CN1299275C - 光盘装置 - Google Patents

Abstract

一种光盘装置，在更新电偏移量时，或根据现在的电偏移量的检测值进行更新，或不检测现在的偏移量，而根据过去检测的偏移量导出电偏移量，根据该值进行更新。从而能降低中断光盘装置的记录再现动作的频度。提供在记录再现动作中修正电偏移量时，防止信息传输率的下降的光盘装置。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及修正光盘装置的电路中所产生的电偏移量等的技术。

背景技术

当光盘装置进行数据的写入或读出时，光盘装置向光盘的磁道上照射激光，形成激光点，由光电检测器接收该反射光，变换为电信号。为了使激光的照射位置正确地跟踪到光盘的信息记录层和层上的磁道，光盘装置根据该电信号生成表示跟踪残差的伺服信号(跟踪误差信号或聚焦误差信号等)，进行照射位置的反馈控制。

在伺服信号的生成电路中包含多个放大器。因为放大器中存在很难完全防止的电偏移量，所以在生成的伺服信号中重叠着这样的电偏移量。如果使用这样的伺服信号控制激光的照射位置，则产生跟踪残差，记录再现性能恶化。因此，以往的光盘装置采用在进行数据的写入及/或读出前，预先修正电偏移量的对策。

另外，专利文献1中所述的光盘装置在数据的写入及/或读出中也修正电偏移量。其理由是电偏移量具有根据电路的周围温度而变化的特性，有必要按照该变化进行适当的修正。

图25表示以往的光盘装置250的功能块的结构。光盘装置250按如下工作。即如果激光二极管2002进行激光的发光，放射激光，则激光在视准透镜2003中变换为平行光，通过分光束镜2004到达物镜2005。物镜2005把平行光汇聚，在光盘2001的信息记录层上形成激光点，并且把在信息记录层中反射的光(反射光)变换为平行光。分光束镜2004对来自物镜2005的反射光付与向受光量检测部2006的方向。受光量检测部2006接收该平行光，生成并输出与受光量成比例的光量信号。TE信号生成部2007根据该光量信号生成并输出激光的照射位置和光盘2001的记录磁道中心的偏移的跟踪误差信号(Tracking Error：TE)信号。

而头检测部2013如果根据光量信号，检测作为预凹陷而预先记录在光盘2001的各扇区中的标题，生成头再现信号，则检测控制部2008进行跟踪信号保持、激光的不发光控制和TE信号的偏移量检测，然后进行激光发光和跟踪信号的保持的解除。检测控制部2008生成用于进行这些控制的各种控制信号。具体而言，检测控制部2008根据该标题再现信号，输出控制控制信号生成部2009的保持信号、控制激光二极管2002的激光发光的隔断信号、控制偏移量检测部2010的检测控制信号。当检测控制部2008输出的保持信号指示保持时，控制信号生成部2009保持跟踪控制信号。当隔断信号指示激光发光停止时，激光二极管2002使激光器为不发光状态。当检测控制信号指示偏移量检测时，偏移量检测部2010检测TE信号的偏移量。

偏移量检测部2010根据检测控制信号指示偏移量检测，检测重叠在TE信号中的电偏移量的偏移量，偏移量修正部2011根据该偏移量生成表示修正量的偏移量修正信号。偏移量修正部2011根据检测的偏移量计算修正信号，跟踪控制部2009根据计算的修正信号修正TE信号的偏移量。

跟踪控制部2009根据偏移量修正信号修正TE信号，按照该TE信号输出用于使激光的照射位置跟踪到光盘2001的记录磁道上的磁道控制信号。透镜驱动电路2012按照跟踪控制信号使物镜2005的位置变化。

光盘装置250在数据的读出动作中，每次检测到标题，修正TE信号的电偏移量。这在写入动作中也同样。

[专利文献1]特开平5-62220号公报

在以往的光盘装置中，即使在数据的读出和写入动作中，也暂时使激光为不发光状态，修正电偏移量，这时必须中断对光盘的数据写入和读出。因此，再现时，从光盘装置向主机等的传输率下降，在记录时，从主机向光盘装置的传输率下降，很难确保必要的传输率。特别是在对光盘记录电视节目，同时能再现的光盘装置中，有必要交替进行数据的写入和读出，所以必须确保比以往还高的传输率。

伴随着近年的光盘的大容量化，光盘的记录密度提高，要求更高的伺服精度。结果，光盘装置有必要频繁进行电偏移量的修正。因此，中断数据的写入和读出的时间进一步延长，更难确保高的传输率。

此外，如果增大光盘装置的缓存器的容量，虽然可缓和上述的问题，但是会引起光盘装置的成本上升，所以不是好办法。

发明内容

本发明是为了解决所述课题而提出的，其目的在于：提供在不降低传输率的前提下，修正电偏移量的技术。

本发明的光盘装置对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方，包括：放射光的光源；使所述光汇聚的透镜；检测由所述光盘反射的所述光，输出再现信号的光检测器；输出所述再现信号和具有预先设定的基准电压的基准信号的一方的至少一个隔断部；根据所述隔断部的输出信号生成伺服信号的伺服信号生成部；检测所述伺服信号生成部的电路引起的所述伺服信号生成部的第一偏移量的偏移量检测部，即把输出所述基准信号时的所述伺服信号生成部的输出值作为所述第一偏移量的值检测的偏移量检测部；存储检测的多个第一偏移量的值的存储部；存储在分别检测所述多个第一偏移量值时所测量的多个温度值的温度存储部；把现在的第一偏移量的值和第二偏移量的值的一方作为修正值输出的计算部，即根据利用所述多个第一偏移量值以及所述多个温度值而计算出所述多个第一偏移量的值的变化率，导出所述第二偏移量的计算部；根据所述修正值修正所述伺服信号的修正部。

光盘装置还可以包括：测定所述伺服信号生成部的温度的传感器；根据测定的所述温度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信号，并且根据从所述修正值的最后的更新时开始的经过时间，生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号的判断部。当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测，并且所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述偏移量检测部检测现在的第一偏移量，所述修正部把现在的第一偏移量作为修正值输出。

光盘装置还可以包括：测定所述伺服信号生成部的温度的传感器；根据测定的所述温度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信号，并且根据从所述修正值的最后的更新时开始的经过时间，生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号的判断部。当所述检测信号不指示所述第一偏移量的检测，并且所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述计算部导出所述第二偏移量。

光盘装置还可以包括：测定所述伺服信号生成部的温度的传感器；根据测定的所述温度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信号，并且根据从所述修正值的最后的更新时开始的经过时间，生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号的判断部；当所述检测信号不指示所述第一偏移量的检测，并且所述更新信号不指示所述修正值的更新时，所述修正部根据现在的修正值修正所述第一伺服信号。

光盘装置还可以包括：生成指示是否隔断所述再现信号的所述隔断信号的检测控制部。当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测时，所述检测控制部生成指示所述再现信号的隔断的隔断信号；根据所述隔断信号，所述隔断部隔断所述再现信号，输出所定的基准信号。

光盘装置还可以包括：生成指示是否隔断所述再现信号的所述隔断信号的检测控制部。当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测时，所述检测控制部生成指示所述再现信号的隔断的隔断信号；根据所述隔断信号，所述光源停止发光。

光盘装置还包括：根据控制信号在所述光盘的半径方向和垂直于所述光盘的方向的至少一方使所述透镜位置变化的透镜驱动部；根据所述检测信号生成所述控制信号的控制信号生成部。当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测时，所述控制信号生成部保持所述控制信号的值。光盘装置还包括：放大输出所述再现信号的放大部。所述至少一个隔断部具有第一隔断部和第二隔断部，所述第一隔断部根据所述第一隔断信号向所述放大部输出所述再现信号和所定的第一基准信号的一方，第二隔断部根据第二隔断信号向所述伺服信号生成部输出所述放大部的输出信号和所定的第二基准信号的一方；所述偏移量检测部把从所述隔断部输出所述第一基准信号时的所述放大部的输出值作为所述放大部的电路引起的所述放大部的第三偏移量的值检测；所述存储部还存储检测的多个第三偏移量的值；所述计算部把现在的第三偏移量的值和第四偏移量的值的一方作为修正值输出，输出所述第四偏移量的值时，根据存储的所述多个第三偏移量的值的变化率，导出所述第四偏移量的值。

光盘装置还包括：测定所述放大部的温度的第一传感器；测定所述伺服信号生成部的温度的第二传感器；根据测定的所述放大部的温度和所述伺服信号生成部的温度，生成指示是否需要所述修正值的更新的更新信号，并且根据从所述修正值的最后更新时开始的经过时间，生成表示是否需要所述第一偏移量和第三偏移量的检测的检测信号的判断部。当所述检测信号指示所述第三偏移量的检测，并且所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述偏移量检测部检测现在的第3偏移量，所述修正部把所述现在的第三偏移量作为修正值输出。

在向所述光盘写入数据时和从所述读出光盘数据时，所述偏移量检测部检测所述第一偏移量，所述存储部存储所述多个第一偏移量，所述计算部输出所述修正值。

所述伺服信号是跟踪误差信号和聚焦误差信号的至少一方。

如果测定的所述温度变化量超过所定阈值，所述判断部就生成指示所述修正值的更新的更新信号。

光盘装置还包括：测定所述经过时间的时间测定部；如果测定的所述时间超过所定阈值，所述判断部就生成指示所述修正值的更新的更新信号。

光盘装置还包括：存储所述数据的缓存器。当所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述判断部根据所述缓存器内的信息量，生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号。

光盘装置还包括：所述计算部根据所述温度存储部中存储的所述温度值和所述多个第一偏移量的值，导出所述第二偏移量的值。

所述温度存储部在把所述第一偏移量的各值存储在所述存储部中的时刻存储所述温度值；所述计算部决定所述温度存储部中存储的所述温度值中最接近现在的温度值的两个温度值，根据在与决定的温度值相同的时刻存储在所述存储部中的所述第一偏移量的值，导出所述第二偏移量的值。

本发明的光盘装置的控制方法控制对具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方的光盘装置，包括：放射光的步骤；使所述光汇聚的步骤；检测由所述光盘反射的所述光，输出再现信号的步骤；把所述再现信号和具有预先设定的基准电压的基准信号的一方作为输出信号输出的步骤；根据输出信号生成伺服信号的步骤；检测重叠在所述伺服信号上的第一偏移量的步骤，即把对与所述基准信号生成的所述伺服信号作为所述第一偏移量检测的步骤；存储检测的多个第一偏移量值并存储在分别检测所述多个第一偏移量值时所测量的多个温度值的步骤；把现在的第一偏移量的值和第二偏移量的值的一方作为修正值输出的步骤，即根据利用所述多个第一偏移量值以及所述多个温度值而计算出的所述多个第一偏移量的值的变化率，导出所述第二偏移量的步骤；根据所述修正值修正所述第一伺服信号的步骤。

本发明的光盘装置对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方，包括：具有放射光的光源、使所述光汇聚的透镜和检测所述光输出再现信号的光检测器的光头；根据控制信号，在实质上垂直于所述信息记录层的方向使所述透镜的位置变化的透镜驱动部；生成所述控制信号的控制信号生成部，即生成包含使所述透镜移动到不接收到来自所述光盘的反射光的位置的指示的所述控制信号的控制信号生成部；根据所述再现信号，生成第一跟踪误差信号的TE信号生成部；检测在所述TE信号生成部中产生的电偏移量的偏移量检测部；根据所述电偏移量生成从所述第一跟踪误差信号除去电偏移量的第二跟踪误差信号的偏移量修正部；根据所述第二跟踪误差信号，检测与在所述光头内漫反射的光对应的杂射光信号，从所述再现信号除去所述杂射光信号的杂射光调整部。

本发明的光盘装置对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方，包括：具有放射光的光源、使所述光汇聚在所述光盘上的透镜和检测来自所述光盘的反射光输出第一再现信号的光检测器的光头；根据所述第一再现信号，生成具有所定范围内的电平的第二再现信号的电平调整部；根据所述第二再现信号生成第一跟踪误差信号的TE信号生成部，即该动态范围是所述所定范围的TE信号生成部；检测所述TE信号生成部中产生的电偏移量的偏移量检测部；根据所述电偏移量，生成从所述第一跟踪误差信号除去所述电偏移量的第二跟踪误差信号的偏移量修正部；根据所述第二跟踪误差信号生成控制信号的控制信号生成部；根据所述控制信号在横切所述磁道的方向驱动所述透镜，使所述光汇聚的位置位于所述磁道上的透镜驱动部。

