CN1947186A - 光盘装置以及光盘半导体 - Google Patents

Abstract

本发明的目的在于，提供一种能够高精度短时间调整中点控制的增益以及偏移的光盘装置。本发明的光盘装置具有：半导体激光器(11)、聚光透镜(13)、跟踪执行器(15)、主TE生成器(20)、辅TE生成器(21)、LE生成器(40)、中点滤波器(42)、电路偏移检测器(50)、杂散光偏移检测器(51)、偏移修正器(53)、装置指令器(56)、以及偏移指令器(54)。电路偏移检测器(50)、杂散光偏移检测器(51)、以及偏移修正器(53)，修正来自LE生成器(40)的信号的偏移。装置指令器(56)，输出用检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号。偏移指令器(54)，在来自装置指令器(56)的信号从其他状态切换到检索动作的时刻，发出指令进行电路偏移修正。

Description

光盘装置以及光盘半导体

技术领域

本发明涉及一种在能够进行记录的圆盘状信息载体(以下称作光盘)中进行记录或再生时，对目的轨道进行稳定的检索的光盘装置。

背景技术

以往的光盘装置中，在再生信号的情况下，将较弱的一定光量的光束照射到作为信息载体的光盘上，并检测出强弱被光盘调制过的反射光来进行。另外，在记录信号的情况下，根据要记录的信号对光束的光量调制其强弱，来在光盘上的记录材料膜中写入信息(例如参照专利文献1)。

再生专用的光盘，预先呈螺旋状记录有由凹坑构成的信息。另外，能够进行记录与再生的光盘，通过在具有螺旋状的凹凸构造的轨道的基材表面，采用蒸镀等方法形成可光学记录、再生的材料膜，来制成。为了在光盘中记录信息，或再生所记录的信息，需要以使光束在记录材料膜上总是为会聚状态的方式在光盘面的法线方向(以下称作聚焦方向)进行控制的聚焦控制，以及以让光束总是位于给定的轨道上的方式在光盘的半径方向(以下称作跟踪方向)进行控制的跟踪控制。

对照图6对以往的光盘装置的动作进行说明。图6中，会聚照射机构是半导体激光器11、聚光透镜13。轨道移动机构是跟踪执行器15。主轨道误差检测机构是主TE生成器20。辅轨道误差检测机构是辅TE生成器21。透镜移位误差生成机构是LE生成器40。中点控制机构，是中点滤波器42、中点增益器43。偏移修正机构是偏移修正器53、偏移检测器52。偏移指令机构是偏移指令器55。轨道误差检测机构是TE生成器30。

光头10中安装有半导体激光器11以及聚光透镜13、光束分离器12、聚焦执行器14、跟踪执行器15、以及光检测器16。半导体激光器11所产生的光束通过光束分离器12，被聚光透镜13会聚在圆盘状的光盘1上。所反射的光束再次通过聚光透镜13被光束分离器12所反射，照射到光检测器16上。聚光透镜13被弹性体(未图示)支撑，聚焦执行器14中流通电流后，在电磁力的作用下在聚焦方向上移动。跟踪执行器15中流通电流后，在电磁力的作用下在跟踪方向上移动。光检测器16，将所检测出的各个光量信号，发送给主TE生成器20、辅TE生成器21。

光盘装置的轨道误差检测方法，已知的有称作推挽(以下称作PP)法的1光束方式。该方式与3光束方式相比，结构简单且激光光量的利用效率高，因此适于需要大激光输出的可记录光盘装置。但是，出现的问题是，如果聚光透镜13在跟踪方向上移位，跟踪误差信号(以下称作TE信号)中会产生偏移(offset)，而为了去除偏移，需要能够高速应答的机制，成了成本上升的原因。

有人提出了降低聚光透镜变位时的TE信号的偏移的改良式PP(以下称作APP)法(参照例如专利文献2)。

图7中示出了光检测器16的详细结构。光检测器16分为6个区域，产生与各个区域中所受光的光量相对应的信号。分割的区域C、D中，在光盘1的记录面上没有衍射而是被反射的0次衍射光、与被光盘1的记录面上的轨道形状所衍射并反射的±1次衍射光重叠，发生干涉。分割的区域A、B中，只接受在光盘1的记录面上没有衍射而是被反射的0次衍射光。

PP法中通过(A+C)-(B+D)的运算求出TE信号，因此聚光透镜13的透镜移位，使得光检测器上的光束位置在图7中横方向上发生变位，0次衍射光变得不平衡，产生偏移。

APP法中，通过(C-D)-K(A-B)的运算求出TE信号。主TE生成器20中，进行C-D的运算，辅TE生成器21中进行A-B的运算。来自主TE生成器20的信号，与通过PP法所求出的信号一样，因聚光透镜13的透镜移位而产生偏移。来自辅TE生成器21的信号也产生同样的偏移。TE生成器30中，将与进入区域A、B与区域C、D的光量比相对应的混合比，乘以来自辅TE生成器21的信号，并从主TE生成器20中减去，通过这样能够生成不会因聚光透镜13的透镜移位而产生偏移的TE信号。

LE生成器40，根据来自辅TE生成器21的信号生成LE信号，发送给偏移修正器53、偏移检测器52。偏移指令器55，将在进行起动时的偏移调整的时刻，将上升沿所产生的信号发送给偏移检测器52。偏移检测器52检测到来自偏移指令器55的信号的上升沿之后，取得来自LE生成器40的信号并存储，之后将所存储的电平不断发送给偏移修正器53。偏移修正器53，计算出来自LE生成器40的信号与来自偏移检测器52的信号之差，发送给中点滤波器42、中点增益调整器80。中点滤波器42，生成来自偏移修正器53的信号为0的驱动信号，经中点增益器43、选择器33发送给跟踪执行器15。中点增益调整器80，将用于调整的驱动信号经选择器33发送给跟踪执行器15，并取得来自此时的偏移修正器53的信号，计算出增益值并发送给中点增益器43。中点增益器43根据来自中点增益调整器80的增益值，对来自中点滤波器42的信号进行放大并发送给选择器33。选择器33选择来自中点增益器43的信号或来自中点增益调整器80的信号，发送给跟踪执行器15。

