CN100336114C - 具有对策实时更新的光盘记录装置及记录方法 - Google Patents

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Abstract

具有实时更新对策的光盘装置,根据由给定步数逐级更新的对策通过照射光束而在光盘上记录信号。在光盘装置中,探测器连续地实时探测光盘相对于光束的线速度。每当探测器探测到光盘的线速度时,对策发生器根据探测到的线速度连续产生对策。存储器具有多个存储区域,每个能够记忆由对策发生器连续产生的对策。每当对策产生时,写入控制器改写一个存储区域直到通过给定的步数更新对策,然后每当对策产生时改写另一个存储区域,同时离开上述一个存储区域以保持更新的对策,由此通过多个存储区域更新对策。读取选择器选择保持更新的对策的存储区域以从中读取更新的对策,同时允许写入控制器改写另一个存储区域。

Description

具有对策实时更新的光盘记录装置及记录方法
发明领域
本发明涉及光盘记录装置。
背景技术
在光盘如CD-R(可记录紧密盘)和CD-RW(可写入紧密盘)的领域中,采用激光束等以高速高密度方式记录信息的技术被广泛传播,例如,CAV(恒定角速度)记录技术设置了大量的光盘恒速转动并根据光头的位置改变记录信号的基本时钟频率。
在采用这种CAV记录系统的光盘装置中,在信号记录期间线性速度(光盘与激光斑点的相对速度)发生变化。为了在光盘上执行精确写入过程而不改变用于写入信息的激光能量,在光盘上用于写入信息的写入脉冲必须根据线性速度进行最优化。作为控制这种脉冲的方法,提出了根据线性速度改变脉冲占空因数的方法(后文称为脉宽固定型),和根据线性速度改变脉宽的另一种方法(后文称为占空因数固定型),等等。
图16(a)是用于解释脉宽固定型的写入脉冲控制方法的示意图,图16(b)是用于解释占空因数固定型的写入脉冲控制方法的示意图。
如图16(a)所示,在脉宽固定型的写入脉冲控制方法中,控制以这种方式起作用,即记录在线速度较小的光盘内周侧的脉宽TX变得等于记录在线速度较大的光盘外周侧的脉宽TY。尤其是,当内周侧上的脉冲周期T1设为50μsec时,外周侧上的脉冲周期T2为20μsec;内周侧上的脉宽TX为0.2*T1,根据下述表达式(a)至(d),外周侧上的脉宽TY设为0.5*T2。注意每个脉冲周期T1和T2表示在光盘上形成一个凹点所需的时间。
TX=0.2*T1=10μsec                                   (a)
TY=TX=10μsec                                       (b)
T2∶TY=20∶10                                     (c)
TY=10/20*T2=0.5*                                 (d)
另一方面,如图16(b)所示,在占空因数固定型的写入脉冲控制方法中,控制以这种方式起作用,即光盘内周侧上的占空因数DX变得等于光盘外周侧的占空因数DY。尤其是,当内周侧上的脉宽TX设为0.5*T1时(假定在内周侧上的脉冲周期为T1和外周侧上的脉冲周期为T2),根据下述表达式(e)至(g),外周侧上的脉宽TY设为0.5*T2。
DX=0.5*T1/T1=0.5                                  (e)
DY=DX=0.5                                         (f)
TY=0.5*T2                                          (g)
上述脉宽固定型和占空因数固定型的写入脉冲控制方法不总是最优的。即,根据信息记录目标的光盘线速度和结构或类型,确定写入脉冲补偿量的最优值(后文称为对策)不同。但是,在与先前的光盘类型不同的光盘上记录信息的情况下,可不设置最优对策,并且存在出现记录误差等问题。
发明内容
考虑到上述问题,本发明的目的是提供一种能够减少记录误差的光盘记录装置。
为达到该目的,提供了根据给定步数逐级更新的对策通过照射光束而在光盘上记录信号的装置。该装置包括:一个探测器,连续地实时探测光盘相对于光束的线速度;一个盘探测器,探测用于记录信号的光盘类型;一个对策发生器,每当探测器探测到光盘的线速度并且盘探测器探测到光盘的类型时根据探测到的线速度和光盘类型连续产生对策;一个存储器,具有多个存储区域,每个能够存储由对策发生器连续产生的对策;一个存储部分,用于存储预先设定的控制信息;一个选择信号发生部分,通过将对策发生器产生的对策和存储部分存储的控制信息进行比较,产生选择信号;一个写入控制部分,每当对策产生时,将所产生的对策与前一对策的差值和存储部分存储的有关控制信息进行比较,根据比较结果切换存储区域,并用产生的对策改写选定的存储区域,同时保持未选定存储区域中更新的对策,由此通过多个存储区域更新对策;一个读取选择器,根据来自选择信号发生部分的选择信号选择保持更新的对策的存储区域以从中读取更新的对策,同时允许写入控制部分改写另一个存储区域;一个脉冲发生器,根据由读取选择器反馈的更新的对策产生整形的脉冲波形;和一个记录器,响应于发生的脉冲波形辐射光束以在光盘上记录信号。