本发明的光盘装置的控制方法，控制对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方的光盘装置，包括：放射光的步骤；使所述光汇聚在所述光盘上的步骤；检测来自所述光盘的反射光，输出第一再现信号的步骤；根据所述第一再现信号生成具有所定范围内的水平的第二再现信号的步骤；根据所述第二再现信号，生成第一跟踪误差信号的步骤；检测在生成所述第一跟踪误差信号时产生，并且重叠在所述第一跟踪误差信号上的电偏移量的值的步骤；根据所述偏移量的值，生成从所述第一跟踪误差信号除去所述电偏移量的第二跟踪误差信号的步骤；根据所述第二跟踪误差信号生成控制信号的步骤；根据所述控制信号使所述光汇聚的位置位于所述磁道上的步骤。

控制方法包含：以所定间隔多次进行检测所述电偏移量的步骤的步骤；存储所述电偏移量的各值的步骤；根据所述电偏移量的至少两个值，在所述电偏移量的检测后，推测重叠在所述第一跟踪误差信号上的电偏移量的值的步骤；生成所述第二跟踪误差信号的步骤根据推测的所述电偏移量的值，生成所述第二跟踪误差信号。

本发明的光盘装置对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方，包括：具有放射光的光源、使所述光汇聚的透镜和检测所述光输出再现信号的光检测器的光头；根据控制信号，使所述透镜的位置在实质上垂直于所述信息记录层的方向变化的透镜驱动部；生成所述控制信号的控制信号生成部，即生成包含使所述透镜移动到不接收到来自所述光盘的反射光的位置的指示的所述控制信号的控制信号生成部；根据所述再现信号，生成第一聚焦误差信号的FE信号生成部；检测在所述FE信号生成部中产生的电偏移量的偏移量检测部；根据所述电偏移量生成从所述第一聚焦误差信号除去电偏移量的第二聚焦误差信号的偏移量修正部；根据所述第二聚焦误差信号，检测与在所述光头内漫反射的光对应的杂射光信号，从所述再现信号除去所述杂射光信号的杂射光调整部。

本发明的光盘装置对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方，包括：具有放射光的光源、使所述光汇聚在所述光盘上的透镜和检测来自所述光盘的反射光输出第一再现信号的光检测器的光头；根据所述第一再现信号，生成具有所定范围内的电平的第二再现信号的电平调整部；根据所述第二再现信号，生成表示垂直于所述光盘的方向的所述光焦点位置和所述信息记录层的位置关系的第一聚焦误差信号的FE信号生成部，即该动态范围是所述所定范围的FE信号生成部；检测所述FE信号生成部中产生的电偏移量的偏移量检测部；根据所述电偏移量，生成从所述第一聚焦误差信号除去所述电偏移量的第二聚焦误差信号的偏移量修正部；根据所述第二聚焦误差信号生成控制信号的控制信号生成部；根据所述控制信号在垂直于所述光盘的方向驱动所述透镜，使所述光汇聚的位置位于所述信息记录层的透镜驱动部。

本发明的光盘装置的控制方法控制对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方的光盘装置，包括：放射光的步骤；使所述光汇聚在所述光盘上的步骤；检测来自所述光盘的反射光，输出第一再现信号的步骤；根据所述第一再现信号的电平生成具有所定范围内的水平的第二再现信号的步骤；根据所述第二再现信号，生成第一聚焦误差信号的步骤；检测在生成所述第一聚焦误差信号时产生，并且重叠在所述第一聚焦误差信号上的电偏移量的值的步骤；根据所述偏移量的值，生成从所述第一聚焦误差信号除去所述电偏移量的第二聚焦误差信号的步骤；根据所述第二聚焦误差信号生成控制信号的步骤；根据所述控制信号使所述光汇聚的位置位于所述信息记录层上的步骤。

控制方法包含：以所定间隔多次进行检测所述电偏移量的步骤的步骤；

存储所述电偏移量的各值的步骤；

根据所述电偏移量的至少两个值，在所述电偏移量的检测后，推测重叠在所述第一聚焦误差信号上的电偏移量的值的步骤。生成所述第二聚焦误差信号的步骤根据推测的所述电偏移量的值，生成所述第二聚焦误差信号。

光盘装置，对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方，包括：具有放射光的光源、使所述光汇聚的透镜和检测所述光输出再现信号的光检测器的光头；根据控制信号，使所述透镜的位置在实质上垂直于所述信息记录层的方向变化的透镜驱动部；生成所述控制信号的控制信号生成部，即生成包含使所述透镜移动到不接收到来自所述光盘的反射光的位置的指示的第一控制信号和包含使所述透镜移动到接收到来自所述光盘的反射光的位置的指示的第二控制信号的控制信号生成部；根据所述第一控制信号，所述透镜驱动部工作时，根据所述第一再现信号，检测与所述光头内漫反射的光对应的杂射光信号，保持与检测的所述杂射光信号电平对应的修正值的杂射光调整部；根据所述第二控制信号，所述透镜驱动部工作时，根据所述第一再现信号的电平，生成具有所定范围内的电平的第二再现信号的电平调整部；根据所述第二再现信号，生成表示所述光焦点位置和所述光盘的位置关系的第一伺服信号的信号生成部，即该动态范围是所述所定范围的信号生成部；检测所述信号生成部中产生的电偏移量的偏移量检测部；根据所述电偏移量，生成从所述第一伺服信号除去所述电偏移量的第二伺服信号的偏移量修正部；所述杂射光调整部根据所述修正值修正所述第二伺服信号。

本发明的光盘装置在伺服控制中，保持伺服控制，通过检测电偏移量，或不保持，通过导出偏移量，更新修正值，修正电偏移量。据此，能缩短光盘装置中断数据的写入和读出的时间，在光盘装置和缓存器间能实现高速的信息传输。

附图说明

下面简要说明附图。

图1是实施例1的光盘装置的框图。

图2是状况判断部107的框图。

图3是与状况判断部107关联的信号的时序图。

图4是检测控制部108的框图。

图5是与检测控制部108关联的信号的时序图。

图6是表示温度存储部106中存储的值以及检测值检测部113中存储的值、检测信号以及更新信号的关系的图。

图7是表示光盘装置19的动作步骤的程序流程图。

图8是实施例2的光盘装置的框图。

图9是状况判断部709的框图。

图10是与状况判断部709关联的信号的时序图。

图11是检测控制部710的框图。

图12是与检测控制部710关联的信号的时序图。

图13是表示温度存储部708中存储的值以及检测值检测部713中存储的值、检测信号以及更新信号的关系的图。

图14是表示光盘装置29的动作步骤的程序流程图。

图15是表示实施例3的光盘装置的框图。

图16是状况判断部1309的框图。

图17是与状况判断部1309关联的信号的时序图。

图18是检测控制部1310的框图。

图19是与检测控制部1310关联的信号的时序图。

图20是表示光盘装置39的动作步骤的程序流程图。

图21是表示实施例4的光盘装置的框图。

图22(a)是表示TE信号生成部1301内部的放大器可处理的动态范围D的图，(b)是表示内部信号的电平超过上限值Dmax的状态的图，(c)是表示表示内部信号的电平比下限值Dmin还小的状态的图，(d)是表示进入TE信号生成部1301的动态范围中的输入信号范围的图。

图23是表示实施例4的光盘装置的修正处理步骤的程序流程图。

图24是表示在实施例1的光盘装置中设置电平调整部43和杂射光调整部46的光盘装置结构的图。

图25是以往的光盘装置的框图。

图中：1-光盘；2-激光二极管；3-视准透镜；4-分光束镜；5-物镜；6-受光量检测部；7-透镜驱动电路；10-光头；11-TE生成芯片；12-光盘控制器；13-传感器部；40-光头；41-TE生成芯片；42-光盘控制器；43-电平调整部；43a-电平检测部；43b-电平修正部；44-检测值存储部；45-修正值计算部；46-杂射光调整部；46a-杂射光检测部；46b-杂射光修正部；47-控制信号生成部；100-第一隔断部；101-放大部；102-第二隔断部；103-TE信号生成部；104-第一温度检测部；105-第二温度检测部；106-温度存储部；107-状况判断部；108-检测控制部；109-低通滤波器；110-控制信号生成部；111-偏移量修正部；112-偏移量检测部；113-检测值存储部；114-修正值计算部。

具体实施方式

图1表示本实施例的光盘装置19的功能框图。光盘装置19具有透镜驱动电路7、光头10、TE生成芯片11、光盘控制器(ODC)12、传感器部13。

光盘装置19对于光盘1能使用激光进行数据的写入和读出。当进行这些动作时，光盘装置19进行控制，使激光的焦点位于光盘的信息记录层上，并且激光点跟踪设置在信息记录层上的记录磁道。该控制称作伺服控制。在图中表示用于进行本实施例的伺服控制的构成要素。此外，把伺服控制的其他例子作为实施例2说明。

光盘装置连接在PC等主机(未图示)上，能作为光驱利用。记录信息及/或再现信息在光盘装置和主机之间不直接传输，通过内置在光驱内的缓存器(未图示)进行传输。例如当向光盘写入数据时，从主机发送的记录信息暂时存储在缓存器中，光驱读出存储在缓存器中的信息，记录到光盘中。当从光盘再现信息时，光驱把从光盘再现的信息暂时存储在缓存器中，主机读出存储在缓存器中的信息。此外，图1中未表示用于进行写入处理和读出处理的构成要素，但是，能使用众所周知的构件和处理步骤，所以在本实施例中省略说明。

本说明书中的光盘1例如假定为CD、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD-R、+RW、+R、BD(Blu-Ray Disc)等圆盘状的记录媒体。下面，说明图示的光盘装置19的各构成要素。

透镜驱动电路7根据跟踪控制信号生成和输出驱动信号，使后面描述的物镜5的位置在光盘1的半径方向变化。例如当跟踪控制信号被保持时，则继续被保持之前的驱动信号的输出，当解除保持时，则输出与跟踪控制信号对应的驱动信号。此外，透镜驱动电路7不仅在光盘1的半径方向，也能使物镜5的位置在垂直于光盘1的信息记录层的方向变化，但是在本实施例的控制中，不是问题，所以省略说明。

光头10具有激光二极管2、视准透镜3、分光束镜4、物镜5、受光量检测部6、第一隔断部100、放大部101。

激光二极管2放射激光。激光的波长按照光盘1的种类而不同。例如，当光盘1为BD时，激光的波长约为405nm。视准透镜3把从激光二极管2放射的激光变换为平行光。分光束镜4把从视准透镜3出射的平行光向物镜5透过，并且把来自物镜5的平行光(来自光盘1的反射光)向受光量检测部6的方向分离。物镜5把透射视准透镜3和分光束镜4的平行光汇聚，在光盘1的信息记录层上形成激光点。此外，物镜5把由信息记录层反射的光变换为平行光，向分光束镜4发送。受光量检测部6接收从分光束镜4出射的平行光，生成与受光量相应的光量信号输出。例如，受光量检测部6是输出与受光量成比例的光电流的光电检测器。该光电流信号是作为读出光盘1上的数据的结果而取得的信号，在本说明书中，也称作再现信号。

第一隔断部100在从后面描述的检测控制部108输出的第一隔断信号为高电平时输出基准电压，当为低电平时原封不动输出从受光量检测部6输出的光量信号。放大部101是把第一隔断部100输出的信号放大输出的放大器。此外，当从第一隔断部100原封不动输出光量信号时，放大的信号实质上是再现信号。

TE生成芯片11具有第二隔断部102、TE信号生成部103、低通滤波器109。TE生成芯片11例如能作为半导体集成电路实现。

第二隔断部102当从后面描述的检测控制部108输出的第二隔断信号为高电平时输出基准电压，当为低电平时原封不动输出从放大部101输出的信号。

TE信号生成部103根据从第二隔断部102输出的信号，输出表示激光的照射位置和光盘1的记录磁道中心的偏移的跟踪误差(TrackingError：TE)信号。

低通滤波器109从TE信号生成部103输出的TE信号中使跟踪控制所必要的频带以上的成分截止，抽出该频率(截止频率)以下的频率成分。例如，光盘1是BD，当以通常速度(1倍速度)旋转时，约100Hz以上。此外，低通滤波器109当从后面描述的状况判断部107输出的检测信号为高电平时，能提高截止频率(在上述的BD的例子中，约为500kHz)，当低电平时，能降低(在上述的BD的例子中，约100Hz)。

