整が行われ、更にバイ
アス調整回路106でバイアス調整が行われて、交流駆
動回路107に導かれ交流信号に変換されて液晶表示素
子108に供給され、該液晶表示素子108を交流駆動
する。
示装置のブロック図である。入力端子100より供給さ
れる映像信号はA/D変換回路101でデジタル信号に
変換された後、γ補正回路102でγ補正され、D/A
変換回路103に導かれる。D/A変換回路103では
再びアナログ信号に変換された後、増幅回路104に導
かれ振幅調整回路105で振幅調整が行われ、更にバイ
アス調整回路106でバイアス調整が行われて、交流駆
動回路107に導かれ交流信号に変換されて液晶表示素
子108に供給され、該液晶表示素子108を交流駆動
する。
【0003】上記の液晶表示装置においてγ補正回路1
02におけるγ補正曲線を決めるためのデータの調整
は、液晶表示素子毎に入力端子100より入力した基準
信号に基づく液晶表示素子108の透過率(光変調され
た出力輝度)を測定し、この入力電圧の変化に対する輝
度出力の変化即ちV−T特性に基づき各液晶表示素子1
08のγ補正データを個々に算出して、この算出したデ
ータを外部装置109より各液晶表示素子のγ補正回路
102に記憶させることで行っており、各表示素子毎に
手作業で行われていた。
02におけるγ補正曲線を決めるためのデータの調整
は、液晶表示素子毎に入力端子100より入力した基準
信号に基づく液晶表示素子108の透過率(光変調され
た出力輝度)を測定し、この入力電圧の変化に対する輝
度出力の変化即ちV−T特性に基づき各液晶表示素子1
08のγ補正データを個々に算出して、この算出したデ
ータを外部装置109より各液晶表示素子のγ補正回路
102に記憶させることで行っており、各表示素子毎に
手作業で行われていた。
【0004】図5は上記外部装置109によりγ補正曲
線を決める場合の基準入力信号波形と各部の信号波形で
ある。この場合、液晶駆動方式としては、1H反転,1
フィールド反転交流駆動方式を用いており、入力端子1
00より供給する基準信号は(a)に示すようなランプ
波形信号である。また、この場合のγ補正は、通常のカ
メラのγ補正についての考慮はなされておらず、液晶表
示素子の電圧−透過率特性(V−T特性)に対する補正
を対象にしている。
線を決める場合の基準入力信号波形と各部の信号波形で
ある。この場合、液晶駆動方式としては、1H反転,1
フィールド反転交流駆動方式を用いており、入力端子1
00より供給する基準信号は(a)に示すようなランプ
波形信号である。また、この場合のγ補正は、通常のカ
メラのγ補正についての考慮はなされておらず、液晶表
示素子の電圧−透過率特性(V−T特性)に対する補正
を対象にしている。
【0005】入力端子100より入力された図5(a)
に示すランプ波形信号は、A/D変換回路101で量子
化され、汎用のメモリ等で構成されたγ補正回路102
でγ補正され、D/A変換回路103で図5に示す波形
(b)になる。この場合γ補正回路102には外部装置
102により、予めγ補正データが設定されている。
に示すランプ波形信号は、A/D変換回路101で量子
化され、汎用のメモリ等で構成されたγ補正回路102
でγ補正され、D/A変換回路103で図5に示す波形
(b)になる。この場合γ補正回路102には外部装置
102により、予めγ補正データが設定されている。
【0006】上記のようにしてγ補正が施された図5に
示す波形(b)は振幅調整回路105で振幅が調整さ
れ、更に増幅器104及びバイアス調整回路106でバ
イアスが調整されて図5に示す波形(c)となる。この
波形(c)を交流駆動回路107で図5の(d)に示す
ような交流信号にして液晶表示素子108に供給し、液
晶表示素子108に直流成分が重畳されるのを防止す
る。
示す波形(b)は振幅調整回路105で振幅が調整さ
れ、更に増幅器104及びバイアス調整回路106でバ
イアスが調整されて図5に示す波形(c)となる。この
波形(c)を交流駆動回路107で図5の(d)に示す
ような交流信号にして液晶表示素子108に供給し、液
晶表示素子108に直流成分が重畳されるのを防止す
る。
【0007】ところでγ補正を行う場合のγ補正データ
は個々の液晶表示素子108のV−T特性に依存し、こ
のV−T特性は液晶表示素子の製造上のバラツキが大き