光盘装置中的重要功能之一是，有效利用信息轨道排列在同一平面状中这一特征，将光束的焦点在半径方向上移动，检索所期望的信息的这种所谓的高速随机访问。进行高速随机访问时，如果光束焦点横切的信息轨道的根数、即所谓的访问根数为数十根程度，只需通过光头10中的聚光透镜13的移动就能够进行访问。但是，例如一旦达到数百根以上，就需要光头10中聚光透镜13所能够移动的范围以上的光束焦点的移动，需要移动光头10本身。

在光盘装置中进行粗检索动作后，作用给光头10的加速度导致聚光透镜13抖动，到达目的轨道之后，聚光透镜13为移位后的状态。发生聚光透镜13的透镜移位后，执行器灵敏度会恶化，或激励起执行器的抖动，或产生记录再生信号的恶化等。因此，在粗检索动作中，为了让聚光透镜13不会相对光头10发生透镜移位，通过LE生成器40等检测出透镜移位量，中点滤波器42以使检测信号为0的方式，经中点增益器43、选择器33驱动跟踪执行器15。该中点控制保证了稳定的粗检索动作，防止记录再生信号的恶化(例如参照专利文献3)。

使用图8对背景技术中的关于中点控制的偏移以及增益的修正进行说明。图8(a)中表示从中点增益调整器80去往选择器33的信号，图8(b)中表示来自LE生成器40的信号。图8中横轴为时间。

LE生成器40所生成的信号中，因电路等的影响存在偏移，即使信号为0，聚光透镜13的透镜移位量也不一定是0。为了修正该偏移变动，首先，选择器33选择来自中点增益调整器80的信号并发送给跟踪执行器15。图8的时刻8A中，在中点增益调整器80经选择器33发送给跟踪执行器15的信号为0时，偏移检测器52取得来自LE生成器40的信号，并发送给偏移修正器53，通过这样进行偏移的修正。

LE生成器40所生成的信号的检测灵敏度，因装置的偏差而变化，因此在固定增益中无法保持中点控制的环路增益为一定。为了修正该增益变动，首先，选择器33选择来自中点增益调整器80的信号并发送给跟踪执行器15。图8的时刻8B中，中点增益调整器80，在经选择器33发送给跟踪执行器15的信号为正值时，取得的来自LE生成器40的经偏移修正器53所得到的信号。另外，图8的时刻8C中，中点增益调整器80，在经选择器33发送给跟踪执行器15的信号为负值时，取得的来自LE生成器40的经偏移修正器53所得到的信号。中点增益调整器80通过所得到的两个测定值，求出聚光透镜13的透镜移位所对应的来自LE生成器40的信号的检测灵敏度，将中点控制的环路增益为给定值的增益值，发送给中点增益器43，通过这样进行增益的修正。

专利文献1：特开昭52-80802号公报

专利文献2：特愿平9-194895号公报

专利文献3：特开1991-292576号公报

光盘装置中的偏移，能够分为光学系统中产生的杂散光偏移与电路系统中产生的电路偏移。因光盘1的高传送速度化，为了提高记录灵敏度，记录膜的吸收率有上升的倾向。其影响导致记录膜的反射率降低，需要对小信号进行大幅放大来处理。因放大率的增加，偏移给检测信号带来的影响增大，特别是温度变化导致电路偏移变动的影响增大。因此，中点控制中，也需要来自LE生成器40的信号的偏移修正的高精度化、追踪温度变化。

另外，随着光盘1的高密度化的发展，聚光透镜13的透镜偏移给记录再生信号的恶化带来的影响增大。为了降低该影响，需要精度更好的中点控制，中点控制的偏移修正、增益修正中也需要高精度化。

如上所述，需要修正的高精度化，但如果装置的起动时间太长，就有可能会在用户想要记录时迟迟无法记录，用于温度变化追踪的调整中耗费时间，记录再生信号发生中断。因此，要求中点控制的偏移修正、增益修正能够短时间执行。

发明内容

本发明正是为了解决问题而提出的，其目的在于：提供一种能够高精度短时间调整中点控制的增益以及偏移的光盘装置。

本发明中的光盘装置，其特征在于，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，偏移指令机构，其在来自装置状态输出机构的信号从其他状态切换到检索动作的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

这里，所谓来自装置状态输出机构的信号从其他状态切换到检索动作的时刻，是指例如即将进行检索动作之前。

本发明中的光盘装置，其特征在于，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，偏移指令机构，其在来自装置状态输出机构的信号从检索动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

这里，所谓来自装置状态输出机构的信号从检索动作切换到其他状态的时刻，是指例如刚刚进行了检索动作之后。

本发明中的光盘装置，其特征在于，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，偏移指令机构，其在来自装置状态输出机构的信号从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

这里，所谓来自装置状态输出机构的信号从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻，是指例如刚刚进行过记录或再生动作之后。

本发明中的光盘装置的特征在于，偏移修正机构具有杂散光修正机构，其在起动时检测出杂散光偏移值与电路偏移值之差并修正偏移。

本发明中的光盘装置的特征在于，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以上的情况下进行电路偏移修正。

本发明中的光盘装置的特征在于，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以下的情况下进行电路偏移修正。

本发明中的光盘装置的特征在于，还具有：聚焦移动机构，其将聚光照射机构所聚光的光束的焦点在信息载体的信息面的法线方向上移动；聚焦误差检测机构，其产生与光束的焦点相对信息载体的各信息面的位置错位相对应的信号；聚焦控制机构，其根据聚焦错位信号检测机构的信号，实施对聚焦移动机构的驱动，使得光束的焦点追踪信息载体的信息面；以及，聚焦保持机构，其在电路偏移调整时保持聚焦控制机构。

本发明中的光盘装置的特征在于，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出，驱动轨道移动机构，并控制为正确扫描信息载体的轨道；以及，轨道保持机构，其在电路偏移调整时保持跟踪控制机构。

本发明中的光盘装置的特征在于，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；主光量检测机构，其检测出主轨道误差检测机构所使用的信号的总和；辅光量检测机构，其检测出辅轨道误差检测机构所使用的信号的总和；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；光量比检测机构，其检测出来自主光量检测机构的信号与来自辅光量检测机构的信号的电平比；以及，增益运算机构，其根据来自光量比检测机构的信号，计算出中点控制的增益。

本发明中的光盘装置的特征在于，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出驱动轨道移动机构，并控制为正确扫描信息载体的轨道；跟踪控制增益调整机构，其调整跟踪控制机构的增益，使得跟踪控制机构的带域为给定值；以及，增益反映机构，其将跟踪控制增益调整机构所求出的增益反映到中点控制的增益中。