只要截止频率可变，低通滤波器109则可以是模拟滤波器，也可以是数字滤波器。此外，TE生成芯片11在以下说明的ODC 12上可以作为DSP设置，这时，不用特别划分TE生成芯片11和ODC12。

传感器部13具有第一温度检测部104和第二温度检测部105。它们具体而言是传感器。第一温度检测部104检测放大部101的内部或周边的温度，输出第一温度信号。第二温度检测部105检测TE信号生成部103的内部或周边的温度，输出第二温度信号。

光盘控制器(Optical Disc Controller：ODC)12具有温度存储部106、状况判断部107、检测控制部108、控制信号生成部110、偏移量修正部111、偏移量检测部112、检测值存储部113、修正值计算部114。ODC 12具有1个以上的数字信号处理器(DSP)、易失性或非易失性存储器等。DSP是所谓的计算机，通过执行存储在存储器中的计算机程序，能实现上述的各构成要素的功能。此外，如果变更提供给DSP的计算机程序，则除了实现本实施例的光盘装置，实施例2～4的ODC也能实现。这样的计算机程序根据后面各实施例的说明中参照的附图的程序流程图中记载的处理记述。以下，说明各要素的功能。

温度存储部106按照后面描述的检测信号和更新信号，存储从第一温度检测部104输出的第一温度信号和从第二温度检测部105输出的第二温度信号的各个值。

状况判断部107按照第一温度信号、第二温度信号和温度存储部106中存储的值，输出更新信号和检测信号。后面将描述状况判断部107的更详细的结构、更新信号和检测信号的详细说明。

检测控制部108按照检测信号输出由2值表示的第一隔断信号、第二隔断信号和检测控制信号。

控制信号生成部110当检测信号为低电平时，按照偏移量修正部111的输出信号，输出用于把激光的照射位置跟踪到光盘1的记录磁道的跟踪控制信号。而当检测信号为高电平时，保持(固定)跟踪控制信号。偏移量修正部111修正低通滤波器109的输出信号中包含的电偏移量。具体而言，偏移量修正部111从低通滤波器109的输出信号的值减去修正值计算部114的输出信号的值输出。

偏移量检测部112如果从检测控制部108接收高电平的检测控制信号，就检测电偏移量，输出偏移量信号。

检测值存储部113按照检测信号和来自检测控制部108的检测控制信号，存储从偏移量检测部112输出的偏移量的值。

修正值计算部114按照更新信号和检测信号，从检测值存储部113和温度存储部106读出存储的值，计算电偏移量的修正值，输出修正信号。此外，修正值计算部114按照更新信号保持修正信号的值。

下面，更详细说明ODC12的各构成要素。

图2表示状况判断部107的功能块的结构。状况判断部107包含温度变化检测部200、判断部201、经过时间测定部202。

温度变化检测部200从温度存储部106读出值，计算从第一温度检测部104输出的第一温度信号的值和温度存储部106中存储的值的差，输出第一温度变化信号。第一温度变化信号的值表示该差的绝对值。温度变化检测部200计算从第二温度检测部105输出第二温度信号的值和温度存储部106的地址2(后面描述)中存储的值的差，输出表示该绝对值的第二温度变化信号。此外，温度存储部106具有多个信息存储区域。后面将描述温度变化检测部200究竟读出哪个区域的值。

判断部201通常输出低电平的更新信号，如果第一温度变化信号或第二温度变化信号超过所定的阈值，就使更新信号的电平在一定时间中为高电平。此外，判断部201按照更新信号和从经过时间测定部202输出的经过时间信号，输出检测信号。更新信号和检测信号是2值的脉冲信号。

经过时间测定部202测定从检测信号的脉冲上升沿开始的经过时间，输出表示该值的经过时间信号。此外，每当检测信号的脉冲上升，经过时间信号的值就复位为0。

下面，说明温度存储部106的信息存储区，然后，说明利用温度存储部106的状况判断部107的动作。

温度存储部106具有6个信息存储区。假定把用于特定各信息存储区的位置的地址分别记载为地址1、地址2、地址3、地址4、地址5、地址6。各区域中所保存的信息是预先决定的。具体而言，在地址1的区域中存储第一温度信号的值，在地址2的区域中存储第二温度信号的值，在地址3和地址4的区域中存储第一温度信号的值，在地址5和地址6的区域中存储第二温度信号的值。

第一温度信号和第二温度信号分别存储在三个不同的区域中的理由在于用不同的时刻更新存储的值。具体而言，通过更新信号控制地址1的区域的存储值，通过更新信号控制地址2的区域的存储值，通过检测信号控制地址3和地址4的区域的存储值，通过检测信号控制地址5和地址6的区域的存储值。

下面，参照图3说明温度存储部106和状况判断部107动作时刻。

图3表示与状况判断部107关联的信号的时序图。

第一温度信号在更新信号的脉冲上升的时刻(垂直于图中时间轴的方向的虚线)被采样，该值存储在温度存储部106的地址1的区域中。为了参考，用黑点(●)表示存储的第一温度信号的值。

第一温度变化信号是表示从第一温度信号的值减去温度存储部106的地址1区域中存储的值而取得的值的绝对值的信号。此外，在更新信号的脉冲上升时刻，第一温度信号的值和地址1区域中存储的值总相等，所以第一温度变化信号的值为0。

第二温度信号在更新信号的脉冲上升的时刻被采样，它的值存储在温度存储部106的地址2的区域中。为了参考，用黑点(●)表示所存储的第二温度信号的值。

第二温度变化信号是表示从第二温度信号的值减去温度存储部106的地址2区域中存储的值而取得的值的绝对值的信号。此外，在更新信号的脉冲上升时刻，第二温度信号的值和地址2区域中存储的值总相等，所以第二温度变化信号的值为0。

此外，温度存储部106在检测信号的脉冲上升时把存储在地址3的区域中的值存储到地址4的区域中，然后，把第一温度信号的值存储到地址3的区域中。然后，把存储在地址5的区域中的值存储到地址6的区域中后，把第二温度信号的值存储到地址5的区域中。

更新信号通常是低电平，当第一温度变化信号或第二温度变化信号的某一值超过所定的阈值时，在一定时间中为高电平。更新信号在高电平时指示温度存储部106的值的更新，在低电平时指示温度存储部106的值的保持(即不更新)。

检测信号也通常是低电平，在更新信号的脉冲上升的时刻，如果经过时间信号的值超过所定的阈值，则在一定时间中为高电平。即检测信号是表示从上次复位的时间开始的经过时间是否超过所定阈值的检测结果的信号。高电平的检测信号表示有检测，低电平的检测信号表示无检测。此外，检测信号的脉冲的下降与更新信号的脉冲下降同时。

经过时间信号，与检测信号的脉冲上升沿对应地被复位为0，值与此后的经过时间成正比例变化。在图中，表示与经过时间成比例变大的经过时间信号。根据经过时间信号的值，能确定从复位时开始的经过时间。

下面，参照图3说明各信号的关系。每当放大部101的内部或周边的温度、及TE信号生成部103的内部或周边的温度的某一方，从更新信号的上升沿开始变化所定以上时，则更新信号在一定时间中变为高电平。此外，这时，从检测信号的上升沿开始经过所定时间时，检测信号在一定时间中变为高电平。

着眼于图3所示的时刻t1、t2、t3。时刻t3表示现在时刻，时刻t2表示检测信号的脉冲上升沿之中从时刻t3观察，最近的过去时刻，时刻t1表示时刻t2的其次近的过去时刻。

在温度存储部106的地址1的区域中存储着时刻t2的第一温度信号的值。同样，在地址2的区域中，存储着时刻t2的第二温度信号的值，在地址3的区域中存储着时刻t2的第一温度信号的值，在地址4的区域中存储着时刻t1的第一温度信号的值，在地址5的区域中，存储着时刻t2的第二温度信号的值，而且在地址6的区域中存储着时刻t1的第二温度信号的值。即在地址1和地址2的各区域中，无论检测信号的值如何，存储着最后更新信号变为高电平时的第一温度信号和第二温度信号的值，在地址3和地址5的各区域中，分别存储着更新信号和检测信号都变为高电平时的第一温度信号和第二温度信号的值，在地址4和地址6的各区域中，分别存储着2次以前更新信号和检测信号都变为高电平时的第一温度信号和第二温度信号的值。

下面，详细说明ODC12的检测控制部108。图4表示检测控制部108的功能块的结构。检测控制部108具有第一隔断控制部400、第二隔断控制部401、偏移量检测控制部402。它们都相应从来自状况判断部107的检测信号的上升时刻开始的经过时间进行动作。

第一隔断控制部400生成第一隔断信号，向第一隔断部100输出。第二隔断控制部401生成第二隔断信号，向第二隔断部102输出。偏移量检测控制部402生成检测控制信号，向偏移量检测部112和检测值存储部113输出。下面，参照图5说明这些信号的细节。

图5表示与检测控制部108关联的信号的时序图。检测信号如刚才参照图3所说明的那样，从判断部201输出。第一隔断信号在检测信号的脉冲上升之后上升，在检测信号的脉冲下降之前下降。第二隔断信号在第一隔断信号的脉冲上升之后上升，与第一隔断信号的脉冲下降同时下降。检测控制信号在第一隔断信号为高电平时，包含2次的脉冲波形。第一次的脉冲与第二隔断信号的脉冲上升同时下降。第二次的脉冲在第二隔断信号的脉冲上升之后上升，在第一隔断信号和第二隔断信号的脉冲的下降同时下降。

下面，详细说明偏移量检测部112。偏移量检测部112如果从检测控制部108接收高电平的检测控制信号，就检测低通滤波器109的输出信号的值。如后所述，这时，在从低通滤波器109输出的信号中包含有电偏移量引起的信号成分。偏移量检测部112具有检测该值的功能。

下面，详细说明检测值存储部113。检测值存储部113具有5个信息存储区。各信息存储区的地址分别记载为地址7、地址8、地址9、地址10、地址11。检测值存储部113检测出检测控制信号的各脉冲是检测信号的脉冲上升后的第几次的脉冲，按照各脉冲，存储来自检测控制部108的检测控制信号下降时的偏移量检测部112输出的偏移量信号的值。检测控制信号的脉冲是第一次的脉冲时，把下降时的偏移量信号的值存储在地址11的信息存储区中。当是第二次的脉冲时，把下降时的偏移量信号的值存储在地址8的信息存储区中。检测值存储部113从存储在地址11中的值减去存储在地址8中的值，把结果存储在地址7中。通过该动作，在地址7的区域中，存储综合了检测信号为高电平时的放大部101中产生的电偏移量的值，在地址8的区域中存储检测信号为高电平时的TE信号生成部103和低通滤波器109中产生的电偏移量的值。

此外，检测值存储部113当检测信号的脉冲上升时，把存储在地址7中的值存储到地址9中，把存储在地址8中的值存储在地址10中。

根据以上的动作，在检测值存储部113的地址7和地址8中分别存储着包含最后有更新并且有检测时的放大部101中产生的电偏移量的值、包含TE信号生成部103和低通滤波器109中产生的电偏移量的值。此外，在地址9和地址10中分别存储着包含2次前有更新并且有检测时的放大部101中产生的电偏移量的值、包含TE信号生成部103和低通滤波器109中产生的电偏移量的值。此外，在地址11中存储着包含最后有更新并且有检测时的放大部101、TE信号生成部103低通滤波器109中产生的电偏移量的值。

下面，详细说明修正值计算部114。

图6表示温度存储部106中存储的值以及检测值存储部113中存储的值、检测信号以及更新信号的关系。修正值计算部114在计算修正值时，把第一温度信号的值、第二温度信号的值、放大部101中产生的电偏移量的值、TE信号生成部103和第一温度检测部104中产生的电偏移量的值作为必要。

现在，时刻t6表示现在时刻，在检测信号的上升时之中，t3表示从时刻t6观察，最近的过去时刻，时刻t1表示时刻t3的其次近的过去时刻。此外，检测信号的下降时中，时刻t4表示从时刻t6观察最近的过去时刻，时刻t2表示时刻t4的其次近的过去时刻。时刻t5表示更新信号的上升时中，从时刻t6观察最近的过去的时刻。