いために個々の液晶表示素子毎にかなり相違する。また
液晶表示素子への入射光色毎のバラツキや、光学システ
ム等の特性のバラツキ等にも依存する。従って、最適な
γ補正を行うには、液晶表示素子毎にγ補正データを決
定する必要がある。
は個々の液晶表示素子108のV−T特性に依存し、こ
のV−T特性は液晶表示素子の製造上のバラツキが大き
いために個々の液晶表示素子毎にかなり相違する。また
液晶表示素子への入射光色毎のバラツキや、光学システ
ム等の特性のバラツキ等にも依存する。従って、最適な
γ補正を行うには、液晶表示素子毎にγ補正データを決
定する必要がある。
【0008】図6及び図7はγ補正データを液晶表示素
子毎に設定する場合の構成を示す図である。図6におけ
るγ補正装置111は図4におけるA/D変換回路10
1,γ補正回路102及びD/A変換回路103に相当
し、また増幅及び交流駆動装置112は図4における増
幅回路104,振幅調整回路105,バイアス調整回路
106及び交流駆動回路107に相当しており、これら
の回路はR(赤),R(緑),B(青)についてそれぞ
れ設けられる。また上記γ補正装置111は図7に示す
ような構成になっている。
子毎に設定する場合の構成を示す図である。図6におけ
るγ補正装置111は図4におけるA/D変換回路10
1,γ補正回路102及びD/A変換回路103に相当
し、また増幅及び交流駆動装置112は図4における増
幅回路104,振幅調整回路105,バイアス調整回路
106及び交流駆動回路107に相当しており、これら
の回路はR(赤),R(緑),B(青)についてそれぞ
れ設けられる。また上記γ補正装置111は図7に示す
ような構成になっている。
【0009】入力端子100より入力される映像信号は
γ補正装置111のA/D変換回路101でデジタル信
号に変換され、図7に示すγ−RAM120のアドレス
ピンに導かれる。γ−RAM120では入力されたアド
レスに対応するデータが入力されるデジタル映像信号の
γ補正データとなって、データバスより出力され、上記
デジタル映像信号を上記γ補正データに基づいてγ補正
し、次段のD/A変換回路でアナログ信号に変換して、
γ補正の施された映像信号として出力する。
γ補正装置111のA/D変換回路101でデジタル信
号に変換され、図7に示すγ−RAM120のアドレス
ピンに導かれる。γ−RAM120では入力されたアド
レスに対応するデータが入力されるデジタル映像信号の
γ補正データとなって、データバスより出力され、上記
デジタル映像信号を上記γ補正データに基づいてγ補正
し、次段のD/A変換回路でアナログ信号に変換して、
γ補正の施された映像信号として出力する。
【0010】この場合γ補正データの設定は予め次のよ
うにして行われる。図6において、今、R(赤)の液晶
表示素子108におけるγ補正データの調整を行うに
は、先ずB(青),G(緑)の光出力を遮光板115で
遮光し、液晶表示装置108よりR(赤)の光変調出力
のみを光学的合成装置113に導き、輝度計114で上
記光学的合成装置より得られるR(赤)の光変調出力の
輝度を測定する。
うにして行われる。図6において、今、R(赤)の液晶
表示素子108におけるγ補正データの調整を行うに
は、先ずB(青),G(緑)の光出力を遮光板115で
遮光し、液晶表示装置108よりR(赤)の光変調出力
のみを光学的合成装置113に導き、輝度計114で上
記光学的合成装置より得られるR(赤)の光変調出力の
輝度を測定する。
【0011】この場合、図4に示す増幅回路104の利
得を振幅調整回路105の調整で行い、液晶表示素子1
08に対する印加電圧を変化させ、その時の出力輝度の
変化を輝度計114で測定し、光学系を含む液晶表示素
子108のV−T特性曲線を得る。
得を振幅調整回路105の調整で行い、液晶表示素子1
08に対する印加電圧を変化させ、その時の出力輝度の
変化を輝度計114で測定し、光学系を含む液晶表示素
子108のV−T特性曲線を得る。
【0012】上記のようにして得られた液晶表示素子1
08のV−T特性曲線は図8(d)に示すようになる。
従って、白表示時の印加電圧VWと黒表示時の印加電圧
VBが決れば、図8(a)に示す入力特性に対して図8
(c)に示すようなリニアな出力特性を得るためのγ補
正曲線は図8(b)に示すように一義的に決定すること