本发明中的光盘装置的特征在于，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；主轨道误差调查机构，其检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分；以及，增益运算机构，其根据来自主轨道误差调查机构的信号，计算出中点控制的增益。

本发明中的光盘装置的特征在于，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；以及，轨道误差混合比调整机构，其使轨道移动机构移位，并测定来自轨道误差检测机构的信号的DC电平后存储到存储器中，通过这样，对输出信号不会随轨道移动机构的移位量变化的来自主轨道误差检测机构的信号、与来自辅轨道误差检测机构的信号的混合比进行调整，主轨道误差调查机构，根据轨道误差混合比调整机构所存储的存储器内容，检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。

本发明中的光盘装置的特征在于，主轨道误差调查机构，通过根据所测定的点求出一次直线近似式，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。

本发明中的光盘装置的特征在于，主轨道误差调查机构，通过根据混合比较小的2点中的测定结果求出直线，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。

本发明中的光盘装置的特征在于，还具有增益光量修正机构，根据来自主轨道误差检测机构的信号的变动，修正中点控制的增益。

本发明中的光盘半导体的特征在于，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从其他状态切换到检索动作的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

本发明中的光盘半导体的特征在于，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从检索动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

本发明中的光盘半导体的特征在于，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

本发明中的光盘半导体的特征在于，偏移修正机构具有杂散光修正机构，其在起动时检测出杂散光偏移值与电路偏移值之差并修正偏移。

本发明中的光盘半导体的特征在于，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以上的情况下进行电路偏移修正。

本发明中的光盘半导体的特征在于，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以下的情况下进行电路偏移修正。

本发明中的光盘半导体的特征在于，还具有：聚焦误差检测机构，其产生与光束的焦点相对信息载体的各信息面的位置错位相对应的信号；聚焦控制机构，其根据聚焦错位信号检测机构的信号，实施改变光束的聚光状态的驱动，使得光束的焦点追踪信息载体的信息面；以及，聚焦保持机构，其在电路偏移调整时保持聚焦控制机构。

本发明中的光盘半导体的特征在于，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出，与信息载体的面相平行地驱动光束的焦点，并控制为正确扫描信息载体的轨道；以及，轨道保持机构，其在电路偏移调整时保持跟踪控制机构。

本发明中的光盘半导体的特征在于，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；主光量检测机构，其检测出主轨道误差检测机构所使用的信号的总和；辅光量检测机构，其检测出辅轨道误差检测机构所使用的信号的总和；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；光量比检测机构，其检测出来自主光量检测机构的信号与来自辅光量检测机构的信号的电平比；以及，增益运算机构，其根据来自光量比检测机构的信号，计算出中点控制的增益。

本发明中的光盘半导体的特征在于，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出，与信息载体的面相平行地驱动光束的焦点，并控制为正确扫描信息载体的轨道；跟踪控制增益调整机构，其调整跟踪控制机构的增益，使得跟踪控制机构的带域为给定值；以及，增益反映机构，其将跟踪控制增益调整机构所求出的增益反映到中点控制的增益中。

本发明中的光盘半导体的特征在于，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出光束在光头内的移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的的移位量控制为给定值；主轨道误差调查机构，其检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分；以及，增益运算机构，其根据来自主轨道误差调查机构的信号，计算出中点控制的增益。

本发明中的光盘半导体的特征在于，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；以及，轨道误差混合比调整机构，其使光束与信息载体的面平行移位，并测定来自轨道误差检测机构的信号的DC电平后存储到存储器中，通过这样，对输出信号不会随光束的移位量变化的来自主轨道误差检测机构的信号、与来自辅轨道误差检测机构的信号的混合比进行调整，主轨道误差调查机构，根据轨道误差混合比调整机构所存储的存储器内容，检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分。

本发明中的光盘半导体的特征在于，主轨道误差调查机构，通过根据所测定的点求出一次直线近似式，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分。

本发明中的光盘半导体的特征在于，主轨道误差调查机构，通过根据混合比较小的2点中的测定结果求出直线，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分。

本发明中的光盘半导体的特征在于，还具有增益光量修正机构，根据来自主轨道误差检测机构的信号的变动，修正中点控制的增益。

(发明效果)

本发明中的光盘装置，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，偏移指令机构，其在来自装置状态输出机构的信号从其他状态切换到检索动作的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。因此能够抑制电路偏移的变动。

本发明中的光盘装置，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，偏移指令机构，其在来自装置状态输出机构的信号从检索动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。因此能够抑制电路偏移的变动。

本发明中的光盘装置，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，偏移指令机构，其在来自装置状态输出机构的信号从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。因此能够抑制电路偏移的变动。

本发明中的光盘装置中，偏移修正机构具有杂散光修正机构，其在起动时检测出杂散光偏移值与电路偏移值之差并修正偏移。因此能够抑制杂散光所引起的偏移较大的情况下的修正偏差。

本发明中的光盘装置中，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以上的情况下进行电路偏移修正。因此能够降低包含调整时间的检索时间的期待值。

本发明中的光盘装置中，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以下的情况下进行电路偏移修正。因此能够降低包含调整时间的检索时间的最大值。

本发明中的光盘装置中，还具有：聚焦移动机构，其将聚光照射机构所聚光的光束的焦点在信息载体的信息面的法线方向上移动；聚焦误差检测机构，其产生与光束的焦点相对信息载体的各信息面的位置错位相对应的信号；聚焦控制机构，其根据聚焦错位信号检测机构的信号，实施对聚焦移动机构的驱动，使得光束的焦点追踪信息载体的信息面；以及，聚焦保持机构，其在电路偏移调整时保持聚焦控制机构。因此能够缩短聚焦控制的再引入时间，以较短时间进行电路偏移调整。

本发明中的光盘装置中，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出，驱动轨道移动机构，并控制为正确扫描信息载体的轨道；以及，轨道保持机构，其在电路偏移调整时保持跟踪控制机构。因此能够缩短跟踪控制的再引入时间，以较短时间进行电路偏移调整。

本发明中的光盘装置中，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；主光量检测机构，其检测出主轨道误差检测机构所使用的信号的总和；辅光量检测机构，其检测出辅轨道误差检测机构所使用的信号的总和；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；光量比检测机构，其检测出来自主光量检测机构的信号与来自辅光量检测机构的信号的电平比；以及，增益运算机构，其根据来自光量比检测机构的信号，计算出中点控制的增益。因此，测定时无需进行透镜移位，能够以较短时间得到中点控制增益。