根据这个结构,选择器对应于由线速度探测器输出的探测结果选择存储区,并且由对策发生器产生的最新对策被写入到多个存储区域中的不被选择器选择的存储区域中。然后,当选择器根据线速度的变化而改变存储区域的选择时,对应于当前时刻线速度的最新对策通过选择器被即时供给写入脉冲发生器。结果,可减少记录期间的写入误差。
本发明还提供一种根据由给定步数逐级更新的对策通过照射光束而在光盘上记录信号的方法,方法包括:连续地实时探测光盘相对于光束的线速度;探测用于记录信号的光盘类型;每当探测到光盘的线速度并且探测到光盘的类型时根据探测到的线速度和光盘类型连续产生对策;设置多个存储区域,每个能够存储由对策发生器连续产生的对策;存储预先设定的控制信息;通过将产生的对策和存储的控制信息进行比较,产生选择信号;每当对策产生时,将所产生的对策与前一对策的差值和存储的有关控制信息进行比较,根据比较结果切换存储区域,并用产生的对策改写选定的存储区域,同时保持未选定存储区域中更新的对策,由此通过多个存储区域更新对策;根据选择信号选择保持更新的对策的存储区域以从中读取更新的对策,同时允许改写另一个存储区域;根据由反馈的更新的对策产生整形的脉冲波形;和响应于发生的脉冲波形辐射光束以在光盘上记录信号。
附图说明
图1是表示根据一个实施例的光盘记录装置的基本结构的方框图;
图2是表示根据一个实施例的系统控制单元的函数结构的方框图;
图3(a)-3(c)表示写入脉冲的形式;
图4表示写入脉冲的函数;
图5表示确定输出对策信息的目标的一种情况;
图6表示对策信息和线速度之间的关系;
图7表示根据第一改型的光盘记录装置的基本结构的方框图;
图8表示与第一改型有关的系统控制单元的函数结构的方框图;
图9表示函数存储部分的存储状态;
图10表示输出控制部分的操作;
图11(a)-11(c)表示根据第二改型的对策信息存储单元的结构和操作;
图12是根据第三改型的系统控制单元的函数结构框图;
图13是根据第二改进型的对策信息存储单元的结构和操作;
图14(a)和14(b)是表示根据第四改型储存在函数存储区中的函数视图;
图15(a)-15(c)表示根据第六改型的写入脉冲视图;
图16(a)-16(b)表示现有的写入脉冲控制方法视图。
具体实施方式
下面对优选实施例进行描述以便于理解本发明。本实施例表示本发明的一种模式,并不限定本发明的范围。在本发明的范围内可以对本实施例作出适宜的改进。
A.实施例
图1表示光盘记录装置100的主要结构框图。
光盘记录装置100能够在CD-R或CD-RW上记录信息。该装置包括:一个光盘1;一个主轴电机110;一个伺服电路120;一个光学读取器130;一个地址探测电路140;一个系统控制单元150;一个对策信息存储单元160;一个选择器170;一个对策发生电路180;和一个ALPC(激光功率自动控制)电路190。
设置用于驱动光盘1的主轴电机110,主轴电机110根据伺服电路120提供的控制信号以恒定的角速度(CAV)旋转光盘1。
伺服电路120在系统控制单元150的控制下控制主轴电机110的旋转,并且还控制聚焦伺服(用于聚焦激光点的伺服)、跟踪伺服(用于跟踪一条形成凹点的轨道的伺服)和其它的光学读取器130。
光学读取器130包括一个激光二极管,一个四分光电探测器;一个物镜致动器及其它,通过对光盘1照射激光束而对信息进行记录。并接收到从光盘1反射的光束,光学读取器130即根据光接收的结果产生接收的光信号,并且将光信号输出给地址探测电路140。
地址探测电路140从光学读取器130供给的接收到的光接收信号中提取波动信号,对地址信息、盘ID信息和其它在波动信号成分中获得的信息解码,并将解码的结果输出给系统控制单元150。
设置系统控制单元150以控制光盘装置100的每个部分。图2是表示系统控制单元150的函数结构的框图。
系统控制单元150包括:线速度探测部分151;光盘探测部分152;对策信息产生部分153;函数存储部分154;写入控制部分155;存储部分156;和选择信号发生部分157。
线速度探测部分151根据基于地址探测电路140探测到的地址信息的预定周期计算激光照射点处的线速度S,并将算出的线速度S提供给对策信息产生部分153和选择信号发生部分157。
光盘探测部分152根据地址探测电路140中探测到的盘ID信息确定盘的类型,并且将所述的类型探测结果提供给对策信息产生部分153。
