JP2910350B2 - 光メモリ装置及びそのサーボオフセット補正方法 - Google Patents
光メモリ装置及びそのサーボオフセット補正方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光メモリ装置のフォーカ
スサーボならびにトラックサーボのオフセットの補正に
関する。
スサーボならびにトラックサーボのオフセットの補正に
関する。
【０００２】
【従来の技術】図９に従来の光メモリ装置の回路図を示
す。ホトダイオード２０２、２０３、２０４、２０５で
検出された電流信号をヘッドアンプで電圧信号に変換す
る。ヘッドアンプはオペアンプ２０６と抵抗２１０、オ
ペアンプ２０７と抵抗２１１、オペアンプ２０８と抵抗
２１２、オペアンプ２０９と抵抗２１３からなるＩＶ変
換アンプからなる。ここでオペアンプ２０６の出力をＶ
１、オペアンプ２０７の出力をＶ２、オペアンプ２０８
の出力をＶ３、オペアンプ２０９の出力をＶ４とする。
加算アンプ２１４でＶ１〜Ｖ４の全和Ｖ１＋Ｖ２＋Ｖ３
＋Ｖ４をとることにより、端子２２０からプリフォーマ
ット信号２１８が出力される。また、演算アンプ２１５
で（Ｖ１＋Ｖ２）−（Ｖ３＋Ｖ４）の演算をする事によ
り、光磁気方式で記録したデータ信号２１９が端子２２
１から出力される。演算アンプ２１６で（Ｖ１＋Ｖ４）
−（Ｖ２＋Ｖ３）の演算をすると、フォーカスエラー信
号９０５が得られる。演算アンプ２１７で（Ｖ１＋Ｖ
３）−（Ｖ２＋Ｖ４）の演算をする事によりトラックエ
ラー信号９０７が得られる。オペアンプ９０１と可変抵
抗９０２と抵抗からなる回路でフォーカスエラーのオフ
セット調整を行う。オフセット調整されたフォーカスエ
ラー信号９０６は、２２８の位相補償回路１を通して、
２３１のドライバー１でフォーカスアクチュエータ２３
２を駆動する。トラックサーボについても同様である。
オペアンプ９０３と可変抵抗９０４と抵抗とからなる回
路でトラックエラーのオフセット調整を行う。オフセッ
ト調整されたトラックエラー信号９０８は、２４３の位
相補償回路２を通して、２４４のドライバー２でトラッ
クアクチュエータ２４５を駆動する。オフセットの調整
は装置の組み立て調整時に可変抵抗９０２と９０４を用
いて行う。
す。ホトダイオード２０２、２０３、２０４、２０５で
検出された電流信号をヘッドアンプで電圧信号に変換す
る。ヘッドアンプはオペアンプ２０６と抵抗２１０、オ
ペアンプ２０７と抵抗２１１、オペアンプ２０８と抵抗
２１２、オペアンプ２０９と抵抗２１３からなるＩＶ変
換アンプからなる。ここでオペアンプ２０６の出力をＶ
１、オペアンプ２０７の出力をＶ２、オペアンプ２０８
の出力をＶ３、オペアンプ２０９の出力をＶ４とする。
加算アンプ２１４でＶ１〜Ｖ４の全和Ｖ１＋Ｖ２＋Ｖ３
＋Ｖ４をとることにより、端子２２０からプリフォーマ
ット信号２１８が出力される。また、演算アンプ２１５
で（Ｖ１＋Ｖ２）−（Ｖ３＋Ｖ４）の演算をする事によ
り、光磁気方式で記録したデータ信号２１９が端子２２
１から出力される。演算アンプ２１６で（Ｖ１＋Ｖ４）
−（Ｖ２＋Ｖ３）の演算をすると、フォーカスエラー信
号９０５が得られる。演算アンプ２１７で（Ｖ１＋Ｖ
３）−（Ｖ２＋Ｖ４）の演算をする事によりトラックエ
ラー信号９０７が得られる。オペアンプ９０１と可変抵
抗９０２と抵抗からなる回路でフォーカスエラーのオフ
セット調整を行う。オフセット調整されたフォーカスエ
ラー信号９０６は、２２８の位相補償回路１を通して、
２３１のドライバー１でフォーカスアクチュエータ２３
２を駆動する。トラックサーボについても同様である。
オペアンプ９０３と可変抵抗９０４と抵抗とからなる回
路でトラックエラーのオフセット調整を行う。オフセッ
ト調整されたトラックエラー信号９０８は、２４３の位
相補償回路２を通して、２４４のドライバー２でトラッ
クアクチュエータ２４５を駆動する。オフセットの調整
は装置の組み立て調整時に可変抵抗９０２と９０４を用
いて行う。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の光メモ
リ装置では、各サーボ系のオフセット調整は装置の組み
立て調整時に行うため、経時変化や環境変化特に温度変
化によりサーボエラー信号にオフセットが発生してしま
う。当装置はサーボ信号とデータ信号を同一のホトダイ
オードで検出している方式のため、ＩＶ変換アンプの帯
域がＤＣから高周波まで必要となる。通常は高帯域の性
能のアンプの場合、ＤＣ特性特に温度ドリフト特性が悪
くなるので、フォーカスサーボとトラックサーボにオフ
セットとして悪影響が生じる。そのため、データを正し
く記録再生することが出来なくなるという課題を生じ