ができ、このγ補正曲線に対応したデジタルデータを算
出してこれをγ補正データとし、不揮発性メモリ122
に記憶させる。
08のV−T特性曲線は図8(d)に示すようになる。
従って、白表示時の印加電圧VWと黒表示時の印加電圧
VBが決れば、図8(a)に示す入力特性に対して図8
(c)に示すようなリニアな出力特性を得るためのγ補
正曲線は図8(b)に示すように一義的に決定すること
ができ、このγ補正曲線に対応したデジタルデータを算
出してこれをγ補正データとし、不揮発性メモリ122
に記憶させる。
【0013】以上の作業をB(青),G(緑)の各液晶
表示素子108についても行い、各液晶表示素子のγ補
正データの設定を完了する。上記不揮発性メモリ122
に記憶されたγ補正データは中央演算処理装置(以下
「CPU」という)121により所望のタイミングで読
み出され、上記γ−RAM120に転送されて映像信号
のγ補正を行う。
表示素子108についても行い、各液晶表示素子のγ補
正データの設定を完了する。上記不揮発性メモリ122
に記憶されたγ補正データは中央演算処理装置(以下
「CPU」という)121により所望のタイミングで読
み出され、上記γ−RAM120に転送されて映像信号
のγ補正を行う。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の方法では、
R,G,B各液晶表示素子についてV−T特性を測定
し、その測定結果よりγ補正データを算出する作業を全
て手作業で行っており、γ補正データをメモリに書き込
むのに相当の熟練を有した者が多くの時間を必要とし、
量産時や保守点検時の負担が大きくコスト高になるとい
う問題があった。
R,G,B各液晶表示素子についてV−T特性を測定
し、その測定結果よりγ補正データを算出する作業を全
て手作業で行っており、γ補正データをメモリに書き込
むのに相当の熟練を有した者が多くの時間を必要とし、
量産時や保守点検時の負担が大きくコスト高になるとい
う問題があった。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の問題を
解決するため、液晶装置の印加電圧に対する透過率特性
を輝度計で測定する測定ステップと、上記輝度計で測定
した透過率特性に基づき、入力電圧の変化に対して輝度
出力の変化が一直線性を持つように、上記液晶装置に適
合したγ補正曲線に対応するγ補正データを算出する演
算ステップと、該演算ステップで算出したγ補正データ
を、入力R,G,B各信号に対して上記液晶装置のγ補
正装置におけるγ補正を行うためのデータとしてγ補正
データ用メモリに書き込む書込ステップとを設けた構成
にする。
解決するため、液晶装置の印加電圧に対する透過率特性
を輝度計で測定する測定ステップと、上記輝度計で測定
した透過率特性に基づき、入力電圧の変化に対して輝度
出力の変化が一直線性を持つように、上記液晶装置に適
合したγ補正曲線に対応するγ補正データを算出する演
算ステップと、該演算ステップで算出したγ補正データ
を、入力R,G,B各信号に対して上記液晶装置のγ補
正装置におけるγ補正を行うためのデータとしてγ補正
データ用メモリに書き込む書込ステップとを設けた構成
にする。
【0016】また液晶装置の印加電圧に対する透過率特
性を計測する透過率計測手段と、該透過率計測手段で計
測した液晶装置の印加電圧に対する透過率特性に基づ
き、上記液晶装置に適合したγ補正曲線に対応するγ補
正データを算出する演算手段と、該演算手段で算出した
γ補正データを、上記液晶装置のγ補正データとして記
憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶されたγ補正デー
タにより入力R,G,B各信号に対して上記液晶装置の
γ補正をそれぞれ所望の値に行うγ補正手段とを設けた
構成にする。
性を計測する透過率計測手段と、該透過率計測手段で計
測した液晶装置の印加電圧に対する透過率特性に基づ
き、上記液晶装置に適合したγ補正曲線に対応するγ補
正データを算出する演算手段と、該演算手段で算出した
γ補正データを、上記液晶装置のγ補正データとして記
憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶されたγ補正デー
タにより入力R,G,B各信号に対して上記液晶装置の