设置对策信息产生部分153,产生由多个用于形成写入脉冲的参数构成的对策信息,并通过参考线速度探测部分151输出的线速度s和光学探测部分152输出的类型探测结果产生,而根据每个线速度产生对策信息。
图3(a)-3(c)是写入脉冲视图。
图3(a)所示的写入脉冲是一个用于控制激光功率、以在光盘1上形成一个长度对应于记录信息的凹点的脉冲信号,由顶部脉冲Ttp和后续的多个脉冲Tmp1~TmpN(N值根据被记录的凹点大小而变化)构成。照射光盘1的激光束由此写入脉冲控制。具体地说,如图3(a)和3(b)所示,在写入脉冲的信号水平处于低水平(L)的阶段,激光的输出水平控制为写入水平。当写入脉冲的信号水平从低水平(L)变到高水平(H)时,根据此变化的激光的输出水平从写入水平切换到底部水平。
如上所述,通过根据写入脉冲的信号水平控制激光的输出水平,在光盘1上形成一个长度对应于记录信息的凹点(见图3(c))。对策信息产生部分153可以根据每个线速度获得各种参数,即顶部脉冲Ttp的脉宽TA,后续脉冲Tmp1~TmpN的脉宽TM和在此脉冲中多个脉冲Tmp1~TmpN的脉冲周期TC。应注意到,本发明不限于这些参数。
图4是关于储存在函数存储部分154中的写入脉冲的函数。
如该图所示,有关写入脉冲的函数由一个以线速度作为函数的脉宽TA的函数TA(s)、以线速度s作为参数的脉宽TM的函数TM(s)和以线速度s作为参数的脉冲周期TC的函数TC(s)等组成。有关写入脉冲的这些函数由前面的第一导出的经验公式可得出,然后计算关于线速度的每个参数的最佳值并将计算结果表述成函数。函数存储部分154储存由此获得的对应于光盘每种类型的函数。
对策信息产生部分153根据产生对策信息时光盘探测部分152提供的类型判断结果规定一组对应于光盘1类型的函数。然后,对策信息产生部分153对各个相应的函数TA(s)、TM(s)和TC(c)替换由线速度探测部分151提供的线速度。然后,对策发生器依次将上述获得的包括脉宽TA、脉宽TM和脉冲周期TC的对策信息提供给写入控制部分155。
一从对策信息产生部分153接收到对策信息,写入控制部分155即读出储存在存储部分156中的控制信息,并通过比较读出的控制信息与接收到的对策信息控制对对策信息存储单元160的对策信息写入。按照能够控制光学读取器130发出的激光脉冲的ON(写入水平)时间、OFF(底部水平)时间等的步骤数和分辨率,设置储存在存储部分156中的控制信息。在此实施例中,此控制信息设置为1.0μs作为落差。
对策信息存储单元160由一个可重写的存储装置(例如一个RAM等)构成,并且在对策信息存储单元160中制备多个包括第一存储区161和第二存储区162的存储区(见图1)。第一存储区161和第二存储区162可以储存对应于单一线速度s的对策信息,写入控制部分155以该单一的线速度s执行写入(即,对策信息包括各种参数:脉宽TA、脉宽TM和脉冲周期TC)。
图5表示写入控制部分155如何把从对策信息产生部分153接收到的对策信息写入到第一存储区161和第二存储区162中的视图。顺便说一下,下列描述只以构成对策信息的各个参数中的脉宽TA为例进行说明。
接收到对应于初始线速度s1的脉宽TA1(=20.0μs),写入控制部分155把脉冲宽度TA1写入到第一RAM161中,并把脉宽TA1设置为参考脉宽TAs。当写入控制部分155接收到对应于下一个线速度s2的脉宽TA2(=20.2μs)时,写入控制器获得参考脉宽TA和脉宽TA2之差,并且将获得的差与有关脉宽TA的控制信息做比较(阈值落差值=1.0μs)。
此处,假设获得的差小于阈值,被写入信息的目标区从第一存储区161变到第二存储区162,并且接收到的脉宽TA2被写入到第二存储区162。写入控制部分155随后获得参考脉宽TAs和每个连续从对策信息参数部分153提供的脉宽之差。获得的差小于阈值落差值时,写入控制部分155不改变信息写入区域地依次重写储存在第二存储区162中的脉宽。
当写入控制部分155判定获得的差值大于阈值(图5中所示的脉宽TA7)时,写入控制器把接收到的脉宽TA7写入到第二存储区161中,把脉宽TA7设置为更新的参考脉宽TA,并再把写入区变为第一存储区161。通过此方式,写入控制部分155在第一存储区161和第二存储区162之间切换对策信息的写入区,并且依次重写储存在每个存储区中的对策信息。
与写入控制部分155类似,选择信号产生部分157将对策信息产生部分153依次提供的对策信息与上述的控制信息比较,根据比较结果产生一个选取信号S1,并将产生的选择信号S1提供给选择器170。