る。
リ装置では、各サーボ系のオフセット調整は装置の組み
立て調整時に行うため、経時変化や環境変化特に温度変
化によりサーボエラー信号にオフセットが発生してしま
う。当装置はサーボ信号とデータ信号を同一のホトダイ
オードで検出している方式のため、ＩＶ変換アンプの帯
域がＤＣから高周波まで必要となる。通常は高帯域の性
能のアンプの場合、ＤＣ特性特に温度ドリフト特性が悪
くなるので、フォーカスサーボとトラックサーボにオフ
セットとして悪影響が生じる。そのため、データを正し
く記録再生することが出来なくなるという課題を生じ
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の光メモリ装置
は、光源から放射された光束を記録媒体上に集光させる
光学ヘッドを備え、フォーカスサーボエラー信号又はト
ラックサーボエラー信号であるサーボエラー信号の検出
と、プリフォーマット信号の検出とを、少なくとも２個
以上の光検出器で検出された信号の演算により行うもの
であって、光検出器で検出された信号の演算を行う信号
処理手段と、信号処理手段で生成されたプリフォーマッ
ト信号に基づき制御信号を発生する制御信号発生手段
と、制御信号発生手段からの信号により光源の制御を行
う光出力制御手段と、信号処理手段で生成されたサーボ
エラー信号に基づきサーボ制御を行うサーボ制御手段
と、制御信号発生手段からの制御信号により、光源が非
発光時のサーボエラー信号のオフセットの検出を行うオ
フセット検出手段と、オフセット検出手段の出力により
サーボエラー信号のオフセットを補正するオフセット補
正手段と、光メモリ装置内の温度を検出する温度検出手
段と、を備え、温度検出手段によって検出された温度の
時間変化割合に応じてオフセット補正の動作間隔を制御
することを特徴とする。
は、光源から放射された光束を記録媒体上に集光させる
光学ヘッドを備え、フォーカスサーボエラー信号又はト
ラックサーボエラー信号であるサーボエラー信号の検出
と、プリフォーマット信号の検出とを、少なくとも２個
以上の光検出器で検出された信号の演算により行うもの
であって、光検出器で検出された信号の演算を行う信号
処理手段と、信号処理手段で生成されたプリフォーマッ
ト信号に基づき制御信号を発生する制御信号発生手段
と、制御信号発生手段からの信号により光源の制御を行
う光出力制御手段と、信号処理手段で生成されたサーボ
エラー信号に基づきサーボ制御を行うサーボ制御手段
と、制御信号発生手段からの制御信号により、光源が非
発光時のサーボエラー信号のオフセットの検出を行うオ
フセット検出手段と、オフセット検出手段の出力により
サーボエラー信号のオフセットを補正するオフセット補
正手段と、光メモリ装置内の温度を検出する温度検出手
段と、を備え、温度検出手段によって検出された温度の
時間変化割合に応じてオフセット補正の動作間隔を制御
することを特徴とする。
【０００５】この場合、光検出器の検出電流を電圧信号
に変換するＩＶ変換アンプが、高速アンプと低ドリフト
アンプとを組み合わせてなることが望ましい。
に変換するＩＶ変換アンプが、高速アンプと低ドリフト
アンプとを組み合わせてなることが望ましい。
【０００６】また、本発明の光メモリ装置のサーボオフ
セット補正方法においては、光源から放射された光束を
記録媒体上に集光させる光学ヘッドを備え、フォーカス
サーボエラー信号又はトラックサーボエラー信号である
サーボエラー信号の検出を、少なくとも２個以上の光検
出器で検出された信号の演算により行うものであって、
記録媒体の所定領域において、光源を非発光状態にし
て、サーボエラー信号のオフセット量を検出し、オフセ
ット量に基づいてオフセット補正を行うと共に、光メモ
リ装置内の温度の時間変化割合に応じてオフセット補正
の動作間隔を制御することを特徴とする。この場合、温
度の時間変化割合が大きいときには、オフセット補正を
行う時間間隔を短くし、温度の時間変化割合が小さいと
きには、オフセット補正を行う時間間隔を長くすること
が望ましい。
セット補正方法においては、光源から放射された光束を
記録媒体上に集光させる光学ヘッドを備え、フォーカス
サーボエラー信号又はトラックサーボエラー信号である
サーボエラー信号の検出を、少なくとも２個以上の光検
出器で検出された信号の演算により行うものであって、
記録媒体の所定領域において、光源を非発光状態にし
て、サーボエラー信号のオフセット量を検出し、オフセ
ット量に基づいてオフセット補正を行うと共に、光メモ
リ装置内の温度の時間変化割合に応じてオフセット補正
の動作間隔を制御することを特徴とする。この場合、温
度の時間変化割合が大きいときには、オフセット補正を