本发明中的光盘装置中，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出驱动轨道移动机构，并控制为正确扫描信息载体的轨道；跟踪控制增益调整机构，其调整跟踪控制机构的增益，使得跟踪控制机构的带域为给定值；以及，增益反映机构，其将跟踪控制增益调整机构所求出的增益反映到中点控制的增益中。因此无需测定驱动系统偏差等所对应的中点控制增益。

本发明中的光盘装置中，具有：聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；轨道移动机构，其将通过聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于轨道移动机构的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将轨道移动机构的移位量控制为给定值；主轨道误差调查机构，其检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分；以及，增益运算机构，其根据来自主轨道误差调查机构的信号，计算出中点控制的增益。因此无需分别测定LE的透镜移位特性，就能够得到中点控制增益。

本发明中的光盘装置中，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；以及，轨道误差混合比调整机构，其使轨道移动机构移位，并测定来自轨道误差检测机构的信号的DC电平后存储到存储器中，通过这样，对输出信号不会随轨道移动机构的移位量变化的来自主轨道误差检测机构的信号、与来自辅轨道误差检测机构的信号的混合比进行调整，主轨道误差调查机构，根据轨道误差混合比调整机构所存储的存储器内容，检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。因此不需要分别测定LE的透镜移位特性，就能够得到中点控制增益。

本发明中的光盘装置中，主轨道误差调查机构，通过根据所测定的点求出一次直线近似式，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。因此能够根据多个点进行高精度的增益推定。

本发明中的光盘装置中，主轨道误差调查机构，通过根据混合比较小的2点中的测定结果求出直线，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。因此即使是直线性较低的特性，也能够进行高精度的增益推定。

本发明中的光盘装置中，还具有增益光量修正机构，根据来自主轨道误差检测机构的信号的变动，修正中点控制的增益。因此能够构成简单的AGC系统。

本发明中的光盘半导体中，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从其他状态切换到检索动作的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。因此能够抑制电路偏移的变动。

本发明中的光盘半导体中，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从检索动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。因此能够抑制电路偏移的变动。

本发明中的光盘半导体中，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；偏移修正机构，其对来自透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻，向偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。因此能够抑制电路偏移的变动。

本发明中的光盘半导体中，偏移修正机构具有杂散光修正机构，其在起动时检测出杂散光偏移值与电路偏移值之差并修正偏移。因此能够抑制杂散光所引起的偏移较大的情况下的修正偏差。

本发明中的光盘半导体中，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以上的情况下进行电路偏移修正。因此能够降低包含调整时间的检索时间的期待值。

本发明中的光盘半导体中，偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以下的情况下进行电路偏移修正。因此能够降低包含调整时间的检索时间的最大值。

本发明中的光盘半导体中，还具有：聚焦误差检测机构，其产生与光束的焦点相对信息载体的各信息面的位置错位相对应的信号；聚焦控制机构，其根据聚焦错位信号检测机构的信号，实施改变光束的聚光状态的驱动，使得光束的焦点追踪信息载体的信息面；以及，聚焦保持机构，其在电路偏移调整时保持聚焦控制机构。因此能够缩短聚焦控制的再引入时间，以较短时间进行电路偏移调整。

本发明中的光盘半导体中，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出，与信息载体的面相平行地驱动光束的焦点，并控制为正确扫描信息载体的轨道；以及，轨道保持机构，其在电路偏移调整时保持跟踪控制机构。因此能够缩短跟踪控制的再引入时间，以较短时间进行电路偏移调整。

本发明中的光盘半导体中，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；主光量检测机构，其检测出主轨道误差检测机构所使用的信号的总和；辅光量检测机构，其检测出辅轨道误差检测机构所使用的信号的总和；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；光量比检测机构，其检测出来自主光量检测机构的信号与来自辅光量检测机构的信号的电平比；以及，增益运算机构，其根据来自光量比检测机构的信号，计算出中点控制的增益。因此，测定时无需进行透镜移位，能够以较短时间得到中点控制增益。

本发明中的光盘半导体中，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；跟踪控制机构，其根据来自轨道误差检测机构的输出，与信息载体的面相平行地驱动光束的焦点，并控制为正确扫描信息载体的轨道；跟踪控制增益调整机构，其调整跟踪控制机构的增益，使得跟踪控制机构的带域为给定值；以及，增益反映机构，其将跟踪控制增益调整机构所求出的增益反映到中点控制的增益中。因此无需测定驱动系统偏差等所对应的中点控制增益。

本发明中的光盘半导体中，具有：主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；辅轨道误差检测机构，其检测出光束在光头内的移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自主轨道误差检测机构的信号不同的信号；透镜移位误差生成机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的的移位量的信号；中点控制机构，其根据来自透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的的移位量控制为给定值；主轨道误差调查机构，其检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分；以及，增益运算机构，其根据来自主轨道误差调查机构的信号，计算出中点控制的增益。因此无需分别测定LE的透镜移位特性，就能够得到中点控制增益。

本发明中的光盘半导体中，还具有：轨道误差检测机构，其根据来自主轨道误差检测机构的信号与来自辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；以及，轨道误差混合比调整机构，其使光束与信息载体的面平行移位，并测定来自轨道误差检测机构的信号的DC电平后存储到存储器中，通过这样，对输出信号不会随光束的移位量变化的来自主轨道误差检测机构的信号、与来自辅轨道误差检测机构的信号的混合比进行调整，主轨道误差调查机构，根据轨道误差混合比调整机构所存储的存储器内容，检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分。因此无需分别测定LE的透镜移位特性，就能够得到中点控制增益。

本发明中的光盘半导体中，主轨道误差调查机构，通过根据所测定的点求出一次直线近似式，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分。因此能够根据多个点进行高精度的增益推定。

本发明中的光盘半导体中，主轨道误差调查机构，通过根据混合比较小的2点中的测定结果求出直线，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随移位量进行变化的DC成分。因此即使是直线性较低的特性，也能够进行高精度的增益推定。

本发明中的光盘半导体中，还具有增益光量修正机构，根据来自主轨道误差检测机构的信号的变动，修正中点控制的增益。因此能够构成简单的AGC系统。

附图说明

图1为表示实施方式1之构成的方框图。

图2(a)为表示实施方式1中的从偏移指令器去往半导体激光器的信号输出之一例的图，(b)为表示实施方式1中的来自LE生成器的信号的输出之一例的图，(c)为表示实施方式1中的来自电路偏移检测器的信号的输出之一例的图。