在温度存储部106的地址4的区域中存储着时刻t1的第一温度信号的值(T10)。此外，在地址3的区域中存储着时刻t3的第一温度信号的值(T11)。并且，在地址1的区域中存储着时刻t5的第一温度信号的值(T12)。

而在温度存储部106地址6的区域中存储着时刻t1的第二温度信号的值(T20)。在地址5的区域中存储着时刻t3的第二温度信号的值(T21)。在地址2的区域中存储着时刻t5的第二温度信号的值(T22)。

在检测值存储部113的地址9的区域中存储着时刻t2附近的放大部101的电偏移量值(Os10)。在地址7的区域中存储着时刻t4附近的放大部101的电偏移量值(Os11)。

在检测值存储部113的地址10的区域中存储着时刻t2附近的TE信号生成部103和低通滤波器109的电偏移量的综合值(Os20)。在地址8的区域中存储着时刻t4附近的TE信号生成部103和低通滤波器109的电偏移量的综合值(Os21)。

下面，说明在修正值计算部114中进行的修正值的计算步骤。修正值计算部114分别计算对于放大部101的电偏移量的修正值、对于TE信号生成部103以及低通滤波器109综合电偏移量的修正值，最后把两者相加，作为综合的修正值。修正值计算部114在来自状况判断部107的检测信号和更新信号的脉冲下降后计算修正值。

这里，设修正值计算部114关于放大部101新计算的修正值为C1。此外，关于TE信号生成部103和低通滤波器109新计算的修正值为C2。此外，最终输出的修正值为C。

首先，当更新信号为高电平，并且检测信号也为高电平时，修正值C1为Os11，修正值C2为Os21。此外，最终输出的修正值C为(C1+C2)。即这时的电偏移量由偏移量检测部112检测，修正值计算部114把该值原封不动地作为修正值。

此外，当更新信号为高电平，并且检测信号为低电平时，修正值计算部114根据(表达式1)计算修正值C1，根据(表达式2)计算修正值C2。

(表达式1)C1＝(Os11-Os10)×(T12-T11)/(T11-T10)+Os11

(表达式2)C2＝(Os21-Os20)×(T22-T21)/(T21-T20)+Os21

最终输出的修正值C为(C1+C2)。即不检测这时的电偏移量，所以修正值计算部114从过去的值推测现在的电偏移量的值，以该值作为修正值。在推测中把电偏移量对于温度变化的变化作为线性，根据该变化率进行计算。使用的电偏移量采用最后和2次前检测的值，并且也利用该检测时的温度。

下面，参照图7说明光盘装置19的动作。

图7表示光盘装置19的动作的步骤。首先，在步骤S100中，第一温度检测部104和第二温度检测部105检测放大部101和TE信号生成部103的温度。在接着的步骤S101中，状况判断部107判断从上次的偏移量值更新时开始，放大部101或TE信号生成部103的某一温度是否变化所定值以上。当温度未变化所定值以上时，处理回到步骤S100，当变化时，处理进入步骤S102。在步骤S102中，状况判断部107判断从上次的电偏移量的检测时开始是否经过所定时间以上。当经过所定时间以上时，进入步骤S103，当未经过所定时间以上时，进入步骤S104。

在步骤S103中，通过偏移量检测部112检测偏移量。这里，一边参照图1和图5，一边说明偏移量的检测处理。首先，如果状况判断部107如果使检测信号为高电平，则控制信号生成部110保持此前或这时的跟踪控制信号的值。在保持期间中，透镜驱动电路7输出固定物镜5的位置的驱动信号。通过使物镜5的位置位于光盘1固定，激光点关于光盘1的半径方向固定在保持之前的位置。

与检测信号变为高电平同时，低通滤波器109把截止频率切换为更高的值。这时，控制信号生成部110在从检测信号的脉冲上升到第一隔断信号的脉冲上升之间保持跟踪控制信号。此外，该保持期间包含低通滤波器109的频率切换所需时间。

在低通滤波器109切换截止频率后，如果检测控制部108使第一隔断信号为高电平，则第一隔断部100把输出信号切换为具有所定的基准电压的基准信号。换言之，使再现信号与基准电压短路输出。在该时刻，低通滤波器109输出的信号的值变为从放大部101的输入到低通滤波器109值的输出之间的电路中产生的电偏移量的值。例如，如果基准电压为Vr1，低通滤波器109的输出为Vo1，则在后面描述的时刻，偏移量检测部112把(Vo1-Vr1)作为电偏移量检测。Vr1是预先设定的值。例如如果Vr1＝0，则能把Vo1自身作为电偏移量检测。

此外，低通滤波器109的输出信号稳定在电偏移量的值所需时间依存于低通滤波器109的高端的截止频率。从第一隔断信号的脉冲上升沿到检测控制信号的第一次脉冲的上升沿的时间设计为包含该稳定时间。

如果从低通滤波器109输出的信号值稳定在电偏移量的值，则此后，检测控制信号变为高电平，偏移量检测部112检测电偏移量的值。检测值存储在检测值存储部113中。检测控制信号的第一次脉冲的宽度设计为覆盖偏移量检测部112检测所需时间。

如果电偏移量的检测结束，则第二隔断信号变为高电平，第二隔断部102把其输出信号切换为具有所定基准电压的基准信号。在该时刻，低通滤波器109输出的信号的值变为从TE信号生成部103的输入到低通滤波器109的输出之间的电路中产生的电偏移量的值。例如，如果基准电压为Vr2，低通滤波器109的输出为Vo2，则在后面描述的时刻中，偏移量检测部112把(Vo2-Vr2)作为电偏移量检测。这里，Vr2是预先设定的值，但是如果Vr2＝0，则能把Vo2自身作为电偏移量检测。从第二隔断信号的脉冲上升到检测控制信号的第二次脉冲上升的时间设计为包含低通滤波器109输出的信号的稳定时间，与第一隔断信号的脉冲上升到检测控制信号的第一次脉冲上升的时间相等。

如果低通滤波器109的输出信号的值稳定，则此后检测控制信号再次变为高电平，偏移量检测部112检测电偏移量检测部112的值。检测值存储在检测值存储部113中。检测控制信号的第二次脉冲的宽度设计为覆盖偏移量检测部112检测所需要的时间，与第一次脉冲的宽度相等。

如果电偏移量的检测结束，则检测控制信号、第一隔断信号、第二隔断信号变为低电平，第一隔断部100和第二隔断部102分别输出的信号切换为受光量检测部6输出的光量信号和放大部101输出的信号。这样，低通滤波器109输出的信号的值恢复到与光量信号相应的值。恢复所需的时间依存于低通滤波器109的高的一方的截止频率。从第一隔断信号和第二隔断信号的脉冲上升到检测信号脉冲的下降的时间设计为覆盖该恢复时间。

如果低通滤波器109的输出信号恢复到与光量信号相应的值，则检测信号变为低电平，低通滤波器109的截止频率的频带切换为低的一方。此外，保持信号变为低电平，解除跟踪控制信号的保持。结果，关于光盘1的半径方向，形成在激光照射位置的激光点跟踪在光盘1的记录磁道的中心上。如上所述，检测电偏移量。

下面，参照图7说明步骤S104的处理。在步骤S104，

修正值计算部114通过线性计算，根据温度存储部106和检测值存储部113中存储的过去的温度和电偏移量的值，导出现在的温度的电偏移量的值。

最后，在步骤S105中，使用在步骤S103中检测的电偏移量的值或在步骤S104中导出的电偏移量的值，更新修正值。然后，处理回到步骤S100。

本实施例的光盘装置19在跟踪控制中，通过保持跟踪控制，检测电偏移量，或不保持跟踪控制，导出电偏移量，更新修正值，修正电偏移量。据此，降低中断光盘装置19的记录再现动作的频度，以高速在光盘装置19和缓存器件实现高速的信息传输。

此外，在检测电偏移量时，把低通滤波器109切换为比此前高的截止频率，所以能进一步缩短信号的稳定时间。因此，能缩短进行跟踪控制的保持的时间。在解除保持时，不发生跟踪偏移，能可靠地回到跟踪动作，在短时间中能修正偏移量。

因为按照电路的温度变化更新修正值，所以能以便跟踪温度变化，一边以高精度修正电偏移量。当从过去检测的温度和电偏移量的值计算电偏移量的值时，根据时间上最接近现在的过去的温度和过去的电偏移量的变化，进行计算。据此，能进行高精度的修正。

此外，通过只在从上次的检测时刻经过所定时间以上时检测电偏移量，能把光盘装置19的传输率保持在不阻碍数据的记录及/或再现的速度。

光盘装置19检测构成装置内部的信号路线的一系列电路的电偏移量，或者不进行电偏移量的检测，把它的汇总作为单位，从过去检测的值和电偏移量的值导出现在的电偏移量的值。因此，当在电路的各部温度不同时，也能以高精度计算各部的电偏移量，能以高精度修正电偏移量。具体而言，把检测受光量之后的信号短路为基准电压，隔断对电路的外部输入，所以能有选择地只修正与光量信号的处理关联的电路的电偏移量。根据该修正，不会对其他信号系统的处理造成大的影响。此外，因为保持伺服信号，所以在电偏移量的检测后，能高速回到保持动作。据此，光盘装置19能缩短中断数据的写入和读出的时间，在光盘装置19和缓存器间能实现高速的信息传输。

在本实施例中，划分为构成从放大部101的输入到输出的信号路线的电路、构成从TE信号生成部103的输入到低通滤波器109的输出之间的信号路线的电路，修正电偏移量。可是，也能更细致划分信号路线，修正该划分内的电路的电偏移量。据此，能实现更高精度的修正。相反，也可以不设置第二隔断部102，只修正从放大部101的输入到低通滤波器109的输出的信号路线。据此，能减少电路的数，并且能缩短电偏移量的检测所需时间。此外，也可以切换电路，绕过低通滤波器109，检测电偏移量。据此，进一步缩短稳定时间，能可靠地回到跟踪动作。

(实施例2)

图8表示本实施例的光盘装置29的功能块的结构。光盘装置29的用途与实施例1的光盘装置19相同。

光盘装置29具有透镜驱动电路7、光头、温度检测部707、再现控制部705、再现缓存器706、FE生成芯片21、光盘控制器(ODC)22。为了附图的简略化，省略光头的参照符号。

下面，说明各功能块。此外，省略构成各功能块的要素中，与实施例1光盘装置19(图1)相同的功能的构成要素的说明。

透镜驱动电路7按照来自控制信号生成部704的聚焦控制信号，使物镜5在垂直于光盘1的信息记录层的方向移动。透镜驱动电路7不仅在垂直于光盘1的信息记录层的方向，而且在光盘1的半径方向也能使物镜5的位置变化，但是在本实施例的控制中不是问题，所以省略说明。

在光头中，代替光头10(图1)的第一隔断部100和放大部101，设置有放大部700。激光二极管2当从检测控制部710输出的隔断信号为低电平时进行激光发光，当为高电平时，停止激光发光。此外，在图8中，表示用于从检测控制部710直接接收隔断信号的结构。可是，例如也可以设置后面描述的图15的激光器驱动电路1305那样的激光器驱动电路，根据隔断信号，进行对激光二极管2的电流的控制。具体而言，激光器驱动电路如果隔断信号是低电平，就使足以进行激光发光的电流流向激光二极管2，如果为高电平，就不产生电流。隔断信号可以由后面描述的控制信号生成部704生成。

放大部700用两个值切换放大率。值的一个是与记录时的激光功率对应的值，另一个是与再现时的激光功率对应的值。放大部700通过按照来自后面描述的设定控制部715的设定信号和来自检测控制部710的放大控制信号，切换光量信号的放大率，即使在记录时和再现时激光功率不同时，也能使FE信号的振幅保持一定。放大控制信号取高电平、中央电平、低电平等3值。如果放大控制信号为中央电平，则放大部700根据设定信号设定放大率，如果是中央电平以外的电平，就根据放大控制信号设定放大率。如果设定信号为高电平，放大部700就切换为与记录时对应的放大率，如果是低电平，就切换为与再现时对应的放大率。通过这样工作，如后所述，即使从受光量检测部6输出的光量信号的变动范围不同，也能使输入FE信号生成部701的信号的变动范围不变。

再现控制部705根据光量信号，读出记录在光盘1中的数据输出。

再现缓存器706存储由再现控制部705读出的数据。各数据集合，变为一个以上的信息。主机(未图示)读出存储在再现缓存器706中的信息，进行此后的再现处理。再现信息量信号表示存储在再现缓存器706中的信息量。

