JPH0562220A - 光メモリ装置及びそのサーボオフセツト補正方法 - Google Patents

光メモリ装置及びそのサーボオフセツト補正方法

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JPH0562220A
JPH0562220A JP3226094A JP22609491A JPH0562220A JP H0562220 A JPH0562220 A JP H0562220A JP 3226094 A JP3226094 A JP 3226094A JP 22609491 A JP22609491 A JP 22609491A JP H0562220 A JPH0562220 A JP H0562220A
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政敏 米窪
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 フォーカス、トラックの各サーボ信号とデー
タ信号を同一ホトダイオードで検出する場合、IV変換
アンプの温度ドリフトでサーボ系にオフセットが生じ、
データの記録再生が出来なくなるという問題を解決し、
温度変化に強い高信頼性の光メモリ装置を提供する。 【構成】 オフセット検出手段1で検出した光源が非発光時
のフォーカスエラー信号のオフセットにより、オフセット補正手段1でフォーカ
スサーホ゛のオフセット補正を行う。オフセット検出手段2で検出した
光源が非発光時のトラックエラー信号のオフセットにより、オフセット補
正手段2でトラックサーホ゛のオフセット補正を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光メモリ装置のフォーカ
スサーボならびにトラックサーボのオフセットの補正に
関する。
【0002】
【従来の技術】図9に従来の光メモリ装置の回路図を示
す。ホトダイオード202、203、204、205で
検出された電流信号をヘッドアンプで電圧信号に変換す
る。ヘッドアンプはオペアンプ206と抵抗210、オ
ペアンプ207と抵抗211、オペアンプ208と抵抗
212、オペアンプ209と抵抗213からなるIV変
換アンプからなる。ここでオペアンプ206の出力をV
1、オペアンプ207の出力をV2、オペアンプ208
の出力をV3、オペアンプ209の出力をV4とする。
加算アンプ214でV1〜V4の全和V1+V2+V3
+V4をとることにより、端子220からプリフォーマ
ット信号218が出力される。また、演算アンプ215
で(V1+V2)−(V3+V4)の演算をする事によ
り、光磁気方式で記録したデータ信号219が端子22
1から出力される。演算アンプ216で(V1+V4)
−(V2+V3)の演算をすると、フォーカスエラー信
号905が得られる。演算アンプ217で(V1+V
3)−(V2+V4)の演算をする事によりトラックエ
ラー信号907が得られる。オペアンプ901と可変抵
抗902と抵抗からなる回路でフォーカスエラーのオフ
セット調整を行う。オフセット調整されたフォーカスエ
ラー信号906は、228の位相補償回路1を通して、
231のドライバー1でフォーカスアクチュエータ23
2を駆動する。トラックサーボについても同様である。
オペアンプ903と可変抵抗904と抵抗とからなる回
路でトラックエラーのオフセット調整を行う。オフセッ
ト調整されたトラックエラー信号908は、243の位
相補償回路2を通して、244のドライバー2でトラッ
クアクチュエータ245を駆動する。オフセットの調整
は装置の組み立て調整時に可変抵抗902と904を用
いて行う。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の光メモ
リ装置では、各サーボ系のオフセット調整は装置の組み
立て調整時に行うため、経時変化や環境変化特に温度変
化によりサーボエラー信号にオフセットが発生してしま
う。当装置はサーボ信号とデータ信号を同一のホトダイ
オードで検出している方式のため、IV変換アンプの帯
域がDCから高周波まで必要となる。通常は高帯域の性
能のアンプの場合、DC特性特に温度ドリフト特性が悪
くなるので、フォーカスサーボとトラックサーボにオフ
セットとして悪影響が生じる。そのため、データを正し
く記録再生することが出来なくなるという課題を生じ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の光メモリ装置及
びサーボオフセット補正方法は、 (1) 半導体レーザ等を光源として用いた光学ヘッド
により、光源から発せられた光束を記録媒体上に集光さ