行う時間間隔を短くし、温度の時間変化割合が小さいと
きには、オフセット補正を行う時間間隔を長くすること
が望ましい。
【０００７】
（実施例１）以下図面に基づいて本発明の実施例につい
て説明する。図１は本発明の光メモリ装置の構成を示す
ブロック図である。光学ヘッド１０１は光源の半導体レ
ーザ、光学部品、信号検出用ホトダイオード、フォーカ
スアクチュエータ、トラックアクチュエータ等から構成
されている。信号処理手段１０２は光学ヘッド１０１の
ホトダイオードで検出された信号を演算処理して、フォ
ーカスエラー信号１１２、トラックエラー信号１１３、
プリピット再生信号１１１を生成する。制御信号発生手
段１０３はプリピット再生信号１１１をもとに、各ブロ
ックを制御する信号を発生する。以下その手順について
説明する。
て説明する。図１は本発明の光メモリ装置の構成を示す
ブロック図である。光学ヘッド１０１は光源の半導体レ
ーザ、光学部品、信号検出用ホトダイオード、フォーカ
スアクチュエータ、トラックアクチュエータ等から構成
されている。信号処理手段１０２は光学ヘッド１０１の
ホトダイオードで検出された信号を演算処理して、フォ
ーカスエラー信号１１２、トラックエラー信号１１３、
プリピット再生信号１１１を生成する。制御信号発生手
段１０３はプリピット再生信号１１１をもとに、各ブロ
ックを制御する信号を発生する。以下その手順について
説明する。
【０００８】まず、フォーカスサーボホールド信号１１
５とトラックサーボホールド信号１１６を出力する。フ
ォーカス制御手段１０５はフォーカスサーボホールド信
号１１５により、フォーカスサーボをホールドさせる。
同様にトラック制御手段１０８は、トラックサーボホー
ルド信号１１６によりトラックサーボをホールドする。
５とトラックサーボホールド信号１１６を出力する。フ
ォーカス制御手段１０５はフォーカスサーボホールド信
号１１５により、フォーカスサーボをホールドさせる。
同様にトラック制御手段１０８は、トラックサーボホー
ルド信号１１６によりトラックサーボをホールドする。
【０００９】次に制御信号発生手段１０３は半導体レー
ザ制御手段１０４にＬＤオフ信号１１４を出力する。半
導体レーザ制御手段１０４は光源の半導体レーザの光出
力の制御を行っており、ＬＤオフ信号１１４により半導
体レーザを非発光状態にする。
ザ制御手段１０４にＬＤオフ信号１１４を出力する。半
導体レーザ制御手段１０４は光源の半導体レーザの光出
力の制御を行っており、ＬＤオフ信号１１４により半導
体レーザを非発光状態にする。
【００１０】さらに制御信号発生手段１０３はフォーカ
スオフセット検出信号１１７とトラックオフセット検出
信号１１８を出力する。１０６のオフセット検出手段１
は、半導体レーザがオフ時のフォーカスエラー信号１１
９のオフセットの検出を行う。ここで検出されたオフセ
ットは、主として回路のＩＶ変換アンプの温度ドリフト
に起因するオフセットである。１０７のオフセット補正
手段１は検出されたオフセット量１２０をもとに与える
べき補正信号を計算して、オフセット補正信号１２１を
フォーカス制御手段１０５に出力する。このようにして
フォーカスサーボのオフセット補正が行われる。トラッ
クサーボに関しても同様である。１０９のオフセット検
出手段２は半導体レーザがオフ時のトラックエラー信号
１２２のオフセットの検出を行う。１１０のオフセット
補正手段２は検出されたオフセット量１２３をもとに、
補正量を計算して、オフセット補正信号１２４をトラッ
ク制御手段１０８に出力する。
スオフセット検出信号１１７とトラックオフセット検出
信号１１８を出力する。１０６のオフセット検出手段１
は、半導体レーザがオフ時のフォーカスエラー信号１１
９のオフセットの検出を行う。ここで検出されたオフセ
ットは、主として回路のＩＶ変換アンプの温度ドリフト
に起因するオフセットである。１０７のオフセット補正
手段１は検出されたオフセット量１２０をもとに与える
べき補正信号を計算して、オフセット補正信号１２１を
フォーカス制御手段１０５に出力する。このようにして
フォーカスサーボのオフセット補正が行われる。トラッ
クサーボに関しても同様である。１０９のオフセット検
出手段２は半導体レーザがオフ時のトラックエラー信号
１２２のオフセットの検出を行う。１１０のオフセット
補正手段２は検出されたオフセット量１２３をもとに、
補正量を計算して、オフセット補正信号１２４をトラッ
ク制御手段１０８に出力する。
【００１１】図２は本発明の光メモリ装置の実施例の回
路図である。図中従来例と同じものについては同一番号
で示してある。従来例で説明した箇所についてはここで
は説明を省略する。ＣＰＵ２０１が回路全体の制御を行