温度检测部707检测光盘装置29的内部温度，输出温度信号。

FE生成芯片21的FE信号生成部701根据来自放大部700的输出信号，检测激光的赵位置从光盘1的信息记录层的偏移，输出聚焦误差(Focusing Error：FE)信号。

低通滤波器702从FE信号中使聚焦控制所必要的频带以上的成分输出截止。此外，低通滤波器702在检测信号为高电平时，提高截止频率，在低电平时降低截止频率。

下面，说明ODC22的各构成要素。

偏移量修正部703从低通滤波器702的输出信号的值减去修正值存储部711的输出信号的值输出。

当检测信号为低电平时，控制信号生成部704按照偏移量修正部703的输出信号输出聚焦控制信号。为了使激光的照射位置跟踪光盘1的信息记录层而利用聚焦控制信号。此外，当检测信号为高电平时，控制信号生成部704固定聚焦控制信号的值。

温度存储部708按照检测信号和更新信号存储温度信号的值。

状况判断部709按照温度信号和温度存储部708存储的值，输出以2值表示的更新信号。此外，状况判断部709按照再现信息量的值输出以2值表示的检测信号。

检测控制部710按照检测信号输出以2值表示的隔断信号、放大控制信号、检测控制信号。

设定控制部715输出设定信号。设定信号取在记录时是高电平，再现时为低电平的2值。

放大部700把光量信放大输出，按照设定信号和放大控制信号切换放大率。

偏移量检测部712如果接收高电平的检测控制信号，就检测低通滤波器702的输出信号中的电偏移量，输出偏移量信号。

检测值存储部713根据检测控制信号和检测信号存储偏移量信号的值。

修正值计算部714按照更新信号和检测信号，读出检测值存储部713存储的值、温度存储部708存储的值，计算电偏移量的修正值，输出修正信号。

修正值存储部711存储修正信号的值，输出该值。此外，按照来自设定控制部715的设定信号切换输出的值。

温度存储部708具有3个信息存储区，存储来自温度检测部707的温度信号的值。各信息存储区的地址分别记载为地址1、地址2、地址3。存储在地址1的区域中的值的更新由状况判断部709输出的更新信号控制。存储在地址2和地址3的区域中的值的更新由状况判断部709输出的检测信号控制。

下面，参照图9详细说明上述的状况判断部709。图9表示状况判断部709的功能块的结构。状况判断部709包含温度变化检测部800和温度变化检测部800。温度变化检测部800读出温度存储部708存储的值，计算温度检测部707输出的温度信号的值和温度存储部708的地址1的区域中存储的值的差，输出表示该绝对值的温度变化信号。判断部801按照温度变化检测部800输出的温度变化信号输出以2值表示的更新信号。此外，按照更新信号和再现缓存器706输出的再现信息量信号，输出以2值表示的更新信号。

接着，参照图10详细说明从状况判断部709输出的更新信号和检测信号。这里，也一起说明温度存储部708和状况判断部709的各构成要素的动作。

图10表示与状况判断部709关联的信号的时序图。如果温度变化信号的值超过所定的阈值，判断部801就在一定时间中使更新信号的电平为高电平。高电平的更新信号表示有更新，低电平的更新信号表示没有更新。

温度存储部708把更新信号的脉冲上升时的温度信号的值存储在地址1的区域中。此外，在图10中，用黑点(●)表示存储的值。从温度信号的值减去温度存储部708的地址1的区域中存储的值，取它的绝对值，就取得温度变化信号。当更新信号的上升时，因为温度信号的值和存储在地址1的区域中的值相等，所以温度变化信号的值变为0。

检测信号是判断部801输出的2值信号，在更新信号的脉冲上升的时刻，当再现信息量的值为所定阈值以上时，在一定时间中为高电平，当所定阈值以下时，变为低电平。此外，检测信号的脉冲的下降与更新信号的脉冲的下降是同时。此外，高电平的检测信号表示有检测，低电平的检测信号表示没有检测。

如图10所示，如果从更新信号的上升沿开始、光盘装置29内部的变化所定以上，则更新信号在一定时间中为高电平。此外，这时当在再现缓存器706中存储着所定以上的信息量时，检测信号在一定时间中为高电平。

温度存储部708当检测信号上升为高电平时，把存储在地址2的区域中的值存储在地址3的区域中，然后把温度信号的值存储在地址2的区域中。

接着，着眼于图10所示的时刻t1、t2、t3。时刻t3表示现在时刻，时刻t2表示检测信号的脉冲上升时刻之中从时刻t3观察，最近的过去时刻，时刻t1表示时刻t2的其次近的过去时刻。

在温度存储部708的地址1和地址2的各区域中存储着时刻t2的温度信号的值，在地址3的区域中存储着时刻t1的温度信号的值。即在地址1的区域中，无论检测信号的值如何，存储着更新信号变为高电平时的温度信号的值，在地址2的区域中存储着更新信号和检测信号都变为高电平时的温度信号的值，在地址3的区域中存储着2次前更新信号和检测信号都变为高电平时的温度信号的值。

下面说明检测控制部710。图11表示检测控制部710的功能块的结构。检测控制部710具有放大控制部900、隔断控制部901、偏移量检测控制部902。放大控制部900按照从来自状况判断部709的检测信号变为高电平的时刻开始的经过时间，生成3值的放大控制信号，向放大部700输出。隔断控制部901生成隔断信号，向激光二极管2输出。偏移量检测控制部902生成检测控制信号，向偏移量检测部712和检测值存储部713输出。

这里，一边参照图12，一边说明这些信号的时序。图12表示与检测控制部710关联的信号的时序图。隔断信号在检测信号的脉冲上升之后上升，在检测信号的脉冲下降之前下降。放大控制信号在隔断信号为高电平时包含正脉冲和负脉冲各一次。正脉冲的上升与隔断信号的脉冲上升同时。此外，正脉冲的下降与负脉冲的下降同时。负脉冲的上升与隔断信号的脉冲的下降同时。检测控制信号在隔断信号为高电平时包含2次脉冲。第一次的脉冲在隔断信号的脉冲的上升之后上升，放大控制信号的正脉冲的下降和负脉冲的下降同时下降。第二次的脉冲在放大控制信号的正脉冲的下降以及负脉冲的下降之后上升，与隔断信号的脉冲的下降同时下降。

下面，详细说明偏移量检测部714。偏移量检测部712检测检测控制部710输出的检测控制信号为高电平时的来自低通滤波器702的信号值。如后所述，在检测控制信号的第一次脉冲时，低通滤波器702的输出的信号值变为放大部700的放大率切换为与记录时对应的一方时的从放大部700的输入到低通滤波器702的输出之间的电路中产生的电偏移量的值。在第二次的脉冲时，低通滤波器702输出的信号的值变为放大部700的放大率切换为与再现时对应的一方时的从放大部700的输入到低通滤波器702的输出之间的电路中产生的电偏移量的值。偏移量检测部712具有检测该值的功能。

下面，详细说明检测值存储部713。检测值存储部713具有4个信息存储区。各信息存储区的地址分别记载为地址7、地址8、地址9、地址10。检测值存储部713检测出检测控制信号的各脉冲是检测信号的脉冲上升后的第几次的脉冲，按照各脉冲，存储来自检测控制部710的检测控制信号的脉冲下降时的偏移量检测部712输出的偏移量信号的值。当检测控制信号的脉冲为第一次的脉冲时，把其下降时偏移量信号的值存储在地址7的信息存储区中。当是第二次脉冲时，把其下降时偏移量信号的值存储在地址8的信息存储区中。根据该动作，在地址7的区域中存储记录时的放大率下的电偏移量的值，在地址8的区域中存储再现时的放大率下的电偏移量的值。

此外，当检测值存储部713在检测信号从低电平变为高电平时，把存储在地址7中的值存储到地址9中，把存储在地址8中的值存储到地址10。

通过以上的动作，在检测值存储部713的地址7和地址8中分别存储着对于最后有更新并且有检测时的记录时的放大率和再现时的放大率的电偏移量的值，在地址9和地址10中分别存储着对于2次前有更新并且有检测时的记录时的放大率和再现时的放大率的电偏移量的值。

下面，详细说明修正值计算部714。

图13表示存储在温度存储部708中的值以及存储在检测值存储部713中的值、检测信号以及更新信号的关系。修正值计算部714在计算修正值时，把温度信号的值、对于记录时的放大率的电偏移量的值、对于再现时的放大率的电偏移量的值作为必要。

现在，时刻t6表示现在时刻，在检测信号的上升时之中，时刻t3表示从时刻t6观察，最近的过去时刻，时刻t1表示时刻t3的其次近的过去时刻。此外，检测信号的下降时刻中，时刻t4表示从时刻t6观察最近的过去时刻，时刻t2表示时刻t4的其次近的过去时刻。时刻t5表示更新信号的上升时中，从时刻t6观察最近的过去的时刻。

在温度存储部708的地址3的区域中存储着时刻t1的温度信号的值(T0)。此外，在地址2的区域中存储着时刻t3的温度信号的值(T1)。在地址1的区域中存储着时刻t5的第一温度信号的值(T2)。

而在检测值存储部713的地址9的区域中存储着时刻t2附近的对于记录时的放大率的电偏移量的值(Os10)。在地址7的区域中存储着时刻t4附近的对于记录时的放大率的电偏移量的值(Os11)。

此外，在检测值存储部713的地址10的区域中存储着时刻t2附近的对于再现时的放大率的电偏移量的值(Os20)。在地址8的区域中存储着时刻t4附近的对于再现时的放大率的电偏移量的值(Os21)。

下面，说明修正值计算部714中进行的修正值的计算步骤。

修正值计算部714分别计算对于记录时的放大率的电偏移量的修正值、对于再现时的放大率的电偏移量的修正值。修正值计算部714在来自状况判断部709的检测信号和更新信号的脉冲下降后计算修正值。

这里，当采用记录时的放大率时，新计算的修正值为C1。此外，当采用再现时的放大率时，新计算的修正值为C2。

首先，更新信号为高电平，并且检测信号也为高电平时，修正值C1变为Os11，修正值C2变为Os21。即通过修正值计算部714检测现在的电偏移量，修正值计算部714把该值原封不动作为修正值。

此外，当更新信号为高电平，检测信号为低电平时，修正值计算部714通过(表达式3)计算修正值C1，通过(表达式4)计算修正值C2。

(表达式3)  C1＝(Os11-Os10)×(T12-T11)/(T11-T10)+Os11

(表达式4)  C2＝(Os21-Os20)×(T22-T21)/(T21-T20)+Os21

这时，不检测现在的电偏移量，修正值计算部714从过去的值推测现在的电偏移量的值，以该值作为修正值。关于推测，电偏移量对于温度变化的变化为线性，从最后和2次前检测的电偏移量和此时的温度计算。

修正值计算部714划分为把放大率700的放大率切换为与记录时对应的一方的情形和切换为与再现时对应的一方的情形，把计算的修正值的值作为修正信号输出。此外，修正值存储部711也同样划分，存储修正信号的值。

下面，参照图14说明光盘装置29的动作。图14表示光盘装置29的动作的步骤。

首先，在步骤S200中，温度检测部707检测光盘装置内部的温度。在步骤S201中，状况判断部709判断从上次的偏移量修正值的更新时刻开始，光盘装置内部的温度是否变化所定值以上。当温度未变化所定值以上时，处理回到步骤S200，当变化时，处理进入步骤S202。在步骤S202中，状况判断部709判断再现缓存器706中是否存储着所定以上的信息量。当判断为存储着时，进入步骤S203，当判断为未存储时，进入步骤S204。

在步骤S203中，通过偏移量检测部712检测偏移量。这里，一边参照图8和图12，一边说明偏移量的检测处理。状况判断部709如果使检测信号为高电平，则控制信号生成部704保持此前或这时的聚焦误差信号的值。在保持期间中，透镜驱动电路7输出固定物镜5的位置的驱动信号。通过使物镜5的位置对于光盘1固定，激光点关于垂直于光盘1的信息记录层中的方向的照射位置，固定在保持之前的位置。

在检测信号变为高电平的同时，低通滤波器702切换为更高的截止频率。这时，控制信号生成部704在从检测信号的脉冲上升到放大控制信号的正脉冲以及隔断信号的脉冲上升之间，保持聚焦控制信号。此外，该保持期间包含低通滤波器702的截止频率的切换所需的时间。