图3为表示实施方式2之构成的方框图。

图4为表示实施方式3之构成的方框图。

图5为表示实施方式3中的混合比调整器所测定、以及特性推定器所推定的TE信号的特性的图。

图6为表示背景技术之构成的方框图。

图7为表示背景技术中的光检测器的详细构成的图。

图8(a)为表示背景技术中的从中点增益调整器去往选择器的信号输出之一例的图，(b)为表示背景技术中的来自LE生成器的信号的输出之一例的图。

图中：1-光盘，10-光头，11-半导体激光器，12-光束分离器，13-聚光透镜，14-聚焦执行器，15-跟踪执行器，16-光检测器，20-主TE生成器，21-辅TE生成器，30-TE生成器，31-Tk滤波器，32-Tk增益器，33-选择器，40-LE生成器，41-LE增益器，42-中点滤波器，43-中点增益器，50-电路偏移检测器，51-杂散光偏移检测器，52-偏移检测器，53-偏移修正器，54-偏移指令器，55-偏移指令器，56-装置指令器，60-主AS生成器，61-辅AS生成器，62-比率检测器，63-增益运算器，64-增益反映器，70-混合比调整器，71-存储器，72-特性推定器，73-增益运算器，80-中点增益调整器。

具体实施方式

下面对本发明的实施方式进行说明。

(实施方式1)

图1中示出了作为本实施方式1的光盘装置的方框图。图1中给与背景技术图6的构成要素相同者标注相同编号，并省略说明。偏移(offset)修正机构，是电路偏移检测器50、杂散光偏移检测器51、以及偏移修正器53。偏移指令机构是偏移指令器54。杂散光修正机构是杂散光偏移检测器51。装置状态输出机构是装置指令器56。

LE生成器40，向偏移修正器53、电路偏移检测器50、杂散光偏移检测器51发送信号。装置指令器56，根据装置状态将表示检索动作、记录动作、再生动作、待机中的任一个的信号，发送给偏移指令器54。偏移指令器54，在进行电路偏移调整的时刻给半导体激光器11发送熄灭指令，并将产生上升沿的信号发送给电路偏移检测器50。另外，偏移指令器54，在进行杂散光偏移调整的时刻，将产生上升沿的信号发送给杂散光偏移检测器51。电路偏移检测器50，检测出来自偏移指令器54的信号的上升沿之后，取得并存储来自LE生成器40的信号，之后将所存储的电平不断发送给偏移修正器53、杂散光偏移检测器51。杂散光偏移检测器51，检测到来自偏移指令器54的信号的上升沿后，取得并存储来自LE生成器40的信号与来自电路偏移检测器50的信号之差，之后将所存储的电平不断发送给偏移修正器53。

对照图2对实施方式1中的关于中点控制的偏移修正进行说明。图2(a)中表示从偏移指令器54去往半导体激光器11的信号，图2(b)中表示来自LE生成器40的信号，图2(c)中表示来自电路偏移检测器50的信号。图2中，横轴为时间。半导体激光器11，在来自偏移指令器54的信号为H时点亮，在为L时熄灭。在图2的时刻2A中，半导体激光器11熄灭时，电路偏移检测器50取得来自LE生成器40的信号，并发送给偏移修正器53，通过这样进行电路部分的偏移修正。在图2的时刻2B中半导体激光器11点亮时，杂散光偏移检测器51取得来自LE生成器40的信号，并减去电路偏移检测器50先前所取得的电路部分的偏移，发送给偏移修正器53，通过这样进行杂散光部分的偏移修正。偏移修正器53能够通过对来自LE生成器40的信号，去除电路部分、杂散光部分的偏移和，实现偏移修正。如图2(b)所示，修正执行后，温度变化导致电路部分的偏移变化。在来自装置指令器56的信号切换到检索动作的图2的时刻2C中，半导体激光器11短时间熄灭，此期间电路偏移检测器50取得来自LE生成器40的信号并发送给偏移修正器53，通过这样还能够对应电路部分的偏移的温度变化。

这样，通过将来自LE生成器40的信号的偏移分为电路部分与杂散光部分，在实际进行中点控制的粗检索动作之前，重新修正温度变化较大的电路部分，从而能够实现高精度的中点控制。另外，还能够缩短半导体激光器11的熄灭时间，短时间修正电路部分的偏移温度变化。

另外，虽然本实施方式1中，在进行粗检索动作之前执行电路偏移调整，但也可以只在检索根数为给定根数以上的情况下执行电路偏移调整。或者只在检索根数为给定根数以下的情况下执行电路偏移调整。另外，虽然本实施方式1中，在LE生成器40中只根据辅TE生成器21生成表示聚光透镜13的透镜移位量的信号，但也可以使用来自主TE生成器20的信号与来自辅TE生成器21的信号双方来生成。另外，通过在熄灭半导体激光器11时保持聚焦控制、跟踪控制，能够缩短进行再引入控制的时间。

另外，虽然从装置指令器56输出表示检索动作的信号，到实际开始检索动作为止的期间，进行电路偏移调整，但也可以在电路偏移调整结束之前并行实施检索动作。也即，电路偏移调整，可以在来自装置指令器56的信号从其他状态切换到表示检索动作的状态的时刻进行，也可以在从表示检索动作的状态切换到其他状态的时刻进行。再有，还可以在来自装置指令器56的信号从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻进行。通过在如上所述的时刻进行电路偏移调整，能够在适当的时刻修正温度变化给电路偏移带来的影响。

(实施方式2)

图3中表示本实施方式2的光盘装置的方框图。图3中给与背景技术图6的构成要素相同者标注相同符号，并省略其说明。中点控制机构是中点滤波器42、LE增益器41、中点增益器43。主光量检测机构是主AS生成器60。辅光量检测机构是辅AS生成器61。增益运算机构是增益运算器63。光量比检测机构是比率检测器62。跟踪控制机构是Tk滤波器31、Tk增益器32。增益反映机构是增益反映器64。