う。セクタマーク検出回路２４６はプリピット再生信号
２１８からセクタマークを検出して、ＳＭ信号２４７を
ＣＰＵ２０１に出力する。ここで、セクタマークとは、
光ディスクに予め書かれている信号のひとつで、各セク
タの先頭に位置しセクタの始まりを示す信号であり、Ｓ
Ｍ信号をもとにしてＣＰＵ２０１は各制御信号を発生さ
せる。
路図である。図中従来例と同じものについては同一番号
で示してある。従来例で説明した箇所についてはここで
は説明を省略する。ＣＰＵ２０１が回路全体の制御を行
う。セクタマーク検出回路２４６はプリピット再生信号
２１８からセクタマークを検出して、ＳＭ信号２４７を
ＣＰＵ２０１に出力する。ここで、セクタマークとは、
光ディスクに予め書かれている信号のひとつで、各セク
タの先頭に位置しセクタの始まりを示す信号であり、Ｓ
Ｍ信号をもとにしてＣＰＵ２０１は各制御信号を発生さ
せる。
【００１２】まず、ＬＤオフ信号２４８を半導体レーザ
駆動回路２４９に出力し、半導体レーザ２５０を非発光
状態にする。ＬＤ駆動回路については既知であるのでこ
こでは具体的な回路は示していない。まず、フォーカス
サーボ系について説明する。オペアンプ２２２でフォー
カスエラー信号２２３の増幅とオフセット補正を行う。
ＣＰＵ２０１は、最初は２２５のＤ／Ａ変換器１に基準
データを与え初期調整値２３３が加算される。半導体レ
ーザをオフする前に２２８のサンプル・ホールド回路１
にフォーカスサーボホールド信号２２７を出力する。サ
ンプル・ホールド回路２２８は、フォーカスサーボ信号
２２９をホールドし、信号２２６を半導体レーザがオフ
される直前の値として保持する。以下、２３０の位相補
正回路１を介して、２３１のドライバー１でフォーカス
アクチュエータ２３２を駆動する。ＣＰＵ２０１は２２
４のＡ／Ｄ変換器１で、半導体レーザがオフ時のフォー
カスエラー信号２２６のレベルを検出し、オフセット量
から補正値を算出する。２２５のＤ／Ａ変換器１で補正
信号２２３を与えて、フォーカスオフセットの補正をす
る。トラックサーボについても、フォーカスサーボと同
様の制御を行う。オペアンプ２３４でトラックエラー信
号２３５の増幅とトラックオフセット補正信号２３６に
よるオフセット補正を行う。ＣＰＵ２０１は半導体レー
ザをオフする前に２４０のサンプル・ホールド回路２に
トラックサーボホールド信号２４１を出力する。２４０
のサンプルホールド回路２は出力信号２４２をホールド
してトラックエラー信号２３９の半導体レーザがオフに
なる直前の値として保持する。２４３の位相補償回路２
を介して２４４のドライバー２でトラックアクチュエー
タ２４５を駆動する。ＣＰＵ２０１は２３７のＡ／Ｄ変
換器２で半導体レーザがオフ時のトラックエラー信号２
３９のレベルを検出して、オフセット量から補正する量
を算出する。２３８のＤ／Ａ変換器でオフセット補正信
号２３６を与えてトラックオフセットの補正を行う。
駆動回路２４９に出力し、半導体レーザ２５０を非発光
状態にする。ＬＤ駆動回路については既知であるのでこ
こでは具体的な回路は示していない。まず、フォーカス
サーボ系について説明する。オペアンプ２２２でフォー
カスエラー信号２２３の増幅とオフセット補正を行う。
ＣＰＵ２０１は、最初は２２５のＤ／Ａ変換器１に基準
データを与え初期調整値２３３が加算される。半導体レ
ーザをオフする前に２２８のサンプル・ホールド回路１
にフォーカスサーボホールド信号２２７を出力する。サ
ンプル・ホールド回路２２８は、フォーカスサーボ信号
２２９をホールドし、信号２２６を半導体レーザがオフ
される直前の値として保持する。以下、２３０の位相補
正回路１を介して、２３１のドライバー１でフォーカス
アクチュエータ２３２を駆動する。ＣＰＵ２０１は２２
４のＡ／Ｄ変換器１で、半導体レーザがオフ時のフォー
カスエラー信号２２６のレベルを検出し、オフセット量
から補正値を算出する。２２５のＤ／Ａ変換器１で補正
信号２２３を与えて、フォーカスオフセットの補正をす
る。トラックサーボについても、フォーカスサーボと同
様の制御を行う。オペアンプ２３４でトラックエラー信
号２３５の増幅とトラックオフセット補正信号２３６に
よるオフセット補正を行う。ＣＰＵ２０１は半導体レー
ザをオフする前に２４０のサンプル・ホールド回路２に
トラックサーボホールド信号２４１を出力する。２４０
のサンプルホールド回路２は出力信号２４２をホールド
してトラックエラー信号２３９の半導体レーザがオフに
なる直前の値として保持する。２４３の位相補償回路２
を介して２４４のドライバー２でトラックアクチュエー
タ２４５を駆動する。ＣＰＵ２０１は２３７のＡ／Ｄ変
換器２で半導体レーザがオフ時のトラックエラー信号２