せるフォーカスサーボのエラー信号の検出と、予め記録
媒体に設けられた案内溝等に上記光束を追従させる為の
トラックサーボのエラー信号の検出と、記録媒体に予め
記録されている情報を再生する為のプリフォーマット信
号検出と、ユーザーが記録媒体に例えば光磁気記録方式
で記録した情報を再生するためのデータ信号検出を、少
なくとも2個以上の検出ホトダイオードで検出された信
号の演算により行う光メモリ装置において、 a)前記検出ホトダイオードで検出された信号の演算処
理を行う信号処理手段と、 b)前記信号処理手段からのプリフォーマット信号に基
づき各種制御信号を発生する制御信号発生手段と、 c)前記制御信号発生手段からの信号により光源の制御
を行う光出力制御手段と、 d)前記信号処理手段で生成されたフォーカスエラー信
号に基づきフォーカスサーボを行うフォーカス制御手段
と、 e)前記制御信号発生手段からの制御信号により光源が
非発光時のフォーカスエラーのオフセット検出を行うオ
フセット検出手段1と、 f)前記オフセット検出手段1の出力によりフォーカス
エラーのオフセット補正を行うオフセット補正手段1
と、 g)前記信号処理手段で生成されたトラックエラー信号
に基づきトラックサーボを行うトラック制御手段と、 h)前記制御信号発生手段からの制御信号により光源が
非発光時のトラックエラーのオフセット検出を行うオフ
セット検出手段2と、 i)前記オフセット検出手段2の出力によりトラックエ
ラーのオフセット補正を行うオフセット補正手段2とか
らなることを特徴とする。
【0005】(2) 記録媒体上の定められた領域にお
いて、フォーカスならびにトラックサーボをホールドし
た後、光源の半導体レーザをオフして、無信号状態のフ
ォーカスエラーならびにトラックエラーのオフセット量
を検出し、オフセット量に基づき、オフセット補正を行
うことを特徴とする。
【0006】(3) 半導体レーザ等を光源として用い
た光学ヘッドにより、光源から発せられた光束を記録媒
体上に集光させるフォーカスサーボのエラー信号の検出
と、予め記録媒体に設けられた案内溝等に上記光束を追
従させる為のトラックサーボのエラー信号の検出と、記
録媒体に予め記録されている情報を再生する為のプリフ
ォーマット信号検出と、ユーザーが記録媒体に例えば光
磁気記録方式で記録した情報を再生するためのデータ信
号検出を、少なくとも2個以上の検出素子の信号の演算
により行う光メモリ装置において、前記検出ホトダイオ
ードの検出電流を電圧信号に変換するIV変換アンプが
高速アンプと低ドリフトアンプの組み合わせからなるこ
とを特徴とする。
【0007】
【実施例】
(実施例1)以下図面に基づいて本発明の実施例につい
て説明する。図1は本発明の光メモリ装置の構成を示す
ブロック図である。光学ヘッド101は光源の半導体レ
ーザ、光学部品、信号検出用ホトダイオード、フォーカ
スアクチュエータ、トラックアクチュエータ等から構成
されている。信号処理手段102は光学ヘッド101の
ホトダイオードで検出された信号を演算処理して、フォ
ーカスエラー信号112、トラックエラー信号113、
プリピット再生信号111を生成する。制御信号発生手
段103はプリピット再生信号111をもとに、各ブロ
ックを制御する信号を発生する。以下その手順について
説明する。
【0008】まず、フォーカスサーボホールド信号11
5とトラックサーボホールド信号116を出力する。フ
ォーカス制御手段105はフォーカスサーボホールド信
号115により、フォーカスサーボをホールドさせる。
同様にトラック制御手段108は、トラックサーボホー
ルド信号116によりトラックサーボをホールドする。
【0009】次に制御信号発生手段103は半導体レー
ザ制御手段104にLDオフ信号114を出力する。半
導体レーザ制御手段104は光源の半導体レーザの光出
力の制御を行っており、LDオフ信号114により半導
体レーザを非発光状態にする。
【0010】さらに制御信号発生手段103はフォーカ
スオフセット検出信号117とトラックオフセット検出
信号118を出力する。106のオフセット検出手段1
は、半導体レーザがオフ時のフォーカスエラー信号11
9のオフセットの検出を行う。ここで検出されたオフセ
ットは、主として回路のIV変換アンプの温度ドリフト
に起因するオフセットである。107のオフセット補正
手段1は検出されたオフセット量120をもとに与える
べき補正信号を計算して、オフセット補正信号121を
フォーカス制御手段205に出力する。このようにして
フォーカスサーボのオフセット補正が行われる。トラッ
クサーボに関しても同様である。109のオフセット検
出手段2は半導体レーザがオフ時のトラックエラー信号