在以图5为例进行的解释中,当选择信号产生部分157探测到由对策信息产生部分153开始产生对策信息时,选择信号产生部分157产生选择第一存储区161的选择信号S1,并将该信号输出给选择器170。然后,选择信号产生部分157依次获得类似于输出控制部分155的参考对策和当前对策之差。当选择信号产生部分157探测到获得的差值已经达到阈值时(图5所示的脉宽TA7),选择信号产生部分157产生选择第二存储区162的选择信号S1,以便改变采用的对策信息,并将此信号输出给选择器170。换言之,写入控制部分155把对策信息产生部分155提供的对策信息写入到不被选择信号产生部分157选取的存储区中。
图6表示从选择170向对策产生电路180提供的对策信息和线速度之间的关系。顺便说一下,作为图6中所示的线速度,假设最内围上设置为四倍速,最外围上设置为十倍速(与Orange Book,Part3 Vol.2,V1.0一致),并且图6表示只由脉宽TA构成对策信息的例子。
如图6所示,提供给对策产生电路180的对策信息(脉宽TA)根据线速度s的逐渐变化通过选择器170交替变化。具体地说,当选择器170选择第一存储区161以读出更新的对策(线速度:“4”~“4.2”)时,第二存储区162用作一个更换的存储区,并且储存在第二存储区162中的对策信息根据线速度的逐渐改变依次被重写(见图5)。然后,当对策信息的改变量超过上述阈值落差值(=1.0μs)(线速度:“4.2”)时,选择器170改变存储区,并且储存在第二存储区162中的新对策信息被提供给对策产生电路180。
当选择器170改变存储区时,已经保持作为更换的存储区和储存在第一存储区161中的对策信息函数的第一存储区161根据类似于上述情况的线速度的逐渐改变依次被重写。然后,当对策信息的改变量又超过设置的阈值(线速度:“4.4”)时,选择器170又改变存储区,并且储存在第一存储区161中的新的更新对策信息提供给对策产生信息180。作为重复执行这些过程的结果,对应于能够控制光学读取130发出的激光ON/OFF时间的分辨率的最佳对策信息经选择器170即时提供给对策产生电路180。
对策产生电路180根据选择器170提供的对策信息对记录数据实施补偿处理(有效控制记录时的激光功率),并将获得的数据输出给ALPC电路190,其中记录数据已经过EFM(八至十四调制)调制并由编码器(未示出)提供。
ALPC电路190根据从对策产生电路180提供并经过补偿处理的记录数据控制从光学读取器130发射到光盘1上的激光功率。
(2)实施例的操作
当用户指令CAV记录开始时,光盘探测部分152根据地址探测电路140中探测到的盘ID信息判断盘的类型,并且将判断结果输出给对策信息产生部分153。另一方面,线速度探测部分151根据地址探测电路140中探测到的地址信息获得激光辐射点处的线速度,并且将获得的线速度输出给对策信息产生部分153。
从函数存储部分154读出一组对应于光盘探测部分152提供的判断结果(光盘的类型)的函数之后,对策信息产生部分153把线速度探测部分151依次输出的线速度输入到函数中,并产生对策信息。写入控制部分155根据按能够单独控制光学读取器130发射激光的ON/OFF时间的分辨率设置的控制信息在第一存储区161和第二存储区162之间切换用于依次从对策信息产生部分153提供的对策信息的写入区。
选择信号产生部分157将上述控制信息与对策信息产生部分153依次提供的对策信息进行比较,根据比较结果产生选择信号,并依次将产生的选择信号提供给选择器170。结果,当选择器170选择第一存储区161时,储存在第一存储区161中的对策信息提供给对策产生电路180,而储存在第二存储区162中的对策信息在任何时刻被更新。另一方面,当选择器170选择第二存储区162时,储存在第二存储区162中的当前对策信息提供给对策产生电路180,而在下一时刻对储存在第一存储区161中的对策信息更新。
对策产生电路180对基于经选择器170提供的对策信息的无图解的编码器提供的记录数据实施补偿或校正处理,并且之后将获得的数据提供给ALPC电路190。ALPC电路190控制激光功率,根据对策产生电路180提供的记录数据用该激光照射光盘1,并且由此执行与线速度s匹配的精确的信息记录。
如上所述,在根据本实施例的光盘记录装置100中,提供第一存储区161和第二存储区162作为储存对策信息的存储区。
此处,当选择器170选择第一存储区161时,第二存储区162用作备用存储区,并且存储在第二存储区162中的对策信息根据线速度的逐渐变化被依次重写。另一方面,当选择器170选择第二存储区162时,第一存储区161用作备用存储区,并且储存在第一存储区161中的对策信息被依次重写。结果,光盘装置100可以即时选择多种参数类型的更新的对策信息,如响应于线速度细微变化的脉宽TA、脉宽TM和脉冲周期TC。此处,包含在选取的对策信息中的各种参数如,脉宽TA、脉宽TM和脉冲周期TC是通过各个导出的经验公式获得的最佳值。因此,光盘装置100可以根据线速度的细微变化即时选择最佳对策信息。结果,可以减小对于光盘1的写入误差。