３９のレベルを検出して、オフセット量から補正する量
を算出する。２３８のＤ／Ａ変換器でオフセット補正信
号２３６を与えてトラックオフセットの補正を行う。
【００１３】次に制御信号発生手段の動作をいつ行う
か、図３の光ディスクのフォーマット図をもとに説明す
る。図３（ａ）は光ディスクの１セクタのフォーマット
の例である。最初の５２バイトはＰｒｅ−ｆｏｒｍａｔ
ｔｅｄ Ｈｅａｄｅｒであらかじめ、プリピットでディ
スクに記録されている。それに続く領域３０１はＯＤＦ
Ｆｌａｇ ａｎｄ Ｇａｐｓと呼ばれる領域で、この部
分を拡大したものが図３（ｂ）である。この領域の中で
３０２と３０３はＧａｐと呼ばれる領域で３バイトずつ
の長さである。Ｇａｐと３０４のＡＬＰＣと呼ばれる領
域は、ユーザーが自由に使える領域であるので、ここで
半導体レーザをオフして、オフセットの検出をすれば良
い。本実施例では図２においてＣＰＵ２０１はＳＭ信号
２４７から時間を計測して、３０３のＧａｐ領域で各種
制御信号を発生させることにする。
か、図３の光ディスクのフォーマット図をもとに説明す
る。図３（ａ）は光ディスクの１セクタのフォーマット
の例である。最初の５２バイトはＰｒｅ−ｆｏｒｍａｔ
ｔｅｄ Ｈｅａｄｅｒであらかじめ、プリピットでディ
スクに記録されている。それに続く領域３０１はＯＤＦ
Ｆｌａｇ ａｎｄ Ｇａｐｓと呼ばれる領域で、この部
分を拡大したものが図３（ｂ）である。この領域の中で
３０２と３０３はＧａｐと呼ばれる領域で３バイトずつ
の長さである。Ｇａｐと３０４のＡＬＰＣと呼ばれる領
域は、ユーザーが自由に使える領域であるので、ここで
半導体レーザをオフして、オフセットの検出をすれば良
い。本実施例では図２においてＣＰＵ２０１はＳＭ信号
２４７から時間を計測して、３０３のＧａｐ領域で各種
制御信号を発生させることにする。
【００１４】図４に制御信号発生の動作のフローチャー
トを、図５に各種制御信号のタイミング図を示す。以下
フローに沿って説明する。
トを、図５に各種制御信号のタイミング図を示す。以下
フローに沿って説明する。
【００１５】４０１ ＳＥＲＶＯ ＨＯＬＤ フォーカスサーボホールド信号５０４とトラックサーボ
ホールド信号５０５を”Ｈ”にする。これらの信号が”
Ｈ”の間各サーボはホールド状態となり直前の状態に保
持されている。
ホールド信号５０５を”Ｈ”にする。これらの信号が”
Ｈ”の間各サーボはホールド状態となり直前の状態に保
持されている。
【００１６】４０２ ＬＤ ＯＦＦ ＬＤオフ信号５０１を”Ｈ”にする。この信号が”Ｈ”
の時、半導体レーザはオフで非発光状態になる。
の時、半導体レーザはオフで非発光状態になる。
【００１７】４０３ ＷＡＩＴ Ｔ１ Ｔ１なる時間だけ時間待ちする。これは半導体レーザが
オフになってからフォーカス、 トラック各エラー信号
が整定するまでの間の時間待ちである。
オフになってからフォーカス、 トラック各エラー信号
が整定するまでの間の時間待ちである。
【００１８】４０４ ＯＦＦＳＥＴ ＤＥＴＥＣＴ フォーカスオフセット検出信号５０２とトラックオフセ
ット検出信号５０３をＴ２の間”Ｈ”にする。この間に
オフセット検出を行う。
ット検出信号５０３をＴ２の間”Ｈ”にする。この間に
オフセット検出を行う。
【００１９】４０５ ＬＤ ＯＮ ＬＤオフ信号５０１を”Ｌ”にする。半導体レーザはオ
ンする。
ンする。
【００２０】４０６ ＷＡＩＴ Ｔ３ Ｔ３なる時間だけ時間待ちする。これは半導体レーザが
オンしてから信号再生時の発光状態となって、フォーカ
ス、トラック各エラー信号が正常に出力されるまでの時
間である。
オンしてから信号再生時の発光状態となって、フォーカ
ス、トラック各エラー信号が正常に出力されるまでの時
間である。
【００２１】４０７ ＳＥＲＶＯ ＯＮ フォーカスサーボホールド信号５０４とトラックサーボ
ホールド信号５０５を”Ｌ”にする。各サーボは通常の
サーボに戻る。
ホールド信号５０５を”Ｌ”にする。各サーボは通常の
サーボに戻る。
【００２２】次にオフセット補正の方法について図６の
フローチャートを用いて説明する。 ６０１ Ａ／Ｄでエラー信号Ｖｅｒｒを取り込む。
フローチャートを用いて説明する。 ６０１ Ａ／Ｄでエラー信号Ｖｅｒｒを取り込む。
【００２３】半導体レーザがオフの状態のフォーカス、
トラック各エラー信号をＡ／Ｄコンバータで取り込む。
トラック各エラー信号をＡ／Ｄコンバータで取り込む。
【００２４】６０２ リファレンス電圧Ｖｒｅｆとの差
をとる。
をとる。
【００２５】Ｖｏｆ＝Ｖｅｒｒ−Ｖｒｅｆ Ｖｒｅｆは半導体レーザがオフ状態での理想的なエラー
信号のレベルである。Ｖｏｆはオフセット量である。
信号のレベルである。Ｖｏｆはオフセット量である。