γ補正をそれぞれ所望の値に行うγ補正手段とを設けた
構成にする。
【0017】
【作用】上記の構成によれば、液晶装置へ印加する印加
電圧を変化させると、この変化に対する輝度出力が変化
し、上記液晶装置の透過率特性が計測される。この計測
された透過率特性に基づき、演算装置で上記液晶装置へ
の印加電圧の変化に対して輝度出力の変化が直線性を持
つようなγ補正データを算出し、このγ補正データを上
記液晶装置におけるγ補正回路のγ補正データ記憶手段
に自動的に書き込む。
電圧を変化させると、この変化に対する輝度出力が変化
し、上記液晶装置の透過率特性が計測される。この計測
された透過率特性に基づき、演算装置で上記液晶装置へ
の印加電圧の変化に対して輝度出力の変化が直線性を持
つようなγ補正データを算出し、このγ補正データを上
記液晶装置におけるγ補正回路のγ補正データ記憶手段
に自動的に書き込む。
【0018】
【実施例】図1は本発明の一実施例のブロック図であ
り、図2は図1の要部のブロック図である。上記従来例
で説明した図6及び図7に対応する部分は同一符号を付
し説明を省略する。
り、図2は図1の要部のブロック図である。上記従来例
で説明した図6及び図7に対応する部分は同一符号を付
し説明を省略する。
【0019】図1において、1はγ補正装置であり、該
γ補正装置1は図2に示すような構成になっている。図
2において、3は後述する液晶装置の透過率特性データ
をCPU7に取り込む入力インターフェースであり、6
は上記透過率特性に基づき、上記CPU7で算出した液
晶装置への入力印加電圧の変化に対する輝度出力の変化
が直線性を持つようなγ補正データを記憶する再書込可
能な不揮発性メモリである。
γ補正装置1は図2に示すような構成になっている。図
2において、3は後述する液晶装置の透過率特性データ
をCPU7に取り込む入力インターフェースであり、6
は上記透過率特性に基づき、上記CPU7で算出した液
晶装置への入力印加電圧の変化に対する輝度出力の変化
が直線性を持つようなγ補正データを記憶する再書込可
能な不揮発性メモリである。
【0020】一方図1において、2は光学的合成装置1
13の輝度変化を読み取り、光学系を含む液晶装置の輝
度出力の変化を計測し、透過率特性を測定する輝度計で
あり、5は上記輝度計2より得られる透過率特性データ
を汎用のマイクロコンピュータ(以下「マイコン」とい
う)4に供給する入出力インターフェースであり、3は
上記マイコン4から得られるγ補正データを上記γ補正
装置1に供給する入出力インターフェースである。
13の輝度変化を読み取り、光学系を含む液晶装置の輝
度出力の変化を計測し、透過率特性を測定する輝度計で
あり、5は上記輝度計2より得られる透過率特性データ
を汎用のマイクロコンピュータ(以下「マイコン」とい
う)4に供給する入出力インターフェースであり、3は
上記マイコン4から得られるγ補正データを上記γ補正
装置1に供給する入出力インターフェースである。
【0021】上記γ補正装置1,増幅及び交流駆動装置
112及び液晶表示素子108より成る光変調装置、
8,9,10は映像信号のR,G,B各信号に対してそ
れぞれ設けられており、R,G,B各信号の液晶表示素
子108で変調された変調光は光学的合成装置113で
光学的に合成される。
112及び液晶表示素子108より成る光変調装置、
8,9,10は映像信号のR,G,B各信号に対してそ
れぞれ設けられており、R,G,B各信号の液晶表示素
子108で変調された変調光は光学的合成装置113で
光学的に合成される。
【0022】光学的合成装置113で合成された変調光
は通常の使用状態においてはスクリーン(図示せず)上
等に投影されて映像を映出する。γ補正の自動調整を行
う場合には上記光学的合成装置113からの変調光の輝
度変化を輝度計2で測定するようにする。また汎用マイ
コン4の出力はR,G,B各信号に対するγ補正装置1
のγ補正データとして供給され、各γ補正装置1に対し
て自由なγ補正曲線を設定できるようになっていると共
に、R,G,Bの各γ補正装置1に対して独立して設定
できるようになっている。
は通常の使用状態においてはスクリーン(図示せず)上
等に投影されて映像を映出する。γ補正の自動調整を行
う場合には上記光学的合成装置113からの変調光の輝