主AS生成器60，计算出主TE生成器20所使用的来自光检测器16的信号的总和并发送给比率检测器62。辅AS生成器61，计算出辅TE生成器21所使用的来自光检测器16的信号的总和并发送给比率检测器62。比率检测器62，计算出来自主AS生成器60的信号与来自辅AS生成器61的信号之比，发送给增益运算器63。增益运算器63，根据来自比率检测器62的比率信息计算出增益值，发送给LE增益器41。LE增益器41根据来自增益运算器63的增益值，对来自LE生成器40的信号进行放大并发送给中点滤波器42。TE生成器30，给Tk滤波器31发送信号。Tk滤波器31，以使来自TE生成器30的信号为0的方式生成驱动信号，经Tk增益器32、选择器33发送给跟踪执行器15。Tk增益器32对来自Tk滤波器31的信号进行放大并发送给选择器33。另外，Tk增益器32将其增益值发送给增益反映器64。增益反映器64，取得来自Tk增益器32的增益值并发送给中点增益器43。中点增益器43根据来自增益反映器64的增益值，对来自中点滤波器42的信号进行放大，发送给选择器33。选择器33选择来自中点增益器43的信号或来自Tk增益器32的信号，发送给跟踪执行器15。

对实施方式2中的中点控制的相关增益修正进行说明。如图7所示，由于使用光束在光检测器16上的焦点的上下端，因此因焦点的大小或光检测器16的分割线的位置偏移，辅TE生成器21中使用的光量会发生变化。由于在LE生成器40中使用来自辅TE生成器21的信号，因此因辅TE生成器21中所使用的光量的大小，来自LE生成器40的信号的检测灵敏度会发生变化。为了求出主TE生成器20中所使用的光量与辅TE生成器21中所使用的光量之比，比率检测器62计算出来自辅AS生成器61的信号相对来自主AS生成器60的信号的比率。增益运算器63，预先具有来自辅AS生成器61的信号相对来自主AS生成器60的信号的比率为1倍的情况下的设计增益，计算出给设计增益乘以来自比率检测器62的比率所得到的增益值。增益运算器63将这样所求出的对应于光量的比的增益发送给LE增益器41，通过这样能够修正该增益偏差。

另外，由于跟踪执行器15的灵敏度偏差，聚光透镜13对同一个驱动信号的透镜移位量发生变化。中点控制由于使用与跟踪控制相同的跟踪执行器15，因此通过由增益反映器64将跟踪控制中所使用的增益值发送给中点增益器43，能够修正该增益偏差。

这样，通过将中点控制的增益偏差分为光量部分与执行器部分来进行修正，能够进行增益修正。另外，由于光量偏差的测定只测定和信号之比，因此不会像来自主TE生成器20的信号那样具有DC成分与AC成分双方，而只有DC成分。因此能够缩短测定时间。另外，通过让执行器偏差的修正应用跟踪控制的增益，不需要任何用于修正的测定就能够短时间执行修正。

另外，虽然本实施方式2中，在LE生成器40中只根据辅TE生成器21生成表示聚光透镜13的透镜移位量的信号，但也可以使用来自主TE生成器20的信号与来自辅TE生成器21的信号双方来生成。另外，虽然本实施方式2中在起动时修正中点控制增益，但也可以对应于来自主AS生成器60的信号的变化实时修正LE增益器41。

(实施方式3)

图4中表示本实施方式3的光盘装置的方框图。图4中给与背景技术图6的构成要素相同者标注相同符号，并省略其说明。透镜移位误差生成机构是LE生成器40。轨道误差混合比调整机构是混合比调整器70、存储器71。主轨道误差调查机构是特性推定器72。增益计算机构是增益运算器73。

TE生成器30，使用来自混合比调整器70的混合比生成TE信号，并发送给混合比调整器70。混合比调整器70，将用于调整的驱动信号经选择器33发送给跟踪执行器15，每当给TE生成器30发送几个混合比时，取得来自TE生成器30的信号并存储在存储器71中，根据这些测定结果计算出最佳混合比，并发送给TE生成器30、LE增益器41。LE增益器41，根据来自混合比调整器70的混合比对来自LE生成器40的信号进行放大，发送给中点滤波器42。特性推定器72根据存储器71中所存储的测定点，在来自主TE生成器20的信号中推定由聚光透镜13的透镜移位所产生的偏移量，发送给增益运算器73。增益运算器73根据来自特性推定器72的信息，计算出增益值并发送给中点增益器43。中点增益器43，根据来自增益运算器73的增益值，对来自中点滤波器42的信号进行放大并发送给选择器33。选择器33选择来自中点增益器43的信号或来自混合比调整器70的信号，发送给跟踪执行器15。

使用图5对实施方式3中的关于中点控制的增益修正进行说明。图5为混合比调整器70所测定的来自TE生成器30的信号的DC电平，白圈表示测定点，双层圆圈表示混合比最佳点，黑圈表示特性推定器72所推定的来自主TE生成器20的信号中的焦点透镜发生透镜移位时的DC电平推定值。横轴为混合比，纵轴为TE信号的DC电平。如图7所示，由于使用光束在光检测器16上的焦点的上下端，因此因焦点的大小或光检测器16的分割线的位置错位，辅TE生成器21中使用的光量会发生变化。由于来自辅TE生成器21的信号在LE生成器40中使用，因此因辅TE生成器21中所使用的光量的大小，检测灵敏度会发生变化。混合比调整器70经选择器33给跟踪执行器15发送正值的信号，如图5所示，测定每一个混合比的来自TE生成器30的信号的DC电平。另外，混合比调整器70，经选择器33给跟踪执行器15发送负值的信号，如图5所示，测定每一个混合比的来自TE生成器30的信号的DC电平。对每个透镜移位将测定值一次近似所得到的2根直线的交点，为最佳的混合比。混合比调整器70，将该最佳混合比发送给TE生成器30、LE增益器41。通过该调整，求出主TE生成器20中使用的光量与辅TE生成器21中使用的光量之比，通过LE增益器41能够对光量所引起的来自LE生成器40的信号的检测灵敏度的偏差进行修正。

除了光量之外，因跟踪执行器15的灵敏度等的偏差，中点控制的增益也会发生变动。特性推定器72，通过从存储器71中所存储的混合比调整器70的测定点起进行一次近似，能够推定来自主TE生成器20的信号中因聚光透镜13的透镜移位而产生的偏移量，位于图5的黑圈处。这两个黑圈之差，是聚光透镜13在混合比调整时透镜移位量所对应的来自主TE生成器20的信号的DC变动量，来自LE增益器41的信号中因聚光透镜13的透镜移位所产生的偏移的特性，与来自主TE生成器20的信号等同。增益运算器73，预先具有来自主TE生成器20的信号中因聚光透镜13的透镜移位所产生的偏移为1的情况下的设计增益，以使中点控制的环路增益为给定值，计算出将设计增益乘以特性推定器72所推定的偏移后所得到的增益，发送给中点增益器43。