低通滤波器702在切换截止频率后，如果检测控制部710使放大控制信号为高电平，则放大部700把放大率切换为与记录时对应的一方。此外，检测控制部710使隔断信号为高电平，停止激光二极管2的激光发光。在该时刻，低通滤波器702输出的信号的值变为与记录时的放大率相应的电偏移量的值。检测的原理与实施例1中说明的同样。

此外，低通滤波器702的输出信号稳定为电偏移量的值所需时间依存于低通滤波器702的高的一方的截止频率。从放大控制信号的正脉冲以及隔断信号的脉冲的上升到检测控制信号的第一次脉冲的上升的时间设计为包含该稳定时间。

如果低通滤波器702的输出信号的值稳定，则检测控制信号变为高电平，偏移量检测部714检测电偏移量。检测值存储在检测值存储部713中。检测控制信号的第一次脉冲的宽度设计为覆盖偏移量检测部检测所需的时间。

如果电偏移量的检测结束，则放大控制信号变为低电平，放大部700把放大率切换为与再现时对应的一方。在该时刻，低通滤波器702输出的信号的值变为与再现时的放大率对应的电偏移量的值。该电偏移量的检测原理也与实施例1中说明的同样。从放大控制信号的负脉冲的下降到检测控制信号的第二次脉冲的下降的之间设计为包含低通滤波器702输出的信号的稳定时间，与从放大控制信号的正脉冲以及隔断信号的脉冲的上升到检测控制信号的第一次脉冲的上升的时间相等。

如果低通滤波器702输出的信号的值稳定，则此后检测信号再次变为高电平，偏移量检测部712检测电偏移量的值。检测控制信号的第二次脉冲的宽度设计为覆盖偏移量检测部712检测所需的时间，与第一次脉冲的宽度相等。

如果电偏移量的检测结束，则检测控制信号和隔断信号变为低电平，激光二极管2放射激光。此外，与此同时，放大控制信号变为中央电平。这样，低通滤波器702的输出信号的值回归到与光量信号相应的值。回归所需的时间依存于低通滤波器702的高的一方的截止频率。从隔断信号的脉冲以及检测控制信号的第二次脉冲的下降以及放大控制信号的负脉冲的上升到检测信号的脉冲下降的时间设计为覆盖该回归时间。

低通滤波器702的输出信号如果回到与光量信号相应的值，则检测信号变为低电平，切换为低通滤波器702的截止频率的频带低的一方。此外，保持信号变为低电平，解除聚焦控制信号的保持。结果，关于垂直于光盘1的信息记录层的方向，激光的焦点位置跟踪到光盘1的信息记录层上。如上所述，检测电偏移量。

下面，参照图14，说明步骤S204的处理。在步骤S204中，修正值计算部714根据温度存储部708以及检测值存储部713中存储的过去的温度以及电偏移量的值，通过线性计算导出现在温度的电偏移量的值。

最后，在步骤S205中，使用步骤S203中检测的电偏移量的值或步骤S204中导出的电偏移量的值，更新修正值。然后，处理回到步骤S200。

本实施例的光盘装置29在聚焦控制中，通过保持聚焦控制，检测电偏移量，或不保持聚焦控制，导出电偏移量，更新修正值，修正电偏移量。据此，降低中断光盘装置29的记录再现动作的频度，在光盘装置29和缓存器间能实现高速的信息传输。

根据本实施例，计算与记录时以及再现时分别对应的电路设定的电偏移量的修正值，在修正时，与各电路设定对应切换修正值，实现高精度的修正。

(实施例3)

图15表示本实施例的光盘装置39的功能块的结构。光盘装置39的用途与实施例1的光盘装置19相同。

光盘装置39具有透镜驱动电路7、激光驱动电路1305、温度检测部1307、记录控制部1314、记录缓存器1315、TE生成芯片31、光盘控制器(ODC)32。为了简化附图的记载，省略对光头的参照符号。

下面，说明各功能块。此外，省略构成各功能块的要素中具有与实施例1的光盘装置19(图1)相同功能的构成要素的说明。

激光驱动电路1305以与从控制信号生成部1304输出的隔断信号以及记录信号对应的时刻以及强度，在所定的期间中输出控制激光功率的信息(例如电流信号)。此外，隔断信号为高电平时，输出信号，停止激光发光。

在光头中，代替光头10(图1)的第一隔断部100和放大部101，设置放大部1300。激光二极管2根据激光驱动电路1305的输出信号放射激光。可是，在实施例2中，与参照图8说明的同样，也可使检测控制部1310生成并输出隔断信号，通过隔断信号控制激光二极管2的动作。也就是说，激光二极管2受到隔断信号的控制，使激光发光及停止。

放大部1300把受光量检测部6输出的光量信号放大输出。

记录缓存器1315从主机(未图示)区的光盘1中记录的信息，存储。记录信息量信号表示记录缓存器1315中存储的信息量。

记录控制部1314度储存储在记录缓存器1315中的信息，变换为用于向光盘1记录的记录指示信号，输出。

温度检测部1307检测光盘装置39的内部温度，输出温度信号。TE生成芯片31的TE信号生成部1301从放大部1300输出的信号检测激光的照射位置从光盘1的记录磁道中心的偏移，生成TE(Tracking Error)信号输出。

低通滤波器1302从TE信号生成部1301输出的TE信号隔断跟踪控制所必要的频带以上的成分输出。此外，状况判断部1309当输出的检测信号为高电平时，提高截止频率，当为低电平时，降低截止频率。

下面，说明ODC32的各构成要素。

偏移量修正部1303从低通滤波器1302输出的信号的值减去修正值计算部1313输出的修正信号的值，输出。

控制信号生成部1304当检测信号为低电平时，按照偏移量修正部1303输出的信号，输出用于使激光的照射位置跟踪光盘1的记录磁道的跟踪控制信号。此外，控制信号生成部1304当检测信号为高电平时，固定跟踪控制信号的值。此外，控制信号生成部1304从检测控制部1310接收以2值表示的隔断控制信号，生成以2值表示的隔断信号。此外，隔断信号2值的电平按照接收隔断信号的激光驱动电路1305的动作特性决定。隔断控制信号以及隔断信号的上升以及下降的时刻相同。

时间测定部1306测定从状况判断部1309输出的以2值表示的更新信号的脉冲下降开始的时间，输出时间信号。

温度存储部1308存储状况判断部1309输出的以2值表示的检测信号的脉冲下降时的温度检测部1307输出的温度信号的值。

状况判断部1309按照时间测定部1306输出的时间信号输出以2值表示的隔断控制信号以及检测控制信号。检测控制部1310根据来自记录控制部1314的记录指示信号生成记录信号。

偏移量检测部1311当检测控制部1310输出的检测控制信号为高电平时，检测来自低通滤波器1302的信号中包含的电偏移量，输出偏移量信号。

检测值存储部1312存储检测控制部1310输出的检测控制信号的脉冲下降时的偏移量检测部1311输出的偏移量信号的值。

修正值计算部1313按照来自状况判断部1309的更新信号和检测信号，读出检测值存储部1312存储的值、温度存储部1308存储的值，计算检测值存储部1312存储的修正值，输出修正信号。

下面参照图16详细说明上述的状况判断部1309。图16表示状况判断部1309的功能块的结构。状况判断部1309包含更新判断部1400、温度比较部1401、检测判断部1402。更新判断部1400按照时间测定部1306输出的时间信号输出以2值表示的更新信号。此外，当更新信号为高电平时，表示有更新，当为低电平时，表示没有更新。

温度比较部1401在更新判断部1400输出的更新信号脉冲上升时，检测温度存储部1308存储的温度值中是否存在与现在温度检测部1307输出的温度信号的值的差在所定值以内的两个值，当没有时，是高电平，当有时，输出低电平的温度比较信号。检测判断部1402按照更新判断部1400输出的更新信号、记录缓存器1315输出的记录信息量信号及温度比较部1401输出的温度比较信号，输出以2值表示的检测信号。高电平的检测信号表示有检测，低电平的检测信号表示没有检测。

下面，参照图17详细说明从状况判断部1309输出的更新信号和检测信号。这里，也一起说明时间测定部1306和状况判断部1309的各构成要素的动作。

图17表示与状况判断部1309关联的信号的时序图。

时间信号在更新信号的脉冲下降时复位为0，表示此后的经过时间。更新判断部1400当时间信号的值超过所定阈值时，使更新信号在一定时间中为高电平。更新信号为高电平时，表示有更新，为低电平时，表示无更新。

温度比较信号是温度比较部1401输出的信号，表示温度存储部1308存储的温度中有没有与现在的温度值的差在所定值以内的值。此外，温度比较信号的脉冲下降与更新信号的脉冲上升同时。

检测信号是检测判断部1402输出的2值信号，在更新信号的脉冲上升的时刻附近，记录信息量信号的值为所定值以下，并且温度比较信号为高电平时，变为高电平。此外的时候是低电平。此外，检测信号的脉冲下降与更新信号的脉冲下降同时。此外，检测信号为高电平时，表示有检测，为低电平时，表示无检测。

如图17所示，更新信号每隔一定时间就有脉冲。更新信号当记录缓存器1315存储的信息量为所定以下，并且温度存储部1308存储的温度值中，存在与从温度检测部1307输出的温度信号的值的差为所定值以内的两个值时，在一定时间中为高电平。

下面，说明检测控制部1310。图18表示检测控制部1310的功能块的结构。检测控制部1310具有隔断控制部1600和偏移量检测控制部1601。隔断控制部1600按照从由状况判断部1309输出的检测信号变为高电平时开始的经过时间，生成隔断控制信号，向控制信号生成部1304输出。偏移量检测控制部1601生成检测控制信号，向偏移量检测部1311和检测值存储部1312输出。这里，参照图19说明这些信号的时序。

图19表示与检测控制部1310关联的信号的时序图。检测信号如刚才参照图17说明的那样，从状况判断部1309输出。隔断信号在检测信号的脉冲上升之后上升，在检测信号的脉冲下降之前下降。检测控制信号在隔断信号的脉冲上升之后上升，与隔断信号的脉冲同时下降。

下面，详细说明温度存储部1308和检测值存储部1312。

温度存储部1308按照检测信号的脉冲下降，每次把从温度检测部1307输出的温度信号的值依次存储在信息存储区中。而检测值存储部1312按照检测控制信号的脉冲下降，每次把从偏移量检测部1311输出的偏移量信号的值依次存储在信息存储区中。

在图19中，检测信号的脉冲下降的时刻和检测控制信号的脉冲下降时刻明确记载为不同。可是，该时刻的偏移如果与从电偏移量的修正开始到结束的时间间隔相比，就十分短，几乎能近似为相同时刻。即存储在温度存储部1308中的温度信号的值以及存储在检测值存储部1312中的偏移量信号的值能视为几乎相同时刻的采样值。结果，通过依次查找温度存储部1308和检测值存储部1312中存储的值，能参照同时刻的温度信号值和偏移量信号的值。

下面，参照图15和图17详细说明修正值计算部1313。修正值计算部1313在更新信号的脉冲下降后计算修正值。

当更新信号为高电平时，检测信号也为高电平时，把最后检测控制信号的脉冲下降后存储在检测值存储部1312中的电偏移量即现在检测的电偏移量的值原封不动作为修正值采用。

当更新信号为高电平，并且检测信号为低电平时，从温度存储部1308存储的温度值检索接近更新信号的脉冲下降时从温度检测部1307输出的温度信号的值的两个值，并读出。接着，检索与读出的温度的值存储在温度存储部1308中同时存储在检测值存储部1312中的电偏移量的值，并读出。现在，读出的温度值为T0和T1，与这些温度值对应的偏移量值为Os0、Os1。此外，现在的温度信号的为T2，新计算的修正值为C。

修正值计算部1313根据(表达式5)计算修正值C。

(表达式5)

C＝(Os1-Os0)×(T2-T1)/(T1-T0)+Os1

这时，不检测现在的电偏移量，从过去的值推测现在的电偏移量的值，以该值作为修正值。关于推测，从过去进行电偏移量的检测时的温度中最接近现在温度的两个温度和电偏移量，使电偏移量对于温度变化的变化为线性，进行计算。

下面，参照图20说明光盘装置39的动作。图20表示光盘装置39的动作的步骤。

首先，在步骤S300中，状况判断部1309判断从上次的偏移量修正值的更新时开始是否经过了所定时间。步骤S300在经过所定时间之前继续进行。如果判断为经过所定时间，则处理进入步骤S301。在步骤S301中，状况判断部1309判断记录缓存器1315中存储的信息量是否为所定值以下。当为所定值以下时，进入步骤S302，当为所定值以上时，进入步骤S303。