另外,根据本实施例的光盘装置100,通过用在线速度探测部分151探测到的线速度s替换储存在函数存储部分154中的函数而产生对策信息。因此,与提前储存对应于每个线速度的对策信息的常规光盘装置相比,可以减小用于存储对策信息的存储容量。顺便说一下,根据本实施例的光盘装置100具有关于每个存储区对对策信息独立执行写入控制并通过选择器170输出控制对策信息的结构。或者,装置可以根据由选择器170对对策信息的输出控制来控制对策信息的写入。例如,装置可以选择一个没被选择器170选择的存储区作为一个被写入对策信息的存储区。
图1所示的本发明的光盘装置100通过一个计算机程序操作,该程序存储在一个机械刻度的存储截止如ROM中并被加载到具有一个CPU的系统控制单元150。计算机程序可由CPU执行,使得光盘装置100能够执行包括这些步骤的过程,步骤包括:连续实时探测光盘相对于光束的线速度,根据每次探测到的光盘线速度连续产生对策,提供多个存储区、每个存储区能够记忆连续产生的对策,每次产生对策时重写一个存储区直到对策被一个给定的步骤数更新并且每次产生对策时再重写另一个存储区、同时留下一个存储区以保持更新的对策,由此更新多个存储区中的对策,选择保存更新的对策的存储区以从中读出更新的对策,同时能够重写另一个存储区,产生根据保持在选择的存储区中的更新对策整形的脉冲波形,并响应于产生的脉冲波形照射光束,从而在光盘上记录信号。
(3)改型例
虽然以上对根据本发明的实施例进行了描述,但上述的实施例只是一个例子,可以在不脱离本发明范围地执行对于实施例的各种改型。
<改型1>
图7是根据改型1的光盘记录装置100a的结构框图。
根据本改型给光盘装置100a提供一个温度传感器145,对对策信息存储单元160提供一个第三存储区163。其它的结构类似于图1的情形,相同的标号表述相同的部件,由此省去对它们的解释。
类似于上述的第一存储区161和第二存储区162,第三存储区163是一个储存对应于对策产生部分153产生的单一线速度的对策信息的存储区。注意到,下面将详细描述储存在第一至第三存储区161-163每个中的对策信息,并且继续对改型的解释。
温度传感器145是一个探测包含在光学读取器130中,并由例如热耦传感器或红外传感器构成的未图示的光发射装置(激光二极管)的环境温度的传感器。当温度传感器145探测光发射装置的环境温度时,连续给系统控制单一150输出作为温度数据的探测结果。
图8是根据改型1的系统控制单元150a的函数结构框图。
根据本改型的系统控制单元150a具有这样一种结构,即对于图2中所示的系统控制单元150设置温度误差探测部分158。
温度误差探测部分158通过判断温度传感器145连续提供的温度数据是否超过储存在未图示的存储部分中的温度范围的下限和上限(一般称为阈值)而探测光发射装置周围的温度误差。当温差探测部分158探测到温度误差时,通知温度误差探测的选择信号产生部分157。
与前述实施例类似,对策信息产生部分153根据基于线速度探测部分151提供的线速度s的每个线速度和关于储存在函数存储部分154中的写入脉冲的函数产生对策信息。
图9表示根据改型1的函数存储部分154的存储状态。
如图所示,根据本改型的函数存储部分154,在其中存储脉宽TA的函数TA(s)、脉宽TM的函数TM(s)和脉冲周期TC的函数TC(s)以及由下列表达式(1)~(3)表示的误差温度的函数TA’(s)、TM’(s)和TC’(s)。
        TA’(s)=TA(s)+a                         (1)
        TM’(s)=TM’(s)+b                       (2)
        TC’(s)=TC(s)+c                         (3)
a、b和c每个表示一个探测到温度误差时的校正量。
注意到,对于误差温度的函数TA’(s)、TM’(s)和TC’(s)可以通过类似于函数TA(s)、TM(s)和TC(s)的经验公式提前算出。
对策信息产生部分153通过把线速度探测部分151提供的线速度s代入函数TA(s)、TM(s)和TC(s)而产生包括脉宽TA、脉宽TM和脉冲周期TC的第一对策信息,并且还通过把线速度代入函数TA’(s)、TM’(s)和TC’(s)而产生包括脉宽TA’、脉宽TM’和脉冲周期TC’的第二对策信息。然后,依次把产生的第一和第二对策信息提供给写入控制部分155。
图10表示根据改型1的写入控制部分155的操作。顺便说一下,下面将以构成第一和第二对策信息的脉宽TA和TA’为例进行描述。而且,下列的假设对策信息产生部分153从线速度探测部分151接收初始线速度,获得对应于初始线速度s1的脉宽TA1,并且之后将该脉宽TA1提供给写入控制部分155。
从对策信息产生装置153接收到对应于初始线速度s1的脉宽TA1,写入控制部分155将脉宽TA1输出给第一存储区161,并把脉宽TA1设置为参考脉宽TAs。