度変化を輝度計2で測定するようにする。また汎用マイ
コン4の出力はR,G,B各信号に対するγ補正装置1
のγ補正データとして供給され、各γ補正装置1に対し
て自由なγ補正曲線を設定できるようになっていると共
に、R,G,Bの各γ補正装置1に対して独立して設定
できるようになっている。
【0023】今、R,G,B全てのγ補正装置1に対し
て汎用マイコン4により図3(b)に示すようなγ曲線
を設定すれば、各液晶表示素子108には入力電圧の変
化にかかわりなく一定の電圧VBが印加され、黒パター
ンに相当する映像が出力される。
て汎用マイコン4により図3(b)に示すようなγ曲線
を設定すれば、各液晶表示素子108には入力電圧の変
化にかかわりなく一定の電圧VBが印加され、黒パター
ンに相当する映像が出力される。
【0024】次に上記の状態より汎用マイコン4により
Rのγ補正装置に対してのみ図3(a)に示すようなγ
曲線を設定すればRの液晶表示素子にのみ入力電圧の全
ての値に対して一定の出力電圧VWが印加され、白パタ
ーンに相当する映像出力が得られる。また汎用マイコン
4により図3(c)に示すようなγ曲線を設定すれば、
液晶表示素子には図8(b)における白レベルの印加電
圧VWと黒レベルの印加電圧VBの中間の電圧(VW+
VB)/2が印加され、この印加電圧に応じた映像出力
が得られる。
Rのγ補正装置に対してのみ図3(a)に示すようなγ
曲線を設定すればRの液晶表示素子にのみ入力電圧の全
ての値に対して一定の出力電圧VWが印加され、白パタ
ーンに相当する映像出力が得られる。また汎用マイコン
4により図3(c)に示すようなγ曲線を設定すれば、
液晶表示素子には図8(b)における白レベルの印加電
圧VWと黒レベルの印加電圧VBの中間の電圧(VW+
VB)/2が印加され、この印加電圧に応じた映像出力
が得られる。
【0025】このように汎用マイコン4によるγ曲線の
設定により液晶表示素子108への印加電圧を黒レベル
の電圧VBと白レベルの電圧VWの間で任意に変化させる
ことができる。この場合、G,Bの光変調装置9,10
は上記のように黒パターンに相当する映像が出力されて
いるので実質的に遮光されている場合と同程度になり、
遮光板による遮光を行う必要はない。
設定により液晶表示素子108への印加電圧を黒レベル
の電圧VBと白レベルの電圧VWの間で任意に変化させる
ことができる。この場合、G,Bの光変調装置9,10
は上記のように黒パターンに相当する映像が出力されて
いるので実質的に遮光されている場合と同程度になり、
遮光板による遮光を行う必要はない。
【0026】従って上記の状態において、光学的合成装
置113からの光変調された出力輝度を輝度計で測定す
れば、間接的にその電圧に対するRの液晶表示素子の透
過率を測定することができ、Rの液晶表示素子に対する
γ補正曲線を得るための十分な範囲のV−T曲線を得る
ことができる。
置113からの光変調された出力輝度を輝度計で測定す
れば、間接的にその電圧に対するRの液晶表示素子の透
過率を測定することができ、Rの液晶表示素子に対する
γ補正曲線を得るための十分な範囲のV−T曲線を得る
ことができる。
【0027】そして、上述のようにして得たRの液晶表
示素子108に対するV−T曲線に基づき該Rの液晶表
示素子108の適正なγ補正曲線データを汎用マイコン
4での演算により自動的に算出し、図2に示すインター
フェース3を介し、CPU7により再書込可能な不揮発
性メモリ6に記憶する。
示素子108に対するV−T曲線に基づき該Rの液晶表
示素子108の適正なγ補正曲線データを汎用マイコン
4での演算により自動的に算出し、図2に示すインター
フェース3を介し、CPU7により再書込可能な不揮発
性メモリ6に記憶する。
【0028】B,Gの光変調装置9,10に対するγ補
正曲線データの設定は上記のRの光変調装置8に対して
行ったと同様にして行われる。そして再書込可能な不揮
発性メモリ6に記録されたγ補正曲線データはCPU7
により切換回路11でタイミングをとってγ−RAM1
1に転送され、入力映像信号に対して各液晶表示素子の
V−T特性に合ったγ補正を行う。
正曲線データの設定は上記のRの光変調装置8に対して
行ったと同様にして行われる。そして再書込可能な不揮
発性メモリ6に記録されたγ補正曲線データはCPU7
により切換回路11でタイミングをとってγ−RAM1