122のオフセットの検出をする。110のオフセット
補正手段2は検出されたオフセット量123をもとに、
補正量を計算して、オフセット補正信号124をトラッ
ク制御手段108に出力する。
【0011】図2は本発明の光メモリ装置の実施例の回
路図である。図中従来例と同じものについては同一番号
で示してある。従来例で説明した箇所についてはここで
は説明を省略する。CPU201が回路全体の制御を行
う。セクタマーク検出回路246はプリピット再生信号
218からセクタマークを検出して、SM信号247を
CPU201に出力する。ここで、セクタマークとは、
光ディスクに予め書かれている信号のひとつで、各セク
タの先頭に位置しセクタの始まりを示す信号であり、S
M信号をもとにしてCPU201は各制御信号を発生さ
せる。
【0012】まず、LDオフ信号248を半導体レーザ
駆動回路249に出力し、半導体レーザ250を非発光
状態にする。LD駆動回路については既知であるのでこ
こでは具体的な回路は示していない。フォーカスサーボ
系について説明する。オペアンプ222でフォーカスエ
ラー信号223の増幅とオフセット補正を行う。CPU
201は、最初は225のD/A変換器1に基準データ
を与え初期調整値233が加算される。半導体レーザを
オフする前に228のサンプル・ホールド回路1にフォ
ーカスサーボホルド信号227を出力する。サンプル・
ホールド回路228は、フォーカスサーボ信号229
を、ホールドし、信号226が半導体レーザがオフされ
る直前の値が保持される。以下、230の位相補正回路
1を介して、231のドライバー1でフォーカスアクチ
ュエータ232を駆動する。CPU201は224のA
/D変換器1で、半導体レーザがオフ時のフォーカスエ
ラー信号226のレベルを検出し、オフセット量から補
正値を算出する。225のD/A変換器1で補正信号2
23を与えて、フォーカスオフセットの補正をする。ト
ラックサーボについても、フォーカスサーボと同様の制
御を行う。オペアンプ234でトラックエラー信号23
5の増幅とトラックオフセット補正信号236によるオ
フセット補正を行う。CPU201は半導体レーザをオ
フする前に240のサンプル・ホールド回路2にトラッ
クサーボホオールド信号241を出力する。240のサ
ンプルホールド回路2は出力信号242をホールドして
トラックエラー信号239の半導体レーザがオフになる
直前の値に保持する。243の位相補償回路2を介して
244のドライバー2でトラックアクチュエータ245
を駆動する。CPU201は237のA/D変換器2で
半導体レーザがオフ時のトラックエラー信号239のレ
ベルを検出して、オフセット量から補正する量を算出す
る。238のD/A変換器でオフセット補正信号236
を与えてトラックオフセットの補正をする。
【0013】次に制御信号発生手段の動作をいつ行う
か、図3の光ディスクのフォーマット図をもとに説明す
る。図3(a)は光ディスクの1セクタのフォーマット
の例である。最初の52バイトはPre−format
ted Headerであらかじめ、プリピットでディ
スクに記録されている。それに続く領域301はODF
Flag and Gapsと呼ばれる領域で、この部
分を拡大したものが図3(b)である。この領域の中で
302と303はGapと呼ばれる領域で3バイトずつ
の長さである。Gapと304のALPCと呼ばれる領
域は、ユーザーが自由に使える領域であるので、ここで
半導体レーザをオフして、オフセットの検出をすれば良
い。本実施例では図2においてCPU201はSM信号
247から時間を計測して、303のGap領域で各種
制御信号を発生させることにする。
【0014】図4に制御信号発生の動作のフローチャー
トを、図5に各種制御信号のタイミング図を示す。以下
フローに沿って説明する。
【0015】401 SERVO HOLD フォーカスサーボホールド信号504とトラックサーボ
ホールド信号505を”H”にする。これらの信号が”
H”の間各サーボはホールド状態となり直前の状態に保
持されている。
【0016】402 LD OFF LDオフ信号501を”H”にする。この信号が”H”
の時、半導体レーザはオフで非発光状態になる。
【0017】403 WAIT T1 T1なる時間だけ時間待ちする。これは半導体レーザが
オフになってからフォーカス、 トラック各エラー信号
が整定するまでの間の時間待ちである。
【0018】404 OFFSET DETECT フォーカスオフセット検出信号502とトラックオフセ
ット検出信号503をT2の間”H”にする。この間に
オフセット検出を行う。
【0019】405 LD ON LDオフ信号501を”L”にする。半導体レーザはオ