这样，通过分为来自主TE生成器20的信号与来自辅TE生成器21的信号的特性比，以及来自主TE生成器20的信号的特性，来进行修正，能够实施增益修正。另外，混合比调整器70，在TE生成器30的调整中是必须的，无需为了中点控制而追加测定，能够短时间进行修正。

另外，虽然本实施方式3中，在LE生成器40中只根据辅TE生成器21生成表示聚光透镜13的透镜移位量的信号，但也可以使用来自主TE生成器20的信号与来自辅TE生成器21的信号双方来生成。另外，虽然本实施方式3中，特性推定器72从存储器71的测定点起通过一次近似求出直线，但也可以求出连接混合比较小的两个点的直线。

(其他)

另外，上述各个实施方式中对照附图所说明的光盘装置中，各个模块可以通过LSI等半导体装置分别1芯片化，也可以包含有其一部分或全部的方式1芯片化。

具体来说，图1、图3、图4中，光盘1与光头10以外的各个模块，可以分别1芯片化，也可以包含有其一部分或全部的方式1芯片化。

另外，虽然这里说的是LSI，但根据集成度的不同，也可以称作IC、系统LSI、超LSI、ultra-LSI。

另外，集成电路化的方法并不仅限于LSI，还可以通过专用电路或通用处理器来实现。还可以在LSI制造后，利用可编程的FPGA(FieldProgrammable Gate Array)，或可重构LSI内部的电路单元的连接或设定的可重构处理器。

再有，如果因半导体技术的进步或派生的其他技术，出现了能够代替LSI的集成电路化的技术，则当然也可以使用该技术进行功能模块的集成化。当然还能够适用生物技术等。

本发明能够应用于在可进行记录的圆盘状信息载体(以下称作光盘)中进行记录或再生时，对目的轨道进行稳定的检索的光盘装置。

Claims (30)

1.一种光盘装置，其特征在于，具有：

聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；

轨道移动机构，其将通过上述聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出上述轨道移动机构移位带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于上述轨道移动机构的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将上述轨道移动机构的移位量控制为给定值；

偏移修正机构，其对来自上述透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；

装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，

偏移指令机构，其在来自上述装置状态输出机构的信号从其他状态切换到检索动作的时刻，向上述偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

2.一种光盘装置，其特征在于，具有：

聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；

轨道移动机构，其将通过上述聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出上述轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于上述轨道移动机构的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将上述轨道移动机构的移位量控制为给定值；

偏移修正机构，其对来自上述透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；

装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，

偏移指令机构，其在来自上述装置状态输出机构的信号从检索动作切换到其他状态的时刻，向上述偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

3.一种光盘装置，其特征在于，具有：

聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；

轨道移动机构，其将通过上述聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出上述轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于上述轨道移动机构的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将上述轨道移动机构的移位量控制为给定值；

偏移修正机构，其对来自上述透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；

装置状态输出机构，其输出通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号；以及，

偏移指令机构，其在来自上述装置状态输出机构的信号从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻，向上述偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

4.如权利要求1～3中任一项所述的光盘装置，其特征在于：

上述偏移修正机构具有杂散光修正机构，其在起动时检测出杂散光偏移值与电路偏移值之差并修正偏移。

5.如权利要求1～3中任一项所述的光盘装置，其特征在于：

上述偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以上的情况下进行电路偏移修正。

6.如权利要求1～3中任一项所述的光盘装置，其特征在于：

上述偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以下的情况下进行电路偏移修正。

7.如权利要求1～3中任一项所述的光盘装置，其特征在于，还具有：

聚焦移动机构，其将上述聚光照射机构所聚光的光束的焦点在信息载体的信息面的法线方向上移动；

聚焦误差检测机构，其产生与光束的焦点相对信息载体的各信息面的位置错位相对应的信号；

聚焦控制机构，其根据聚焦错位信号检测机构的信号，实施对上述聚焦移动机构的驱动，使得光束的焦点追踪信息载体的信息面；以及，

聚焦保持机构，其在电路偏移调整时保持上述聚焦控制机构。

8.如权利要求1～3中任一项所述的光盘装置，其特征在于，还具有：

轨道误差检测机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

跟踪控制机构，其根据来自上述轨道误差检测机构的输出，驱动上述轨道移动机构，并控制为正确扫描信息载体的轨道；以及，

轨道保持机构，其在电路偏移调整时保持上述跟踪控制机构。

9.一种光盘装置，其特征在于，具有：

聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；

轨道移动机构，其将通过上述聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出上述轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

主光量检测机构，其检测出上述主轨道误差检测机构所使用的信号的总和；

辅光量检测机构，其检测出上述辅轨道误差检测机构所使用的信号的总和；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于上述轨道移动机构的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将上述轨道移动机构的移位量控制为给定值；

光量比检测机构，其检测出来自上述主光量检测机构的信号与来自上述辅光量检测机构的信号的电平比；以及，

增益运算机构，其根据来自上述光量比检测机构的信号，计算出中点控制的增益。

10.如权利要求9所述的光盘装置，其特征在于，还具有：

轨道误差检测机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

跟踪控制机构，其根据来自上述轨道误差检测机构的输出驱动上述轨道移动机构，并控制为正确扫描信息载体的轨道；

跟踪控制增益调整机构，其调整上述跟踪控制机构的增益，使得上述跟踪控制机构的带域为给定值；以及，

增益反映机构，其将上述跟踪控制增益调整机构所求出的增益反映到中点控制的增益中。

11.一种光盘装置，其特征在于，具有：

聚光照射机构，其将光束聚光照射在具有用于记录或再生信息的轨道的信息载体上；

轨道移动机构，其将通过上述聚光照射机构所聚光的光束在横切轨道的方向上移动；

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出上述轨道移动机构移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于上述轨道移动机构的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将上述轨道移动机构的移位量控制为给定值；

主轨道误差调查机构，其检测出来自上述主轨道误差检测机构的信号随上述轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分；以及，