当写入控制部分155从对策信息产生部分153接收对应于线速度s2的脉宽TA2和TA2’时,计算参考脉宽TAs和脉宽TA2制成,并比较算出的差和关于脉宽TA的控制信息(阈值:1.0μs)。此处如果写入控制部分155判定获得的差小于阈值,则将写入区从第一存储区161改变到第二存储区162,并且把接收到的脉宽TA2写入到第二存储区162。另一方面,把误差温度的脉宽TA2’写入到第三存储区163。之后,写入控制部分155获得依次从对策信息产生部分153提供的脉宽与脉宽TA之差。虽然获得的差小于阈值,但写入控制部分155把接收到的脉宽TAn和TAn’写入到第二存储区162和第三存储区163,不改变写入区。
随后,当写入控制部分155判断参考脉宽TAs和脉宽TAn(图7中的脉宽TA7)之差变得大于阈值时,把接收到的脉宽TA7的写入区改变为第一存储区161,并把脉宽TA7设置为参考脉宽TAs。另一方面,与脉宽TA7相关的误差温度的脉宽TA7’不改变写入区地写入到第三存储区163。如上所述,写入控制部分155只在第一存储区161和第二存储区162之间切换对于脉宽TAn的写入区,同时把脉宽TAn’的写入区固定到第三存储区163。
与前述实施例类似,选择信号产生部分157将对策信息产生部分153依次提供的对策信息与控制信息比较,并根据比较结果产生选择信号S1。另外,根据温度误差探测部分158的通知内容产生选择信号S1并将其提供给选择器170。下列的描述假设由温度误差探测部分158探测环境温度的误差并再使环境温度返回正常。
(改型2)
如图11(a)所示,在脉宽TA7、脉宽TA8和脉宽TA8’储存在第一至第三存储区161~163的每个中,并且由选择器130选择脉宽TA7时,线速度探测部分151探测线速度s8,并且温度误差探测部分158探测温度误差。然后,选择信号产生部分157产生一个用于选择对于储存在第三存储区163中的误差温度的脉宽TA8’的选择信号S1,并将其输出给选择器170。另外,选择信号产生部分157通知写入控制部分155讯储存在第三存储区163中的脉宽TA8’这一事实。接收到选择信号S1,选择器170从第二存储区162切换到第三存储区163(见图11(b))。
对策信息产生部分153根据线速度探测部分151输出的探测结果产生对应于线速度s9的温度误差的脉宽TA9’,并输出给写入控制部分155。另一方面,写入控制部分155分辨根据从选择信号产生部分157接到的通知在第一存储区161中储存对于温度误差的脉宽TA9和脉宽TA9’。
当选择信号产生部分157根据温度误差探测部分158的通知控制环境温度回到从线速度探测部分151接收到线速度s9时的温度点,产生一个用于选择储存在第一存储区161中的脉宽TA9的选择信号S1并输出给选择器完善70。另外,选择信号产生部分157通过写入控制部分155选择储存在第一存储区161中的脉宽TA9这一事实。接收到选择信号S1,选择器170从第三存储区163切换到第一存储区161(见图11(c))。
根据线速度探测部分151输出的探测结果,对策信息产生部分153产生对应于线速度s4的脉宽TA10和温度误差的脉宽TA10’,并将它们输出给写入控制部分155。另一方面,写入控制部分155根据从选择信号产生部分157接收到的通知分别把脉宽TA10和温度误差的脉宽TA10’储存在第二存储区162和第三存储区163。注意,可以类似地解释对策信息产生部分153、选择信号产生部分157和选择器170的后续操作,因此在此省去对它们的描述。
如上所述,可以根据温度误差探测部分158的探测结果适当地切换在其中储存对于误差温度的对策信息(脉宽TA’)的存储区。
此处,虽然根据上述改型1和本改型的存储部分(未示出)构造成储存一个温度范围内的阈值,但可以构造成储存多个温度范围内的阈值。如果存储部分依次方式构成,则对策信息产生部分153产生多种类型的对策信息,即根据每个温度范围关于线速度探测部分151提供的一个线速度s的对策信息。根据每个线速度由对策信息产生部分153产生的多种类型的对策信息构造成分别被储存在对策信息存储单元160中的多个存储区。通过这种方式可以不必限制为一个的设置多个温度范围。
另外,在进一步细调温度范围的情况下,对策可以根据温度的变化而变化。在此情况下,温度探测器145探测温度的变化,并且采用对应于此变化的函数。即函数存储部分154在其中储存由下列表达式(α)~(γ)表示的函数:
        TA(s,Δt)=TA(s)+TA(Δt)…(α)
        TM(s,Δt)=TM(s)+TM(Δt)…(β)
        TC(s,Δt)=TC(s)+TC(Δt)…(γ)
通过在函数存储部分154中储存此函数,可以不增加对策信息存储单元160中存储区地改变对策。
<改型3>