【００２６】６０３ Ｖｏｆが許容範囲か？ ｜Ｖｏ
ｆ｜＜Ｖ０ オフセット量Ｖｏｆが許容値Ｖ０以下であるか判定す
る。許容範囲内に有ると判定されたときには、オフセッ
ト補正は行わず制御を終了する。許容範囲を越えている
と判定した時には、６０４に移る。
ｆ｜＜Ｖ０ オフセット量Ｖｏｆが許容値Ｖ０以下であるか判定す
る。許容範囲内に有ると判定されたときには、オフセッ
ト補正は行わず制御を終了する。許容範囲を越えている
と判定した時には、６０４に移る。
【００２７】６０４ オフセット補正値の算出 Ｖｃｏ
ｎ＝ａ＊Ｖｏｆ ａは定数。オフセット量から補正すべき値Ｖｃｏｎを算
出する。
ｎ＝ａ＊Ｖｏｆ ａは定数。オフセット量から補正すべき値Ｖｃｏｎを算
出する。
【００２８】６０５ Ｄ／Ａのデータをセットしてオフ
セット補正する。
セット補正する。
【００２９】Ｄ／Ａのデータをセットするとエラー信号
に補正値が加えられ、オフセット補正が行われる。
に補正値が加えられ、オフセット補正が行われる。
【００３０】以上述べた補正動作は常時行う必要はな
い。装置の温度が定常状態の時には温度ドリフトは殆ど
起こらないが、特に装置立ち上げ時等の過渡状態におい
ては、温度ドリフトの影響が大きい。そこで装置内部の
温度を測定する手段を用いて、温度の時間変化割合の大
きいときには頻繁に（短い間隔で）補正動作を行い、そ
れ以外には補正動作の間隔を長くして、ＣＰＵの負荷を
低減させる事もできる。また上記実施例においてはディ
スクフォーマットのＧａｐ部でオフセット検出を行うと
したが、装置がリード／ライト／イレーズもしくはシー
ク状態で無いときには、例えばユーザデータ領域で半導
体レーザをオフして、オフセット検出動作を行う事も可
能である。
い。装置の温度が定常状態の時には温度ドリフトは殆ど
起こらないが、特に装置立ち上げ時等の過渡状態におい
ては、温度ドリフトの影響が大きい。そこで装置内部の
温度を測定する手段を用いて、温度の時間変化割合の大
きいときには頻繁に（短い間隔で）補正動作を行い、そ
れ以外には補正動作の間隔を長くして、ＣＰＵの負荷を
低減させる事もできる。また上記実施例においてはディ
スクフォーマットのＧａｐ部でオフセット検出を行うと
したが、装置がリード／ライト／イレーズもしくはシー
ク状態で無いときには、例えばユーザデータ領域で半導
体レーザをオフして、オフセット検出動作を行う事も可
能である。
【００３１】（実施例２） 図７に本発明の他の実施例の回路図を示す。ホトダイオ
ード７０１はカソードが＋Ｖにバイアスされ、アノード
はオペアンプ７０２の反転入力に接続されている。オペ
アンプ７０２は高速タイプのもので、抵抗７０４とオペ
アンプ７０２とでＩＶ変換を行う。抵抗７０５はオペア
ンプ７０２のオフセットの影響を低減するためのもので
ある。なお、この回路はＶｒｅｆを中心に動作してい
る。オペアンプ７０３は速度は速くないが温度ドリフト
特性等のＤＣ性能の良い低ドリフトアンプである。オペ
アンプ７０３と抵抗７０６、７０７、７０８、７０９で
差動増幅回路を構成している。コンデンサ７１０、７１
１は差動増幅回路の帯域を制限する。この差動増幅回路
でオペアンプ７０２の入力端子間のオフセット電圧を検
出して、非反転入力端子に抵抗７１２を介して入力する
ことにより、オペアンプ７０４のオフセットが補償され
る。以上のように２種類のアンプを組み合わせることに
より、端子７１４に出力されるＩＶ変換信号７１３は、
温度ドリフトが小さくなる。
ード７０１はカソードが＋Ｖにバイアスされ、アノード
はオペアンプ７０２の反転入力に接続されている。オペ
アンプ７０２は高速タイプのもので、抵抗７０４とオペ
アンプ７０２とでＩＶ変換を行う。抵抗７０５はオペア
ンプ７０２のオフセットの影響を低減するためのもので
ある。なお、この回路はＶｒｅｆを中心に動作してい
る。オペアンプ７０３は速度は速くないが温度ドリフト
特性等のＤＣ性能の良い低ドリフトアンプである。オペ
アンプ７０３と抵抗７０６、７０７、７０８、７０９で
差動増幅回路を構成している。コンデンサ７１０、７１
１は差動増幅回路の帯域を制限する。この差動増幅回路
でオペアンプ７０２の入力端子間のオフセット電圧を検
出して、非反転入力端子に抵抗７１２を介して入力する
ことにより、オペアンプ７０４のオフセットが補償され
る。以上のように２種類のアンプを組み合わせることに
より、端子７１４に出力されるＩＶ変換信号７１３は、
温度ドリフトが小さくなる。
【００３２】図８に補償回路の有無による温度ドリフト
の違いを測定した例を示す。８０１は補償回路が無く、
高速オペアンプのみでＩＶ変換回路を構成した場合の出
力のドリフト電圧である。温度を１０℃から６０℃まで