ンする。
【0020】406 WAIT T3 T3なる時間だけ時間待ちする。これは半導体レーザが
オンしてから信号再生時の発光状態となって、フォーカ
ス、トラック各エラー信号が正常に出力されるまでの時
間である。
【0021】407 SERVO ON フォーカスサーボホールド信号504とトラックサーボ
ホールド信号505を”L”にする。各サーボは通常の
サーボに戻る。
【0022】次にオフセット補正の方法について図6の
フローチャートを用いて説明する。 601 A/Dでエラー信号Verrを取り込む。
【0023】半導体レーザがオフの状態のフォーカス、
トラック各エラー信号をA/Dコンバータで取り込む。
【0024】602 リファレンス電圧Vrefとの差
をとる。
【0025】Vof=Verr−Vref Vrefは半導体レーザがオフ状態での理想的なエラー
信号のレベルである。Vofはオフセット量である。
【0026】603 Vofが許容範囲か? |Vo
f|<V0 オフセット量Vofが許容値V0以下であるか判定す
る。許容範囲内に有ると判定されたときには、オフセッ
ト補正は行わず制御を終了する。許容範囲を越えている
と判定した時には、604に移る。
【0027】604 オフセット補正値の算出 Vco
n=a*Vof aは定数。オフセット量から補正すべき値Vconを算
出する。
【0028】605 D/Aのデータをセットしてオフ
セット補正する。
【0029】D/Aのデータをセットするとエラー信号
に補正値が加えられ、オフセット補正が行われる。
【0030】以上述べた補正動作は常時行う必要はな
い。装置の温度が定常状態の時には温度ドリフトは殆ど
起こらないが、特に装置立ち上げ時等の過渡状態におい
ては、温度ドリフトの影響が大きい。そこで装置内部の
温度を測定する手段を用いて、温度の時間変化割合の高
いときには頻繁に補正動作を行い、それ以外には補正動
作の間隔を広くして、CPUの仕事を低減させる事もで
きる。また上記実施例においてはディスクフォーマット
のGap部でオフセット検出を行うとしたが、装置がリ
ード/ライト/イレーズもしくはシーク状態で無いとき
には、例えばユーザデータ領域で半導体レーザをオフし
て、オフセット検出動作を行う事も可能である。
【0031】(実施例2)図7に本発明の請求項3の実
施例の回路図を示す。ホトダイオード701はカソード
が+Vにバイアスされ、アノードはオペアンプ702の
反転入力に接続されている。オペアンプ702は高速タ
イプのもので、抵抗704とオペアンプ702とでIV
変換を行う。抵抗705はオペアンプ702のオフセッ
トの影響を低減するためのものである。なお、この回路
はVrefを中心に動作している。オペアンプ703は
速度は速くないが温度ドリフト特性等のDC性能の良い
低ドリフトアンプである。オペアンプ703と抵抗70
6、707、708、709で差動増幅回路を構成して
いる。コンデンサ710、711は差動増幅回路の帯域
を制限する。この差動増幅回路でオペアンプ702の入
力端子間のオフセット電圧を検出して、非反転入力端子
に抵抗712を介して入力することにより、オペアンプ
704のオフセットが補償される。以上のように2種類
のアンプを組み合わせることにより、端子714に出力
されるIV変換信号713は、温度ドリフトが小さくな
る。
【0032】図8に補償回路の有無による温度ドリフト
の違いを測定した例を示す。801は補償回路が無く、
高速オペアンプのみでIV変換回路を構成した場合の出
力のドリフト電圧である。温度を10℃から60℃まで
変化させると、変化率おおよそ10[μV/℃]で出力
電圧がドリフトした。一方、802は本発明の図7の回
路を用いた場合で、ドリフト電圧は10分の1以下に低
減された。この様なIV変換アンプを用いて光メモリ装
置を構成すると、装置の温度が変化してもフォーカス、
トラックの各サーボ信号に発生するオフセットは従来に
比べ非常に小さく、サーボ系に対する影響は無くなる。
【0033】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば環境変
化特に温度変化によりフォーカスサーボ、トラックサー
ボが影響を受けることなく、常に最適な状態でデータの
記録再生が行えるという効果を有する。さらに、装置の
組立時のボリューム等による調整作業が必要なくなるの
で、組立工数が削減されローコスト化に寄与するという
効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の光メモリ装置の構成を示すブロック
図。
【図2】 本発明の実施例である光メモリ装置の回路
図。