图12是根据改型2的系统控制单元150b的函数结果框图。
在根据本改型的系统控制单元150b中,光盘缺陷探测部分159设置在图8所示的环境温度探测部分158的位置上。因为其它的结构类似于图8的情形,相同的标号表示对应的部件,因此省去对它们的解释。
光盘缺陷探测部分159根据光学读取器130输出的光接收信号探测是否在光盘1上的激光点照射部分产生缺陷,如指纹、尘埃或划伤。当在激光点照射部位产生缺陷时(非正常的情况),光接收信号的信号水平趋于比在激光点照射部位不产生缺陷时(正常情况)的光接收信号的信号水平低。光盘缺陷探测部分159通过利用此趋势比较从光学读取器130依次输出的光接收信号的信号水平与参考水平(正常情况下光接收信号的信号水平),并且探测是否在光盘1上产生缺陷。当光盘缺陷探测部分159探测到光盘1的一个误差时,它通知选择信号产生部分157光盘1的误差已经被探测到这一事实。
与前述改型1类似,对策信息产生部分153按照基于线速度探测部分151提供的线速度s的每个线速度产生对策信息和存储在函数存储部分154中的写入脉冲的函数。
根据本改型的函数存储部分154在其中储存脉宽TA的函数TA(s)、脉宽TM的函数TM(s)和脉冲周期TC的函数TC(s)以及由下列表达式(4)~(6)表示的缺陷的函数TA”(s)、TM”(s)和TC”(s):
        TA”(s)=TA(s)+d  …(4)
        TM”(s)=TM(s)+e  …(5)
        TC”(s)=TC(s)+f  …(6)
每个d、e和f代表探测到指纹、尘埃或划伤等光盘缺陷时的校正量。
注意,缺陷TA”(s)、TM”(s)和TC”(s)的函数可以通过类似于前述改型1表示的函数TA’(s)、TM’(s)和TC’(s)前面的经验公式获得。
与前述改型1类似,对策信息产生部分153通过用线速度探测部分151提供的线速度s代入函数TA(s)、TM(s)和TC(s)获得包括脉宽TA、脉宽TM和脉冲周期TC的第一对策信息,并通过把线速度s代入TA”(s)、TM”(s)和TC”(s)获得包括脉宽TA”、脉宽TM”和脉冲周期TC”的第二对策信息。然后,对策信息产生部分153依次把获得的第一和第二对策信息提供给写入控制部分155。
顺便说一下,因为写入控制部分155、选择信号产生部分157和选择器170等的操作可以按与前述改型1相同地解释,所以在此省去对它们的描述。
如上所述,根据本改型,对策信息可以根据线速度的改变以及光盘缺陷的存在/不存在来切换,并且对于光盘的写入误差可以由此减少。
<改型4>
另外,对策信息可以根据环境温度的变化以及光盘缺陷的存在/不存在利用根据改型1和3的结构进行切换。
图13是根据改型4的对策信息存储单元160的结构和操作示图。
对应于当前线速度(图13中的线速度s1)的脉宽TA1储存在图中所示的第一存储区161中,对应于不同于当前线速度的线速度(图13中的线速度s2)的脉宽TA2储存在第二存储区162中,并且误差温度的脉宽TA2’和对应于线速度s2的缺陷的脉宽TA2”分别储存在第三存储区163和似的存储区164中。根据选择信号产生部分157提供的选择信号S1,选择器170切换存储区,并且根据线速度、环境温度和光盘的存在/不存在的最佳对策信息可以由此经选择器170提供给对策产生电路180。顺便说一下,写入控制部分155、选择信号产生部分157、选择器170以及其它的操作可以类似于前述改型1~3的解释,由此省去对它们的描述。
<改型5>
虽然已经对本实施例中和上述每个改型中构成对策信息和线速度的脉宽TA之间的关系可以由线性函数表达的情形做了描述,但本发明也可以应用到此关系可以由二次、三次或更高阶次的函数表示的情形,如图14(a)所示。另外,如图14(b)所示,本发明可以应用这样的函数,即脉宽TA固定在预定的线速度范围,每个函数的斜率可以根据实验结果适当的改变。
<改型6>
另外,虽然已经对本实施例和上述每个改型中由顶部脉冲Ttp和后续N个脉冲Tmp1~TmpN形成一个凹点的情形给予了描述,但本发明可以应用到例如由图15(a)~15(c)所示的一个写入脉冲形成一个凹点的情形。在由一个脉冲形成一个凹点的情况下,对策信息例如可以由脉宽或产生脉冲的计时构成。另外,虽然在本实施例中已经举出了CD-RW的例子,但本发明可以应用到CD-R、DVD-R(可记录的数字多用盘)、DVD-RAM(可随机存取的数字多用盘)、PC-RW(可重写的相变盘)等。
上述关于光盘装置100的各种函数可以通过软件实现。具体地说,从一个具有其上记录了软件的存储介质(例如CD-ROM等)把软件安装到光盘记录装置100,或从一个具有此软件的服务器经网络(例如英特网)下载此软件,并经个人电脑等将其安装到光盘记录装置100。如上所述,上述的各个函数可以通过软件实现。
如上所述,根据本发明可以减小对于光盘的写入误差。

Claims (10)