1に転送され、入力映像信号に対して各液晶表示素子の
V−T特性に合ったγ補正を行う。
【0029】
【発明の効果】本発明は以上のような構成であるので表
示素子個々の特性上にバラツキが大きい液晶表示素子の
γ補正曲線データの設定を人手を煩すことなく全て自動
的に且つ迅速に行わせることができ、計測,演算等にお
いて人手によるミスもなく、経験に左右されずに調整を
行うことができ、生産時等において大幅なコストダウン
を図ることができる。
示素子個々の特性上にバラツキが大きい液晶表示素子の
γ補正曲線データの設定を人手を煩すことなく全て自動
的に且つ迅速に行わせることができ、計測,演算等にお
いて人手によるミスもなく、経験に左右されずに調整を
行うことができ、生産時等において大幅なコストダウン
を図ることができる。
【図1】 本発明の一実施例のブロック図。
【図2】 図1の要部のブロック図。
【図3】 本発明の動作説明図。
【図4】 γ補正回路の構成図。
【図5】 図4の動作説明図。
【図6】 従来例のブロック図。
【図7】 図6の要部のブロック図。
【図8】 γ補正の動作説明図。
1 γ補正装置 2 輝度計 4 汎用マイコン 6 再書込可能不揮発性メモリ 108 液晶表示素子 120 γ−RAM
Claims (2)
- 【請求項1】 液晶装置の印加電圧に対する透過率特性
を輝度計で測定する測定ステップと、上記輝度計で測定
した透過率特性に基づき、入力電圧の変化に対して輝度
出力の変化が直線性を持つよう上記液晶装置に適合した
γ補正曲線に対応するγ補正データを算出する演算ステ
ップと、該演算ステップで算出したγ補正データを、入
力R,G,B各信号に対して上記液晶装置のγ補正装置
におけるγ補正を行うためのデータとしてγ補正データ
用メモリに書き込む書込ステップとを設けたことを特徴
とする液晶装置におけるγ補正回路の自動調整方法。 - 【請求項2】 液晶装置の印加電圧に対する透過率特性
を計測する透過率計測手段と、該透過率計測手段で計測
した液晶装置の印加電圧に対する透過率特性に基づき、
上記液晶装置に適合したγ補正曲線に対応するγ補正デ
ータを算出する演算手段と、該演算手段で算出したγ補
正データを上記液晶装置のγ補正データとして記憶する
記憶手段と、該記憶手段に記憶されたγ補正データによ
り、入力R,G,B各信号に対して上記液晶装置のγ補
正をそれぞれ所望の値に行うγ補正手段とを設けたこと
を特徴とする液晶装置におけるγ補正回路の自動調整装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3244798A JPH0564037A (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | 液晶装置におけるγ補正回路の自動調整方法及び自動調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3244798A JPH0564037A (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | 液晶装置におけるγ補正回路の自動調整方法及び自動調整装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0564037A true JPH0564037A (ja) | 1993-03-12 |
Family
ID=17124097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3244798A Pending JPH0564037A (ja) | 1991-08-29 | 1991-08-29 | 液晶装置におけるγ補正回路の自動調整方法及び自動調整装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0564037A (ja) |
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-
1991
- 1991-08-29 JP JP3244798A patent/JPH0564037A/ja active Pending
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