增益运算机构，其根据来自上述主轨道误差调查机构的信号，计算出中点控制的增益。

12.如权利要求11所述的光盘装置，其特征在于，还具有：

轨道误差检测机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；以及，

轨道误差混合比调整机构，其使上述轨道移动机构移位，并测定来自上述轨道误差检测机构的信号的DC电平后存储到存储器中，通过这样，对输出信号不会随上述轨道移动机构的移位量变化的来自上述主轨道误差检测机构的信号、与来自上述辅轨道误差检测机构的信号的混合比进行调整，

上述主轨道误差调查机构，根据上述轨道误差混合比调整机构所存储的存储器内容，检测出来自上述主轨道误差检测机构的信号随上述轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。

13.如权利要求12所述的光盘装置，其特征在于：

上述主轨道误差调查机构，通过根据所测定的点求出一次直线近似式，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。

14.如权利要求12所述的光盘装置，其特征在于：

上述主轨道误差调查机构，通过根据混合比较小的2点中的测定结果求出直线，来检测出来自主轨道误差检测机构的信号随轨道移动机构的移位量进行变化的DC成分。

15.如权利要求9或11所述的光盘装置，其特征在于：

还具有增益光量修正机构，根据来自上述主轨道误差检测机构的信号的变动，修正中点控制的增益。

16.一种光盘半导体，其特征在于，具有：

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；

偏移修正机构，其对来自上述透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，

偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从其他状态切换到检索动作的时刻，向上述偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

17.一种光盘半导体，其特征在于，具有：

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；

偏移修正机构，其对来自上述透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，

偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从检索动作切换到其他状态的时刻，向上述偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

18.一种光盘半导体，其特征在于，具有：

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出因光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；

偏移修正机构，其对来自上述透镜移位误差生成机构的信号的偏移进行修正；以及，

偏移指令机构，其在通过检索动作、记录动作、再生动作、以及待机的任一个来表示装置状态的信号，从记录动作或再生动作切换到其他状态的时刻，向上述偏移修正机构发出指令使其进行电路偏移修正。

19.如权利要求16～18中任一项所述的光盘半导体，其特征在于：

上述偏移修正机构具有杂散光修正机构，其在起动时检测出杂散光偏移值与电路偏移值之差并修正偏移。

20.如权利要求16～18中任一项所述的光盘半导体，其特征在于：

上述偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以上的情况下进行电路偏移修正。

21.如权利要求16～18中任一项所述的光盘半导体，其特征在于：

上述偏移指令机构，发出指令使得只在检索根数为给定根数以下的情况下进行电路偏移修正。

22.如权利要求16～18中任一项所述的光盘半导体，其特征在于，还具有：

聚焦误差检测机构，其产生与光束的焦点相对信息载体的各信息面的位置错位相对应的信号；

聚焦控制机构，其根据聚焦错位信号检测机构的信号，实施改变光束的聚光状态的驱动，使得光束的焦点追踪信息载体的信息面；以及，

聚焦保持机构，其在电路偏移调整时保持上述聚焦控制机构。

23.如权利要求16～18中任一项所述的光盘半导体，其特征在于，还具有：

轨道误差检测机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

跟踪控制机构，其根据来自上述轨道误差检测机构的输出，与信息载体的面相平行地驱动光束的焦点，并控制为正确扫描信息载体的轨道；以及，

轨道保持机构，其在电路偏移调整时保持上述跟踪控制机构。

24.一种光盘半导体，其特征在于，具有：

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出光束在光头内移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

主光量检测机构，其检测出上述主轨道误差检测机构所使用的信号的总和；

辅光量检测机构，其检测出上述辅轨道误差检测机构所便用的信号的总和；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的移位量控制为给定值；

光量比检测机构，其检测出来自上述主光量检测机构的信号与来自上述辅光量检测机构的信号的电平比；以及，

增益运算机构，其根据来自上述光量比检测机构的信号，计算出中点控制的增益。

25.如权利要求24所述的光盘半导体，其特征在于，还具有：

轨道误差检测机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

跟踪控制机构，其根据来自上述轨道误差检测机构的输出，与信息载体的面相平行地驱动光束的焦点，并控制为正确扫描信息载体的轨道；

跟踪控制增益调整机构，其调整上述跟踪控制机构的增益，使得上述跟踪控制机构的带域为给定值；以及，

增益反映机构，其将上述跟踪控制增益调整机构所求出的增益反映到中点控制的增益中。

26.一种光盘半导体，其特征在于，具有：

主轨道误差检测机构，其检测出对应于光束与轨道的位置的信号；

辅轨道误差检测机构，其检测出光束在光头内的移位所带来的DC成分与对应于轨道位置的AC成分之比与来自上述主轨道误差检测机构的信号不同的信号；

透镜移位误差生成机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，生成对应于光束在光头内的的移位量的信号；

中点控制机构，其根据来自上述透镜移位误差生成机构的信号，将光束在光头内的的移位量控制为给定值；

主轨道误差调查机构，其检测出来自上述主轨道误差检测机构的信号随上述移位量进行变化的DC成分；以及，

增益运算机构，其根据来自上述主轨道误差调查机构的信号，计算出中点控制的增益。

27.如权利要求26所述的光盘半导体，其特征在于，还具有：

轨道误差检测机构，其根据来自上述主轨道误差检测机构的信号与来自上述辅轨道误差检测机构的信号，检测出对应于光束与轨道的位置的信号；以及，

轨道误差混合比调整机构，其使光束与信息载体的面平行移位，并测定来自上述轨道误差检测机构的信号的DC电平后存储到存储器中，通过这样，对输出信号不会随光束的上述移位量变化的来自上述主轨道误差检测机构的信号、与来自上述辅轨道误差检测机构的信号的混合比进行调整，

上述主轨道误差调查机构，根据上述轨道误差混合比调整机构所存储的存储器内容，检测出来自上述主轨道误差检测机构的信号随上述移位量进行变化的DC成分。

28.如权利要求27所述的光盘半导体，其特征在于：

上述主轨道误差调查机构，通过根据所测定的点求出一次直线近似式，来检测出来自上述主轨道误差检测机构的信号随上述移位量进行变化的DC成分。

29.如权利要求27所述的光盘半导体，其特征在于：

上述主轨道误差调查机构，通过根据混合比较小的2点中的测定结果求出直线，来检测出来自上述主轨道误差检测机构的信号随上述移位量进行变化的DC成分。

30.如权利要求24或26所述的光盘半导体，其特征在于：

还具有增益光量修正机构，根据来自上述主轨道误差检测机构的信号的变动，修正中点控制的增益。

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