1.一种装置,根据由给定落差逐级更新的对策通过照射光束而在光盘上记录信号,装置包括:
一个探测器,连续地实时探测光盘相对于光束的线速度;
一个盘探测器,探测用于记录信号的光盘类型;
一个对策发生器,每当探测器探测到光盘的线速度并且盘探测器探测到光盘的类型时根据探测到的线速度和光盘类型连续产生对策;
一个存储器,具有多个存储区域,每个能够存储由对策发生器连续产生的对策;
一个存储部分,用于存储预先设定的控制信息;
一个选择信号发生部分,通过将对策发生器产生的对策和存储部分存储的控制信息进行比较,产生选择信号;
一个写入控制部分,每当对策产生时,将所产生的对策与前一对策的差值和存储部分存储的有关控制信息进行比较,根据比较结果切换存储区域,并用产生的对策改写选定的存储区域,同时保持未选定存储区域中更新的对策,由此通过多个存储区域更新对策;
一个读取选择器,根据来自选择信号发生部分的选择信号选择保持更新的对策的存储区域以从中读取更新的对策,同时允许写入控制部分改写另一个存储区域;
一个脉冲发生器,根据由读取选择器反馈的更新的对策产生整形的脉冲波形;和
一个记录器,响应于发生的脉冲波形辐射光束以在光盘上记录信号。
2.如权利要求1所述的装置,还包括一个函数存储器,在其中储存与线速度有关的脉宽或脉冲波形的脉冲频率任何一个的最佳值,其特征在于对策发生器通过把探测到的线速度输入到函数中而产生就脉冲波形最佳值而言的对策。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于函数存储器储存对应于多种光盘类型的多个函数,并且对策发生器利用探测到的对应于光盘类型的函数产生与探测到的光盘类型匹配的对策。
4.如权利要求1所述的装置,还包括一个探测记录器周围温度的温度探测器,其特征在于对策发生器根据对于不同温度带的探测到的线速度产生多个对策,写入控制部分在多个存储区保持多个对于不同温度带的更新的对策,并且读取选择器根据探测到的温度选择一个存储区,从中读出对于包含探测到的温度的温度带的更新的对策。
5.如权利要求1所述的装置,还包括一个缺陷探测器,从光盘反射回来的光束中探测光盘的缺陷,其特征在于当不存在缺陷时对策发生器产生一对规律的可应用的对策,如果光盘上存在缺陷,则产生可应用的替换的对策,写入控制部分分别彼此独立地在存储区中保持更新的规律对策和更新的替换的对策,并且当探测到光盘上的缺陷时,读取选择器读出更新的替换对策。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于脉冲发生器产生包含顶部脉冲和后续脉冲的脉冲波形,并且对策发生器根据探测到的线速度产生对策,使得对策包含规定顶部脉冲的宽度、每个后续脉冲的宽度和后续脉冲的间隔的参数。
7.如权利要求1所述的装置,还包括一个函数存储器,在其中储存用于判断与探测到的线速度有关的顶部脉冲宽度最佳值的第一函数、用于判断与探测到的线速度有关的后续脉冲宽度最佳值的第二函数和用于判断后续脉冲间隔最佳值的第三函数,其特征在于对策产生器通过把探测到的线速度代入到第一函数、第二函数和第三函数产生就顶部脉冲宽度、每个后续脉冲宽度和后续脉冲间隔的最佳值而言的对策。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于函数存储器储存对应于光盘多种类型的多个第一函数、对应于光盘多种类型的多个第二函数和对应于光盘多种类型的多个第三函数,并且对策产生器利用对应于探测到的光盘类型的第一函数、第二函数和第三函数产生与探测到的光盘类型匹配的对策。
9.如权利要求1所述的装置,还包括一个以恒定角速度旋转光盘的电机,使得当光束在光盘的径向移动时线速度相对于光束改变,其特征在于每当探测到改变的线速度时对策产生器就连续地产生对策。
10.一种根据由给定步数逐级更新的对策通过照射光束而在光盘上记录信号的方法,方法包括:
连续地实时探测光盘相对于光束的线速度;
探测用于记录信号的光盘类型;
每当探测到光盘的线速度并且探测到光盘的类型时根据探测到的线速度和光盘类型连续产生对策;
设置多个存储区域,每个能够存储由对策发生器连续产生的对策;
存储预先设定的控制信息;
通过将产生的对策和存储的控制信息进行比较,产生选择信号;
每当对策产生时,将所产生的对策与前一对策的差值和存储的有关控制信息进行比较,根据比较结果切换存储区域,并用产生的对策改写选定的存储区域,同时保持未选定存储区域中更新的对策,由此通过多个存储区域更新对策;
根据选择信号选择保持更新的对策的存储区域以从中读取更新的对策,同时允许改写另一个存储区域;
根据由反馈的更新的对策产生整形的脉冲波形;和
响应于发生的脉冲波形辐射光束以在光盘上记录信号。
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