在步骤S302中，通过偏移量检测部1311检测偏移量。这里，一边参照图15和图19，一边说明偏移量的检测处理。如果状况判断部1309使检测信号为高电平，则控制信号生成部1304保持此前或这时的跟踪控制信号的值。在保持期间中，透镜驱动电路7输出固定物镜5的位置的驱动信号。通过使物镜5的位置对于光盘1固定，激光点关于光盘1的半径方向固定在保持之前的位置。

在检测信号变为高电平的同时，低通滤波1302把截止频率切换为更高的值。这时，控制信号生成部1304在从检测信号的脉冲上升到隔断信号的脉冲上升之间保持跟踪控制信号。此外，该保持期间包含低通滤波器1302的频率切换所需的时间。

低通滤波器1302切换截止频率后，检测控制部1310使隔断信号为高电平，停止激光二极管2的激光发光。这时，低通滤波器1302输出的信号值变为电偏移量的值。检测的原理与实施例1中说明的原理同样。

此外，低通滤波器1302的输出信号稳定在电偏移量的值所需的时间依存于低通滤波器1302的高的一方的截止频率。从隔断信号的脉冲的上升到检测控制信号的脉冲上升的时间设计为包含该稳定时间。

如果低通滤波器1302的输出信号的值稳定在电偏移量的值，则检测控制信号变为高电平，偏移量检测部1313检测电偏移量的值。检测控制信号的脉冲宽度设计为覆盖偏移量检测部1311检测所需的时间。

如果电偏移量的检测结束，则检测控制信号和隔断信号变为低电平，激光二极管2发射激光。这样，低通滤波器1302输出的信号的值回归到与光量信号对应的值。回归所需时间依存于低通滤波器1302的高的一方的截止频率。从隔断信号以及检测控制信号的脉冲下降到检测信号的脉冲下降则时间设计为覆盖该回归时间。

低通滤波器1302输出信号如果回到与光量信号对应的值，则检测信号变为低电平，切换为低通滤波器1302的截止频率低的一方。此外，保持信号变为低电平，解除跟踪控制信号的保持。结果，光盘1的半径方向的照射位置跟踪光盘1的记录磁道。检测出电偏移量。

下面，参照图20说明步骤S303的处理。在步骤S303中根据存储在温度存储部1318中的过去的温度和存储在检测值存储部1312中的过去的电偏移量，通过线性计算，以线性计算导出现在温度的电偏移量的值。

最后，在步骤S304中，使用步骤S302中检测电偏移量的值或步骤S303中导出的电偏移量的值，更新修正值。然后，处理回到步骤S300。

本实施例的光盘装置39通过检测电偏移量或根据过去的温度，或根据过去的温度和电偏移量的值，导出现在的电偏移量的值，更新修正值，修正电偏移量。据此，降低中断光盘装置39的记录再现动作的频度，能以高速在光盘装置39和缓存器间实现高速的信息传输。

此外，光盘装置39每隔一定时间进行修正值的更新，所以能把驱动器和缓存器之间的传输率保持在一定以上。

电偏移量的检测只在记录缓存器中存储有所定以下的信息量时进行，所以能把主机和缓存器间的传输率保持在一定以上。这时，在记录时，即使驱动器和缓存器之间的传输率下降，也没有问题。此外，同样也可以检测记录在再现缓存器中的信息量，当该信息量为所定值以下时，禁止电偏移量的检测。这时，能把再现时的传输率保持在一定以上。

此外，当从过去检测的温度和电偏移量的值计算现在的电偏移量的值时，从通过过去的检测而存储的电偏移量和温度值中查找接近现在的电偏移量和温度值的值，所以对电偏移量的检测进行了足够次数后，就没必要检测电偏移量。因此，在驱动器和缓存器之间能实现高速的信息传输。

此外，根据温度比较部1401输出的温度比较信号，当未存储有与现在的温度的差在所定以内的温度值时，催促电偏移量的检测，当对于温度的电偏移量的特性不是线性时，也能实现高精度的修正。

此外，本实施例的光盘装置也可以如实施例2所述，对于与记录时和再现时分别对应的电路设定，计算修正值，进行修正时，与各电路设定对应切换修正时。这时能实现更高精度的修正。

根据上述的实施例2和3，当检测电偏移量时，停止激光发光，隔断对电路的外部输入，所以没必要扩大电路规模，能以高精度检测电偏移量的值。此外，通过对伺服信号进行保持，在电偏移量的检测后能以高速回到服动作，缩短中断驱动器的记录再现动作的时间，在驱动器和缓存器之间能实现高速的信息传输。

此外，电偏移量的检测只当在再现缓存器中存储有所定以上的信息量时才进行，所以能把主机和缓存器之间的传输率保持在一定以上。这时，在再现时，即使驱动器和缓存器之间的传输率下降，也不产生问题。此外，检测存储在记录缓存器中的信息量，当该信息量为所定以上时，禁止电偏移量的检测。这时，也能把记录时的传输率保持在一定以上。

此外，与实施例1同样，也可以切换电路，绕开低通滤波器，检测电偏移量，也可以划分构成信号路线的电路，修正电偏移量。

此外，当隔断对电路的外部输入时，如实施例1所述，可以把检测受光量之后的信号与基准电压短路。这时，只在对电偏移量的修正成为必要的信号的电路中隔断外部输入，对于其他信号系统的处理不产生大的影响，能以高精度检测电偏移量的值。

在上述的实施例中，说明了关于伺服信号修正电偏移量的光盘装置的结构和动作。可是，光盘装置并不局限于这些信号，对于根据光量信号生成的任意信号，能应用同样的处理。

(实施例4)

图21表示本实施例的光盘装置的结构。基于本实施例的光盘装置具有电平调整部43和杂射光调整部46，分别更适当地调整输入TE信号生成部1301中的信号和输入控制信号生成部47中的信号电平。结果，光盘装置能进行更高精度的伺服控制。

下面，说明光盘装置的结构。光盘装置具有光头40、TE生成芯片41、光盘控制器(ODC)42、透镜驱动电路7。

光头40具有激光二极管2、视准透镜3、分光束镜4、物镜5、受光量检测部6、放大部1300。各构成要素的功能和动作已经说明，所以省略了其说明。

关于光头40应该留意的是，在从光头40输出的信号中包含杂射光引起的信号。“杂射光”是指光头40的视准透镜3、分光束镜4和物镜5间的光学路线中的激光的漫反射成分。例如，从视准透镜3向光盘1放射的激光的一部分在物镜5中反射，再回到视准透镜3的方向。把回到视准透镜3的方向的光称作杂射光。杂射光与来自光盘1的反射光一起由受光量检测部6检测，该检测信号由放大部1300放大。下面，在本说明书中，把杂射光引起的信号称作“杂射光信号”，把它的信号电平称作“杂射光偏移量”。本实施例的光盘装置能通过后面描述的杂射光调整部46除去杂射光信号。

TE生成芯片41具有电平调整部43、TE信号生成部1301、低通滤波器1302。其中，TE信号生成部1301和低通滤波器1302如上所述，所以这里省略说明。设置了电平调整部43的TE生成芯片41例如作为半导体集成电路(IC)生产，能安装在光盘装置上。

电平调整部43具有电平检测部43a和电平修正部43b，据此，调整来自放大部1300的放大信号的电平，输出。下面，参照图22(a)～(d)，说明电平调整部43的结构和动作。此外，电平调整部43的动作条件即电平调整部43调整电平时的条件是激光二极管2点亮，并且光盘装置不进行聚焦控制动作和跟踪控制动作。

电平调整部43考虑与TE信号生成部1301的处理能力的关系，决定其规格。图22(a)表示TE信号生成部1301内部的放大器(未图示)能处理的动态范围D。动态范围D是由下限值Dmin和上限值Dmax规定的范围。TE信号生成部1301对于具有收敛于动态范围D中的振幅的内部信号，进行正常的处理，能生成TE信号。而如图22(b)所示，当内部信号的电平超过上限值Dmax时，TE信号生成部1301无法处理上限值Dmax以上的饱和部分。此外如图22(c)所示，当内部信号的电平小于下限值Dmin时，TE信号生成部1301也无法处理比下限值Dmin还小的部分(所谓的不感带部分)。

在TE信号生成部1301内传输的内部信号的电平按照输入信号的电平变化，或者输入信号原封不动作为TE信号生成部1301的内部信号利用。因此，电平调整部43调整对TE信号生成部1301的输入信号的电平，使TE信号生成部1301的内部信号进入图22(a)所示的动态范围D中。图22(d)表示进入TE信号生成部1301的动态范围D的输入信号的范围。输入信号的电平(输入电压)进入基准电压C±A的范围时，TE信号生成部1301的内部信号就进入图22(a)的范围。在图22(d)中，表示以比基准电压C高ΔC的电压为振幅中心的信号。此外，基准电压C和离基准电压C的宽度(±A)关于光盘装置的记录再现动作，从已知的变动范围的最大值和最小值决定。

电平调整部43的电平检测部43a跨一定期间(例如信号的几个周期)检测从放大部1300输入的信号的电平，把检测结果向电平修正部43b发送。这样，电平修正部43b计算从基准电压C的偏移(ΔC)，在输入信号的电平中加上(-ΔC)，修正信号电平。结果，电平修正部43b区的振幅中心与基准电压C一致的信号，把该信号向TE信号生成部1301输出。以上的处理结果为TE信号生成部1301能正常工作，并且能取得精度高的TE信号。此外，即使让成为信号的振幅中心的电压与基准电压C一致，有时该振幅也比上述的振幅A大。这时，电平修正部43b把信号用常数加倍，修正信号的电平，使振幅的最大值和最小值的绝对值收敛在C±A中。

此外，变更输入信号的电平意味着对输入信号的电平提供电偏移量(-ΔC)。该偏移量可以用任意值提供，也可以是台阶状的值(-10mV、-20mV等)中的一个。

根据上述的处理，即使把TE信号生成部1301的动态范围设定得窄，也能使TE信号生成部1301正常工作，能实现TE信号生成部1301的省电。通过减小进行模拟演算的TE信号生成部1301的动态范围，能提高向进行数字演算的控制信号生成部47输入信号时的A/D转换的分解度。

下面，说明ODC42。ODC42具有偏移量检测部48、检测值存储部44、修正值计算部45和偏移量修正部1303、杂射光调整部46和控制信号生成部47。

偏移量检测部48、检测值存储部44、修正值计算部45和偏移量修正部1303的各功能与图1所示的相同名称的构成要素的功能相同。即偏移量检测部48根据从低通滤波器1302输出的信号，检测偏移量，检测值存储部44全部存户偏移量检测部48输出的偏移量信号的值。此外，此外，修正值计算部45读出检测值存储部44中存储的偏移量的值，计算电偏移量的修正值输出。偏移量修正部1303根据从修正值计算部45输出的修正值修正低通滤波器1302的输出信号。此外，在图中只表示从实施例1到3的光盘装置中公共设置的偏移量检测部、检测值存储部、修正值计算部和偏移量修正部。

根据以上的处理，修正光盘装置内的放大器引起的电偏移量。根据修正处理，在电平调整部43中能修正有意图地提供给信号的电偏移量。例如，考虑电平修正部43b在台阶状的值中提供“-10mV”时。如果通过“-13mV”的-10mV，能完全修正，则-10mV和-13mV之间的差(-3mV)变为有意图地提供给信号的电偏移量。偏移量修正部1303能修正包含该电偏移量的此前产生的电偏移量。

下面，说明杂射光调整部46的结构和动作。杂射光调整部46具有杂射光检测部46a和杂射光修正部46b，出去光头40的光学路线中引起的杂射光。在所定的条件下，只有关于杂射光的信号输入到杂射光调整部46中。“所定的条件”是指激光二极管2点亮、不进行聚焦控制动作和跟踪控制动作、受光量检测部6不接收来自光盘1的反射光(例如物镜5离开光盘1足够远)。在本说明书中，把该条件作为杂射光调整部46调整杂射光时的条件。