【図3】 本発明の光メモリ装置の制御信号発生の動作
のフローチャート。
【図4】 光ディスクのフォーマット図。
【図5】 本発明の光メモリ装置の制御信号発生手段の
各種制御信号のタイミング図。
【図6】 本発明の光メモリ装置のオフセット補正の流
れを示すフローチャート。
【図7】 請求項3の実施例の回路図。
【図8】 図7の効果を示すための温度とドリフト電圧
の関係図。
【図9】 従来の光メモリ装置の回路図。
【符号の説明】
101 光学ヘッド 102 信号処理手段 103 制御信号発生手段 104 半導体レーザ制御手段 105 フォーカス制御手段 106 オフセット検出手段1 107 オフセット補正手段1 108 トラック制御手段 109 オフセット検出手段2 110 オフセット補正手段2 201 CPU 202 ホトダイオード 203 ホトダイオード 204 ホトダイオード 205 ホトダイオード 224 A/D変換器1 225 D/A変換器1 228 サンプル・ホールド回路1 237 A/D変換器2 238 D/A変換器2 240 サンプル・ホールド回路2 702 高速オペアンプ 703 低ドリフトオペアンプ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザ等を光源として用いた光学
    ヘッドにより、光源から発せられた光束を記録媒体上に
    集光させるフォーカスサーボのエラー信号の検出と、予
    め記録媒体に設けられた案内溝等に上記光束を追従させ
    る為のトラックサーボのエラー信号の検出と、記録媒体
    に予め記録されている情報を再生する為のプリフォーマ
    ット信号検出と、ユーザーが記録媒体に例えば光磁気記
    録方式で記録した情報を再生するためのデータ信号検出
    を、少なくとも2個以上の検出ホトダイオードで検出さ
    れた信号の演算により行う光メモリ装置において、 a)前記検出ホトダイオードで検出された信号の演算処
    理を行う信号処理手段と、 b)前記信号処理手段からのプリフォーマット信号に基
    づき各種制御信号を発生する制御信号発生手段と、 c)前記制御信号発生手段からの信号により光源の制御
    を行う光出力制御手段と、 d)前記信号処理手段で生成されたフォーカスエラー信
    号に基づきフォーカスサーボを行うフォーカス制御手段
    と、 e)前記制御信号発生手段からの制御信号により光源が
    非発光時のフォーカスエラーのオフセット検出を行うオ
    フセット検出手段1と、 f)前記オフセット検出手段1の出力によりフォーカス
    エラーのオフセット補正を行うオフセット補正手段1
    と、 g)前記信号処理手段で生成されたトラックエラー信号
    に基づきトラックサーボを行うトラック制御手段と、 h)前記制御信号発生手段からの制御信号により光源が
    非発光時のトラックエラーのオフセット検出を行うオフ
    セット検出手段2と、 i)前記オフセット検出手段2の出力によりトラックエ
    ラーのオフセット補正を行うオフセット補正手段2とか
    らなることを特徴とする光メモリ装置。
  2. 【請求項2】 記録媒体上の定められた領域において、
    フォーカスならびにトラックサーボをホールドした後、
    光源の半導体レーザをオフして、無信号状態のフォーカ
    スエラーならびにトラックエラーのオフセット量を検出
    し、オフセット量に基づきオフセット補正を行うことを
    特徴とする、請求項1記載の光メモリ装置のサーボオフ
    セット補正方法。
  3. 【請求項3】 半導体レーザ等を光源として用いた光学
    ヘッドにより、光源から発せられた光束を記録媒体上に
    集光させるフォーカスサーボのエラー信号の検出と、予
    め記録媒体に設けられた案内溝等に上記光束を追従させ
    る為のトラックサーボのエラー信号の検出と、記録媒体
    に予め記録されている情報を再生する為のプリフォーマ
    ット信号検出と、ユーザーが記録媒体に例えば光磁気記
    録方式で記録した情報を再生するためのデータ信号検出
    を、少なくとも2個以上の検出素子の信号の演算により
    行う光メモリ装置において、前記検出ホトダイオードの
    検出電流を電圧信号に変換するIV変換アンプが高速ア
    ンプと低ドリフトアンプの組み合わせからなることを特
    徴とする光メモリ装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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