変化させると、変化率おおよそ１０［μＶ／℃］で出力
電圧がドリフトした。一方、８０２は本発明の図７の回
路を用いた場合で、ドリフト電圧は１０分の１以下に低
減された。この様なＩＶ変換アンプを用いて光メモリ装
置を構成すると、装置の温度が変化してもフォーカス、
トラックの各サーボ信号に発生するオフセットは従来に
比べ非常に小さく、サーボ系に対する影響は無くなる。
の違いを測定した例を示す。８０１は補償回路が無く、
高速オペアンプのみでＩＶ変換回路を構成した場合の出
力のドリフト電圧である。温度を１０℃から６０℃まで
変化させると、変化率おおよそ１０［μＶ／℃］で出力
電圧がドリフトした。一方、８０２は本発明の図７の回
路を用いた場合で、ドリフト電圧は１０分の１以下に低
減された。この様なＩＶ変換アンプを用いて光メモリ装
置を構成すると、装置の温度が変化してもフォーカス、
トラックの各サーボ信号に発生するオフセットは従来に
比べ非常に小さく、サーボ系に対する影響は無くなる。
【００３３】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば環境変
化特に温度変化によりフォーカスサーボ、トラックサー
ボが影響を受けることなく、常に最適な状態でデータの
記録再生が行えるという効果を有する。さらに、装置の
組立時のボリューム等による調整作業が必要なくなるの
で、組立工数が削減されローコスト化に寄与するという
効果を有する。また、光メモリ装置内の温度の時間変化
割合に応じてオフセット補正の動作間隔を制御すること
により、ＣＰＵの負荷を低減させる事ができる。
化特に温度変化によりフォーカスサーボ、トラックサー
ボが影響を受けることなく、常に最適な状態でデータの
記録再生が行えるという効果を有する。さらに、装置の
組立時のボリューム等による調整作業が必要なくなるの
で、組立工数が削減されローコスト化に寄与するという
効果を有する。また、光メモリ装置内の温度の時間変化
割合に応じてオフセット補正の動作間隔を制御すること
により、ＣＰＵの負荷を低減させる事ができる。
【図１】 本発明の光メモリ装置の構成を示すブロック
図。
図。
【図２】 本発明の実施例である光メモリ装置の回路
図。
図。
【図３】 本発明の光メモリ装置の制御信号発生の動作
のフローチャート。
のフローチャート。
【図４】 光ディスクのフォーマット図。
【図５】 本発明の光メモリ装置の制御信号発生手段の
各種制御信号のタイミング図。
各種制御信号のタイミング図。
【図６】 本発明の光メモリ装置のオフセット補正の流
れを示すフローチャート。
れを示すフローチャート。
【図７】 本発明の他の実施例の回路図。
【図８】 図７の効果を示すための温度とドリフト電圧
の関係図。
の関係図。
【図９】 従来の光メモリ装置の回路図。
１０１ 光学ヘッド １０２ 信号処理手段 １０３ 制御信号発生手段 １０４ 半導体レーザ制御手段 １０５ フォーカス制御手段 １０６ オフセット検出手段１ １０７ オフセット補正手段１ １０８ トラック制御手段 １０９ オフセット検出手段２ １１０ オフセット補正手段２ ２０１ ＣＰＵ ２０２ ホトダイオード ２０３ ホトダイオード ２０４ ホトダイオード ２０５ ホトダイオード ２２４ Ａ／Ｄ変換器１ ２２５ Ｄ／Ａ変換器１ ２２８ サンプル・ホールド回路１ ２３７ Ａ／Ｄ変換器２ ２３８ Ｄ／Ａ変換器２ ２４０ サンプル・ホールド回路２ ７０２ 高速オペアンプ ７０３ 低ドリフトオペアンプ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−293521（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−161623（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/135 G11B 19/00 - 19/18 G11B 21/08 - 21/10
Claims (4)
- 【請求項１】 光源から放射された光束を記録媒体上に
集光させる光学ヘッドを備え、フォーカスサーボエラー
信号又はトラックサーボエラー信号であるサーボエラー
信号の検出と、プリフォーマット信号の検出とを、少な
くとも２個以上の光検出器で検出された信号の演算によ
り行う光メモリ装置において、 前記光検出器で検出された信号の演算を行う信号処理手
段と、 前記信号処理手段で生成された前記プリフォーマット信
号に基づき制御信号を発生する制御信号発生手段と、 前記制御信号発生手段からの信号により前記光源の制御
を行う光出力制御手段と、 前記信号処理手段で生成されたサーボエラー信号に基づ