为了使受光量检测部6不接收反射光，透镜驱动电路7对物理地连结在物镜5上的聚焦执行机构(未图示)提供驱动信号，聚焦执行机构根据驱动信号使物镜5在垂直于光盘1的方向，并且在离开光盘1的方向移动充分的距离。根据来自控制信号生成部47的控制信号，由透镜驱动电路7进行这样的动作。此外，当向光盘1的信息记录层写入数据，从信息记录层读出数据时，从透镜驱动电路7向聚焦执行机构输出驱动信号，使光束的焦点位于信息记录层上。

透镜驱动电路7不仅在垂直于光盘1的方向，也能在光盘1的半径方向驱动透镜5。据此，能把光束的焦点位置控制为不偏离记录磁道。进行控制，使通过跟踪线圈无法控制的光头40的大半径方向的移动通过使输送光头40的输送台(未图示)移动，把光头移动到所定的记录磁道，通过跟踪线圈跟踪该记录磁道。

杂射光检测部46a通过检测保持杂射光信号的电平即杂射光偏移量，杂射光修正部46b能从偏移量修正部1303的输出信号减去该杂射光偏移量，容易地出去杂射光信号。结果，控制信号生成部47接收从杂射光修正部46b输出的信号，生成没有杂射光的影响的控制信号，据此，实现精度高的跟踪控制。

下面，参照图23，说明本实施例的光盘装置的电平修正动作和杂射光修正动作的一系列的处理步骤。图23表示本实施例的光盘装置的修正处理的步骤。在步骤S401中，激光二极管2点亮，发射激光。这时，光盘装置不进行聚焦控制动作和跟踪控制动作，并且受光量检测部6把物镜5在聚焦方向移动到不接收来自光盘1的反射光的位置。

接着在步骤S402中，电平调整部43进行电平修正，调整对TE信号生成部1301输入的信号的电平。在步骤S403中，偏移量修正部1303修正电偏移量。在步骤S404中，杂射光调整部46检测杂射光偏移量，并且修正杂射光。

如果通过到步骤S404为止的处理修正电偏移量和杂射光偏移量，则在以下的步骤S405中，光盘装置进行聚焦控制，使光束汇聚在光盘1的信息记录层上，在步骤S406中，进行跟踪控制，使光束正确地在光盘1的信息记录层上扫描。然后，如果向光盘1记录数据的动作或从光盘1读出数据的动作开始，则在所定的间隔中执行步骤S407。

在步骤S407中，偏移量修正部1303检测或推测电偏移量，按照必要修正电偏移量。此外，除了所定的时间间隔，也可以象实施例1的光盘装置那样，设置温度检测部，当到达所定温度时，执行步骤S407。

此外，步骤S404中的杂射光修正与电偏移量的修正不同，在光盘装置的起动时修正一次就可以了。动作开始后的温度变化对杂射光的发生状态产生的影响实质上可以忽略。在进行杂射光修正处理时，与实施例2的光盘装置的动作同样，光盘装置在数据的记录动作时和再现动作时变更设定，进行杂射光检测和修正。这时，例如设定控制部715切换记录用发光功率和再现用发光功率，使激光二极管2发光。

图21的光盘装置具有电平调整部43和杂射光调整部46双方，但是也可以只设置它们的一方。电平调整部43和杂射光调整部46的各动作独立，所以通过在上述的各条件下使各部工作，能实现上述的各目的。

电平调整部43及/或杂射光调整部46也可以纳入实施例1～3的光盘装置中。例如，图24表示在实施例1的光盘装置中设置了电平调整部43和杂射光调整部46的其他光盘装置的结构。电平调整部43设置在第二隔断部102和TE信号生成部103上，调整向TE信号生成部103输入的信号的电平。此外，杂射光调整部46设置在偏移量修正部111和控制信号生成部110之间，实现高精度的跟踪控制和聚焦控制。此外，当在本发明实施例2的光盘装置中设置电平调整部时，例如在放大部700和FE信号生成部701之间配置电平调整部，电平调整部调整输入到FE信号生成部701中的信号的电平。据此，FE信号生成部701正常工作，并且能取得高精度的FE信号。能取得伴随着能缩小FE信号生成部701的动态范围的上述的优点。

此外，在1台数据处理装置中，能组合利用实施例1～3的两个以上。例如组合实施例1和2的处理，关于跟踪误差信号和聚焦误差信号双方，个别修正重叠在各信号上的电偏移量。

以上说明了实施例1～4的光盘装置。各实施例的光盘装置在电路各部的电偏移量的划分、与记录和再现分别对应的设定、修正值的计算方法、更新修正值的状况、检测电偏移量的状况等时，有时彼此不同。可是，通过彼此自由组合这些方法、设定内容等动作条件，能实现高速的信息传输和更高精度的偏移量修正、电平修正、杂射光修正。结果，伺服信号的质量提高，能实现高精度的伺服控制。

此外，在本说明书中，作为伺服控制的例子，说明了跟踪控制和聚焦误差控制。说明书和附图中的TE/FE信号、FE/TE生成芯片、TE/FE信号生成部分别能总括为伺服信号、伺服信号生成芯片、伺服信号生成电路等。

根据本发明，在修正电偏移量时，设置检测电偏移量的情形、从过去的温度和电偏移量的值计算现在的温度和电偏移量的值的情形，所以降低中断光盘装置的记录再现动作的频度，在光盘装置和缓存器间能实现高速的信息传输。这样的光盘装置对于向CD、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD-R、+RW、+R、BD进行数据的读出及/或写入的任意的光盘装置都能适用。

Claims (17)

1.一种光盘装置，对于具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方，包括：

放射光的光源；

使所述光汇聚的透镜；

检测由所述光盘反射的所述光，输出再现信号的光检测器；

输出所述再现信号和具有预先设定的基准电压的基准信号的一方的至少一个隔断部；

根据所述隔断部的输出信号生成伺服信号的伺服信号生成部；

检测所述伺服信号生成部的电路引起的所述伺服信号生成部的第一偏移量的，把输出所述基准信号时的所述伺服信号生成部的输出值作为所述第一偏移量的值进行检测的偏移量检测部；

存储被检测出的多个第一偏移量的值的存储部；

存储在分别检测所述多个第一偏移量值时所测量的多个温度值的温度存储部；

把现在的第一偏移量的值和第二偏移量的值的一方作为修正值输出的，根据利用所述多个第一偏移量值以及所述多个温度值而计算出的所述多个第一偏移量的值的变化率导出所述第二偏移量的计算部；以及

根据所述修正值修正所述伺服信号的修正部。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其中：

还包括：测定所述伺服信号生成部的温度的传感器；和

根据测定的所述温度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信号，并且根据从所述修正值的最后的更新时开始的经过时间而生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号的判断部，

当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测，并且所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述偏移量检测部检测现在的第一偏移量，所述修正部把现在的第一偏移量作为修正值输出。

3.根据权利要求1所述的光盘装置，其中：

还包括：测定所述伺服信号生成部的温度的传感器；和

根据测定的所述温度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信号，并且根据从所述修正值的最后的更新时开始的经过时间而生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号的判断部，

当所述检测信号没有指示所述第一偏移量的检测，并且所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述计算部导出所述第二偏移量。

4.根据权利要求1所述的光盘装置，其中：

还包括：测定所述伺服信号生成部的温度的传感器；和

根据测定的所述温度生成指示是否需要更新所述修正值的更新信号，并且根据从所述修正值的最后的更新时开始的经过时间而生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号的判断部，

当所述检测信号没有指示所述第一偏移量的检测，并且所述更新信号没有指示所述修正值的更新时，所述修正部根据现在的修正值修正所述伺服信号。

5.根据权利要求2所述的光盘装置，其中：

还包括：生成指示是否隔断所述再现信号的所述隔断信号的检测控制部，

当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测时，所述检测控制部生成指示所述再现信号的隔断的隔断信号，

根据所述隔断信号，所述隔断部隔断所述再现信号，输出所定的基准信号。

6.根据权利要求2所述的光盘装置，其中：

还包括：生成指示是否隔断所述再现信号的所述隔断信号的检测控制部，

当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测时，所述检测控制部生成指示所述再现信号的隔断的隔断信号，

根据所述隔断信号，所述光源停止发光。

7.根据权利要求2所述的光盘装置，其中：

还包括：根据控制信号在所述光盘的半径方向和垂直于所述光盘的方向的至少一方使所述透镜位置变化的透镜驱动部；和

根据所述检测信号生成所述控制信号的控制信号生成部，

当所述检测信号指示所述第一偏移量的检测时，所述控制信号生成部保持所述控制信号的值。

8.根据权利要求1所述的光盘装置，其中：

还包括：放大并输出所述再现信号的放大部，

所述至少一个隔断部具有第一隔断部和第二隔断部，所述第一隔断部根据第一隔断信号向所述放大部输出所述再现信号和所定的第一基准信号的一方，第二隔断部根据第二隔断信号向所述伺服信号生成部输出所述放大部的输出信号和所定的第二基准信号的一方，

所述偏移量检测部，把从所述隔断部输出所述第一基准信号时的所述放大部的输出值，作为所述放大部的电路引起的所述放大部的第三偏移量的值进一步进行检测，

所述存储部还存储所检测出的多个第三偏移量的值，

所述计算部，把现在的第三偏移量的值和第四偏移量的值的一方作为修正值输出，输出所述第四偏移量的值时，根据存储的所述多个第三偏移量的值的变化率，导出所述第四偏移量的值。

9.根据权利要求8所述的光盘装置，其中：

还包括：测定所述放大部的温度的第一传感器；

测定所述伺服信号生成部的温度的第二传感器；以及

根据测定的所述放大部的温度和所述伺服信号生成部的温度，生成指示是否需要所述修正值的更新的更新信号，并且根据从所述修正值的最后更新时开始的经过时间而生成表示是否需要所述第一偏移量和第三偏移量的检测的检测信号的判断部，

当所述检测信号指示所述第三偏移量的检测，并且所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述偏移量检测部检测现在的第三偏移量，所述修正部把所述现在的第三偏移量作为修正值输出。

10.根据权利要求1所述的光盘装置，其中：

在分别向所述光盘写入数据时和从所述光盘读出数据时，所述偏移量检测部检测所述第一偏移量，所述存储部存储所述多个第一偏移量，所述计算部输出所述修正值。

11.根据权利要求1所述的光盘装置，其中：

所述伺服信号是跟踪误差信号和聚焦误差信号的至少一方。

12.根据权利要求2所述的光盘装置，其中：

当所测定的所述温度变化量超过所定阈值时，所述判断部就生成指示所述修正值的更新的更新信号。

13.根据权利要求2所述的光盘装置，其中：

还包括：测定所述经过时间的时间测定部，

当所测定的所述时间超过所定阈值时，所述判断部就生成指示所述修正值的更新的更新信号。

14.根据权利要求1所述的光盘装置，其中：

还包括：存储所述数据的缓存器，

当所述更新信号指示所述修正值的更新时，所述判断部根据所述缓存器内的信息量，生成表示是否需要所述第一偏移量的检测的检测信号。

15.根据权利要求2所述的光盘装置，其中：

所述计算部根据所述温度存储部中存储的所述温度值和所述多个第一偏移量的值，导出所述第二偏移量的值。

16.根据权利要求15所述的光盘装置，其中：

所述温度存储部在所述第一偏移量的各值被存储到所述存储部中的时刻存储所述温度值，

所述计算部确定所述温度存储部中存储的所述温度值中最接近现在的温度值的两个温度值，根据在与被确定的温度值相同的时刻存储在所述存储部中的所述第一偏移量的值，导出所述第二偏移量的值。

17.一种控制方法，是对具有信息记录层的光盘进行数据的写入和读出的至少一方的光盘装置进行控制的方法，包括：

放射光的步骤；

使所述光汇聚的步骤；

检测由所述光盘反射的所述光，输出再现信号的步骤；

把所述再现信号和具有预先设定的基准电压的基准信号的一方作为输出信号输出的步骤；

根据输出信号生成伺服信号的步骤；

检测重叠在所述伺服信号上的第一偏移量的，把对于所述基准信号生成的所述伺服信号作为所述第一偏移量进行检测的步骤；

存储检测出的多个第一偏移量值并存储在分别检测所述多个第一偏移量值时所测量的多个温度值的步骤；

把现在的第一偏移量的值和第二偏移量的值的一方作为修正值输出的，根据利用所述多个第一偏移量值以及所述多个温度值而计算出的所述多个第一偏移量的值的变化率，导出所述第二偏移量的步骤；以及

根据所述修正值修正所述伺服信号的步骤。

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