きサーボ制御を行うサーボ制御手段と、 前記制御信号発生手段からの前記制御信号により、前記
光源が非発光時の前記サーボエラー信号のオフセットの
検出を行うオフセット検出手段と、 前記オフセット検出手段の出力により前記サーボエラー
信号のオフセットを補正するオフセット補正手段と、 光メモリ装置内の温度を検出する温度検出手段と、を備
え、 前記温度検出手段によって検出された温度の時間変化割
合に応じて前記オフセット補正の動作間隔を制御するこ
とを特徴とする光メモリ装置。 - 【請求項２】 前記光検出器の検出電流を電圧信号に変
換するＩＶ変換アンプが、高速アンプと低ドリフトアン
プとを組み合わせてなることを特徴とする請求項１記載
の光メモリ装置。 - 【請求項３】 光源から放射された光束を記録媒体上に
集光させる光学ヘッドを備え、フォーカスサーボエラー
信号又はトラックサーボエラー信号であるサーボエラー
信号の検出を、少なくとも２個以上の光検出器で検出さ
れた信号の演算により行う光メモリ装置のサーボオフセ
ット補正方法において、 記録媒体の所定領域において、前記光源を非発光状態に
して、サーボエラー信号のオフセット量を検出し、前記
オフセット量に基づいてオフセット補正を行うと共に、
光メモリ装置内の温度の時間変化割合に応じて前記オフ
セット補正の動作間隔を制御することを特徴とする光メ
モリ装置のサーボオフセット補正方法。 - 【請求項４】 前記温度の時間変化割合が大きいときに
は、前記オフセット補正を行う時間間隔を短くし、前記
温度の時間変化割合が小さいときには、前記オフセット
補正を行う時間間隔を長くすることを特徴とする請求項
３記載の光メモリ装置のサーボオフセット補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22609491A JP2910350B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 光メモリ装置及びそのサーボオフセット補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22609491A JP2910350B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 光メモリ装置及びそのサーボオフセット補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0562220A JPH0562220A (ja) | 1993-03-12 |
| JP2910350B2 true JP2910350B2 (ja) | 1999-06-23 |
Family
ID=16839732
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22609491A Expired - Fee Related JP2910350B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 光メモリ装置及びそのサーボオフセット補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2910350B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7218582B2 (en) | 2002-12-13 | 2007-05-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical disc drive |
| CN100433148C (zh) * | 2002-12-13 | 2008-11-12 | 松下电器产业株式会社 | 光盘装置 |
| EP1746587A4 (en) * | 2004-04-23 | 2008-12-10 | Panasonic Corp | OPTICAL DISK DEVICE AND OPTICAL DISK SEMICONDUCTOR DEVICE |
| JP2006185481A (ja) * | 2004-12-27 | 2006-07-13 | Toshiba Corp | 光ディスク記録再生装置およびオフセット補正方法 |
-
1991
- 1991-09-05 JP JP22609491A patent/JP2910350B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0562220A (ja) | 1993-03-12 |
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